JPS6032133A

JPS6032133A - 光学式デイスクレコ−ド再生装置のフオ−カス調整回路

Info

Publication number: JPS6032133A
Application number: JP14131683A
Authority: JP
Inventors: Tadashi Kojima; 正小島; Hiroshi Nakane; 博中根
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1983-08-02
Filing date: 1983-08-02
Publication date: 1985-02-19

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の技術分野〕この発明は１例えばＣＤ（光学式；ンバクトディスク）
方式のＤＡＤ　（デジタルオーディオディスク）用に好
適する光学式ディスクレコード再生装置に係り、特にそ
のフォーカス調整回路の改良に関する。

〔発明の技術的背景〕

近時、音響機器の分野では、可及的に高忠実度再生化を
図るために、ＰＣＭ（パルスコード−ｅシｓｓ−レ−−
７ヨン）技術を利用したデジタル記録再生方式を採用し
つつある。つまり、これはデジタルオーディオ化と称さ
れているもので。

オーディオ特性が記録媒体の特性に依存することなく、
在来のアナログ記録再生方式によるものに比して格段に
優れたものとすることが原理的に確立されているからで
ある。

この場合、記録媒体としてディスク（円盤）を対象とす
るものは、ＤＡＤＶステムと称されており、その記録再
生方式としても光学式、靜電容瀘式及び機械式といった
ものが提案されているが、いずれの方式を採用する場合
であってもそれを具現する得失装置としては、やはり在
来のそれにみられない種々の高度のコ／トロール機能や
性能等を満足し得るものであることが要求されている。

すなわち、これはＣＩ）方式のものを例にとってみると
、直径１２（は〕、厚さ１．２〔朋〕の透明樹脂円盤に
デジタル（ＰＣＭ）化データに対応したピット（反射率
の異なる凹凸）を形成する金属薄膜を被着してなるディ
スクを、ＣＬＶ（線速度一定）方式により約５００〜２
００　Ｃｒ、ｐｍ）の可変回転速度で回転駆動せしめ、
それを半導体レーザ及び光電変換素子を内蔵した光学式
ピックアップで内周側から外周側に向けてリニアトラッ
キング式に再生せしめるものであるが。

該ディスクはトラックピッチが１．６　（／１ｍＪであ
って片面でも約１時間のステレオ再生をなし得る膨大な
情報量がプ四グ２ムエＩＪア（半径ｚ５〜５８〔關〕）
に、収録されているとともに、それらのインデックスデ
ータ等がリードインエリア（半径２３〜２５　（ＩＩ）
　）に収録されているといったことからも容易に窺り知
れるところである。

ここで、上記光学式ピックアップは、半導体レーザ、ビ
ームスプリッタ、収束レンズ及び光電変換素子としての
フォトディテクタを備えている。そして、半導体レーザ
から照射された光ビームは、ビームスプリッタを直進し
、収束レンズによってディスクのピット列上に焦点（ス
ポット）が合わせられる。また、ピット列によって反射
された光ビームは、収束レンズを逆行し、ビームスプリ
ッタにより略直角に反射されフォトディテクタに受光さ
れて、電気的信号（几Ｆ信号）Ｋ変換されるものである
。

ところで、上記のようなＣＤ方式の１３　Ａ、　Ｉ）　
Ｍ主装置にあって、特に肝賛なことは、ディスクに記録
されたデジタル化データを誤りなく正確に読み取るため
に、光ビームがディスク上で焦点ずれ（フォーカスエ２
−）を生ずることなく。

正確にディスクのピット列上に焦点が合うように、収束
レンズをディスク面に対して接近させたり離間させたり
する如く制御する、いわゆるフォーカスサーボな施すこ
とである。そして、このフォーカスサーボは、光辱式ピ
ックアップから読み取られた几Ｆ信号に基づいて、光ビ
ームのディスク上における焦点ずれに対応したフォーカ
スエラー信号を生成し、該フォーカスエン−信号に基づ
いて収束レンズをフォーカス方向に制御することにより
行なわれる。

