JPS644126B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS644126B2
JPS644126B2 JP55151405A JP15140580A JPS644126B2 JP S644126 B2 JPS644126 B2 JP S644126B2 JP 55151405 A JP55151405 A JP 55151405A JP 15140580 A JP15140580 A JP 15140580A JP S644126 B2 JPS644126 B2 JP S644126B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface plate
plates
displacement
suspension
center
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55151405A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5776406A (en
Inventor
Hatsuyuki Arai
Isao Nagahashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Speedfam Corp
Original Assignee
Speedfam Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Speedfam Corp filed Critical Speedfam Corp
Priority to JP55151405A priority Critical patent/JPS5776406A/ja
Publication of JPS5776406A publication Critical patent/JPS5776406A/ja
Publication of JPS644126B2 publication Critical patent/JPS644126B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/30Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. mechanical strain gauge

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は上定盤の下定盤に対する変位量を検
出する両面ラツプ盤における変位検出装置に関す
るものである。
従来この種の装置としては第1図に示すものが
ある。
すなわち薄くてもろい被加工物をラツピングす
る場合に、初期的にある寸法のバラツキを吸収す
るために低い加重でスタートするが、この際アー
ム2は下向きの力、すなわちアームに吊下げられ
ている重量、上定盤および上定盤吊り等で逆圧加
重を差し引いた力を受け、たわみ現象を発生す
る。その後初期の寸法のバラツキが吸収されたと
き、すなわち研磨によつて寸法が一様になつたと
き、アーム2から吊下げられている部分の重量が
すべて加工圧として下向きの力に切り変るとアー
ム2は垂直方向すなわち補助シリンダー5のピス
トン以下の重量から自由になり、たわみ分が戻
る。寸法的には0.4mm〜0.6mm程度上昇する。した
がつて第1図ので示すように上部すなわちアー
ム2から吊下げられている部分に固定点を設け、
そこから検出子45を出すことが行われるが、こ
れは誤差の多い測定となり、定寸の目的から外れ
るものである。また同様に加圧したばあいにはそ
の加圧の程度によりアーム2は上昇し、これに自
動調芯ベアリングの誤差が加わつて、ラツピング
しているにもかかわらず被加工物が見かけ上厚く
なつてしまう現象を生ずる。
また第1図ので示すように自動調芯ベアリン
グ7から下の部分で測定しようとすると、回転部
に検出子45を取付けるためにスリツプリングや
ブラシが必要となり、構造的に複雑であると同時
にドライバー15の上面を測定点とすると検出子
をつねに同じ点に設定する必要があり、操作者に
精神的な負担を与える欠点があり、かつ高価とな
る。
さらに第1図ので示すように上定盤11の外
周部から測定する方法がとられているが、この方
法にあつてはまず測定子が上定盤11とつねに摺
動するため、測定子の摩耗が激しく、上定盤11
外面の平行度、平面度、面粗度からして誤差が生
じ易く、また下定盤12のスラスト荷重を一度イ
ンターナルギア22の駆動軸に伝え、最終的には
インターナルギア駆動軸のスラストベアリングで
受ける構造の機械にあつては2つのベアリングに
よる複合誤差が回転中に上下方向の誤差となつて
回転中心より外周部で極端にあらわれる現象が起
りひじように不正確な測定となる。加えて定盤の
裏面精度が正確な測定をより不可能にしている。
この発明は変位検出器を定盤等の可動体から独
立して固定するとともに上定盤の沈下量をその中
心付近において検出しようとするもので、以下図
によつてこの発明の一実施例を説明する。
第2図はこの発明を適用した両面ラツプ盤の縦
断正面図、第3図は変位検出装置の要部を示す拡
大縦断面図で、メインシリンダー1を保持するア
ーム2が支柱3に取付けられる。メインシリンダ
ー1の下方にはメインシリンダーロツド4が設け
られ、このロツド下部にはサブシリンダー5を介
してサブシリンダーロツド6が連結されている。
このロツドの下部には自動調芯ベアリング7が設
けられこれによつて上定盤吊り8がロツド6に連
結されている。上定盤吊り8の下部にはスタツド
9,9が設けられ、このスタツドの下端には上定
盤11が連結され、この定盤はフツク10を介し
てドライバー15に連結され、さらにこのドライ
バーは駆動軸16に連結される。この駆動軸の下
端はベアリング17を介してスタツド18に回転
自在に支持される。駆動軸16の下端にはギア1
9が取付けられ、これを介して駆動軸16はたと
えばモータ等の駆動源(図に示してない)に連結
される。上定盤11には下定盤12が対向して配
設され、これはギア20を有する駆動軸21によ
つて上定盤11と反対方向に回動される。また上
