JP2645121B2 - データ再生装置 - Google Patents

データ再生装置

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JP2645121B2
JP2645121B2 JP63501644A JP50164488A JP2645121B2 JP 2645121 B2 JP2645121 B2 JP 2645121B2 JP 63501644 A JP63501644 A JP 63501644A JP 50164488 A JP50164488 A JP 50164488A JP 2645121 B2 JP2645121 B2 JP 2645121B2
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  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Circuits Of Receivers In General (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Input Circuits Of Receivers And Coupling Of Receivers And Audio Equipment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光電走査装置を用いて回転するデイスク状
の記録担体のデータトラツクに沿つてビームをガイドす
ることによつて読み出されかつ引き続き、ビツト誤りの
都度パルスをその誤り出力側に送出するデコーダにおい
てデコーデイングされるデータを再生しかつ場合に応じ
て記録するための装置に関する。
この形式の機器、例えばCDプレーヤ、記録および再生
用磁気光学機器、Drawデイスクまたはビデオデイスクプ
レーヤに対する記録および再生機器は、レーザダイオー
ドと複数のレンズとプリズムビームスプリツタと光検出
器とから成る光学走査装置を具備している。光学走査装
置、所謂オプチカルピツクアツプの構成および機能は、
Electronic components ＆ applications,Vol.6,No.4,1
984年，第209−215頁に記載されている。
レーザダイオードから照射されたビームはレンズを用
いてCDデイスク上に集束されかつこそから光検出器に反
射される。光検出器の出力信号からCDデイスクに記憶さ
れているデータおよび集束調整回路およびトラツク調整
回路に対する実際値が取り出される。上記の文献におい
て集束調整回路に対する実際値はフオーカシングエラー
と称され、一方トラツク調整回路の実際値に対してラジ
アルトラツキングエラーという表現が選ばれている。
集束調整回路に対する操作素子としてコイルが用いら
れ、コイルの磁界を介して対物レンズが光軸に沿つて移
動可能である。そこで集束調整回路は対物レンズの移動
調整によつて、レーザダイオードから射出されたビーム
が常時CDデイスク上に集束されるように作用する。半径
方向駆動装置と称されることも多いトラツク調整回路を
用いて、光学走査装置はCDデイスクに関して半径方向に
移動調整可能である。これによりビームをCDデイスクの
スパイラル状のデータトラツク上に案内することができ
る。
半径方向駆動装置が所謂粗駆動部と所謂微駆動部とか
ら形成されている機器も多い。粗駆動部は例えばスピン
ドルとして実現されており、スピンドルを用いてレーザ
ダイオードとレンズとプリズムビームスプリツタと光検
出器とから成る光学走査装置は半径方向に移動調整可能
である。微駆動部によつてビームは半径方向において前
以て決められた小さな角度だけ傾倒可能であり、その結
果ビームはこの傾倒運動によつてのみCDデイスクの半径
に沿つてほんの僅かだけ走行することができる。つまり
微駆動部を用いてビームの、CDデイスクに関して半径方
向のベクトル成分が変化する。これに対してCDデイスク
に関してビームがCDデイスクの接線方向に対して成す角
度は固定的に90゜に選択されている。従つてビームの、
CDデイスクに関し接線方向におけるベクトル成分は零で
ある。
既述のように、光検出器によつて発生されたデータ信
号はデコーダにおいてデコーデイングされ、デコーダは
ビツト誤り発生の都度パルスをその誤り出力側、すなわ
ちC1F1出力側に送出する。
さらにビツト誤りの数はとりわけ、ビームがCDデイス
クに関して接線方向に対してCDデイスク上で見て成す角
度にも依存している。しかしCDデイスクは完全に偏平な
円形デイスクではなく、許容偏差のあるデイスクを取扱
うので、CDデイスクの製造の際調整される、CDデイスク
に関して接線方向に見たビームの然るべき角度はCDデイ
スク上のすべての走査点に対して最適ではない。これに