第１図はこのような従来のフォーカスサーボ手段を示す
ブロック構成図であり、第２図は第１図を具体的に示し
たものである。すなわち。

第１図中１１はフォトディテクタ部であり、第２図に示
すように、４分割式のフォトディテクタ１２の各受光領
域り、乃至Ｄ４のうちそれぞれ対角線上に位置する受光
領域ＰＤ、、ＦＤ、及びＰＬ）、。

ＰＤ、同志の出力り、、Ｄ、及びり、　、　Ｄ４を加算
する如き構成であって、２つの信号（Ｄ、十Ｄｓ　）　
−（ＤＩ＋Ｄ４）を出力するものである。

このうち（１）、＋Ｄ、）なる出力は、演算増幅器ＯＰ
、よりなる増幅回路１３で増幅された後、半固足司変抵
抗器几、よりなるオンセット調整回路１４で直流的オフ
セットが与えられる。また。

（Ｄｇ　＋Ｄ４　）なる出力は、演算増幅器ＣＰ、より
なる増幅回路１５で増幅された後、可変抵抗器Ｉｔ。

よりなるオンセット調整回路１６でＭ　ｔＡｔ的オフセ
ットが与えられる。そして、両メンセット調整回路１４
．１６の出力を抵抗几、乃至几。及び演算増幅器ＯＰ、
よりなる減算器１７で減算ノることにより、フォーカス
エラー信号が生成されるものである。

具体的に言えば、フォトディテクタ１２の受光領域Ｐｉ
）、、ＰＩ）、からの出力り、　、　Ｄ、は電流加算さ
れるもので、その加算電流は半固定可変抵抗器Ｒ１の両
端に電圧変換される。演算増幅器ｏｐ、の出力はＣＤ　ｔ　＋Ｄ　ｓ　）・Ｒ０となる。同様に、演算増幅器ＯＦ、の出力は、ＣＤｚ＋
Ｄ＋）　・　８重となり、今、几８＝几、、Ｒ４＝几ｅとすると、フォー
カスエラー信号は、となる。このため、半固定可変抵抗器Ｒ１を所定値に設
定し、町変抵抗器几、の値を変化させることにより、収
束レンズの位置（オフセット位置ンをフォーカス方向に
移動させることができるものである。このようにしてオ
フセット位置の調整された収束し／ズは、ディスク再生
時に上記出力ＤＩ乃至Ｄ４に応じてオフセット位置を中
心にしてフォーカス方向に制御され、ここにフォーカス
サーボが行なわれるものである。

ここで、上記収束レンズのオフセット位置の調整（つま
り可変抵抗器Ｒ３の値の調整）は、ディスクを再生し読
み取られた信号のアイパターンを観劇して、その開口率
が最良となるようにして行なわれている。なお、フォト
ディテクタ部１１から出力される（Ｄｓ十Ｄｓ）及ヒ＜
　１）＊＋Ｄ４＞なる信号を加算器１８で加算した信号
（Ｄ　ｒ　＋ＤｓＤｌ＋Ｄ４）が上記ＲＦ倍信号なるも
のである・〔背景技術の問題点〕しかしながら、収束レンズのフォーカス方向の移動範囲
は１通常±１〔μｍ〕程良であり１周囲温度の変化やデ
ィスクの経年変化によるそり等を考えた場合、最初に調
整゛したオフセット位置を長期間保持させるためには、
フォーカスサーボ手段の特に機械的部分の精度をかなり
高めなければならず、構成の１！！雑化を招き経済的に
不利になるとともに量産性に欠けるという問題がある０
また。フォーカスサーボ手段の精度を高めることにも％
泪ずと限界が生じるものである。

〔発明の目的〕

この発８Ａは上記事情を考慮してなされたもので、簡易
な構成で収束レンズが最適なオフセット位置をとるよう
に自動調整し得る極め℃良好な光学式ディスクレコード
再生装置のフォーカス調整回路を提供することを目的と
する。

〔発明の概要〕

すなわち、この発明は、情報信号が列状になって記録さ
れたディスクから光学式ピックアップを介して前記情報
信号を読み取るもので、該読み取られた情報信号に基づ
いて前記光学式ピックアップに内蔵された収束レンズに
対して前記ディスク上における光ビームのスポットの焦
点ずれに対応したフォーカスエラー信号を生成し、該フ
ォーカスエラー信号に基づいて前記収束レンズに対する
フォーカスサーボを行なってなる光学式ディスクレコー
ド再生装置においズ、前記光学式ピックアップから読み
取られた情報信号のエラー率を測定するエラー率測定手
段と。

