JPS60219736A - 堆積膜の形成法 - Google Patents

堆積膜の形成法

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JPS60219736A
JPS60219736A JP7613684A JP7613684A JPS60219736A JP S60219736 A JPS60219736 A JP S60219736A JP 7613684 A JP7613684 A JP 7613684A JP 7613684 A JP7613684 A JP 7613684A JP S60219736 A JPS60219736 A JP S60219736A
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gas
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Takeshi Eguchi
健 江口
Hiroshi Matsuda
宏 松田
Masahiro Haruta
春田 昌宏
Yukio Nishimura
征生 西村
Yutaka Hirai
裕 平井
Takashi Nakagiri
孝志 中桐
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Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、励起エネルギーとして光を利用し、光導電膜
、半導体あるいは絶縁性の膜を所定の支持体上に形成さ
せる堆積膜形成法に関し、更に詳しくは、光または光及
び所望により熱等の励起エネルギーの付与により、原料
ガスの励起、分解状態を作り、所定の支持体上に、特に
、アモルファスシリコン(以下a−Siと略す)の堆積
膜を形成する方法に関する。
従来、a−3iの堆積膜形成方法としては、5i)14
、またはSi2H6を原料として用いたグロー放電堆積
法及び熱エネルギー堆積法が知られている。即ち、これ
らの堆積法は、原料ガスとしてのSi04才たは5i2
)16を電気エネルギーや熱エネルギー(励起エネルギ
ー)により分解して支持体上にa−9iの堆積膜を形成
させる方法であり、形成された堆積膜は、光導電膜、半
導体あるいは絶縁性の膜等として種々の目的に利用され
ている。
しかしながら、高出力放電下で堆積膜の形成が行なわれ
るグロー放電堆積法に於いては、均一な放電の分布状態
が常に得られないなど再現性のある安定した条件の制御
が難しく、更に膜形成中に於ける膜への高出力放電の影
響が太きく、形成された膜の電気的、光学的特性の均一
性、品質の安定性の確保が難しく、堆積時の膜表面の乱
れ、堆積膜内の欠陥が生じやすい、特に、面積の太きな
、あるいは厚膜の堆積膜を電気的、光学的特性に於いて
均一にこの方法により形成することは非常に困難であっ
た。
一方、熱エネルギー堆積法においても、通常400°C
以上の高温が必要となることから使用される支持体材料
が限定され、加えて所望のa−5i中の有用な結合水素
原子が離脱してしまう確率が増加するため、所望の特性
が得難い。
そこで、これらの問題点を解決する1つの方法として、
SiH4、Si2H6を原料とするa−3iの光エネル
ギー堆積法(光CVO)が最近注目されている。
この光エネルギー堆積法は、励起エネルギーとしての前
述の方法に於けるグロー放電や熱の代わりに光を用いた
ものであり、a−3iの堆積膜の作製が低エネルギーレ
ベルで実施できるようになった。また、光エネルギーは
原料ガスに均一に照射することが容易であり、前述の堆
積法と比べて低いエネルギー消費で、均一性を保持した
高品質の成膜を行なうことができ、また製造条件の制御
が容易で安定した再現性が得られ、更に支持体を高温に
加熱する必要がなく、支持体に対する選択性が広がって
いる。
ところが、このようなS i H4、Si2H6を原料
とした光エネルギー堆積法では、飛躍的に効率の良い分
解を期待するのには限度があり、従って膜の形成速度の
向上が図れず、量産性に難点があるという問題点が指摘
されている。
本発明はこのような問題に鑑みなされたものであり、励
起エネルギーとして光を用いて、高品質を維持しつつ高
い成膜速度でシリコン原子を含む堆積膜を低エネルギー
レベルで形成することのできる光エネルギー堆積法を提
供することにある。
本発明の他の目的は、大面積、厚膜の堆積膜の形成にあ
っても、電気的、光学的特性の均一性、品質の安定性を
確保した高品質の堆積膜を形成することのできる方法を
提供することにある。
本発明は、鋭意検討の結果、これらの目的が、光エネル
ギーにより分解される原料ガスとして、ハロゲン原子を
含有するシリコン化合物を用いることによって達成され
ることを見い出し完成されたものである。
すなわち、本発明の堆積膜形成法は、支持体が配置され
た堆積室内に、下記一般式; %式% (但し、Xはハロゲン、n、l、丁は1以上の整数を表
わし、かつm+r=2n+2である)で示されるシリコ
ン化合物の気体状雰囲気を形成し、該化合物を光エネル
ギーを利用して、励起し、分解することにより、前記支
持体上にシリコン原子を含む堆積膜を形成することを特
