JPS603506A - 環状円板の寸法測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、ビデオディスク等の環状円板の形状を測定す
るだめの環状円板の寸法測定装置に関する。

〔発明の技術的背景とその問題点〕

一般にビデオディスクは、例えば第１図（ａ）。

（ｂ）に示す如く環状円板の両面に現状の突条部を形成
したものからなっておシ、その形状を規格内に保つとと
は再現性ある画像再住を行なう上で極めて重要である。

そこで従来では、ディスク作成後に例えば作業者が、外
径り、内径Ｍおよび厚さり、、Ｄ２については外側マイ
クロメータ、内側マイクロメータあるいは３次元測定器
を用い、また高さＨはハイドゲージによる比較測定を行
なうことにより、手動にて測定している。

とのだ、め、従来では測定値に個人差が生じ易く、この
結果測定結果の信頼性が低く、また高精度の測定を行な
うには作業者の熟練と多くの時間および手間を要するた
め、測定能率が著しく低かった。

〔発明の目的〕

本発明は、熟練を要することなく高Ｍ度の測定を行ない
得、しかも簡単かつ高速度に測定を行ない得て測定能率
の高い現状円板の寸法測定装置を提供することを目的と
する。

〔発明の概要〕

本発明は上記目的を達成するために、被測定物としての
現状円板を測定用基台にセットし、この基台に環状円板
の外径、内径、厚さおよび高さを検出するだめの検出機
構をそれぞれ設け、かつ上記環状円板を基台から浮上さ
せて回動させる支持機構を設け、この支持機構によりｉ
状円板を一定角度回動させる毎に、上記各検出機構によ
シ外部の測定を行なうようにしたものである。

〔発明の実施例〕

第２図は、本発明の一実施例における寸法測定装置の機
構部分の構成を示すもので、図中１０は装置筐体を示し
ている。この装置筐体１０の上部には、第３図に示す如
く錐孔状の切欠部１１を有する基台１２が設置してあシ
、との基台１２上に被測定物としての環状円板２０がセ
ットされるようになっている。

さて、上記基台１２の上方には、中央部が幅狭に形成さ
れた基板１３が支柱１５を介して配　１設してあシ、こ
の基板１３の中央部上には内径検出機構３０が設置しで
ある。この内径検出機構３０は、可動軸３ノの周面に放
射状に拡縮可能な３個の検出子３２．・・・を取着した
内径検出部３３と、この内径検出部３３を昇降自在に支
持する昇降支持部３４と、上記内径検出部３３の可動シ
ャフト３１の位置を検出する位置検出部３５とから構成
されている。上記昇降支持部３４は、取付台３６に昇降
用モータ３７を設置し、とのモータ３７の軸に送シねじ
３８を連結するとともにこの送シねじ３８に前記内径検
出部３３を支持する支持板３９を螺着したものである。

また位置検出部３５は、取付台４１に検出器４２を取着
したものとなっている。

一方前記基板１３の両端部には、外方へ突出する補助板
１４．１４がそれぞれ設けてあシ、これらの補助板１４
．１４には互いに対をなす外径検出機構５０．５０が設
置されている。とれらの外径検出機構５ｏ　、ｓｏは、
それぞれ褒状円板２０の外周面に当接する外径検出器５
１゜５１と、これらの外径検出器５１．５１を環状円板
２０周縁部の接線方向へ移動可能に支持す５− るスライド機構５２．５２とから構成されている。これ
らのスライド機構５２．５２は、モータ５３，５３で送
りねじ機構を駆動することによシ、上記外径検出器５１
．５１の移動を行なうものである。

また、前記基台１２上には厚さ高さ検出機構６０が設置
しである。この厚さ高さ検出機構６０は、基台１２上に
セットされる環状円板２０の上下両面に当接する一対の
厚さ高さ検出器６１と、これらの検出器６１を基台１２
に設けた切欠部１１を通路として環状円板２０の径方向
に移動させる移動機構６２とから構成されている。この
移動機構６２は、上記各検出器６１を支持する二股状支
持体６３をスライド機構６４に固定し、モータ６５によ
シこのスライド機構６４をスライド駆動して上記支持体
６３を移動させることによ）、各検出器６１の移動を行
なわせるものである。