このエラー率測定手段からの測定結果に基づいて前記フ
ォーカスエラー信号かフォーカスエラーのない状態に対
応する値となったときの前記収束レンズの位置を複数段
階に切換える調整手段とを具備してなることを特徴とす
るものである。

〔発明の実施例〕

以下、この発萌の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。第３図において、第１図と同一部分には同
一記号を符して示し、ここでは異なる部分についてのみ
述べる。すなわち。

増幅回路１６からの出力信号は、後述するオフセット調
整回路１９を介して減算器１７に出力される。

一方〜加算器１８から出力されるｌ（Ｆ信号は、増幅回
路２Ｑ及び復調回路２１を介して一元のデジタル化デー
タに変換される。このデジタル化データは％Ｄ／Ａ変換
機能や工２−訂正機能等を備えた１丞しない復調再生糸
に供給されて再生処理に供されるとともに、工２−率測
定回路２２に供給されてエラーの発生率を測定される。

そして、上記工２−率測定回路２２から出力される工２
−率は、制御回路２３に供給される。

この制御Ｎ路２３は、オフセット調整操作部２４の操作
に連動して、入力されるエラー率が少すくなる方向に収
束レンズのオフセット位置が移動されるように、オフセ
ット調整回路１９を制御するものである。

ここで、第４図は上記オフセット調整回路１９の詳細を
示すものである。第４図において。

第２図と同一部分には同一記号を符して示している・す
なわち、オフセラ）Ｍ整回路１９は、増幅回路１５を構
成する演算増幅器ＯＰ、の反転入力端と出力端との間に
、複数（図示の場合は５つ）の抵抗Ｒ１乃至几、１とス
イッチＳ、乃至Ｓ５とをそれぞれ直列接続したものを並
列に接続してなるものである。これらスイッチＳＩ乃至
Ｓうは１通常オフ状態となっておりｓ　１ｌＪＩＪ御回
路°２３の出力によって選択的にオン状態になされるも
のである。また、各抵抗Ｒ・、乃至ＲＩＩは、それぞれ
異なる抵抗値を有するもので、オン状態となされたスイ
ッチＳ１乃至Ｓ、に対応する抵抗Ｒ７乃至Ｈ１１の値に
よって収束レンズのオフセット位置が決まるようになる
。

この場合、抵抗几、乃至几、Ｉは、順次抵抗値が所定の
比率で大きくまたは小さくなるように投定されており、
スイッチＳＩ乃至Ｓ館が順次選択的にオン状態となされ
たとき、収束レンズのオフセット位置が例えば順次ディ
スクに対して接近または離間する方向に移動されるよう
になされているものとする。

ここで、上記制御回路２３は、第５図に示すように、オ
フセット調整操作部２４の操作に連動して駆動されるア
ップダウ・ンカウンタ２５と、このアップダウンカウン
タ２５の出力をデコードして前記スイッチ８Ｉ乃至Ｓ、
を選択的にオン状態となす信号に変換するデコーダ回路
２６とよりなるものである。そして、このアップダウン
カラ／り２６には、駆動時に例えばスイッチＳＢをオン
状態となす値が予めプリセットされ℃いるものとする。

ただし、このプリセットａは、オフセット調整操作部２
４で所望のスイッチＳ１乃至Ｓｌを選択し、アップダウ
ンカウンタ２５のプリ七ット端子２７にプリセット信号
を加えることにより、適宜変更が可能なものである。

そして、上記アップダウンカウンタ２５は。

前記エラー率測定回路２２から出方されるアップ信号及
びダウン信号が供給される毎に、１つづつアップカウン
トまたはダウンカウント動作を行なうものである。すな
わち、プリセット値がスイッチＳ、をオン状態にする値
であった場合、ダウン信号が供給されると、アップダウ
ンカウンタ２５は１つダウンカウントされ、スイッチＳ
、に代えてスイッチＳ４をオン状態による値を出力する
ようになされるものである。

