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Die
Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zum Verringern
der Fehlerrate beim Abtasten von auf plattenförmigen optischen Aufzeichnungsträgern gespeicherter
Informationen mit Abspiel- bzw. Wiedergabegeräten, wie beispielsweise CD-
oder MOD-Abspielgeräten.
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Zum
Abtasten bzw. zur Wiedergabe auf einem optischen Aufzeichnungsträger gespeicherter Daten
bzw. Informationen mit geringer Fehlerrate und hoher Zuverlässigkeit
ist es allgemein bekannt, den Arbeitspunkt der Abtasteinrichtung
in Fokusrichtung im Herstellungsprozess des Abspielgerätes optimal
einzustellen. Hierzu werden die Fehlerrate bei der Abtastung oder
die vom Aufzeichnungsträger
abgetastete HF-Spannung als Abgleichkriterium verwendet und dem
Fokusfehlersignal im Fokusregelkreis zur Arbeitspunkteinstellung
ein sogenannter Offset bzw. eine konstante Offsetspannung überlagert.
Der Fokusregelkreis ist in bekannter Weise zur Nachführung der
Abtasteinrichtung bzw. des Pickups vorgesehen, um Dickenunterschiede
der Aufzeichnungsträger
und Plattenschlag oder Plattentellerschlag des Abspielgerätes auszugleichen
und ständig
eine Fokussierung des Abtaststrahls in der Informationsebene des
Aufzeichnungsträgers
zu gewährleisten.
Mit der Offsetspannung wird die Fehlerrate eines ebenen Aufzeichnungsträgers auf
ein Minimum abgeglichen oder die HF-Spannung meist automatisiert
auf ein Maximum geregelt, indem die Offsetspannung auf einen optimalen
Wert eingestellt wird. Dabei wird von einem idealen Aufzeichnungsträger, der
weder Verunreinigungen noch Plattenschlag aufweist und einem idealen
Abspielgerät,
das keine Toleranzen beispielsweise zwischen der Plattentellerachse
und der optischen Achse der Abtasteinrichtung, dem sogenannten Pickup
aufweist, ausgegangen. Im Fertigungsprozess von Wiedergabegeräten werden
große
Anstrengungen unternommen, um eine möglichst genaue Übereinstimmung
zwischen der optischen Achse des Abtastsystems und der Plattentellerachse
zu erreichen. Toleranzen sind im Fertigungsprozess jedoch unvermeidbar
und auch der Aufzeichnungsträger
weist nach mehrfachem Gebrauch Verschmutzungen, Kratzer und Verformungen
auf oder ist bereits mit einer Qualität im Grenzbereich zulässiger Toleranzen
hergestellt, so dass insbesondere bei gleichzeitigem Auftreten mehrerer
Abweichungen vom Idealzustand die Fehlerrate stark ansteigt oder
die auf dem Aufzeichnungsträger
abgespeicherten Informationen nicht mehr abgetastet bzw. gelesen
und wiedergegeben werden können.
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Zum
Verringern der Bitfehlerrate wurde gemäß
DE 37 047 18 A1 bereits
vorgeschlagen, aus ihr ein Steuersignal zum Verändern des Tangentialwinkels
abzuleiten, bis die Bitfehlerrate unter einen vorgebbaren Schwellwert
absinkt.
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Es
ist deshalb Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine Anordnung
zum Abtasten optischer Aufzeichnungsträger zu schaffen, die auch im Grenzbereich
der Toleranzen des Abspielgerätes und
bei mehreren Fehlerarten des Aufzeichnungsträgers eine geringe Fehlerrate
gewährleisten.
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Diese
Aufgabe wird durch die in den Ansprüchen 1 und 6 angegebenen Merkmale
gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen angegeben.
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Es
wurde herausgefunden, dass Verschmutzungen des Aufzeichnungsträgers, wie
beispielsweise Fingerabdrücke
oder Kratzer auf dem Aufzeichnungsträger, im Bereich der positiven
und der negativen Halbwelle eines vertikal gerichteten Platten- oder
Plattentellerschlages bzw. einer Schrägstellung des Pickcups unterschiedliche Fehlerraten
verursachen. Weiterhin wurde herausgefunden, dass die optimale Einstellung
des Fokusarbeitspunktes in Abhängigkeit
vom Ort des Fehlers oder der Verschmutzung zum resultierenden Plattenschlag
variiert und es wurde herausgefunden, dass bei einem resultierenden
Plattenschlag und dem Vorliegen einer Verschmutzung ein von der
ursprünglich
optimalen Fokuseinstellung abweichender Abstand zwischen Objektivlinse
und Aufzeichnungsträger
zu einer geringeren Fehlerrate beim Abtasten eines optischen Aufzeichnungsträgers führt.