徴とする。
本発明の方法に於いて使用される堆積膜形成用の原料は
、ハロゲン原子を含有するシリコン化合物であり、光エ
ネルギーによって容易に励起、分解しうることに特徴が
あり、上記の一般式で示される。
このような化合物の中でも、上記式に於けるnが3〜7
の整数であることが好ましく、より好ましくは3〜6、
最適には3〜5の整数であることが望ましい、すなわち
、化合物中のシリコン原子の数が3以上であると、隣り
合ったシリコン原子の結合、特に2つのシリコン原子に
挾まれたシリコン原子と該原子に結合した他のシリコン
原子との結合が、比較的低い励起エネルギーによって不
安定となり、ラジカル分解し易い、一方、化合物中の直
接結合するシリコン原子の数が増加するに従って更に低
い励起エネルギーによってラジカル分解し易くなるが、
接結台するシリコン原子の数が8以上であると、形成さ
れた8−81膜の品質が低下してしまうので好ましくな
い。
従って、効率良く励起、分解が行なわれ、しかも良質な
a−3i膜を堆積するには、化合物中のシリコン原子の
数が好ましくは3〜7、より好ましくは3〜6、最適に
は3〜5であることが望ましい。
一方、上記式中Xで示された1個のハロゲン原子は、1
種のみに限らず数種の混合でもよい、化合物中の全ハロ
ゲン原子の個数は、m+n=rより決定されるが、化合
物中の全ハロゲン原子の個数が、全水素原子の個数より
も少ないものが好ましい。
本発明の方法に使用されるシリコン化合物が含有するハ
ロゲン原子としては、臭素原子及びヨウ素原子が好まし
く、なかでもヨウ素原子がより好適である。これは、シ
リコン−臭素または一ヨウ素結合、特にシリコン−ヨウ
素結合は、シリコン−水素結合に比べて不安定であり、
光エネルギーのような低いエネルギーでも容易に励起、
分解し、更にその光吸収エネルギーは、低エネルギー側
、すなわち長波長側にシフトするため、結合の光分解効
率が高いためである。
本発明の方法に使用されるシリコン化合物は、光エネル
ギーにより容易に励起、分解され、:SiH2、:5i
HX、 +5i2H1:5iH2X 2等ノラシカルを
生じ、更にこれらが光励起、分解されて良質Aa−Si
PIIAが形成される。
このような本発明の方法に使用されるシリコン化合物の
代表的なものとしては、以下のような化合物が挙げられ
る。
!I H2S1Br2 、/1i、2 H2S112 渦3 H3SiF 届4 H3SiBr 渦5 H3Sil 、!6 )+33iFl 遂7 H2S1Cj11 10.8 H2S1Brl !、9 (HB丁zsi)2 届10 (HbSi)2 届11 (82FSl)2 届12 (H2CJS+h A、 13 (82Br51)2 誦14 (H21Si)2 届15 H45i2 Fl 渦18 H45i2 C11l A 17 H4Si2 Br1 4、18 H4S!2 FBr 4、19 H4Si、CJfBr 届20 H1Si2F N621 HsSiz[:J 、/622 H3Si、、Br 遥23 H5Si21 届24 H2S1SiH3i)12 1 1 FF ClIC1c1 届26 H1Si3 Br3 渦27 H5Si313 遂28 H45i3 Bra 届29 8+Si3 1a 遂30 )1B、Si3 Bt2 述31 H6Si3+2 432 H7Si3 F #6.33 H7Si3 (IJ 、/6.34 H7Sl 3 Br 届35 H7Si31 A36 cyc−H2Si6 Brl。
A 37 cyc−)16Si6 Br6J、38 c
7cmH2Si6 FaBr6+v6.Heye−H6
Si6 (lJ6渦40 cyc−H6Si6 F6 A、41 cyc−H2Si6 F、。
本発明の方法に於いては、このようなシリコン化合物が
、少なくとも堆積室内でガス状となるように堆積室内に
導入され、これに光エネルギーが照射されて、これが励
起、分解され、堆積室内に配置された支持体にシリコン
原子を含む堆積膜(a−3i膜)が形成される。
本発明で言う、光エネルギーとは、L記の原料カスに照
射した際に十分な励起エネルギーを与えることのできる
エネルギー線を言い、原料ガスを励起1分解せしめ、分
解生成物を堆積させることができるものであれば、波長
域を問わずどのようなものも使用することができる。こ
のような光エネルギーとしては、例えば、紫外線、赤外
線、可視光線、X線、γ線などを挙げることができ、原
料ガスとの適応性等に応じて適宜選択することができる
以下、第1図を参照しつつ本発明の方法を詳細に説明す
る。
t51図は支持体」−に、a−9iからなる光導電膜、
゛V、導体膜、又は絶縁体膜等の機能膜を形成するため
の堆積膜形成装置の概略構成図である。
堆積膜の形成は堆積室lの内部で行なわれる。
堆積室1の内部に置かれる3は支持体2の配置される支
持台である。
4は支持体加熱用のヒーターであり、道線5によって該
ヒーターに給電される。堆積室1内にa−3iの原料ガ
ス、及び必要に応じて使用されるキャリアーガス等のガ
スを導入するためのガス導入管17が堆積室lに連結さ
れている。このガス導入管17の他端は上記ガス及び必
要に応じて使用されるガス供給源9.10. Il、 
12に連結されている。ガス供給源9 、10.11.