次に、前記工２−率測定回路２２について説明する。ま
ず、一般的に、上記ＣＤ方式ＤＡＤ再生装置において、
デジタル化データとしては、第６図に示すように、複数
個のデータワードＤａ−を乃至Ｄａ−ｎの集りにエラー
検出用パリティ信号Ｐを付加したものを１ブロツクとし
、各プ四ツク毎に同期信号Ｓを加えるようにして、ディ
スクに記録するようにしている。ここで、ｌブロック中
の各データワードＤａ−＋乃至Ｄａ−ｎをそれぞれＷｌ
乃至Ｗｎとすると°、エラー検出用パリティ信号Ｐは、但し：Ｔは係数で表わされる。

そこで％ＤＡＤ再生装置では％第７囚に示すように、入
力端子２８に供給された前記増幅回路２０の出力を復調
回路２１でデジタル化データに変換した後、同期信号検
出回路２９で同期信号Ｓを検出し、この検出信号に基づ
いて、データワード分離回路３ｏ４でｌブロックを各デ
ータワードＤａ−を乃至Ｄａ−ｎに分離するとともに、
シンドローム検出回路３１でｌブ四ツク毎のシンドロー
ムＳを計算し、Ｓ＝ＯかＳ〜０かに応Ｌ”ｃｌブロック
毎のエラー判定を行ない、シンドローム検出回路３１の
出方信号（以下エラーブックとい艷）に基づいて出方処
理回路３２によりデータワード分離回路３ｏの出方にエ
ラー訂正等を施して前記復調再生系に出方するよ′うに
している。なお、上記シンドロームＳは。

３＝＝、Σ　Ｔｉ＊Ｗｉ■Ｐｔ＝１で表わされる・このため、上記エラー率測定回路２２は、第８図に示す
ように、シンドローム検出回路３１から出力されるエラ
ーフラグを利用するようにしている。すなわち、シンド
ローム検出回路３１から工２−７ラグが出力されると、
カウンタ回路３３が基準クロック発生回路３４から出力
される基準クロック信号をカウントする。このカウンタ
回路３３のカウント動作は、ｌブロック中においては工
２−フラグが出力される毎に順次累積加算し、次のブロ
ックに移るとクリアされて最初からカウントする↓うに
なされている。このため、ｌブロック中におけるエラー
が多いとカウント値が多くなるようになるものである。

そして、カウンタ回路３３の力゛ラント値は、比較回路
３５に出力され、メモリ３６に記憶された値と比較され
る。この比較回路３６は、カウント値とメモリ３６の記
憶値とを比較して、その大小関係に応じて前記制御回路
２３のアップダウンカウンタ２５に対してアップ信号ま
たはダウン信号を出力するとともに、上記カウント値を
メモリ３６の記憶値に代えて記憶させるように動作する
ものである。すなわち、比較回路３５は、ｎ番目のブロ
ックのカウント値（エラー率）とｎ−１番目のブロック
のカウント値（工２−率）とを順次比較しているもので
ある。

上記のような構成において、以下第９図に示すフローチ
ャートを参照してその動作を説明する０まず、スタート
（ステップＳ。）すると、次のステップＳ１で上記メモ
リ３６の内容を最大値・つまりｌブロック中全てのデー
タワードＤａ−１乃至Ｄａ　−ｎ　にエラーが発生した
値に設定する。そして、ステップＳ、でアップダウンカ
ウンタ２５に初期値（この場合スイッチｓ１１をオン状
態となす値）をプリセットし、ステップＳ８でオフセッ
ト調整操作部２４に対してオフセット調整を開始する操
作が行なわれるのを待つＯ上記オフセット調整操作部２４が操作されると、ステッ
プＳ４でカウンタ回路３３が駆動される。そして、ステ
ップ８１でカウンタ回路３３のカウント値とメモリ３６
の内容とが比較される。この場合、ステップＳ１でメモ
リ３６の内容は最大値であり、かつアップダウンカウン
タ２５はステップＳ！でスイッチＳ、をオン状態となす
値にプリセットされている。すなわち、収束レンズのオ
フセット位置は、抵抗Ｒ１，で規駕されることになる。

