JPS60255664A - 低温焼成用磁器組成物 - Google Patents
低温焼成用磁器組成物Info
- Publication number
- JPS60255664A JPS60255664A JP59112037A JP11203784A JPS60255664A JP S60255664 A JPS60255664 A JP S60255664A JP 59112037 A JP59112037 A JP 59112037A JP 11203784 A JP11203784 A JP 11203784A JP S60255664 A JPS60255664 A JP S60255664A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- porcelain
- mol
- low temperature
- firing
- ceramic composition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は低温で焼成ができ、特性的には、比抵抗が高
く、また誘電率が低く、さらには誘電体損失の小さい低
温焼成用磁器組成物に関する。
く、また誘電率が低く、さらには誘電体損失の小さい低
温焼成用磁器組成物に関する。
(従来の技術)
電子機器の小型化に伴い、回路を構成する各種の部品を
実装するために磁a基板が故多く利用され°Cいる。
実装するために磁a基板が故多く利用され°Cいる。
最近ではさらに実装密度を上げるために多層磁器基板へ
と開発が進んでいる。この多1Nm器基板の材料とし′
C唸一般的にアルミナが知られてhる。
と開発が進んでいる。この多1Nm器基板の材料とし′
C唸一般的にアルミナが知られてhる。
しかしながら、アルミナは焼成温度が1500〜160
0Cと高渥であるため、焼成のために多くのエネルギー
が必要となる。また、アルミナと同時焼成する内部導体
材料もv、Mo などの高1独点材料を用い゛〔いるが
、これらの金属線比抵抗が高く、回路抵抗そのものも高
くなる欠点がある。
0Cと高渥であるため、焼成のために多くのエネルギー
が必要となる。また、アルミナと同時焼成する内部導体
材料もv、Mo などの高1独点材料を用い゛〔いるが
、これらの金属線比抵抗が高く、回路抵抗そのものも高
くなる欠点がある。
したがつ′【、アルミナよυ低温で焼成できる磁器材料
であれば、焼成のためのエネルギーが少なくなるととも
に、たとえば1000r以下での焼成が可能な場合、A
IF、 At−P(1,Cuなどの41材料を導体路と
し′〔用いることができる他、抵抗材料なども印刷し゛
〔同時焼成するなどの利点かでCくる〜 このような低漏焼成用の磁器材料とし°【は、rルミす
に多量のガラス成分を添卯したものがあるが、得られた
fa4に空孔が多く存在し、空孔を介し゛C導体路間の
マイグレーションが発生するという問題が見られる。ま
た、n6sno、にホウ素を多量に添加したものもある
が、仮焼物がガラス状となり、この仮焼物の粉砕が固型
になるばかシか、ホウ素の蒸発が激しく、仁のため同時
焼成したとき専心材料と反応したり、焼成のための炉の
炉材に損傷を与えるといった問題があった。
であれば、焼成のためのエネルギーが少なくなるととも
に、たとえば1000r以下での焼成が可能な場合、A
IF、 At−P(1,Cuなどの41材料を導体路と
し′〔用いることができる他、抵抗材料なども印刷し゛
〔同時焼成するなどの利点かでCくる〜 このような低漏焼成用の磁器材料とし°【は、rルミす
に多量のガラス成分を添卯したものがあるが、得られた
fa4に空孔が多く存在し、空孔を介し゛C導体路間の
マイグレーションが発生するという問題が見られる。ま
た、n6sno、にホウ素を多量に添加したものもある
が、仮焼物がガラス状となり、この仮焼物の粉砕が固型
になるばかシか、ホウ素の蒸発が激しく、仁のため同時
焼成したとき専心材料と反応したり、焼成のための炉の
炉材に損傷を与えるといった問題があった。
(発明の目的)
したがり°C1この発明は1000c以下で焼成できる
Eaa組成掬を提供することを目的とする。
Eaa組成掬を提供することを目的とする。
また、この発明はその製造工程におい′C粉砕等の処理
が行^やすtnaa組成吻を提供することを目的とする
。
が行^やすtnaa組成吻を提供することを目的とする
。
さらにこの発明は電気的には比抵抗が高く、また誘電率
が低く、さらに杜誘電体遺失の小さい磁器組成物を提供
することを目的とする。
が低く、さらに杜誘電体遺失の小さい磁器組成物を提供
することを目的とする。
さらにまたこの発明は侍に限定されるものではないが多
層磁4基板に適した磁器組成物を提供することを目的と
する。
層磁4基板に適した磁器組成物を提供することを目的と
する。
(発明の構成)
この発IJliKかかる低温焼成用磁器組成・檄を変約
すれば、次のi惇成材料(1)〜ff)からなるもので
ある。
すれば、次のi惇成材料(1)〜ff)からなるもので
ある。
(i) (Ba 、、Mlx)(Ti、−、Mn、)O
,が2D〜40モルチ ただし、1呟Sre ca、 Mqのうち少なくとも1
1:!A MxxはZr、8nノう′c)14J1tたは211 04X’−J、L IJ’、IS’J、5.0”−x+
y”: 1(ji) 1910.7% 40〜70モル
チ(iiL) kl、01が 2〜10モルチモルy)