下定盤11,12の外側にはインターナルギア2
2が設けられ、このギアはギア25を有する駆動
軸26によつて駆動される。上下定盤11,12
の中央部付近にはこれと同心的に太陽ギア27が
設けられ、このギアはギア28を有する駆動軸2
9によつて駆動される。上下定盤11,12間に
は複数の円板状のキヤリア30,30が挾まれ、
このキヤリアには被加工物31,31を収容する
複数の穴32が設けられ、その外周縁はインター
ナルギア22および太陽ギア27とかみ合つてい
る。上定盤吊り8の中心部にはロツド6とほぼ同
径の穴33が設けられ、この穴の周辺において上
定盤吊り8の下面には支持体35が突設され、こ
の支持体にはたがいに所定の間隔をおいて一対の
ベアリング36,36が設けられ、支持体35に
は各ベアリング36,36によつて回転自在に支
持された一対のプレート38,38が設けられて
いる。これらのプレートには2つの係合孔40,
40が設けられている。ロツド6の下端には各プ
レート38の係合孔40,40の間隔と等しい間
隔をおいて一対のピン41,41が突設され、こ
のピンは穴33を貫通し係合孔40,40に貫挿
され、これによつてプレート38,38はピン4
1に対し軸方向に移動自在に係合し、これによつ
てプレート38,38の上定盤吊り8に対する回
動が阻止される。両プレート38,38間にはピ
ン41,41を囲むようにスプリング42が設け
られ、これによつてベアリング36等の摩耗を吸
収するようにされている。スタンド18にはパイ
プ43の下端が固定され、その上端は駆動軸16
内に沿つて上方に延び、ドライバー15内に突出
している。パイプ43の上端には変位検出器45
が固定具46により固定されている。
この変位検出器45としては、たとえばエアゲ
ージ、差動変圧器型、電磁誘導型等従来公知のも
のを使用し、いずれにしても、変位を電気量に変
換して計測できるものがよい。
そして所定の測定ストロークを有する測定子4
7が設けられ、この頂部は一方のすなわち下方の
プレート38の下面中心部と衝合している。変位
検出器45のコード48はパイプ43およびスタ
ンド18を通して外部に導かれている。変位検出
器45は上下定盤11,12から独立して固定さ
れている。なお符号50,51,52,53,5
4および55はベアリングである。
上記構成におけるこの発明の動作は、被加工物
31を下定盤12上に載置したキヤリア30の穴
32内に収容し、さらに上定盤11によつて挾
み、この状態で上下定盤11,12、インターナ
ルギア22、および太陽ギア27をモータにより
回転すると、キヤリア30,30は自転しながら
公転し、これによつて被加工物はラツピングされ
る。このとき被加工物31の厚さは、測定子47
が実質的に上定盤11の下面と衝合しているた
め、上定盤11の下方への移動すなわち降下変位
量で検出され、この変位量は変位検出器45の信
号出力となつてコード48を通して外部回路(図
に示してない)に導かれる。
この発明は上述のように上定盤の中心部におい
てその変位を検出するとともに変位検出器は定盤
から独立して固定されているため、アームのたわ
みや自動調芯ベアリング等の外乱の影響を受け
ず、しかも上定盤の中心部で測定することにより
上定盤の傾きによる誤差が少なく、かつ定盤回転
中においても測定子の先端が振れたりすることが
なく測定精度を向上させることができ、また測定
子のプレートに対する衝合部分は回転することな
く単に当接しているだけであるから測定子等が摩
耗することなく、これまた測定精度を向上させる
効果を助長する。さらに変位検出器と衝合するプ
レートはスプリングによりつねに一定の力が与え
られているため、ベアリングが摩耗し、多少のが
たつきを生じても測定誤差は生じない効果があ
る。したがつて従来のもののように作業中に装置
を何回か停止させ、その時点の寸法から次の加工
時間を経験的に割り出し、最終仕上り寸法を得る
方法は不要で、変位検出器の出力を監視するのみ
で連続的に行うことができ、これによつて被加工
物の不良率の減少および製造原価の低減を図るこ
とができる。したがつて最終仕上り寸法が同一で
あれば、作業者は加工時間に何ら注意を払う必要
はなく、単に被加工物の挿入および取出しのみの
作業をすればよく、いきおい1人で操作する装置
の台数も増大できる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置を示すラツプ盤の縦断正面
図、第2図はこの発明の一実施例を示すラツプ盤
の縦断正面図、第3図はこの発明の変位検出装置
の要部を示す拡大縦断正面図である。 6……ロツド、7……自動調芯ベアリング、8
……上定盤吊り、11……上定盤、12……下定
盤、33……穴、35……支持体、36……ベア
リング、38……プレート、40……係合孔、4
1……ピン、42……スプリング、45……変位
検出器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 たがいに対向して配設され、かつたがいに反
    対方向に回転される上下定盤と、上記上定盤に取
    付けられ、自動調芯ベアリングを介してロツドに
    回転自在に支持された上定盤吊りと、この上定盤
    吊りの中央下方に突出して設けた支持体と、この
    支持体に、たがいに所定の間隔をおいて配設され
    た一対のベアリングと、これら各ベアリングにそ
    れぞれ回転自在に支持された一対のプレートと、
    上記ロツドの下端に突設され、上記上定盤吊りに
    設けた穴を貫通し、かつ上記両プレートとその軸
    方向に移動自在に係合し、これら両プレートの回
    転を阻止するピンと、上記両プレート間に設けら
    れたスプリングおよび上記上下定盤から独立して
    固定され、かつ上記プレートの一方とこれの下側
    から衝合し、上記上定盤のほぼ中心における軸心
    方向の変位量を検出する変位検出器とを備えた両
    面ラツプ盤における変位検出装置。
JP55151405A 1980-10-30 1980-10-30 Displacement detector in both side lapping plate Granted JPS5776406A (en)