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Der
Erfindung liegt das Konzept zugrunde, den Arbeitspunkt bzw. die
Offsetspannung im Fokusregelkreis in Abhängigkeit von der Lage eines
Fehlers oder einer Verschmutzung zum resultierenden Plattenschlag
optimal einzustellen, wobei unter dem Begriff resultierender Plattenschlag
auch eine Schrägstellung
des Pickups zum Aufzeichnungsträger
subsummiert wird.
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Das
Verfahren besteht darin, dass die Fehlerrate beim Abtasten optischer
Aufzeichnungsträger dadurch
verringert wird, dass der Fokusregelkreis mit einer von der Lage
des Ortes des Fehlers bzw. einer Verschmutzung zum resultierenden
Plattenschlag abhängigen
Offsetspannung beaufschlagt wird, die zu optimalen Arbeitspunkten
für eine
minimale Fehlerrate führt.
Zum Erreichen einer minimalen Fehlerrate werden mindestens zwei
vom Ort des Fehlers und der Richtung des Plattenschlages abhängige Offsetspannungen
verwendet. Der Richtung des resultierenden Plattenschlages entsprechend
wird zum Erreichen einer minimalen Fehlerrate der Abstand zwischen
Objektivlinse und Aufzeichnungsträger vergrößert oder verringert. Zu diesem
Zweck wird das Fokusfehlersignal über einen Tiefpass geführt, digitalisiert
und mit einem eine Verschmutzung, Kratzer oder einen sonstigen Fehler
repräsentierenden
Defektsignal verknüpft,
um ein Schaltsignal zu bilden, durch das der Fokusregelkreis mit
einer die Fehlerrate verringernden Offsetspannung beaufschlagt wird. Hierzu
können
beispielsweise eine im Fertigungsprozess ermittelte obere und untere Offsetspannung
verwendet werden, die den vorliegenden Bedingungen entsprechend
in den Fokusregelkreis eingefügt
werden. Die Schaltsignale zum Anschalten einer oberen bzw. unteren
Offsetspannung werden von einer die vorgenannte Verknüpfung realisierenden
Logikschaltung bereitgestellt.
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Andererseits
können
zur weiteren Anpassung an die vorliegenden Bedingungen und zur Optimierung
auch in ihrer Größe veränderliche
Offsetspannungen verwendet werden. Die Höhe der oberen Offsetspannung
kann dabei in Abhängigkeit
von der maximal auftretenden Amplitude des abgetasteten Hochfrequenzsignals
und die Höhe
der unteren Offsetspannung in Abhängigkeit vom Minimum des im
Fokussignal enthaltenen Resthochfrequenzsignals oder in Abhängigkeit
von einer vom maximalen Hochfrequenzsignal abgeleiteten Teilspannung
festgelegt werden, so dass die Höhe
der Offsetspannung in Abhängigkeit
vom Abtastsignal automatisch hinsichtlich einer minimalen Fehlerrate
eingestellt wird.
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Dadurch
wird erreicht, dass trotz eines resultierenden Plattenschlages und
dem Vorliegen von Aufzeichnungsträgerfehlern eine minimale Fehlerrate
auftritt, wodurch die Zuverlässigkeit
und Qualität der
Wiedergabe von auf optischen Aufzeichnungsträgern gespeicherten Informationen
erhöht
wird.
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Nachfolgend
wird die Erfindung anhand von Zeichnungen näher erläutert.
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Es
zeigen:
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1 Prinzipschaltbild
einer Schaltungsanordnung zum Verringern der Fehlerrate FR,
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2 Schaltungsanordnung
zum Bereitstellen von Schaltsignalen UU, UO zum Anschalten von Offsetspannungen
U1, U2,
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3 Signalverlaufsdiagramm,
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4 Prinzipskizze
zum Bestimmen des resultierenden Plattenschlages W,
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5 Verlauf
der Fehlerrate FR in Abhängigkeit
vom Radialwinkel WR,
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6 Prinzipskizze
einer Schaltungsanordnung zum Erzeugen eines abgetasteten Hochfrequenzsignals
HF und eines Fokusfehlersignals FE,
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7 Prinzipskizze
einer Schaltungsanordnung zum Erzeugen eines Defektsignals HFD und
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8 Schaltungsanordnung
zum automatischen Fokus-Offset-Abgleich
und zur Offsetspannungsumschaltung.