BaO・が 2〜1O−T−#%(v) B、OBが
4〜25モル− 上記した組成11[lI−に@定したのは次のとおシで
ある。
,が2D〜40モルチ ただし、1呟Sre ca、 Mqのうち少なくとも1
1:!A MxxはZr、8nノう′c)14J1tたは211 04X’−J、L IJ’、IS’J、5.0”−x+
y”: 1(ji) 1910.7% 40〜70モル
チ(iiL) kl、01が 2〜10モルチモルy)
BaO・が 2〜1O−T−#%(v) B、OBが
4〜25モル− 上記した組成11[lI−に@定したのは次のとおシで
ある。
すなわち、(1)の(B a * ++ xMx x
) (T i * 、、Muy ) Ogが2θモルチ
未満では焼成温度が1000tを越え、一方40モル慢
を越えると1llllt率が大きくなるからである。
) (T i * 、、Muy ) Ogが2θモルチ
未満では焼成温度が1000tを越え、一方40モル慢
を越えると1llllt率が大きくなるからである。
tた、MXx、MIm、のX、7につい°〔、それぞれ
0:ぐ’]、3.0≦y≦(15,O≦X+、!≦9.
3と規定した。
0:ぐ’]、3.0≦y≦(15,O≦X+、!≦9.
3と規定した。
した、がり°C,(Ba、−xMtx)(Ti、−yM
n、)O,とし゛〔は、x=oe y=oの場合のBa
TiL)、の他、C”’Cl ) T i Os m
(BILe Ca ) (” ’ e zr) 01
e (Ba; 8 r )TiOm 。
n、)O,とし゛〔は、x=oe y=oの場合のBa
TiL)、の他、C”’Cl ) T i Os m
(BILe Ca ) (” ’ e zr) 01
e (Ba; 8 r )TiOm 。
(Ba、 8r)(Ti、 8n)01. (na、
Elr、 Gas Me)CTL*8n)O,などの成
分からなるものが含まれる。ここで1,7および工+1
の上限値を15以下としたのは、x、yおよびx+yの
量゛が増大するに伴い焼成温度が上昇する傾向にあシ、
特にx、yおよびX+7がQ、3を越えると焼成温度が
1000t’以上になるからである。
Elr、 Gas Me)CTL*8n)O,などの成
分からなるものが含まれる。ここで1,7および工+1
の上限値を15以下としたのは、x、yおよびx+yの
量゛が増大するに伴い焼成温度が上昇する傾向にあシ、
特にx、yおよびX+7がQ、3を越えると焼成温度が
1000t’以上になるからである。
次に810.gつい′C40〜70C40ル70温度が
高くなるからでるる。
高くなるからでるる。
また、ムjsomKりい゛C2〜10モルチとしたのは
、2モルチ未滴また杜10モル悌を越えると焼成温度が
高くなるからである。
、2モルチ未滴また杜10モル悌を越えると焼成温度が
高くなるからである。
さらに、BaO につい゛〔2〜10モルチモルたのは
、2モルチ未満または10モル−を越えると焼成温度が
高くなるからである。
、2モルチ未満または10モル−を越えると焼成温度が
高くなるからである。
さらにまた、Boo.にりLrVC4〜25モルチとし
たのモル4モル−未満では焼成温度が烏〈なり、25モ
モルを越えると磁器回志の溶着が発生しやすくなるから
である。
たのモル4モル−未満では焼成温度が烏〈なり、25モ
モルを越えると磁器回志の溶着が発生しやすくなるから
である。
な?、(BaLl−xMfX)(T1 、−yMfi,
)O,はABO。
)O,はABO。
からなるペロプスカイト戯の組成とし・C表わされるが
、AとBとの比率(モル比)を侍性を損わない範囲で変
化させることもこの発11に含まれる。
、AとBとの比率(モル比)を侍性を損わない範囲で変
化させることもこの発11に含まれる。
(実り同)
以下、この発明を実Jlaif1にもとづい・【詳細に
説明する。
説明する。
集施列を
原料とし・〔、B6GO.+CaC0,,8rCO1,
MyCO,。
MyCO,。
710g 、 ZrO, 、 8nO,を準備し、第1
表に示す組成比率になるように秤量した。秤量原料を混
合したvkl 1 50℃で仮暁した。次にこれらの仮
焼粉末とUiO,、A#zO@e ChCO@、B4C
の各原料を第1茨に示す組成比率の磁器が得られるよう
に秤量した。
表に示す組成比率になるように秤量した。秤量原料を混
合したvkl 1 50℃で仮暁した。次にこれらの仮
焼粉末とUiO,、A#zO@e ChCO@、B4C
の各原料を第1茨に示す組成比率の磁器が得られるよう
に秤量した。
秤縫原料を混合、粉砕し、バインダーを加え゛【円板状
に成形した。成形体を空気中850〜950Cで焼成し
C磁器を作成した。
に成形した。成形体を空気中850〜950Cで焼成し
C磁器を作成した。
各磁器にりい゛C1比抵抗、#覗率、−電体損失および
抗折強度を測定した。
抗折強度を測定した。
各##1#性にりtn−(の測定条件は次のとおルであ
る。
る。
比抵抗s D、C,1,5v
誘電率! 1MIiml
鍔電体損失!IMH喀
抗折強度、JXBの規格による
第2表は各磁器の緒特性の測定結果を示したものである
。
。
第1表
第1表、第2炎中浄印を付したものはこの堵明範囲外の
ものであり、それ以外はすべ°にの発゛明範囲内のもの
である。
ものであり、それ以外はすべ°にの発゛明範囲内のもの
である。
実施例Z
原料とし・〔、Bll CO2、CaCO,# 8r
co、 l h19 CO2eTiOl 、 ZrO,
