JPS60243529A - ロ−ドセル - Google Patents
ロ−ドセルInfo
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- JPS60243529A JPS60243529A JP9978384A JP9978384A JPS60243529A JP S60243529 A JPS60243529 A JP S60243529A JP 9978384 A JP9978384 A JP 9978384A JP 9978384 A JP9978384 A JP 9978384A JP S60243529 A JPS60243529 A JP S60243529A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load cell
- strain
- voltage
- resistors
- amplifier
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/2206—Special supports with preselected places to mount the resistance strain gauges; Mounting of supports
- G01L1/2243—Special supports with preselected places to mount the resistance strain gauges; Mounting of supports the supports being parallelogram-shaped
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/225—Measuring circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Force In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、薄膜プロセスによりストレンゲーンを形成す
るようにしたロードセルに関するものである。
るようにしたロードセルに関するものである。
技術的背景およびその問題点
従来のロードセルは、起歪体の上下面に歪ゲージを貼付
けて形成しているものであるが、このような構造のもの
は製作上の手数が大変であり、電気的接続もわずられし
い等の理由がら、起歪体の一面にストレンゲージを薄膜
技術により形成することが行なわれている。そして、ス
トレンゲージの調整は、レーザートリマーなどによりト
リミングして行なっている。
けて形成しているものであるが、このような構造のもの
は製作上の手数が大変であり、電気的接続もわずられし
い等の理由がら、起歪体の一面にストレンゲージを薄膜
技術により形成することが行なわれている。そして、ス
トレンゲージの調整は、レーザートリマーなどによりト
リミングして行なっている。
発明の目的
本発明は、起歪体のストレンゲージが形成された同一面
にゼロ点設定器の抵抗を薄膜技術により形成し、これを
ストレンゲージの調整と同時に簡単に調整することを目
的とするものである。
にゼロ点設定器の抵抗を薄膜技術により形成し、これを
ストレンゲージの調整と同時に簡単に調整することを目
的とするものである。
発明の実施例
まず、機械的に強固に形成されたベース1にロードセル
部材2の一端下部が固定され、このロードセル部材2の
他端上部には荷重3が載置される荷重受は皿4が固定さ
れている。前記ロードセル部材2はステンレス材等より
なる起歪体5とこの起歪体5の側面に取付けられた電子
回路基板6とよりなる。前記起歪体5には孔7が形成さ
れて平行四辺形状に変形する四個の薄肉変形部8が設け
られている。そして、前記起歪体5の上面はパターン形
成面9とされ、このパターン形成面9に薄膜技術により
形成された後述の回路素子はリード線10により前記電
子回路基板6上の必要部分に接続されている。
部材2の一端下部が固定され、このロードセル部材2の
他端上部には荷重3が載置される荷重受は皿4が固定さ
れている。前記ロードセル部材2はステンレス材等より
なる起歪体5とこの起歪体5の側面に取付けられた電子
回路基板6とよりなる。前記起歪体5には孔7が形成さ
れて平行四辺形状に変形する四個の薄肉変形部8が設け
られている。そして、前記起歪体5の上面はパターン形
成面9とされ、このパターン形成面9に薄膜技術により
形成された後述の回路素子はリード線10により前記電