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Es
wurde herausgefunden, dass die Fehlerrate FR als Anzahl der falschen
Bits im Vergleich zur Anzahl der insgesamt empfangenen Bits in Abhängigkeit
vom Ort des Fehlers im Bereich der negativen oder positiven Halbwelle
eines vertikal gerichteten Platten- oder Plattentellerschlages W
bei nicht übereinstimmender
Lage der optischen Achse des Abtastsystems PU mit der des Aufzeichnungsträgers CD
variiert. Der eine Fehlerrate FR verursachende Fehler kann dabei
ein Fingerabdruck, Kratzer oder dergleichen sein. Als optische Achse
des Abtastsystems PU wird dessen Abtast- bzw. Fokusrichtung und als
optische Achse des Aufzeichnungsträgers CD eine am Abtastort auf
dem Aufzeichnungsträger
errichtete Normale bzw. Senkrechte bezeichnet. Zur Erläuterung
des Zusammenhangs zwischen Fehlerrate FR und resultierendem Plattenschlag
W sind in 4 ein Aufzeichnungsträger CD in
Form einer CD bzw. Compact Disc und ein Abtastsystem PU in mehreren
Ausrichtungen zueinander und in 5 eine auf
den Zeitraum von Sekunden s bezogene Anzahl fehlerhafter Bits F,
die bei konstanter Aufzeichnungsdichte ein Äquivalent zur Fehlerrate FR
ist, in einem Diagramm in Abhängigkeit
vom resultierenden Plattenschlag W bzw. einem Radialwinkel WR dargestellt.
Gemäß einer
ersten Abbildung in 4 ist der Radialwinkel WR gleich
Null, wenn die optischen Achsen von Aufzeichnungsträger CD und
Abtastsystem PU übereinstimmen.
Bei einer zweiten Abbildung in 4 weist
das Abtastsystem PU eine Verdrehung in positiver Richtung auf, die
zu einem Radialwinkel WR führt.
Derartige Abweichungen zwischen Abtastsystem PU und Aufzeichnungsträger CD treten
regelmäßig durch
Fertigungstoleranzen im Bereich eines Radialwinkels WR von plus-minus
30 Minuten auf. Aus einer dritten und vierten Abbildung in 4 ist ersichtlich,
dass bei einem zusätzlichen
Plattenschlag dW der resultierende Plattenschlag W bei einem Radialwinkel
WR des Abtastsystems PU im Bereich von W = WR + dW bis W = WR – dW variiert. Daraus
folgt 5 entsprechend, dass die Fehlerrate FR bei einer
Schrägstellung
des Abtastsystems PU im Radialwinkel WR entsprechend der Richtung des
Plattenschlages dW größer oder
geringer wird.
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Weist
nun der Aufzeichnungsträger
CD auf seiner Oberfläche
infolge Fingerabdruck, Kratzer oder dergleichen einen in tangentialer
Richtung begrenzten Fehler auf, ist die von diesem Fehler ausgehende
absolute Fehlerrate FR abhängig
davon, ob beim Plattenumlauf des Aufzeichnungsträgers CD die Fehlerrate FR durch
den Plattenschlag dW vergrößert oder
verringert wird.
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Es
wurde weiterhin herausgefunden, dass eine ursprünglich als optimal geltende
Einstellung des Fokusarbeitspunktes in einem derartigen Fall ebenfalls
nicht mehr als optimal hinsichtlich einer möglichst geringen Fehlerrate
FR anzusehen ist.
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Durch
Versuche wurde bestätigt,
dass die Fehlerrate FR durch eine Veränderung des Abstandes zwischen
der Objektivlinse des Abtastsystems PU und des Aufzeichnungsträgers CD
bzw. des Fokusarbeitspunktes in Abhängigkeit vom Ort des Fehlers
zum resultierenden Plattenschlag W verringert werden kann. Es werden
deshalb, die Fehlerarten Fingerabdruck, Kratzer und dergleichen
nicht nur in der bekannten Art detektiert, sondern hinsichtlich
der Lage zum resultierenden Plattenschlag W lokalisiert und der
Richtung des Plattenschlages dW entsprechend ein zu einer minimalen
bzw. verringerten Fehlerrate FR führender optimaler Fokusarbeitspunkt eingestellt.