、SnO,113101、kl、0. 、 BaC0,
+B4Gを準需し、実施i/I11の第1又に示す組成
比率の磁器が得られるようにPP敵した。秤緻原料を混
合し ・た侵、850〜950t−で仮焼した。仮焼向
を粉砕した後、有機系バインダーを加え、ドクターグレ
ード法に°Cシート成形した。得られたセラミックグリ
ーンシートを所定の大きさにカットし、これを空気中8
50〜950Cで焼成し゛C磁4仮を得た0得られた磁
器板につい“〔、実施列1と同様に緒特性を同一測定条
件で測定したところ、実施列1の第2表に示した特性と
ほぼ同じような結果を示した。
co、 l h19 CO2eTiOl 、 ZrO,
、SnO,113101、kl、0. 、 BaC0,
+B4Gを準需し、実施i/I11の第1又に示す組成
比率の磁器が得られるようにPP敵した。秤緻原料を混
合し ・た侵、850〜950t−で仮焼した。仮焼向
を粉砕した後、有機系バインダーを加え、ドクターグレ
ード法に°Cシート成形した。得られたセラミックグリ
ーンシートを所定の大きさにカットし、これを空気中8
50〜950Cで焼成し゛C磁4仮を得た0得られた磁
器板につい“〔、実施列1と同様に緒特性を同一測定条
件で測定したところ、実施列1の第2表に示した特性と
ほぼ同じような結果を示した。
また、上記した工程で得られたセラミックグリーンシー
トを用−1このシートの表面にホウケイra力系ガラス
7リツトを含む鏝ペーストを印刷し、Cで焼成した。
トを用−1このシートの表面にホウケイra力系ガラス
7リツトを含む鏝ペーストを印刷し、Cで焼成した。
れす、議は良好な導電性を示した。
実施列3゜
実施例2で作成した各セラミックグリーンシートを用い
、400t”でバインダーを燃焼さす、窒により・【は
比抵抗が1013〜to”n’oaと多少低下したもの
があったが、実用上何ら問題のないことが確認できた。
、400t”でバインダーを燃焼さす、窒により・【は
比抵抗が1013〜to”n’oaと多少低下したもの
があったが、実用上何ら問題のないことが確認できた。
した力鴛つ゛〔、多層磁器基板の内部導体としCまたと
えばCuなどを使用する場合、同時焼成の雰囲気とし゛
〔中性または還元性雰囲気に駁定しなければならないが
、これらの4囲Aで焼成し′Cも実。
えばCuなどを使用する場合、同時焼成の雰囲気とし゛
〔中性または還元性雰囲気に駁定しなければならないが
、これらの4囲Aで焼成し′Cも実。
肩上十分な絶縁性を有する磁器であることが判明した。
(発明の効果)
以上の説明から明らかなようにこの発+94によれば、
io[lOE以下の低温での焼成で焼結磁器が得られ、
製造工程での粉砕などの作業も行いやすいものである。
io[lOE以下の低温での焼成で焼結磁器が得られ、
製造工程での粉砕などの作業も行いやすいものである。
また、ア持性的には比抵抗が晶く、−電率が低く、さら
に紡電体漠失も小さい。また、多層磁器基板としたとき
、同時焼成時における内部導体との反応がみられない。
に紡電体漠失も小さい。また、多層磁器基板としたとき
、同時焼成時における内部導体との反応がみられない。
また磁器の空孔が少ないため、内部導体間のマイグレー
ションが発生しないという利点を有する。また中性、還
元性雰囲気で焼成し′Cも比抵抗の低下がみられず、内
部導体とし′(Cu、Niなどの卑金属を使用すること
ができる。
ションが発生しないという利点を有する。また中性、還
元性雰囲気で焼成し′Cも比抵抗の低下がみられず、内
部導体とし′(Cu、Niなどの卑金属を使用すること
ができる。
一特許出願人
株式会社 村田表作所
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 次の組成(i)、 (ii)、 (iii)、 (iV
)、 (V) からなる低温焼成用磁器組成物。 (i) (Ba、rM1]c)(Ti、、Mry)O,
が20〜40モル%ただし、MXはSr、 Ca、 M
9 のうち少なくとも1種 MllはZr、 Snのうち1種または2種 0≦X≦α3.0≦y≦’1.3.0≦X+7≦]、3
(ii) Sin、が40〜70モルチωモル4*Os
が 2〜10モルチ モルv) BaO2〜10モルチ (リ B、0. 4〜25モルチ
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59112037A JPS60255664A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 低温焼成用磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59112037A JPS60255664A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 低温焼成用磁器組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60255664A true JPS60255664A (ja) | 1985-12-17 |
JPH0480867B2 JPH0480867B2 (ja) | 1992-12-21 |
Family