この収束レンズのオフセット位置で第１０図に示すよう
にエラー率が。

Ｅ、であをとすると、カウント値はメモリ３６の内容よ
りも少いことになる。

すると、ステップＳ・で比較回路３５はカウンタ１路３
３のカウント値Ｅ１をメモリ３６に最大値に代えて記憶
させる。次に、ステップＳ。

で比較回路３５はダウン信号を出方し、アップダウ／カ
ウンタ２５のプリセット値を−１する。

すると、アップダウ／カウンタ２５の出方は。

スイッチＳ４をオン状態となす値になり、収束レンズの
オフセット位置は抵抗ＲＩｏで規定されることになる。

そして、再びステップＳ４に戻りカウンタ回路３３が駆
動され、抵抗Ｒ３ｏに対応した収束レンズのオフセット
位置で第１θ図に示すようにエラー率がＥ、になったと
すると、カウント値はメモリ３６の内容Ｅ１よりも少な
いので、再びメモ・す３６にカウント値Ｅ！がＥ。

に代えて記憶され、アップダウンカウンタ２５がさらに
−１される。

このため、アップダウンカウンタ２５の出力は、スイッ
チＳ３をオン状態となす値となり。

収束レンズのオフセット位置は抵抗几。で規定されるこ
とになる。この抵抗Ｒ・で規定される収束レンズのオフ
セット位置で再びステップＳ４を介すことにより、第１
θ図に示すようにエラー率がＥ、になったとすると、カ
ウント値はメモリ３６の内容Ｅ、よりも少ないので、メ
モリ３６にカウント値Ｅ、がＥｌに代えて記憶され。

アップダウンカウンタ２５がさらに−１される。

すると、アップダウンカウンタ２６の出力は無スイッチ
Ｓ！をオン状態となす値となり、収束レンズの１フセッ
ト位置は抵抗几８で規定されることになる。この抵抗Ｒ
１で規定される収束レンズのオフセット位置で再びステ
ラ１Ｓ番を介すことにより、第１θ図に示すように工２
−率がＥＩＫなったとすると、カウント値はメモリ３６
の内容Ｅ８よりも多くなるので、ステップＳ、で比較回
路３６はアップ信号を出力しアップダウンカウンタ２５
の値を＋ＩＬ、動作が終了（ステップ８ｇ）される。こ
のため、アップダウンカウンタ２６の出力はスイッチＳ
ｓをオン状態となす値に規定され、収束レンズはエラー
率の最も低い抵抗Ｒ９で規定されるオフセット位置に自
動的に調整されることになる〇したがって、上記実施例のような構成によれば、オフセ
ット調整操作部２４を操作することにより、収束レンズ
の最適なオフセット位置を自動的に調整することができ
１周囲温度の変化やディスクの経年変化によるそり等が
あっても、常に良好なフォーカス′サーボを行なうこと
ができるものである。また、外部要因等によって第１θ
図に示す曲線が図中点線で示す位置に移動したとしても
、上述の如く自動調整を行なうことにより、最適オフセ
ット位置（抵抗Ｒ１ｏに対応）に容易に設定されるもの
である。

ここで、第１１図は、前記エラー率測定回路２２の他の
例を示すものである。すなわち。

３７は入力端子で、第１２図（ａ）に示すようなプ資ツ
ク同４期信号が供給されるものである。このブロック同
期信号は、ＤＡＤ再生装置内で生成されるもので、第６
図に示したデジタル化データの同期信号Ｓに同期し、か
つｌブロック（第１２図中期間ＧＡ））内にデータワー
ドの数（ｎ個）の／（，１１／スを有するものである。

そして、このブロック同期信号は、コンデンサＣ８及び
抵抗Ｒ１゜よりなる微分回路３８で第１２図（ｂ）に示
すように微分された後、入力端子３９に供給される前記
シンドローム検出回路３１からのエラー７２グ（第１２
図（Ｃ）参照）とアンド回路４０で一致をともれ、その
一致回路をカウンタ回路４にでカウントされる。