子回路基板6上の必要部分に接続されている。
つぎに、第2図に基いて電気回路を説明する。
まず、電圧VEの電源11は分圧器12に接続さ牲、こ
の分圧器12はロードセル部13と差動増幅器14とが
接続されている。このロードセル部13と差動増幅器1
4とはゼロ点設定器15を介して信号増幅器16、フィ
ルター17に順次接続されている。このフィルター17
と前記差動増幅器14とはA/Dコンバータ18に接続
されている。このA/Dコンバータ18は別に設けられ
たマイクロコンピュータシステム19に接続され、この
マイクロコンピュータシステム19には置数キー20が
接続されているとともにその出力側は表示器21に接続
されている。
の分圧器12はロードセル部13と差動増幅器14とが
接続されている。このロードセル部13と差動増幅器1
4とはゼロ点設定器15を介して信号増幅器16、フィ
ルター17に順次接続されている。このフィルター17
と前記差動増幅器14とはA/Dコンバータ18に接続
されている。このA/Dコンバータ18は別に設けられ
たマイクロコンピュータシステム19に接続され、この
マイクロコンピュータシステム19には置数キー20が
接続されているとともにその出力側は表示器21に接続
されている。
しかして、前記分圧器12はR’x3. R14、R1
6を直列接続してなる。
6を直列接続してなる。
また、前記ロードセル部13は、調整抵抗Rsを介して
前記電源11に接続されているが、R5とReとの直列
回路、ReとRTとの直列回路。
前記電源11に接続されているが、R5とReとの直列
回路、ReとRTとの直列回路。
R7,R8によりブリッジ結合されている。
ついで、前記差動増幅器14は、コンパレータQL、Q
2の出力側にそれぞれ抵抗Rt ’、R2およびR3,
R4を接続し、R1とR2との接続点とR3とR4との
接続点とにそれぞれ入力側を接続したコンパレータQ3
を有し、このコンパレータQ3の出力側はR2の出力側
に接続し、R4の一端は接地したものである。そして、
前記コンパレータQ1の入力側には前記分圧器12のR
14とR16との電圧v1の接続点が接続されており、
前記コンパレータQ2の入力側には前記分圧器12のR
13とR14との電圧v2の接続点が接続されている。
2の出力側にそれぞれ抵抗Rt ’、R2およびR3,
R4を接続し、R1とR2との接続点とR3とR4との
接続点とにそれぞれ入力側を接続したコンパレータQ3
を有し、このコンパレータQ3の出力側はR2の出力側
に接続し、R4の一端は接地したものである。そして、
前記コンパレータQ1の入力側には前記分圧器12のR
14とR16との電圧v1の接続点が接続されており、
前記コンパレータQ2の入力側には前記分圧器12のR
13とR14との電圧v2の接続点が接続されている。
これらのコンパレータQl、Q2の出力電圧はV3.’
V4であり、これらのコンパレータQ1、Q2への入力
電圧はVE ’である。また、差動増幅器14の出力電
圧はVrefである。
V4であり、これらのコンパレータQ1、Q2への入力
電圧はVE ’である。また、差動増幅器14の出力電
圧はVrefである。
前記ゼロ点設定器15は抵抗R9,Rxoの直列回路で
あり、R9は前記差動増幅器14の出力側に接続され、
R10は接地されている。抵抗Rs。
あり、R9は前記差動増幅器14の出力側に接続され、
R10は接地されている。抵抗Rs。
Rroの接続中点には前記ロードセル部13の一方の出
力が接続され、他方の出力は前記信号増幅器16のコン
パレータQ4の+側入力に接続されている。前記抵抗R
10の端子間電圧はV 20であり、前記ロードセル部
13の出力電圧はVLである。
力が接続され、他方の出力は前記信号増幅器16のコン
パレータQ4の+側入力に接続されている。前記抵抗R
10の端子間電圧はV 20であり、前記ロードセル部
13の出力電圧はVLである。
また、前記信号増幅器16のコンパレータQ4の一側入
力には抵抗Ruが接地間に接続され、また、この−個入
力と出力側との間には抵抗R12が接続されている。こ
の信号増幅器16の出力電圧はV2Oである。
力には抵抗Ruが接地間に接続され、また、この−個入
力と出力側との間には抵抗R12が接続されている。こ
の信号増幅器16の出力電圧はV2Oである。
なお、前記A/Dコンバータ18のVIN端子には前記
フィルター17が接続され、vref端子には前記差動
増幅器14が接続され、C0MM0N端子は接地されて
いる。
フィルター17が接続され、vref端子には前記差動
増幅器14が接続され、C0MM0N端子は接地されて