ID=14576424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59112037A Granted JPS60255664A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 低温焼成用磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60255664A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0425971A2 (en) * | 1989-10-31 | 1991-05-08 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Solid dielectric capacitor and method of manufacture |
EP0425970A2 (en) * | 1989-10-31 | 1991-05-08 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Solid dielectric capacitor and method of manufacture |
CN107531577A (zh) * | 2015-05-15 | 2018-01-02 | 株式会社村田制作所 | 低温烧结陶瓷材料、陶瓷烧结体以及陶瓷电子部件 |
-
1984
- 1984-05-30 JP JP59112037A patent/JPS60255664A/ja active Granted
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0425971A2 (en) * | 1989-10-31 | 1991-05-08 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Solid dielectric capacitor and method of manufacture |
EP0425970A2 (en) * | 1989-10-31 | 1991-05-08 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Solid dielectric capacitor and method of manufacture |
CN107531577A (zh) * | 2015-05-15 | 2018-01-02 | 株式会社村田制作所 | 低温烧结陶瓷材料、陶瓷烧结体以及陶瓷电子部件 |
CN107531577B (zh) * | 2015-05-15 | 2020-12-18 | 株式会社村田制作所 | 低温烧结陶瓷材料、陶瓷烧结体以及陶瓷电子部件 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0480867B2 (ja) | 1992-12-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS60255664A (ja) | 低温焼成用磁器組成物 | |
JPS63103861A (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 | |
JPH0798679B2 (ja) | 低温焼結磁器組成物 | |
JPS60255665A (ja) | 低温焼成用磁器組成物 | |
JP2521856B2 (ja) | 磁器コンデンサ及びその製造方法 | |
JP2964725B2 (ja) | セラミック基板用組成物 | |
JPH0480869B2 (ja) | ||
JPH0480866B2 (ja) | ||
JP3134430B2 (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 | |
JPH0676253B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
JPS6117086B2 (ja) | ||
JPH024549B2 (ja) | ||
JPS62278163A (ja) | 非還元性誘電体磁器組成物 | |
JPH0676255B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
JP3389947B2 (ja) | 誘電体磁器組成物及びそれを用いた厚膜コンデンサ | |
JPH01236515A (ja) | 誘電体磁器材料 | |
JPH0312357A (ja) | 抵温焼成セラミック基板材料 | |
JP3512587B2 (ja) | 積層型セラミックコンデンサ | |
JPH01204305A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
JPS62132768A (ja) | 低温焼成用磁器組成物 | |
JPH01239052A (ja) | 超伝導セラミックスの製造方法 | |
JPH0677009A (ja) | 厚膜サーミスタ組成物及びその製造方法並びにこの組成 物を用いた厚膜サーミスタ及びその製造方法 | |
JPH0676254B2 (ja) | 多層基板用低温焼結磁器組成物 | |
JPH0220583B2 (ja) | ||
JPH0674168B2 (ja) | 電気回路基板用磁器組成物 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |