JPS6063407A - テ−プ移送量検出装置 - Google Patents

テ−プ移送量検出装置

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JPS6063407A
JPS6063407A JP17147683A JP17147683A JPS6063407A JP S6063407 A JPS6063407 A JP S6063407A JP 17147683 A JP17147683 A JP 17147683A JP 17147683 A JP17147683 A JP 17147683A JP S6063407 A JPS6063407 A JP S6063407A
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JP
Japan
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tape
pulse signal
signal
pulse
period
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Pending
Application number
JP17147683A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuji Nozoe
農添 一二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Onkyo Corp
Original Assignee
Onkyo Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Onkyo Corp filed Critical Onkyo Corp
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Publication of JPS6063407A publication Critical patent/JPS6063407A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/06Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D7/00Indicating measured values
    • G01D7/02Indicating value of two or more variables simultaneously

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Indexing, Searching, Synchronizing, And The Amount Of Synchronization Travel Of Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は第1のテープリールに巻回されている状態か
ら第2のテープリールに巻取られるように構成されてい
るテープ部材の巻回量を電気的に検出するようにしたテ
ープ移送量検出装置に関し、テープレコーダ等のテープ
移送量をリアルタイムで表示する表示装置に適したもの
である。
先づ、図面を用いて、この発明のテープ移送量検出装置
に用いるテープ移送量検出方式について説明する。第1
図はこの発明の要部を示した図面である。記号。はテー
プ部材1の走行速度であり、成る一定値である。記号a
1、’l、D、、lσ1は順に第1テープリール側のハ
ブ径、テープ巻径、テープ最大巻径、角速度であり、記
号a2、d2、d2、D2肩I6は順に第2テープリー
ル側のハブ径、テープ巻径、テープ最大巻径、角速度で
ある。第1のテープリール側の角速度to1は、次式、
・・・・・・・・・(1) で表わすことができ、第2のテープリール側の角速度l
o2は、次式、 で表わすことができる。角速度#1に比例した割合のパ
ルス信号P、のパルス数P1は、その比例定数をα1と
すると、次式、 パルス数P1−α、に1 ・川・・・・・(8)と表わ
すことができる。角速度+41.に比例した割合のパル
ス信号P+のパルス数P1は、その比例定数をα2とす
ると、次式、 パルス数px =α7w、 ・・・・曲・(4)と表す
ことができる。パルス数比−は、次式、−a内 ・・・
・・・・・・(5) α、齢。
で表わされる。角速度w1とV、の角速度比は、次式、
と表わすことができる、パルス信号Plのパルス数H−
パルス数P1+パルス数P。
・・・・・・・・・(7) と表わすことができる。今、α1=α、二αと置くと、
即ち第1のテープリールの角速度1.に比例するパルス
信号P、の割合と第2のテープリールの角速度9.に比
例する割合を等しく選ぶと、(7)式は、・・・・・・
・・・(8) となる。(7)式および(8)式において、記号α1、
α2、α、りはこの発明のテープ移送量検出装置の製作
者側が所定の値の一定値に定める量であり、記号α1、
α、はテープリールの種類によって定まる一定値である
。然し、記号D1、D2はテープ部材の供給者側が所定
