JPS6061759A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
- Publication number
- JPS6061759A JPS6061759A JP17065483A JP17065483A JPS6061759A JP S6061759 A JPS6061759 A JP S6061759A JP 17065483 A JP17065483 A JP 17065483A JP 17065483 A JP17065483 A JP 17065483A JP S6061759 A JPS6061759 A JP S6061759A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- sic
- photosensitive
- semiconductor layer
- dielectric constant
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は金属上に形成した第1の半導体層上に、前記第
1の半導体層と誘電率の異なる第2の半導体層を形成し
た電子写真感光体において、両者の間に第1の半導体層
の誘電率と第2の半導体層の誘電率の中間値の誘電率を
有する、第3、必要に応じて第4の半導体層を設けるこ
とにより、両者の密着性を向上させた電子写真感光体に
関する。
1の半導体層と誘電率の異なる第2の半導体層を形成し
た電子写真感光体において、両者の間に第1の半導体層
の誘電率と第2の半導体層の誘電率の中間値の誘電率を
有する、第3、必要に応じて第4の半導体層を設けるこ
とにより、両者の密着性を向上させた電子写真感光体に
関する。
近年、電荷の発生を担う感光層と電荷の輸送と帯電圧を
担う電荷輸送層とに機能を分離した2層構造の電子写真
感光体が普及しはじめている。その中でも感光層にアモ
ルファス・シリコン(以下ではα−8iと略す)を用い
、電荷輸送層に炭化シリコン(以下ではSaCと略す)
をm−た電子写真感光体は、その優れた特性から注目を
集めている。
担う電荷輸送層とに機能を分離した2層構造の電子写真
感光体が普及しはじめている。その中でも感光層にアモ
ルファス・シリコン(以下ではα−8iと略す)を用い
、電荷輸送層に炭化シリコン(以下ではSaCと略す)
をm−た電子写真感光体は、その優れた特性から注目を
集めている。
1例として第1図如示す構造、すなわち、アルミの支持
体101の上に電荷輸送層8ic 102と感光J※a
−8j103をつけた構造について、簡単に原理を説明
する。
体101の上に電荷輸送層8ic 102と感光J※a
−8j103をつけた構造について、簡単に原理を説明
する。
第1図のように、感光層表面を正帯電させた状態で感光
層α−SZの禁止帯幅より大きなエネルギー(hv)の
ホトンをもつ光を照射する。この光によりl、&光層1
03の表面近傍、すなわち吸収領域内で電子・正孔対が
生成される。電子は電界によって感光層表面に達し、正
の帯電電荷を打ち消す。一方、正孔は感光層103と電
荷輸送層102を通って、アルミ支持体101に達し、
見かけ上窓光層と電荷輸送層の中を電流が流れ、帯電電
荷が消滅したことになる。また、負に帯電した場合も光
によって生成された逗子と正孔の動きが逆になるだけで
原理的には上述の説明と同じである。
層α−SZの禁止帯幅より大きなエネルギー(hv)の
ホトンをもつ光を照射する。この光によりl、&光層1
03の表面近傍、すなわち吸収領域内で電子・正孔対が
生成される。電子は電界によって感光層表面に達し、正
の帯電電荷を打ち消す。一方、正孔は感光層103と電
荷輸送層102を通って、アルミ支持体101に達し、
見かけ上窓光層と電荷輸送層の中を電流が流れ、帯電電
荷が消滅したことになる。また、負に帯電した場合も光
によって生成された逗子と正孔の動きが逆になるだけで
原理的には上述の説明と同じである。
第1図のように感光層103にα−SZ、電荷輸送層1
02にSaCを用いた場合の利点は、α−sz単層の感
光体に比べて、 ■SaCの耐電圧がα−S<より大きいので、大きな帯
電電位を得ることができる。
02にSaCを用いた場合の利点は、α−sz単層の感
光体に比べて、 ■SaCの耐電圧がα−S<より大きいので、大きな帯
電電位を得ることができる。
■SiCはアルミ支持体と非常に強固な付着力をもつ。
■sieはα−SZに比べ誘電率が小さいので、膜厚が
同じ場合、同じ帯電電位を得るのに、α−s4の場合に
比べ少ない電荷量ですむ。したがって、電荷の消滅も少
ない光量でよく感度が高−0■について数値例で説明す
る。α−SZ単層の容量をCS 、上述の2層構造の場