Zu diesem Zweck wird das Fokusfehlersignal FE 2 entsprechend über einen
Tiefpass geführt,
digitalisiert und mit einem eine Verschmutzung, Kratzer oder einen
sonstigen Fehler repräsentierenden
Defektsignal HFD verknüpft,
um Schaltsignale UU, UO zu bilden, durch die gemäß 1 der Fokusregelkreis
mit einer die Fehlerrate FR verringernden Offsetspannung U1 bzw.
U2 beaufschlagt wird. Hierzu können
eine obere Offsetspannung U1 und eine untere Offsetspannung U2 verwendet
werden, die den vorliegenden Bedingungen entsprechend mit den Schaltsignalen
UO, UU durch die Schalter S4 und S2 in den Fokusregelkreis eingefügt werden.
Die Schaltsignale UO, UU zum Anschalten einer oberen bzw. unteren
Offsetspannung U1 bzw. U2 werden von einer die vorgenannte Verknüpfung realisierenden
Logikschaltung bereitgestellt, die in 2 dargestellt
ist. Ausgangspunkt der Erzeugung der Schaltsignale UO, UU bilden
das Fokusfehlersignal FE und ein Defektsignal HFD, die in bekannter
Weise aus dem Abtastsignal mit in den 6 und 7 als Prinzipschaltbild
angegebenen Schaltungsanordnungen gebildet werden. Gemäß 6 werden
mittels Photosegmenten A+C sowie Photosegmenten B+D eines Photodetektors
detektierte Abtastsignale jeweils über einen Verstärker V2
bzw. V3 sowohl über die
Ausgänge
der Verstärker
V2, V3 verbindende Widerstände
R4, R5 zur Bildung des sogenannten Augen- bzw. Hochfrequenzsignals
HF zusammengeführt
als auch zur Bereitstellung eines Fokusfehlersignals FE an einen
Differenzverstärker
V5 angelegt. Zum Erzeugen des Hochfrequenzsignals HF, welches das
elektrische Abbild des Abtastsignals darstellt, ist am Verbindungspunkt
der Widerstände
R4, R5 ein Verstärker
V4 angeschlossen. Weiterhin ist mit einem Eingang des Differenzverstärkers V5 über ein
Potentiometer P0 eine Spannungsquelle Q0 verbunden. Im Fertigungsprozess
wird dann mit einer ebenen Messplatte ein optimaler Fokusarbeitspunkt des
Fokusregelkreises mit dem Potentiometer P0 eingestellt. Diese Schaltungsanordnung
ist allgemein bekannt und entspricht in ihrem Grundsatz beispielsweise
der des CD Wiedergabegerätes
CD 40/DUAL. Dieses Verfahren berücksichtigt
jedoch nicht, dass bei einem Plattenschlag dW und dem Auftreten
von Fehlern durch die Lage zueinander die Fehlerrate FR weiter verringert
werden kann. Dieses Fokusfehlersignal FE wird deshalb nicht zur
Einspeisung in den Fokusregelkreis verwendet sondern dient lediglich als
Ausgangspunkt zum Erzeugen von Schaltsignalen UO, UU, mit denen
die in 1 und 8 dargestellten Schalter S2
und S4 angesteuert bzw. betätigt werden.