また、上記ブロック同期信号は、ｎ進カウ／夕回路４２
でカウントされる。このｎ進カウ／夕回路４２は、ブロ
ック同期信号を１７ｎ分周した第１２図（ｄ）に示す信
号（デジタル化データのｌブロックに灼応）を出力する
０そして、この第１２図（ｄ）に示す信号の立下り時に
、ノくルス生成回路４３が駆動される。このパルス生成
回路４３は、第１２図（ｄ）　Ｋ示す信号の立下りに同
期して、前記カウンタ回路４１のカウント値をラッチす
るラッチ回路４４に第１２図（ｅ）　Ｋ示すようなラッ
チパルスを出力するとともに、このラッチパルスの立下
りに同期してカウンタ回路４１に亀１２図（ｆ）に示す
ようなりリアーパルスを出力するものである。

すなわち、カウンタ回路４１はｌブロック内に発生した
エラーフラグの数をカウントし、ラッチ回路４４はその
カウント値をラッチして１次のブロックにおける工２−
フラグのカウント中に該カウント値を工２−率として出
力するものである。この場合、エラー率としては、カウ
ント値をＥとすると（ｇ／ｎ　＞でめるようにしてもよ
いことはもちろんであり、このときｎ＝１００であれば
（Ｅ）の単位を変えるだけでよいものである。

ここで、ディスクの傷等の影響によってドロップアウト
が発生すると、当′然のことながらエラー率は増加する
。このため、ドロップアウトによって生じたエラー率に
応じて収束レンズのオフセット位置が調整されてしまう
と、ドロップアウトの生じない正常状態でのオフセット
位置が狂ってしまうことになる。そこで、ドロップアウ
トが生じたことを検出して、このときには前記カウンタ
回路３３．４１を動作させないようにすれば、より高精
度なエラー率測定を行なうことができるものである。

第１３図は、′上記ドロップアウトの検曳手段を示すも
のである。すなわち、フォトディテクタ部ｌｌかも出力
される全ての信号を加算してなる１４Ｆ信号を、増幅回
路４５で増幅した後、振幅検波回路４６で第１４図（ａ
）に示すように直流分をカットし、第１４図（ｂ）に示
すように振幅検波する。なお、第１４図（ａ）において
、レベルダウンしている部分がドロップアウトの発生し
た部分である。そし’Ｃｓ１ｔ４図（ｂ）に示す信号を
、比較回路４７で基準電圧発生器４８からの基準電圧Ｅ
（第１４図（ｂ）中一点鎖線で示す）とレベル比較する
ことにより、第１４図（Ｃ）に示すようなＬレベルのド
ロップアウト検出信号が得られるものである。

第１５図は第１３図を具体的な回路素子で構成した例を
ホすもので、コンデンサＣ！及び抵抗Ｒ１ｓよりなる回
路が振幅検波回路４６のうちのＲＦ倍信号直流分をカッ
トする回路を構成し、ダイオードＤ１、コンデンサＣ３
及び抵抗ＲＩ４よりなる回路が振幅検波を行なう回路を
構成しているものである。なお、フォトディテクタ１２
の各受光領域Ｐ１）１乃至ＰＤ、の出力り、乃至り番の
うち、（Ｄ＋＋Ｄｔ　）　、　（１）８−１４）４　）
は、光ビームのスポットのピット列に対するディスクの
牛径方向へのずれ（トラッキングエ２−）に対応するト
ラッキングエラー信号の生成に供されるものである。

ここで、上述したＣＤ方式のＩ）ＡＤ再生装置の信号読
み取り手段は、４分割式の７オトデイテクタ１２と１つ
の収束レンズを用いたいわゆるｌビーム方式の光学式ピ
ックアップを用いている。第１６図（ａ）はこのよりな
ｌビーム方式の光学式ピックアップの概要を示すもので
１図示しない半導体レーザからの照射光は、ビームスプ
リッタ４９を直進して収束レンズ５ｏによりディスク５
１上に焦点を合わせられる。そして、ディスク６１で反
射された光ビームは、収束レンズ５０を逆行し、ビーム
スプリッタ４９により略直角に折曲されてフォトディテ
クタ１２に受光されるものである。

ところで、このよりなｌビーム方式の光学式ピックアッ
プにおいて、前記トラッキングエラー信号は回折光を使
用するため、第１６図（ｂ）　Ｋ示すように焦点Ｐがデ
ィスク５１面より収束レンズ５０に近くなると、安定に
生成することができなくなることが知られて（−する。