いる。
しかして、前記抵抗の中で、R5、Ra 、 R7。
R8は前記薄肉変形部8に位置決めされてストレンゲー
ジとしてパターン形成面9に形成されているものである
が、このパターン形成面9の荷重によっては変形しない
部分に他の抵抗R1,R2。
ジとしてパターン形成面9に形成されているものである
が、このパターン形成面9の荷重によっては変形しない
部分に他の抵抗R1,R2。
R3、R4、R9、Rto、 Rtt、 RL2. R
13,R14、R16,R3、Re 、 RTが形成さ
れている。
13,R14、R16,R3、Re 、 RTが形成さ
れている。
さらに、述べると、起歪体5のパターン形成面9には絶
縁層が形成され、この絶縁層の上に温度特性の良好な金
属が蒸着され、これがホトエツチング等の手段により所
定の金属パターンを形成して必要な回路を形成している
ものである。そして、各抵抗はその形成が前述の如き薄
膜プロセスのためにそれらの抵抗値のバラツキは非常に
大きい。
縁層が形成され、この絶縁層の上に温度特性の良好な金
属が蒸着され、これがホトエツチング等の手段により所
定の金属パターンを形成して必要な回路を形成している
ものである。そして、各抵抗はその形成が前述の如き薄
膜プロセスのためにそれらの抵抗値のバラツキは非常に
大きい。
とくに、ブリッジ結合されるR5−R8においてはこの
バラツキは問題であり、ブリッジのバランスをとるため
にRsの値を調整する。このReの調整に当っては一般
的にレーザートリマーが使用される。
バラツキは問題であり、ブリッジのバランスをとるため
にRsの値を調整する。このReの調整に当っては一般
的にレーザートリマーが使用される。
このような構成において、まず、差動増幅器14の動作
を説明する。この差動増幅器14は安定した出力Vre
fを発生する必要が゛あるものであるが、これは次の0
式で示される。
を説明する。この差動増幅器14は安定した出力Vre
fを発生する必要が゛あるものであるが、これは次の0
式で示される。
に1
ここで、eは信号電圧V1.V2に重畳された雑音電圧
であり、Vrefにはこのeが零であることが必要であ
る。この雑音電圧eを零にするためには、R1−R4の
同相成分除去比を調整することにより可能であり、その
調整にはストレンゲージR5〜R8のレーザートリマー
を行なうときに同時に行なう。すなわち、■式を変形す
ると0式が成立する。
であり、Vrefにはこのeが零であることが必要であ
る。この雑音電圧eを零にするためには、R1−R4の
同相成分除去比を調整することにより可能であり、その
調整にはストレンゲージR5〜R8のレーザートリマー
を行なうときに同時に行なう。すなわち、■式を変形す
ると0式が成立する。
2
を基準としてR2−R4の客死が等しくなるように調整
する。しかも、a″:lとすれば、となり、雑音電圧e
の影響がない状態になる。
する。しかも、a″:lとすれば、となり、雑音電圧e
の影響がない状態になる。
このようにすることにより、薄膜プロセスに起因するR
1−R4の抵抗値の絶対値は問題にする必要がなく、そ
の比率を調整すればよく、かつ、その温度特性だけを問
題にすればよいので差動増幅器14の回路を安価に高精
度のものを得ることが可能である。
1−R4の抵抗値の絶対値は問題にする必要がなく、そ
の比率を調整すればよく、かつ、その温度特性だけを問
題にすればよいので差動増幅器14の回路を安価に高精
度のものを得ることが可能である。
つぎに、ロードセル部13の出力電圧Vt、はこれに印
加する駆動電圧VEの大きさに比例する。
加する駆動電圧VEの大きさに比例する。
そして、駆動電圧VEは可能な限り大きい方がロードセ
ル部13の信号対雑音比の関係上有利である。このとき
、駆動電圧VEの上限はブリッジ抵抗で消費される電力
により発熱し、各抵抗の熱変形によるブリッジバランス
の大きさにより制限される。本実施例における抵抗R5
〜R8は薄膜プロセスで形成されるため、高抵抗とする
ことが可能であり、従来の貼付式ストレンゲージの場合
よりも何倍も大きい抵抗値とすることができる。
ル部13の信号対雑音比の関係上有利である。このとき
、駆動電圧VEの上限はブリッジ抵抗で消費される電力
により発熱し、各抵抗の熱変形によるブリッジバランス
の大きさにより制限される。本実施例における抵抗R5
〜R8は薄膜プロセスで形成されるため、高抵抗とする
ことが可能であり、従来の貼付式ストレンゲージの場合
よりも何倍も大きい抵抗値とすることができる。
その反面、差動増幅器14のコンパレータQ1tQ2.