の値に定める一定値ではあるが、テープをテープレコー
ダ等に装置して使用するとき使用状態によっては変動す
る。この変動する主な原因はテープ部材を途中から巻き
初めるときに巻き初めだ部分にテープテンションに変動
を来し巻きむらとなりテープの外周径に変動を招くこと
による。このような事情から、テープ最大巻径D1また
はり、をテープ部材の゛供給者側が定める所定の一定値
だとすると、屡々誤差を生じる。そこで、D、、D、を
計測されるパルス信号P、、 P、に含まれる量に具現
するため、 DI′+a:=d12+d: なる関係式を用いて、(8)式は次式のように変形でき
る。
・・・・・・・・・(9) そして、 ・・・・・・(10) f「【−フ]コ!’(1+1/χ) =G(χ) ・・・・・・(11) と置くと、 H=F愉G(χ) と表わされる。
この発明は上記(&)式に基礎を置き、叙上の観点に鑑
みてなされたもので、使用の状態のいかんにかかわらず
、テープ移送量を正確に検出することを目的になされた
ものである。
以下、図面の第1図、第2図、第3図を用いて、この発
明の実施例について説明する。
第1の信号発生手段として、第1のテープリール(図示
を省略しである)の軸16に直結した回転円盤10の外
周付近に等間隔に透孔13を、例えば5個、形成して透
孔13の両側には対向する一対の投光素子11と受光素
子12が配設してあり、モーター〈図示を省略しである
)で駆動されるピンチロー4−15によりテープ部材1
を一定速度υで走行させる際に、第1のテープリールの
回転数の5倍の数のパルス数を発生し、角速度lσ1に
比例した割合のパルス信号P1を発生するようにしであ
る。第2の信号発生手段として、第1の信号発生手段と
同様に構成しである。即ち、第2のテープリール(図示
を省略しである)の軸26に直結した回転円盤2oの外
周付近に等間隔に透孔23を、例えば5個、形成して透
孔13の両側には対向する一対の投光素子21と受光素
子22が配設してあり、ピンチローラ−15によりテー
プ部材1を一定速度fで走行させる際に、第2のテープ
リールの回転数の5倍の数のパルスを発生し、角速度W
、に比例した割合のパルス信号P、を発生するようにし
である。パルス信号P1およびパルス信号P2は必要に
より波形成形回路14.24により波形成形された矩形
波の信号とする。
関・茎値Fを得る手段について説明する。この手段はマ
イクロプロセッサ3によって実現され2段階の過程を経
る。第1段階は、周期T1、T、の2乗和(” T+’
 ” T* )を得ること、第2段階は、この周期Tい
T、の2乗和から関数値Fを得ることである。第1段題
から説明する。周期teのクロックパルス信号を用いて
、周期T1間に発生するクロックパルス数をQlとし、
周期12間に発生するクロックパルス数をqとすると、
周期T1、尤の2乗和は次の式、 ・・・・・・・・・(10) のように表わすことができ、この(10)式の右辺を実
行すること8現する。パルス信号P諦5進カウントして
周期T1を得る。パルス信号P、を5進カウントして周
期T2を得る。周期T1間のクロックパルス数をカウン
トしてQlを得る。周期12間のクロックパルス数をカ
ウントしてQ2を得る。クロックパルスをQ、個累算し
て、Q。
1 i=1 の累算値を得る。クロックパルスを02個累算して、α の累算値を得る。そして、これ等の累算値はそれぞれ定
数2 tc&と乗算して、 Q。
2 tc+ 乙 i−++ および 2tc’ g i の乗算値を得る。このパルス信号P1側の乗算値から、
クロック信号のカウント値Q1と定数tC2の乗算値を
減算して Q。
2 te’ E i −Q、 te’ −・・・−・”
’(11)i=t を得る。同様に、パルス信号P、側の乗算値から、クロ
ック信号のカウント値Q2と定数tc’の乗算値を減算
して I=1 を得る。(11)式、(12)式で表わされる量を加算
すると(10)式の右辺がまり、而して周期T1、T、
の2乗和(= T、’ + T、’ )が計測されて第
1段階を経たことになる。第2段階の過程は、周期T1
、T2の2乗和の数置を予め想定して、この想定値に対
する(10)式で示される関数の関数値Fをメモリテー
ブルに記憶しておき、第1段階で計測された周期T、、
T、の2乗和の値に対応させて読み出すことにより第2
段階を経て、関数値Fを得ることになる。
次に、関数値H(χ)に応じたテープ移送量信号を得る
手段について説明する。パルス信号P1およびパルス信
号P2の周期のいづれかの長い方の周期毎にこれらパル
ス信号P1およびパルス信号P2のパルス数比χ(=パ
ルス数P、 /パルス数P7、またハ、=ハルス数P2
/ハルス数P1)およびパルス敷料S(=パルス数P、
+パルス数P、)をめる。関数M(2χ)が次式、 M(2χ)=− 2てαfTT7て1+1/χ) 但し、K:適宜に決定される定数 で与えられ、パルス数比χが適数個の数列χい χ。
、・・・、χnが例えば4項からなり、1.0.1.5
.2.0.2.5であるときの関数値M(2X1.O)
、M(2x1.5)、M(2X2.O)、M’(2X 
2.5 )を予め記憶しであるメモリテーブルから読み
出す。