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JP55151405A JPS5776406A (en) 1980-10-30 1980-10-30 Displacement detector in both side lapping plate

Applications Claiming Priority (1)

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JP55151405A JPS5776406A (en) 1980-10-30 1980-10-30 Displacement detector in both side lapping plate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5776406A JPS5776406A (en) 1982-05-13
JPS644126B2 true JPS644126B2 (ja) 1989-01-24

Family

ID=15517864

Family Applications (1)

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JP55151405A Granted JPS5776406A (en) 1980-10-30 1980-10-30 Displacement detector in both side lapping plate

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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0448925Y2 (ja) * 1986-06-02 1992-11-18
JPH1034529A (ja) * 1996-07-18 1998-02-10 Speedfam Co Ltd 自動定寸装置
JP2006231471A (ja) 2005-02-25 2006-09-07 Speedfam Co Ltd 両面ポリッシュ加工機とその定寸制御方法
JP2006231470A (ja) 2005-02-25 2006-09-07 Speedfam Co Ltd 両面ポリッシュ加工機の定寸方法及び定寸装置
CN102538645B (zh) * 2011-12-26 2013-11-20 天津天海同步科技股份有限公司 一种锥齿轮综合检测仪
JP6491024B2 (ja) * 2015-04-20 2019-03-27 不二越機械工業株式会社 両面研磨装置および研磨方法

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JPS5776406A (en) 1982-05-13

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