さらに、前記装置筐体１０内には、基台１２上にセット
された環状円板２０を浮上させかつ６一 回動させる回動機構７０が設置しである。仁の回動機構
７０は、環状円板２０を回動させる回動支持部７１と、
この回動支持部７１とともに環状円板２０を浮上させる
浮上支持部７２とからなっている。上記回動支持部７１
は、環状円板２０の中央部を支持するガイド付き支持部
７３を有しておシ、この支持部をモータ７４によシ回動
駆動することによシ猿状円板２０の回動を行なわせるも
のとなっている。また上記浮上支持部７２は、モータ７
５の軸にカム７６を取着し、このカム？６によシ上記回
動支持部７１の支持板７７を昇降させるものである。

一方、第４図は本実施例における寸法測定装置の回路部
分の構成を示すものである。この回路は、マイクロプロ
セッサを主制御部として備えた制御回路１００と、内径
検出１ｆＡｍ３０の位置検出器４２の検出パルスをカウ
ントするカウンタ１０１と、外径検出器５１．５１の検
出出力および厚さ高さ検出器６１．６１の検出出力をそ
れぞれ増幅して制御回路１００に導ひく増幅器１０２．
１０３と、制御回路１ｏｏからの指示に従って駆動制御
信号を発生する駆動制御回路１０４と、プリンタ１０５
およびＣＲＴモニタ１θ６からなる測定結果出力部１０
７とから構成されている。

次に、以上のように構成された装置の作用を測定手順に
従って説明する。先ず、被測定物としての環状円板２０
を基台１２上の所定の位置にセットし、との状態で図示
しないスタートブタンを操作して制御回路１００を駆動
する。そりすると制御回路１００から、先ず内径検出機
構３０を駆動するだめの指示が出され、これによシモー
タ３７が動作して検出子３２が降下し、環状円板２０の
内孔に挿入される。そして、上記検出子３２はラジアル
方向に移動してこれにより環状円板２０の心出しが行な
われる。またこの心出しが終了し、各検出子３２がすべ
て環状Ｆ′１７内孔Ｏ１’［ｌ？ｍＫ″″す６２・ｔ　
Ｏｈ　ｔ！　（Ｄ　Ｉ可動軸３１の位置が位置検出器４
２で検出されてその検出パルスがカウンタ１０１でカウ
ントされ、このカウント値が内径検出値として制御回路
１００に導入される。

そうして内径検出が終了すると、制御回路１００は外径
検出機構５０．５０を駆動制御するだめの指示を発する
。この結果、外径検出機構６０．５０のモータ５３．５
３がそれぞれ動作して外径検出器５１．５１が環状円板
２０の外周面に沿って往復移動する。そして、との往復
動作中に得られた各外径検出器５１．５１の検出出力は
、増幅器１０２で増幅されたのち制御回路１０θに導入
される。制御回路１００は、上記検出出力からピーク値
を検出してこのピーク値を環状円板２０の外径寸法とし
て一時記憶する。

仁の外径検出を終了すると、制御回路１００は、続いて
厚さ高さ検出機構６０を駆動制御するための指示信号を
発する。そうすると、厚さ高さ検出機構６０は、モータ
６５が駆動されて検出器６１．６１が環状円板２０の径
方向に往復移動する。そしてこの往復移動時に、上記検
９− 出器６１．６１は褒状円板２０の予め定められた所定の
部位に停止し、その位置で厚さあるいは高さの検出を行
って、その検出出力を制御回路１００へ供給する。制御
回路１００は、上記各検出器６１．６１の検出出力から
、その和演算を行なうことによシ厚さをめ、また一方の
検出器６１の検出値をそのまま高さとしてそれぞれメモ
リに記憶する。なお、このとき他方の検出器６１が環状
円板２０に当接しているため、それによるたわみの分を
補正する演算を行ない、その補正結果を高さとする。

さて、以上のように−通り各部の測定を終了すると、制
御回路１００は回動機構７０を駆動するための指示を発
する。そうすると、回動機構７θは、先ずモータ７５が
駆動されてカム７６が回動し、これによシ回動支持部７
１が上昇してこの結果環状円板２０が基台１２から浮上
する。そして、この状態でモータ７４が回動し、これに
よシ上記猿状円板２０は一定角度だけ回動する。との回
動が終了すると、モーター１〇− ７５が再度回動じて円板２ｏは再び基台１２上にセット
される。