読み出す項は、計測されたパルス数比χに対応する数列
の、例えば第2項目であったとするとM(2x1.5)
を読み出す。この読み出された関数値M(2X1.5)
にパルス敷料Sを乗算する。このようにして、次々と、
関数値Mにパルス敷料Sを乗算した量を得る。この乗算
した量を得る毎に、適宜の定数に1この定数には4ビツ
トのマイクロプロセッサを用いる場合には256が適当
な値であり、この定数256と大小比較する。定数25
6より小さい場合には、関数値Mにパルス敷料Sを乗算
した次の量を加算して定数256と大小比較する。定数
256、即ち大小比較における比較1)X− 数←被比較数より小さくなると大小比較信号を発生する
と共に、被比較数から比較数256を減じた値に関数M
にパルス敷料Sを乗算した次の量を加算して大小比較す
る。このようにして、順次大小比較し、比較数256が
小さくなった時に発生する大小比較信号は関数値H(χ
)に応じたテープの移送量を表わすテープ移送量信号で
ある。
次に、テープ移送量信号を数表示する手段について説明
する。上記のようにして発生するテープ移送量信号を、
テープの単行方向が正方向、成るいは逆方向かにより、
アップカウントまたはダウンカウントするアップダウン
カウンターを設け、このアップダウンカウンターの出力
を数表示、例えば60進数の時間表示するようになって
いる。
第2図はこの発明に用いたマイクロプロセッサ3の情報
の流れを示し゛・、第3図はクロック信号発生器の周期
tc間に割込みを行うフローチャートである。尚、この
第2図、第3図において、パルス信号P1とパルス信号
P2からパルス数P1とパルス数P、請求める際にパル
ス信号P1およびパルス信号P2の立上りと立下りをカ
ウントするようにしてパルス数P1およびパルス数P、
をめである。
以上に説明したように、関数値Fを計測し、この計測し
た関数値Fを用いて関数Hに応じたテープ移送量信号を
計測し、このテープ移送量信号により60進数の時間表
示するものであるから、テープに巻きむらがあっても、
巻きむらの状態を正確に計測しテープの移送量をリアル
タイムで正確に検出する装置である。
尚、関数値Fを計測するに、カセットテープのC−60
を例にとると、巻き初め部分ては約4秒と一番長い時間
を要し、この時間は比較的長い時間のように感すること
がある。このような場合には、このことを解消するため
に、テープの移送開始から関数値Fを出力するまでの間
では、適宜の値、どの適宜の値はテープ部材1の全長の
半分の位置に相当する時の関数Fから算出される値か適
当であり、この値を使用すると、この間の誤差を小さく
してテープの移送開始時から時間表示できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の要部を示す図面、第2図はマイクロ
プロセッサの情報の流れを示すフローチャート、第3図
は周期te間に割込みを行うフローチャート、である。 1°°・テープ部材、2・・・ファンクションキ一群、
3・・・マイクロプロセッサ、4・・・クロック信号発
生器、5・・・数表示装置、6・・・プーリー、10.
20・・・それぞれ円盤、11,21・・・それぞれ投
光器、12.22・・・それぞれ受光器、13.23・
・・それぞれ透孔、14.24・・・それぞれ波形成形
回路、15.25・・・それぞれ軸、であることを示す
。′第2図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 第1のテープリールに巻回されている状態から第2のテ
    ープリールに巻取られるように構成してテープ部材の巻
    回量を電気的に検出するようにしたテープ移送量検出装
    置において、第1のテープリールの角速度に比例した割
    合のパルス信号P1を発生する第1の信号発生手段、第
    2のテープリールの角速度に比例した割合のパルス信号
    P2を発生する第2の信号発生手段、前記パルス信号P
    1の周期T1の2乗と前記パルス信号P2の周期T2の
    2乗の和を計測し、この周期の2乗和(−T1′十T:
    )に基づき次の関数式、 但し、α、定数 、−11 π:円周率で定数 よりめられる関数値Fを得る手段、前記パルス信号P1
    の周期t1および前記パルス信号P2の周期t2のいづ
    れかの長い方の周期毎に此等のパルス信号P、およびP
    2のパルス数比χを計測して、次式、H(χ)=FJ]
    −箇bx’(1+1/χ)但しbは定数 よりめられる関係値H(χ)に応じたテープ移送量信号
    を得る手段、該テープ移送量信号を数表示する表示手段
    、とを備えたことを特徴とするテープ移送量検出装置。
JP17147683A 1983-09-17 1983-09-17 テ−プ移送量検出装置 Pending JPS6063407A (ja)

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JPS6063407A true JPS6063407A (ja) 1985-04-11

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