JPS6029434A - 電子部品における外部リード端子のロウ付け用材料 - Google Patents

電子部品における外部リード端子のロウ付け用材料

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JPS6029434A
JPS6029434A JP13813183A JP13813183A JPS6029434A JP S6029434 A JPS6029434 A JP S6029434A JP 13813183 A JP13813183 A JP 13813183A JP 13813183 A JP13813183 A JP 13813183A JP S6029434 A JPS6029434 A JP S6029434A
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JP
Japan
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brazing
silver
external lead
filler metal
lead terminals
Prior art date
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JP13813183A
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JPH0436796B2 (ja
Inventor
Yoshihiro Hosoi
義博 細井
Minobu Kunitomo
美信 國友
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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  • Preventing Corrosion Or Incrustation Of Metals (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はロウ付は用材料に関し、より詳細には電子部品
における外部リード端子のロウ付けに使用されるロウ材
の改良に関するものである。
従来、銀70〜90−t%、銅10〜3oれ%の合金よ
り成る銀ロウはロウ付は強度が大で使用温度範囲(溶融
温度範囲)が低く、かつ接合母材にあまり制約を受けな
いことから電子部品における外部リード端子のロウ付は
用材料として多用されている。
しかしながら、この従来の銀ロウはロウ付は後。
大気中に含まれる水分が付着すると銀ロウ中の銅が酸化
され、銅の酸化物(錆)を形成して変色することがある
。この銅の錆は導電性で、がっ拡散しやすいという性質
を有しているため多数の外部リード端子が近接してロウ
付けされている電子部品では前記績の拡散により隣接す
る外部リード端子が短絡し、その結果、電子部品として
の機能に支障を来すという重大な欠点を誘発する。
本発明は上記欠点に鑑み案出されたもので、その目的は
ロウ付は強度が大で、使用温度範囲が低(、接合母材に
制約を受けないという従来の銀ロウの利点に加えて、ロ
ウ付は後に変色や電子部品としての機能に支障を来すよ
うな導電性の錆の発生を解消した新規なロウ付は材料を
提供することにある。
本発明の口う付は材料は従来と同様に銀を主成分とし、
これにゲルマニウムを0.05乃至10−t%含有させ
たものである。
本発明者等は従来の銅に代わる銀との合金成分について
種々実験研究した結果、ゲルマニウムはロウ材のロウ付
は強度を大とし、使用温度範囲を低下させ、かつ接合母
材との濡れ性を改良するとともにロウ材の主成分である
銀のマイグレーション(移行)を防止するために有効な
成分であることを知見した。
本発明においては、ゲルマニウムの含有量が0.05w
t%未満であると所望の前記性質は付与されず、また1
0し%以上であるとロウ材自身がもろくなり加工性が困
難となるため、0.05乃至10wt%の範囲に特定さ
れる。
本発明は外部リード端子を有する電子部品、具体的には
ハイブリッドIC用配線基板、ICパッケージ。
コンデンサ、抵抗、マイクロスイッチ等積々の外部リー
ド端子のロウ付は材料として好適に使用される。
次に本発明を実施例に基づいて説明する。
出発原料として直径2mmφの銀(Ag)及びゲルマニ
ウム(Ge)の顆粒を下表に示すように秤量し、これを
回転ミルにて5時間混合する。混合終了後、これを約1
000℃の温度で加熱溶融し、銀とゲルマニウムを合金
化させてロウ材試料を得た。
なお、試料9は本発明品と比較するための比較試料であ