合の容量をCd 。
同じ場合、同じ帯電電位を得るのに、α−s4の場合に
比べ少ない電荷量ですむ。したがって、電荷の消滅も少
ない光量でよく感度が高−0■について数値例で説明す
る。α−SZ単層の容量をCS 、上述の2層構造の場
合の容量をCd 。
帯電電位をそれぞれVB 、 Vdとし、各々に必要な
帯電電荷をQ、s 、 Qdとすると Qs=CsVs e e @11+ Q、d = CdVd −−−(21 帯電電位を同じ、すなわちVg−Vdとしたときの両者
の電荷の比は、 Qd/Q、s = Cti/Cs −−−131となる
。
帯電電荷をQ、s 、 Qdとすると Qs=CsVs e e @11+ Q、d = CdVd −−−(21 帯電電位を同じ、すなわちVg−Vdとしたときの両者
の電荷の比は、 Qd/Q、s = Cti/Cs −−−131となる
。
第1図の感光体でα−s6感光層103の厚さをdlと
し、SaC電荷輸送層102の厚さをd2とすると、単
位面積当シの容量は ε0 、dl 、ε2はそれぞれ真空の誘電率、α−s
4感光)vの誘電率、そしてSaC翫荷輻送層の誘電率
である。
し、SaC電荷輸送層102の厚さをd2とすると、単
位面積当シの容量は ε0 、dl 、ε2はそれぞれ真空の誘電率、α−s
4感光)vの誘電率、そしてSaC翫荷輻送層の誘電率
である。
一方、α−si層のみの感光体の厚さをdoとし、2層
構造の感光体と同じ厚さdQ=d1+d2とすると、 。、=21工=1L顆−−−151 (to dl+d2 131 、141 、151から εx′:12.ε2=7であるから、たとえばdl=5
1tfrLd x = 15ttmとすレバQ勢、8中
0.65 すなわち、単層に比べ、2層構造にすると同じ厚さで、
同じ帯電電位を得るのに約65チの電荷量で良い。した
がって、この電荷を消滅させるためのホトン数も65%
でよく、感度の良いことがわかる。
構造の感光体と同じ厚さdQ=d1+d2とすると、 。、=21工=1L顆−−−151 (to dl+d2 131 、141 、151から εx′:12.ε2=7であるから、たとえばdl=5
1tfrLd x = 15ttmとすレバQ勢、8中
0.65 すなわち、単層に比べ、2層構造にすると同じ厚さで、
同じ帯電電位を得るのに約65チの電荷量で良い。した
がって、この電荷を消滅させるためのホトン数も65%
でよく、感度の良いことがわかる。
このように、2層構造の感光体は利点があるにもかかわ
らず、反面、異なる利料を2層にするために2層間の密
着性が問題となる。
らず、反面、異なる利料を2層にするために2層間の密
着性が問題となる。
第2図は従来の2層構造の感光ドラムの構造を示す図で
ある。同図において、201はアルミ支持体、202は
電荷輸送層、203は感光層である。また、第3図は電
荷輸送層にSiC、感光層にα−s6を用いた従来の感
光ドラムを円筒軸に垂直に切断したときの断面の一部を
示したものである。同図において301はアルミ支持体
、302はSaC層、303はα−8i府である。
ある。同図において、201はアルミ支持体、202は
電荷輸送層、203は感光層である。また、第3図は電
荷輸送層にSiC、感光層にα−s6を用いた従来の感
光ドラムを円筒軸に垂直に切断したときの断面の一部を
示したものである。同図において301はアルミ支持体
、302はSaC層、303はα−8i府である。
従来の構造では表面粗さが0.06μm以下のアルミ支
持体の表面に、10〜20μmのSiCをブヲズマCV
Dでつけている。したがって、 SaC表面は、やは、
り 0.06μm以下の表面粗さをもつ、いわゆる鏡面
である。
持体の表面に、10〜20μmのSiCをブヲズマCV
Dでつけている。したがって、 SaC表面は、やは、
り 0.06μm以下の表面粗さをもつ、いわゆる鏡面
である。
この表面上に5〜10μmのα−8iをプラズマCVD
でつけるため、α−s7とSaCの密着性が悪く、α−
s7層がはがれる場合が多い。たとえば、温度が40℃
、温度が90係の雰囲気中に10日以上放置した場合、
マイナス10℃とプラス100℃の温度サイクルを50
回以上行なった場合等にα−S1層がはがれることがし
ばしは起こる。また帯電露光試験を1層万回以上行なっ
た場合にも、1藺φ程度の円状にα−SZがはがれるこ
とがある。
でつけるため、α−s7とSaCの密着性が悪く、α−
s7層がはがれる場合が多い。たとえば、温度が40℃
、温度が90係の雰囲気中に10日以上放置した場合、
マイナス10℃とプラス100℃の温度サイクルを50
回以上行なった場合等にα−S1層がはがれることがし
ばしは起こる。また帯電露光試験を1層万回以上行なっ