Q3の入力電圧をその電源電圧以上としたときは差動増
幅器14が動作不能になってしまうので、分圧器12に
よりVE ’を入力信号として与えている。すなわち、 であり、R14を調整することにより、適当なVE ’
を設定している。このR14は薄膜プロセスによりスト
レンゲージR5〜R8と同じパターン形成面9に形成さ
れているので、レーザートリマーによりロードセル部1
3の調整と同時に行ないうる。
Q3の入力電圧をその電源電圧以上としたときは差動増
幅器14が動作不能になってしまうので、分圧器12に
よりVE ’を入力信号として与えている。すなわち、 であり、R14を調整することにより、適当なVE ’
を設定している。このR14は薄膜プロセスによりスト
レンゲージR5〜R8と同じパターン形成面9に形成さ
れているので、レーザートリマーによりロードセル部1
3の調整と同時に行ないうる。
ついで、信号増幅器16はロードセル部13の出力信号
vしを増幅するためのものであるが、その利得Gは次の
0式により示される。
vしを増幅するためのものであるが、その利得Gは次の
0式により示される。
1(11
ここで、抵抗Rn 、 R12は薄膜プロセスにより形
成されているため、RhとR1zとの比を規定の値にな
るように調整する必要がある。
成されているため、RhとR1zとの比を規定の値にな
るように調整する必要がある。
また、ロードセル部13の感度には個々のものでバラツ
キがあり、R12/ Rttが同一の値であっても同一
の荷重に対して信号増幅器16の出力電圧V3C1にバ
ラツキが発生する。この出力電圧V30を規定の値にす
るためには、ロードセル部13の感度Kに対して利得G
を調整すればよい。
キがあり、R12/ Rttが同一の値であっても同一
の荷重に対して信号増幅器16の出力電圧V3C1にバ
ラツキが発生する。この出力電圧V30を規定の値にす
るためには、ロードセル部13の感度Kに対して利得G
を調整すればよい。
このように、抵抗Ru 、 R1zはストレンゲージR
5〜R8と同様に薄膜プロセスによって同一パターン面
9に形成されているため、ロードセル部13の調整を行
なうときに抵抗Rn 、 R12もレーザートリマーに
よって調整を行なう。
5〜R8と同様に薄膜プロセスによって同一パターン面
9に形成されているため、ロードセル部13の調整を行
なうときに抵抗Rn 、 R12もレーザートリマーに
よって調整を行なう。
つぎに、ゼロ点設定器15はロードセル部13の印加荷
重が初期値のとき、信号増幅器16の出力電圧V 30
がある規定値になっているように設定するためのもので
ある。このゼロ点設定器15の出力電圧V 20は次の
0式で示される。
重が初期値のとき、信号増幅器16の出力電圧V 30
がある規定値になっているように設定するためのもので
ある。このゼロ点設定器15の出力電圧V 20は次の
0式で示される。
このとき、信号増幅器16の出力電圧V 30は次の0
式で示される。
式で示される。
V3o = (VL + V2O) ・G ・=■ここ
で、出力電圧V30を規定値にするためには、V 20
を調整すればよく、そのためには抵抗R9゜Rloを調
整することにより行ないうる。そして、これらの抵抗R
9* Rzoの調整はストレンゲージR5〜R8の調整
と同時にレーザートリマーにより行ないつる。
で、出力電圧V30を規定値にするためには、V 20
を調整すればよく、そのためには抵抗R9゜Rloを調
整することにより行ないうる。そして、これらの抵抗R
9* Rzoの調整はストレンゲージR5〜R8の調整
と同時にレーザートリマーにより行ないつる。
発明の効果
本発明は、ストレンゲージが形成されたパターン形成面
にゼロ点設定器の抵抗を薄膜プロセスにより形成したの
で、ストレンゲージの調整と同時にゼロ点設定器の抵抗
の調整を行なうことができ。
にゼロ点設定器の抵抗を薄膜プロセスにより形成したの
で、ストレンゲージの調整と同時にゼロ点設定器の抵抗
の調整を行なうことができ。
これにより、簡単に正確なゼロ点を定めることができる
ものである。
ものである。
図面は本発明の一実施例を示すもので、第1図は起歪体
部分の縦断側面図、第2図は電気回路図である。 5・・・起歪体、8・・・薄肉変形部、9・・・パター
ン形成面、15・・・ゼロ点設定器、R5−R8・・・
ストレンゲージ、Rs 、 Rlo・・・抵抗比 願
人 東京電気株式会社
部分の縦断側面図、第2図は電気回路図である。 5・・・起歪体、8・・・薄肉変形部、9・・・パター
ン形成面、15・・・ゼロ点設定器、R5−R8・・・
ストレンゲージ、Rs 、 Rlo・・・抵抗比 願
人 東京電気株式会社
Claims (1)
- 四個所の薄肉変形部を有して平行四辺形状に変形する起
歪体を設け、この起歪体の一面のパターン形成面に前記