そうして、環状円板２ｏの角度位詮が変更されると、制
御回路１００は前述した測定手順と同じ手順で各検出機
構を駆動するための指示を発し、各検出機構にそれぞれ
寸法検出を行なわせて、それによる検出結果をメモリに
一時記憶する。以後同様に、制御回路１００は回動機構
７０によシ猿状円板２０を一定角度ずつ回動させる毎に
各検出機構に寸法検出を行なわせ、すべての角度につい
て寸法検出を行なった時点で、メモリに記憶しである検
出値を読出し、プリンタ１０５およびＣＲＴモニタ１０
６に出力して表示させる。

かくして、一枚の環状円板に対する寸法測定を終了する
。

このように、本実施例であれば、作業者は操作／？ネル
に設けたスタートボタンを操作するだけで、自動的に環
状円板の全領域に対する寸法測定を行なうことができ、
この結果測定値にバラツキを生じることなく高精度の測
定を行なうことができる。また、高速度に測定を行なう
ととができ、これによシ測定能率を大幅に向上させるこ
とかできる。

なお、本発明は上記実施例に限定されるものではない。

例えば、制御系を分割することによシ、内径、外径、厚
さ高さ各検出機構を並行に駆動させてもよい。このよう
にすれば、１枚のディスクに対する測定時間をさらに短
縮するととができ、測定能率を高めることができる。そ
の他、被測定物の種類や各検出機構の構成、回動機構の
構成、制御回路部の構成等についても、本発明の要旨を
逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。

〔発明の効果〕

以上詳述したように本発明によれば、熟練を要すること
なく高精度の測定を行なうことかでき、しかも簡単かつ
高精度に測定を行なう゛こと　１ができ、測定能率の向
上をはかり得る環状円板の寸法測定装置を提供すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）　、　（ｂ）はビデオディスクの形状を示
すもので、（ａ）は平面図、（ｂ）はその側断面図、第
２図〜第４図は本発明の一実施例における寸法測定装置
を示すもので、第２図は機構部分の構成を示す斜視図、
第３図は第２図の一部分を示す平面図、第４図は回路部
分の構成を示すブロック図である。 １０・・・装置筐体、１２・・・基台、１３・・・基板
、２０・・・環状円板、３０・・・内径検出機構、３２
−・・検出子、３４・・・昇降支持部、３５−・位置検
出部、４２・・・位置検出器、５０・・・外径検出機構
、５１・・・外径検出器、５２・・・スライド機構、６
ｏ・・・厚さ高さ検出機構、６１・・・厚さ高さ検出器
、６２・・・移動機構、６４・・・スライド機構、７０
・・・回動機構、７１・・・回動支持部、７２・・・浮
上支持部、１０θ・・・制御回路。 出願人代理人　弁理士　鈴１江　武　彦１３− 第１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被測定物を載置°する基台と、被測定物の中央部に対向
   配置され被測定物の径方向に拡縮する複数の検出器およ
   びこれらの検出器を昇降可能に支持する支持部を有し上
   記各検出器を昇降させて被測定物の内孔に挿入するとと
   もに拡縮させて内周面に当接させその内径寸法を検出す
   る内径検出機構と、前記被測定物の外周縁部の相対向す
   る２個所に対向配置され被測定物の径方向に進退自在に
   構成された一対の検出器およびこの検出器を被測定物外
   周縁部の接線方向に移動可能に支持する支持部を有し上
   記検出器を被測定物の外周面に沿って移動させてその外
   径寸法を検出する外径検出機構と、前記被測定物の上下
   両面に対向配置された一対の検出器およびこれらの検出
   器を被測定物の径方向に移動可能に支持する支持部を有
   し検出器を被測定物の所定の位置に移動させてその厚さ
   および高さ寸法を検出する厚さ高さ検出機構と、前記被
   測定物の下方に配設され前記被測定物を昇降支持する昇
   降支持部およびこの昇降支持部によシ基台から浮上され
   た被測定物を回動させる回動支持部を設けた支持機構と
   、この支持機構によシ被測定物を一定角度回動させる毎
   に前記各検出機構を駆動制御して被測定物の内径、外径
   、厚さおよび高さの各寸法の検出を行なわせる制御回路
   とを具備したことを特徴とする現状円板の寸法測定装置
   。