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In
bekannten Wiedergabegeräten
wird insbesondere zum Stummschalten des Gerätes bei größeren Störungen und zum Erkennen von
Aufzeichnungsträgerdefekten,
wie beispielsweise Verschmutzungen und Kratzer, ein sogenanntes
Defektsignal HFD mit einer Schaltungsanordnung gebildet, deren prinzipieller
Aufbau in 7 angegeben ist. Das Hochfrequenzsignal
HF wird 7 entsprechend zur Bildung eines
Spiegelsignals einem Differenzverstärker V6 zugeführt, dessen
anderer Eingang mit einer Referenzspannungsquelle Q1 und dessen
Ausgang über
jeweils eine Diode D1 bzw. D2 mit jeweils einem weiteren Differenzverstärker V8,
V9 verbunden ist. Mit den derart angeschlossenen Eingängen der
Differenzverstärker
V7, V8 sind zur Impulslängenabgrenzung
ein Kondensator C2 bzw. eine Reihenschaltung eines Widerstandes
R6 mit einem Kondensator C3 verbunden. Die jeweils anderen Eingänge der
Differenzverstärker
V7, V8 sind auf den Ausgang des jeweiligen Differenzverstärkers geführt und
die unterschiedliche Zeitkonstanten aufweisenden Signalwege direkt
bzw. über
einen Kondensator C4 mit den Eingängen eines Differenzverstärkers V9
verbunden, an dessen Ausgang dann das Defektsignal HFD zur Verfügung steht.
Die Eingänge
des Differenzverstärkers
V9 sind zur Rechtecksignalbildung über einen Widerstand R7 und
eine zweite Referenzspannungsquelle Q2 miteinander verbunden.
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Diese
Art der Bildung des Defektsignals HFD und eine entsprechende Schaltungsanordnung
sind ebenfalls bekannt und werden in ihren Grundzügen beispielsweise
im SONY-Schaltkreis
CXA 1081 M verwendet.
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Zur
Durchführung
des Verfahrens werden somit in vorteilhafter Weise die ohnehin in
einem Wiedergabegerät
erzeugten Signale verwendet, so dass zum Verringern der Fehlerrate
FR ein geringerer Aufwand erforderlich ist, der den in 1 und 2 bzw.
in 8 dargestellten Schaltungsanordnungen entspricht.
Um eine zum Erreichen einer minimalen bzw. verringerten Fehlerrate
FR erforderliche Veränderung
des Arbeitspunktes des Fokusregelkreises vorzunehmen, werden 1 und 8 entsprechend
zur Bildung eines optimalen Fokusfehlersignals FEO mit Photosegmenten
A + C sowie Photosegmenten B + D eines Fotodetektors detektierte
Abtastsignale über
Ankopplungswiderstände R1,
R2 einem Fokusfehlerverstärker
FEA zugeführt, der
ein Differenzverstärker
ist und an einem Eingang mit einer Offsetspannungskorrekturschaltung
verbunden ist, die zwei Schalter S2, S4 aufweist, mit denen dem
Fokusfehlerverstärker
FEA eine obere Offsetspannung U1 und eine untere Offsetspannung
U2 zugeführt
werden. Die Höhe
der Offsetspannung U1 ist dabei 1 entsprechend
mit einem am ersten Schalter S4 angeschlossenen Potentiometer P1
und die Höhe
der Offsetspannung U2 mit einem am zweiten Schalter S2 angeschlossenen
Potentiometer P2 einstellbar und die Schalter S4, S2 werden mit Schaltsignalen
UO bzw. UU gesteuert, die mit der in 2 angegebenen
Logikschaltung erzeugt werden. Die Logikschaltung besteht 2 entsprechend
aus einem ersten Anschlusspunkt, dem das in bekannter Weise erzeugte
Fokusfehlersignal FE zugeführt
wird. Dieser Anschlusspunkt ist über
einem Widerstand R3 mit einem Eingang eines Verstärkers V1
und einem nach Masse geschalteten Kondensator C1 verbunden, wobei
der Widerstand R3 und der Kondensator C1 ein Tiefpassfilter bilden
und einen gemeinsamen Anschlusspunkt UA aufweisen. Der andere Eingang des
Verstärkers
V1 ist mit einem Masseanschluss verbunden. Mit dem Tiefpassfilter
wird dem in 3 dargestellten Signalverlaufsdiagram
entsprechend aus dem Fokusfehlersignal FE, das in Folge Plattenschlag
ein moduliertes sinusförmiges
Signal ist, am Anschlusspunkt UA eine sinusförmige Spannung bereitgestellt,
aus der mit dem Verstärker
V1 eine Rechteckspannung UB gebildet wird. Diese ein digitales Signal
darstellende Rechteckspannung UB, wird dann mit einem digitalen
Defektsignal HFD verknüpft.