薄肉変形部に対応させて位置決めされるとともにたがい
にブリッジ結合されたストレンゲージを薄膜プロセスに
より形成し、これらのストレンゲージが形成された前記
パターン形成面にゼロ点設定器の抵抗を薄膜プロセスに
より形成し、前記ストレンゲージのトリミングによる調
整と同時に前記ゼロ点設定器の抵抗を調整するようにし
たことを特徴とするロードセル。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9978384A JPS60243529A (ja) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | ロ−ドセル |
EP85303070A EP0164862B1 (en) | 1984-05-17 | 1985-04-30 | Strain-gauged load cell |
US06/729,362 US4633721A (en) | 1984-05-17 | 1985-05-01 | Load cell having a thin film strain-inducible element |
CA000481093A CA1239427A (en) | 1984-05-17 | 1985-05-08 | Load cell |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9978384A JPS60243529A (ja) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | ロ−ドセル |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60243529A true JPS60243529A (ja) | 1985-12-03 |
Family
ID=14256534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9978384A Pending JPS60243529A (ja) | 1984-05-17 | 1984-05-18 | ロ−ドセル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60243529A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62222126A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | Tokyo Electric Co Ltd | ロ−ドセル式秤の抵抗調整方法 |
JP2014149203A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Hirobumi Otsuka | ロードセル |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55151223A (en) * | 1979-05-15 | 1980-11-25 | Tokyo Electric Co Ltd | Electronic type weight measuring unit |
JPS5842941A (ja) * | 1981-09-07 | 1983-03-12 | Toshiba Corp | ロ−ドセル |
-
1984
- 1984-05-18 JP JP9978384A patent/JPS60243529A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55151223A (en) * | 1979-05-15 | 1980-11-25 | Tokyo Electric Co Ltd | Electronic type weight measuring unit |
JPS5842941A (ja) * | 1981-09-07 | 1983-03-12 | Toshiba Corp | ロ−ドセル |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62222126A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | Tokyo Electric Co Ltd | ロ−ドセル式秤の抵抗調整方法 |
JP2014149203A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Hirobumi Otsuka | ロードセル |
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