り、従来一般に使用されている銀ロウ(銀72tyt%
、銅28葬t%)である。
かくして得られたロウ材試料を使用して内部に半導体素
子が収納される長さ22mm、幅7mm +厚さ2.5
mmのアルミナセラミックから成る半導体パンケージ2
゜個の両側に長さ3mm +幅1.5mm 、厚さ0.
1mmの外部リード端子を1mm間隔毎に9本づつ約8
00℃の温度でロウ付けしく外部リード端子総数360
個)、そのロウ付は状態を顕微鏡により観察した。
なお、外部リード端子は42A11oyから成り、その
表面には金メッキが施されており、またこの外部リード
端子がロウ付けされる半導体パンケージの側表面にはM
o−一のメタライズ層を設けるとともに該メタライズ層
上にNiメッキ層が形成されている。
また更に、各外部リード端子間に電圧17(V)を印加
しながらMIL−5TD−883−1004に規定の温
湿度号イクル試験を240時間(10サイクル)行い、
その後各外部リード端子間の絶縁抵抗を測定し、その平
均値を算出した。また同時にロウ付は部を顕微鏡により
観察し、ロウ材が変色しているものの数を調べた。
なお、外部リード端子間の絶縁抵抗はその初期値を5X
lO(Ω)に設定した。
上記の結果を表−■に示す。
上記実験結果からも判るように、従来の銀ロウは錆の発
生による変色率が93%であり、かつ外部リード端子間
の絶縁抵抗も9X10 (Ω)にまで低下してしまうの
に対し1本発明のロウ付は用材料は変色率は2%以下と
少なく、外部リード端子間の絶縁抵抗も1.2X10 
(Ω)以上とほとんど劣化していない。
次に前記試料番号2乃至7及び9のロウ付は用試料を使
用して長さ10mm、幅2門、厚さ0 、25mmの4
2Alloyから成る20個の外部リード端子の先端部
3mmをアルミナセラミックから成る基板上に750℃
の温度でロウ付けするとともに外部リード端子の他端に
垂直方向の外力を加えて引張りテストを行い、外部リー
ド端子が剥れた個数及び外部リード端子が切れた(固数
を冨周べた。
なお、外部リード端子がロウ付けされるセラミック基板
の表面にはMo−Hのメタライズ層及びNiメッキ層が
施されている。
その結果を表−■に示す。
表−■ 上記実験結果からも判るように試料番号2乃至7のロウ
付は用材料は3Kgの引張りテストでも外部リード端子
の剥れがほとんど無く、従来の銀ロウ(試料番号9ンと
接着強度においてほぼ同等のものである。
従って9本発明のロウ付は用材料は電子部品の外部リー
ド端子のロウっけ用材料として従来の銀ロウを凌駕する
ものであり、極めて有用である。
なお1本発明は上述した実施例に限定されるものではな
く、銀に対し、ゲルマニウムの他に各種の目的に応じた
成分を添加することも可能である。
特許出願人 京セラ株式会社 手続補正書(自発) 特許庁長官 殿 1、事件の表示 昭和58年特許願第138131号 2、発明の名称 ロウ付は用材料 3、補正をする者 事件との関係 出願人 住所 京都市山科区東野井上町52番地114、補正命
令の日付 自発補正 5、補正により増加する発明の数 なしく1) 明細書
第・2頁14行目に記載の「従来の銅に代わる銀との合
金成分」を 「従来の一ロウの銅に代わる混合成分」に補正する。
(2)明細書第3頁2行目乃至3行目に記載の「ロク相
自身がもろくなり加工性が困難となるため」を 「ロウ材自身がもろくなり、ロウ付は強度が低下するだ
め」 に補正する。
(3) 明細書第4頁2行目に記載の「約800℃」を
「約900℃」に補正する。
(4) 明細書第5頁の表−■を下表に補正する。
(4) 明細書筒6頁10行目に記載の「750℃」を
「850℃」に補正する。
(5)明細書筒8頁11行目に記載の「応じた成分を添
加することも可能である」 を に補正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 銀にゲルマニウムを0.05乃至10−t%含有させた
    ことを特徴とするロウ付は用材料。
JP13813183A 1983-07-27 1983-07-27 電子部品における外部リード端子のロウ付け用材料 Granted JPS6029434A (ja)

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JPS6029434A true JPS6029434A (ja) 1985-02-14
JPH0436796B2 JPH0436796B2 (ja) 1992-06-17

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