た場合にも、1藺φ程度の円状にα−SZがはがれるこ
とがある。
このように従来の2層構造の感光体には密着性が悪いと
いう欠点がある。
いう欠点がある。
本発明はかかる欠点を除去したものであって、その目的
とするところは、2層構造の感光体における両層の密着
性を良くすることにある。
とするところは、2層構造の感光体における両層の密着
性を良くすることにある。
電荷輸送層にSiCを、感光層にα−SZを用いた場合
について本発明を説明する。本発明はSaC電荷翰送層
とα−SZ感光層の間に、ダンパ一層として、SaC層
より膜中の炭素量が少なく、誘電率がSiC層とα−s
7層の中間値であるアモルファスSaC層を設けること
によって、従来の欠点を除去したものである。本発明の
構造を従来と対比して第4図に示した。同図において、
401はアルミ支持体402はSaC層、403はα−
5aCダンパ一層、404はα−s7層である。以下に
第4図を使用して製造方法を説明する。
について本発明を説明する。本発明はSaC電荷翰送層
とα−SZ感光層の間に、ダンパ一層として、SaC層
より膜中の炭素量が少なく、誘電率がSiC層とα−s
7層の中間値であるアモルファスSaC層を設けること
によって、従来の欠点を除去したものである。本発明の
構造を従来と対比して第4図に示した。同図において、
401はアルミ支持体402はSaC層、403はα−
5aCダンパ一層、404はα−s7層である。以下に
第4図を使用して製造方法を説明する。
アルミ支持体401の上如、モノシラン(5iH4)、
ジボラン(B21H6) +メタン(CHa ) +水
素(Hz)の混合ガスを用い通常のプラズマCVD法で
約1 jμrn sac層402をつけたのち、CH4
ガス流量を少なく、B2H,流量を適正量に変え高周波
放電を行ない、約1μmのα−5aC層403をつける
。
ジボラン(B21H6) +メタン(CHa ) +水
素(Hz)の混合ガスを用い通常のプラズマCVD法で
約1 jμrn sac層402をつけたのち、CH4
ガス流量を少なく、B2H,流量を適正量に変え高周波
放電を行ない、約1μmのα−5aC層403をつける
。
さらにガスを、s$1(4,B2 HOy B2の混合
ガスに切シ替えてプラズマCVD法で約5μmのα−s
7層404を成膜する。
ガスに切シ替えてプラズマCVD法で約5μmのα−s
7層404を成膜する。
α−5aC層はα−84層とSaC層の中間的性質を有
するため、両者との密着性がよく、それ故、E3iC/
a −BiC/a −Bi3層構造にすることによシ、
電荷輸送層と感光層の密着性が非常によくなる。
するため、両者との密着性がよく、それ故、E3iC/
a −BiC/a −Bi3層構造にすることによシ、
電荷輸送層と感光層の密着性が非常によくなる。
信頼性試験の結果、温度40℃、湿度90チの雰囲気中
に30日問おき、さらにマイナス10℃とプラス100
℃の温度サイクルを50回かけてもα−8i層のはがれ
はまったくみられなかった。
に30日問おき、さらにマイナス10℃とプラス100
℃の温度サイクルを50回かけてもα−8i層のはがれ
はまったくみられなかった。
また、帯電露光試験におじでもlO万回時点ではピンホ
ールの発生はみられなかった。
ールの発生はみられなかった。
このように本発明によって、電荷輸送層と感光層の密着
性を向上させることができた。
性を向上させることができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は電荷輸送層と感光層を有する2層構造感光体の
原理図を示す。 gg2図は従来の2層構造の感光ドラムの構造を示す。 第3図は電荷輸送層にsic 、感光層にα−SZを用
いた従来の感光ドラムを円筒軸に垂直に切断したときの
断面の一部を示す図である。 第4図は本発明の電子写真感光体の構造を示す。 401・・アルミ支持体 402・・SiC層403−
・α−81,0層 404・・α−s4層。 以 上 444 区人ム且皇訪精工舎 第 1 因 第2図
原理図を示す。 gg2図は従来の2層構造の感光ドラムの構造を示す。 第3図は電荷輸送層にsic 、感光層にα−SZを用
いた従来の感光ドラムを円筒軸に垂直に切断したときの
断面の一部を示す図である。 第4図は本発明の電子写真感光体の構造を示す。 401・・アルミ支持体 402・・SiC層403−
・α−81,0層 404・・α−s4層。 以 上 444 区人ム且皇訪精工舎 第 1 因 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 11)金属上に形成しfc第1の半導体層上に、前記第
1の半導体層とは誘電率の異なる第2の半導体層を形成