よりビツト誤りの数が増える。
従つて本発明の課題は、データの再生装置においてビ
ツト誤り率を低減することである。
上記課題は、記録担体の接線方向のビームベクトル成
分を前記制御信号によって変化させ、 前記接線方向のビームベクトル成分の変化に基づいて
起こるビット誤り率の変化を検出し、 該ビット誤り率の変化に相応して前記接線方向のベク
トル成分を変化させることにより、前記接線方向のベク
トル成分のビット誤り率への影響を最小化することによ
って解決される。
第１図には、本発明の第１実施例が示されており、 第２図には、本発明の第２実施例が示されている。
次に本発明を第１図に図示の実施例に基づいて詳細に
説明する。
第１図において、ビツト誤りの発生の都度パルスを送
出するデコーダＤの所謂誤り出力側は計数器Ｚの入力側
に接続されており、計数器の出力側はメモリＳの入力側
に接続されている。クロツク発生器TGの出力側は直接メ
モリＳのイネーブル入力側Ｅに接続されているとともに
遅延素子VZを介して計数器Ｚのリセツト入力側Ｒに接続
されている。メモリＳの出力側はDA変換器DA1の入力側
に接続されている。DA変換器DA1の出力側は微分器DZの
入力側および比較器VLの第１入力側に接続されている。
比較器の第２入力側には基準電圧URが加わる。比較器VL
の出力側は、制御回路PM、例えばマイクロプロセツサの
入力側E1に接続されておりかつ微分器DZの出力側は制御
回路の入力側E2に接続されている。マイクロプロセツサ
PMの出力側A1はパルス幅変調器M1の入力側に接続されて
おり、パルス幅変調器M1の出力側はDA変換器DA2の入力
側に接続されている。マイクロプロセツサPMの出力側A2
はパルス幅変調器M2の入力側に接続されており、パルス
幅変調器M2の出力側はDA変換器DA3の入力側に接続され
ている。DA変換器DA2の出力側は加算素子S1の第１入力
側に接続されており、加算素子の出力側は増幅器V1の入
力側に接続されており、一方DA変換器DA3の出力側は加
算素子S2の第１入力側に接続されており、この加算素子
の出力側は増幅器V2の入力側に接続されている。増幅器
V1の出力側はコイルF1に接続されており、増幅器V2の出
力側はコイルF2に接続されている。２つのコイルF1およ
びF2は操作素子を形成し、この操作素子を用いて、ビー
ムがCDデイスクに関して接線方向に見てCDデイスク上で
成す角度−以下この角度を接線方向角度と表す−が変化
可能である。集束調整回路に対する操作素子もコイルと
して実現されているので、第１図に図示のように、集束
調整回路のコイルは同時に、コイルが２つの半部から対
称的に構成されているとき、接線方向角度の設定調整の
ための操作素子として使用される。それ故に加算素子S1
およびS2の第１入力側に集束調整回路に対する実際値、
すなわちフオーカシングエラーが供給される。
次に本発明の動作について説明する。
ビツト誤りの発生の都度デコーダＤは計数パルスを計
数器Ｚに送出する。計数器の計数状態は初期状態におい
て零であるので、その都度のビツト誤りによつてその計
数状態は１つづつ高められる。そこでクロツク発生器TG
は計数器Ｚをリセツト入力側のパルスによつて周期的に
リセツトする。しかし同時にクロツク発生器TGはこのパ
ルスをメモリＳのイネーブル入力側に送出し、メモリは
これによりその内容をDA変換器DA1に送出して、計数器
Ｚの計数状態が転送される。クロツク発生器TGによつて
発生されたパルスはメモリＳのイネーブル入力側に遅延
されずに、これに対して計数器Ｚのリセツト入力側Ｒに
は遅延素子VZのため遅延されて供給され、これによりメ
モリＳはリセツトされる以前に計数器Ｚの計数状態を転
向することができる。DA変換器DA1においてその都度計
数器Ｚの、ビツト誤り率、すなわちクロツク発生器TGの
２つの連続するパルス間の時間におけるビツト誤りの数
に比例している計数状態がアナログ電圧UFに変換され
る。従つてこの電圧もビツト誤り率に対して比例関係に
ある。
以下測定電圧と称する、DA変換器DA1の出力側におけ
るアナログ電圧UFが基準電圧URより小さくとどまつてい
る限り、接線方向角度は変化しない。ビツト誤り率が、
測定電圧UFが基準電圧URより大きくなるほどに上昇する
とき漸く比較器VLの出力信号が変化し、そこでこれに基
づいてマイクロプロセツサPMはビツト誤り率が著しく大
きいことを検出する。しかし測定電圧UFについて、ビツ
ト誤り率を低減するために接線方向角度をどの方向に変
化しなければならないかを検出することはできない。そ
れ故にマイクロプロセツサPMはその出力側A1およびA2に
おけるそれぞれの信号を介して、パルス幅変調器M1およ
びM2がパルス状の信号を送出し、これら信号はDA変換器
DA2およびDA3によつて変換されてコイルF1およびF2に供