Das Defektsignal HFD weist 3 entsprechend
bei einem beispielsweise durch einen Fingerabdruck oder Kratzer
verursachten Einbruch des abgetasteten Hochfrequenzsignals HF einen
Nullpegel auf. Es wird 2 entsprechend über einen
ersten Negator N1 einem zweiten Und-Glied A2 zugeführt, dessen
anderer Eingang mit dem Ausgang des Verstärkers V1 verbunden ist. Am
Ausgang des Und-Gliedes A2 ist ein Oder-Glied O angeschlossen, dessen
anderer Eingang mit dem das Defektsignal HFD bereitstellenden Anschlusspunkt
verbunden ist. Vom Oderglied 0 wird das Schaltsignal UO bereitgestellt.
Zum Erzeugen des Schaltsignals UU ist der Ausgang des Verstärkers V1 über einen
Negator N2 mit einem ersten Und-Glied A1 verbunden, dessen anderer
Eingang am Ausgang des Negators N1 angeschlossen ist. Dadurch wird
erreicht, dass der Fokusfehlerverstärker FEA in Abhängigkeit
von der Lage des Fehlers zum resultierenden Plattenschlag mit einer
die Fehlerrate FR verringernden Offsetspannung beaufschlagt wird.
Dieses Prinzip wird mit einer in 8 angegebenen
Schaltungsanordnung zum automatischen Fokus-Offset-Abgleich und
zur Offsetspannungsumschaltung realisiert. Mit einem Mikroprozessor μP, dem über ein
Tiefpassfilter R8, C5 und einen Analog-Digital-Wandler ADW1 das Hochfrequenzsignal
HF sowie über
ein Hochpassfilter C6, R9 und einen Analog- Digital-Wandler ADW2 das
Fokusfehlersignal FE zugeführt
werden, wird zunächst
die Größe bzw.
Höhe der
Offsetspannungen U1, U2 bestimmt. Hierzu wird mit dem Mikroprozessor μP zunächst eine
obere Offsetspannung U1 ermittelt, bei der eine maximale Amplitude
des Hochfrequenzsignals HF detektiert wird. Zu diesem Zweck werden
mit einem Signal ENABLE des Mikroprozessors μP zunächst die Schalter S51, S52
an den Ausgängen
der 2 entsprechenden Schaltungsanordnung zum Bereitstellen
der Schaltsignale UU und U0 geöffnet.
Weiterhin werden ein Schalter S1, der parallel zum Schalter S2 vorgesehen
ist, mit einem Schwellwertsignal SW2 des Mikroprozessors μP geöffnet und
ein Schalter S3, der parallel zum Schalter S4 vorgesehen ist, mit
einem Schwellwertsignal SW1 geschlossen, um dem Fokusfehlerverstärker FEA über einen
Digital-Analog-Wandler
DAW1 mit dem Mikroprozessor μP
eine obere Offsetspannung U1 zuzuführen. Die obere Offsetspannung
U1 wird dabei mit dem Mikroprozessor μP so lange verändert, bis sich
eine maximale Amplitude des Hochfrequenzsignals HF ergibt. Während des
Abgleichvorgangs sind die Schalter S2 und S4 geöffnet.
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Zum
Ermitteln der unteren Offsetspannung U2 wird diese mit dem Mikroprozessor μP so lange verändert, bis
das mit dem Analog-Digital-Wandler ADW2 detektierte Fokusfehlersignal
FE ein Minimum erreicht. Hierzu bleibt Schalter S5 geöffnet, Schalter S1
wird mit dem Schwellwertsignal SW2 geschlossen und Schalter S3 wird
mit dem Schwellwertsignal SW1 geöffnet.
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Nach
dem Abgleichvorgang für
die Offsetspannungen U1, U2 bleiben die Schalter S1 und S3 geöffnet, werden
die Schalter S51, S52 mit einem Signal ENABLE geschlossen und die
obere bzw. untere Offsetspannung U1 bzw. U2, die mit dem Mikroprozessor μP ermittelt
wurden, in Abhängigkeit
von den Schaltsignalen U0, UU mit den Schaltern S2 bzw. S4 über einen
Widerstand R0 dem Fokusfehlerverstärker FEA zugeführt. Mit
den Schaltsignalen U0, UU, die von der in 2 angegebenen
Schaltungsanordnung bereitgestellt werden, wird dann dem Fokusregelkreis
zum Verringern der Fehlerrate FR eine von der Lage des Ortes eines
Fehlers des Informationsträgers
zum resultierenden Plattenschlag abhängige Offsetspannung U1 oder
U2 zugeführt.