このため、先に第４図で示したスイッチＳ、乃至ＳＩを
順次オン状態にしてオフセット位置を変える際、第１６
図（Ｃ）中矢印で示す方向に収束レンズ５０が移動され
るようにし、エラー率が所定値に達したとき、固定量だ
け収束レンズ５０を第１６図（ｂ）中矢印方向に戻すよ
うにすれは、トラッキングエラー信号及びフォーカスエ
ラー信号を良好に得ることかできるものである。

なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく
、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施
することができる。

〔発明の効果〕

したがって、以上詳述したようにこの発明によれば、簡
易な構成で収束レンズが最適なオフセット位置をとるよ
うに自動調整し得る極めて良好な光学式ディスクレコー
ド再生装置のフォーカス調整回路を提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図はそれぞれ従来のフォーカスサーボ手
段を示すブロック構成図及びその回路構成図、第３図及
び第４図はそれぞれこの発明に係る光学式ディスクレコ
ード再生装置のフォーカス調整回路の一実施例を示すブ
ロック構成図及びその回路構成図、第５図は同実施例の
制御回路の詳細を示すブロック構成図、第６図はデジタ
ル化データの構成を示す説明図、第７図はニジ−フラグ
を得る手段を示すブロック構成図％あ８図は同実施例の
エラー率測定回路の詳細を示すブロック構成図、第９図
及び第１θ図はそれぞれ同実施例の動作を説明するため
のフローチャート及び特性図、第１１図及び第１２図は
それぞれエラー率測定回路の他の例を示すブロック回路
構成図及びその各部のタイミング図、第１３図及び第１
４図はそれぞれドロップアウト検出手段を示すブロック
構成図及びその各部の波形図、第１５図は同ドロップア
ウト検出手段の詳細を示すブロック回路構成図、第１６
図はｌビーム方式の光学式ピックアップを説明するため
の構成図である。１１・・・フォトディテクタ部、１２・・・フォトディ
テクタ、１３・・・増幅回路、Ｊ４・・・オフセット調
整回路、１５・・・増幅回路、１６・・・オフセット調
整回路、Ｊ７・・・減算器、１Ｂ・・・加算器、１９・
・・オフセット調整回路、２０・・・増幅回路、２１・
・・復調回路、２２・・・エラー率測定回路、２３・・
・制御回路、２４・・・オフセット調整操作部、２５・
・・アップダウンカウンタ％２６・・・デコーダ回路。２７・・・プリセット端子、２８・・・入力端子、２９
・・・同期信号検出回路、３０・・・データワード分離
回路、３１・・・シンドローム検出回路、３２・・・出
力処理回路、３３・・・カウンタ回路、３４・・・基準
クロック発生回路、３５・・・比較回路、３６・・・メ
モリ、３７・・・入力端子、３８・・・微分回路、３９
・・・入力端子、４０・・・アンド回路、４１・・・カ
ウンタ回路、４２・・・ｎ進カウンタ回路、４３・・・
パルス生成回路、４４・・・ラッチ回路、４６・・・増
幅回・路、４６・・・振幅検波回路、４７・・・比較回
路、４８・・・基準電圧発生器、４９・・・ビームスプ
リッタ、６０・・・収束レンズ、５１・・・ディスク。

Claims

【特許請求の範囲】

情報信号が列状になって記録されたディスクから光学式
ピックアップを介して前記情報信号を読み取るもので、
該読み取られた情報信号に基づいて前記光学式ピックア
ップに内蔵された収束レンズに対して曲部ディスク上に
おける光ビームのスポットの焦点ずれに対応したフォー
カスエラー信号を生成し、該フォーカスエラー信号に基
づいて前記収束レンズに対するフォーカスサーボな行な
ってなる光学式ディスクレコード再生装置において、前
記光学式ピックアップから読み取られた情報信号のエラ
ー率を測定するエラー率測定手段と、との工２−率測定
手段からの測定結果に基づいて前記フォーカスエラー信
号がフオーカスエ２−のない状態に対応する値となった
ときの前記収束レンズの位置を複数段階に切換える１１
！１手段とを具備してなることを特徴とする光学式ディ
スクレコード再生装置のフォーカス調整回路。