給されるように作用する。そこで接線方向角度に対する
操作素子、すなわちコイルF1およびF2は、接線方向角度
がまず一方の方向において変化されるように作用する。
微分器DZが前以て決められた時間間隔、例えばクロツク
発生器TGの連続する２つのクロツクの期間に、ビツト誤
り率が低下したことを検出すれば、接線方向角度は、比
較器VLがマイクロプロセツサPMに測定電圧UFが基準電圧
URを下回つたことを指示するまで、引き続き同じ方向に
おいて調整される。
これに対して微分器DZが前以て決められた時間間隔内
で、ビツト誤り率が低下していないことを検出すれば、
マイクロプロセツサPMは、それが接線方向角度を誤つた
方向に調整したことを認める。従つてマイクロプロセツ
サはその出力側A1およびA2に、測定電圧UFが基準電圧を
下回るまで、接線方向角度の調整が他方の方向において
行われるように作用する信号を送出する。
この手段により、接線方向角度、すなわちビームがCD
デイスクに関して接線方向において見てCDデイスク上で
成す角度は常に、ビツト誤り率が前以て決めることがで
きるしきい値により下にあるように変化される。従つて
CDデイスクに凹凸があつても、接線方向角度が固定に設
定調整されているCDプレーヤにおける場合のようにもは
やビツト誤り率を著しく高める原因になることはない。
この効果は聴取者にとつて音声再生の改善として認めら
れる。
比較器LV,計数器Z,メモリS,微分器DZおよびDA変換器D
A1はマイクロプロセツサPMにおいて実現することもでき
る。さらにマイクロプロセツサPMは、ビツト誤り率が最
小値をとるまでの間、接線方向角度を調整するようにす
ることもできる。この場合比較器VLの出力側における信
号は、接線方向角度の調整を始めるためにのみ用いられ
る。しかし調整過程は、測定電圧UFが基準電圧URを下回
るや否や既に終了するのではなくて、微分器DZが、測定
電圧UF、ひいてはビツト誤り率が最小値をとつていてこ
れ以上は低下しないことを検出するとき漸く終了する。
これにより音声再生の一層の改善が計られる。
第２図において、マイクロプロセツサPMの出力側A3が
パルス幅変調器M3の入力側に接続されている点で第１図
の実施例とは異なつている別の実施例が図示されてい
る。パルス幅変調器M3の出力側はDA変換器DA4の入力側
に接続されており、このDA変換器の出力側にて比較器VL
の第２入力側に対する基準電圧URが取り出し可能であ
る。これは、接線方向角度の調整を始めるしきい値が設
定調整可能であるという利点を有する。つまり接線方向
角度を調整するための調整回路の感度を設定調整するこ
とができる。
本発明は、CDプレーヤおよびビデオデイスクプレーヤ
に適しているのみならず、音声テープ機の場合のように
データを任意に記録、再生および消去することができる
磁気光学記録および再生機器においても実現される。PR
OMに類似してデータの１回限りの記録しか許されない、
Drawデイスクに対する記録および再生機器にも使用され
る。消去および新たな記録または最初のデータのオーバ
ライトは可能でない。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウーデ，デイートマール ドイツ連邦共和国 Ｄ―7730 フイリン ゲン―シユヴエニンゲン ルシアン―ラ イヒ―シユトラーセ １アー (56)参考文献 特開 昭61−208634（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−250842（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−207189（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−94139（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−250849（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−283035（ＪＰ，Ａ) Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ ＆ Ｗｉｒ ｅｌｅｓｓ Ｗｏｒｌｄ，Ｂａｎｄ 91，Ｎｒ．1594 Ａｕｇｕｓｔ 1985（Ｌｏｎｄｏｎ, ＧＢ），Ｊ．Ｒ．Ｗａｔｋｉｎｓｏｎ. “Ｃｏｍｐａｃｔ ｄｉｓｃ ｐｌａｙ ｅｒｓ．Ｐａｒｔ１：ｄｅｔａｉｌｓ ｏｆ ｃｏｍｐａｃｔ ｄｉｓｃ ｐｌ ａｙｅｒ ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ，" Ｓｅｉｔｅｎ 52−55 ｓｉｃｈｅ ｄａｓ ｇｏｎｚｅ Ｄｏｋｕｍｅｎ ｔ.