した電子写真感光体において、第1の半導体層と第2の
半導体層の間に、第3の半導体層、必要に応じて第4の
半導体層を設けることを特徴とする電子写真感光体。 (2)前記第3及び第4の半導体の誘電率が、第1の半
導体の誘電率と第2の半導体の誘電率の中間値であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感
光体。 (3)前記第1の半導体層として炭化シリコン(5ic
)ti2の半導体層としてアモルファスシリコン(α−
8i)、第3.第4の半導体層としてアモルファス炭化
シリコンca−sic)tl−用いた仁トヲ特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。 141前記第1の半導体層としてアモルファスシリコン
、第2の半導体層として炭化シリコン、第3゜第4の半
導体層としてアモルファス炭化シリコンを用いた仁とを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17065483A JPS6061759A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17065483A JPS6061759A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6061759A true JPS6061759A (ja) | 1985-04-09 |
Family
ID=15908884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17065483A Pending JPS6061759A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6061759A (ja) |
-
1983
- 1983-09-16 JP JP17065483A patent/JPS6061759A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS61100759A (ja) | 光導電部材 | |
JPS6061761A (ja) | 電子写真用感光体 | |
JPS60119567A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6061759A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS61208056A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6035745A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6035744A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS58171056A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS61105560A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6066257A (ja) | 電子写真感光体作製方法 | |
JPS60112047A (ja) | 光導電部材 | |
JPS6194048A (ja) | 感光体 | |
JPS62156667A (ja) | 感光体 | |
JPS6059356A (ja) | 光導電部材 | |
JPS61166552A (ja) | 静電潜像担持体 | |
JPS603636A (ja) | 静電潜像担持体の製造方法 | |
JPS58107546A (ja) | 電子写真感光体製造方法 | |
JPS58217940A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6219877A (ja) | 電子写真感光体の製造方法 | |
JPH04296881A (ja) | 画像形成装置 | |
JPS5945445A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPH0247665A (ja) | 像担持体 | |
Maldonado et al. | Measurement of the effective wavelength of x-ray lithography sources | |
JPH0282261A (ja) | 像担持体 | |
JPH04218059A (ja) | 画像形成装置 |