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】光学走査装置を用いて、回転するディスク
    状記録記録担体のデータトラックに沿ってビームを案内
    することによって読み出され、かつ引き続いてビット誤
    りの発生の都度パルスをその誤り出力側に送出するデコ
    ーダ（Ｄ）においてデコーディングされるデータを再生
    し、かつ場合に応じて記録もするための装置であって、 ビット誤り率から制御信号を生成し、該制御信号を走査
    装置の位置決め装置に供給し、 前記ビームを前記データトラックに対して半径方向にも
    接線方向にも偏向することができる、データを再生し、
    かつ場合に応じて記録もするための装置において、 記録担体の接線方向のビームベクトル成分を前記制御信
    号によって変化させ、 前記接線方向のビームベクトル成分の変化に基づいて起
    こるビット誤り率の変化を検出し、 該ビット誤り率の変化に相応して前記接線方向のベクト
    ル成分を変化させることによって、前記接線方向のベク
    トル成分のビット誤り率への影響を最小化することを特
    徴とするデータを再生し、かつ場合に応じて記録もする
    ための装置。
  2. 【請求項２】デコーダ（Ｄ）の誤り出力側は、計数器
    （Ｚ）の入力側に接続されており、該計数器は周期的に
    リセットされかつ該計数器の計数状態は基準量（UR）と
    比較され、かつ操作素子（F1、F2）に供給される制御信
    号が、比較信号の評価から生成されることを特徴とする
    請求項１記載の装置。
  3. 【請求項３】計数器（Ｚ）の計数状態はアナログ電圧
    （UF）に変換されかつ比較器（VL）において基準電圧
    （UR）と比較される請求項２に記載の装置。
  4. 【請求項４】比較器（VL）の出力側は調整器（V1,V2）
    に接続されており、該調整器の出力側は操作素子（F1,F
    2）に接続されている請求項３に記載の装置。
  5. 【請求項５】調整器（V1,V2）は操作素子（F1,F2）を用
    いて、アナログ電圧（UF）が基準電圧（UR）を下回るま
    での間、接線方向のビームベクトル成分を変化する請求
    項４に記載の装置。
  6. 【請求項６】基準量（UR）は変化可能である請求項２か
    ら５までのいずれか１項記載の装置。
  7. 【請求項７】デコーダ（Ｄ）の誤り出力側は計数器
    （Ｚ）に接続されており、該計数器の出力側はメモリ
    （Ｓ）の入力側に接続されており、かつ上記メモリ
    （Ｓ）の出力側は第１のDA変換器（DA1）の入力側に接
    続されており、かつクロック発生器（TG）の出力側は一
    方において直接メモリ（Ｓ）のイネーブル入力側（Ｅ）
    に接続されておりかつ他方において遅延素子（VZ）を介
    して上記計数器（Ｚ）のリセット入力側（Ｒ）に接続さ
    れており、かつ上記第１のDA変換器（DA1）の出力側は
    比較器（VL）の第１入力側および微分器（DZ）の入力側
    に接続されており、かつ第２の入力側に基準電圧（UR）
    が加わる比較器（VL）の出力側は制御回路（PM）の第１
    入力側（E1）に接続されており、かつ上記微分器（DZ）
    の出力側は上記制御回路（PM）の第２入力側（E2）に接
    続されており、かつ上記制御回路（PM）の第１出力側
    （A1）は第１のパルス幅変調器（M1）の入力側に接続さ
    れており、該パルス幅変調器の出力側は第２のDA変換器
    （DA2）の入力側に接続されており、かつ上記制御回路
    （PM）の第２の出力側（A2）は第２のパルス幅変調器
    （M2）の入力側に接続されており、該パルス幅変調器の
    出力側は第３のDA変換器（DA3）の入力側に接続されて
    おり、かつ上記第２のDA変換器（DA2）の出力側は第１
    の加算素子（S1）の第１の入力側に接続されており、該
    加算素子の出力側は第１の増幅器（V1）の入力側に接続
    されており、かつ上記第３のDA変換器（DA3）の出力側
    は第２の加算素子（S2）の第１の入力側に接続されてお
    り、該第２の加算素子の出力側は第２の増幅器（V2）の
    入力側に接続されており、かつ上記第１および第２の増
    幅器（V1,V2）の出力側はそれぞれ操作素子（F1,F2）に
    接続されている請求項４または５に記載の装置。
  8. 【請求項８】制御回路（PM）の第３の出力側（A3）は第
    ３のパルス幅変調器（M3）の入力側に接続されており、
    該パルス幅変調器の出力側は第４のDA変換器（DA4）の
    入力側に接続されており、かつ該第４のDA変換器（DA
    4）の出力側は比較器（VL）の第２の入力側に接続され
    ている請求項７に記載の装置。
  9. 【請求項９】制御回路（PM）としてマイクロプロセッサ
    が使用される請求項７または８に記載の装置。
JP63501644A 1987-02-14 1988-02-10 データ再生装置 Expired - Lifetime JP2645121B2 (ja)

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