 +2から堆積室lに向って流出する各々のガスの流量
を計測するため、対応するフローメーター15−1.1
5−2.15−3.15−4が対応する分枝したガス導
入管+7−1.17−2.17−3.17−4の途中に
設けられる。各々のフローメータの前後にはバルブ+4
−1.14−2.14−3.14−4.18−1.18
−2、18−3. IEi−4が設けられ、これらのバ
ルブを調節することにより、所定の流量のガスを供給し
うる、 13−1.13−2.13−3.13−4は圧
力メータであり。
対応するフローメータの高圧側の圧力を計測するための
ものである。
フローメータを通過した各々のガスは混合されて、不図
示の排気装置によって減圧下にある堆積室1内へ導入さ
れる。なお、圧力メータ18は混合カスの場合にはその
総圧が計測される。
堆積室l内を減圧にしたり、導入されたガスを排気する
ために、カス排気管20が堆積室1に連結されている。
ガス排気管の他端は不図示の排気装置8に連結される。
7は光エネルギー発生装置である。
堆積室lが石英ガラス等の透明材料から出来ていない場
合には、光エネルギー8を照射させるための窓を設けれ
ば良い。
木発す1に於いて、カスの供給源9 、10. II、
 12の個数は適宜、増減されうるちのである。
つまり、φ−の原料カスを使用する場合にはガス供給源
は1つで足りる。しかしながら、2挿具l゛の原料ガス
を混合して使用する場合、あるいは中−の原料カスに触
媒ガスあるいはキャリアーガス等を混合する場合には2
つ以上必要である。
なお、原料の中には常温で気体にならず、液体のままの
ものもあるので、液体原料を用いる場合には、不図示の
気化装置が設置される。気化装置には加熱沸騰を利用す
るもの、液体原料中にキャリアーガスを通過させるもの
等がある。気化によって得られた原料ガスはフロメータ
を通って堆積室l内に導入される。
このような第1図に示した装置を使用して本発明の方法
により以下のようにしてa−Siからなる堆積膜を形成
することができる。
まず、堆積室1内の支持台3−Lに支持体2をセットす
る。
支持体2としては、形成された堆積膜の用途等に応じて
種々のものが使用される。該支持体を形成できる材料と
しては、導電性支持体には1例えばNiCl、ステンレ
ス、AI、Cr、 No、Au、 Nb、 Ta。
V 、Ti、 Pt、 Pd等の金属またはこれらの合
金、半導電性支持体には、Si、 Ge等の半導体、ま
た電気絶縁性支持体には、ポリエステル、ポリエチレン
、ポリカーボネート、セルローズ、アセテート、ポリプ
ロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリ
スチレン、ポリアミド等の合成樹脂、ガラス、セラミン
クス、紙等を挙げることができる。支持体2の形状及び
大きさは、その使用する用途に応じて、適宜決定される
特に、本発明の方法に於いては、支持体の温度を50〜
150℃程度と比較的低い温度とすることができるので
、」;記の支持体を形成する材料の中でも、従来のグロ
ー放電堆積法や熱エネルギー堆積法には適用できなかっ
た耐熱性の低い材料からなる支持体をも使用することが
可能となった。
このように支持体2を堆積室l内の支持台3上に置いた
後に、ガス排気管20を通して不図示の排気装置により
堆積室内の空気を排気し減圧にする。減圧下の堆積室内
の気圧は5X 10’ Torr以下、好適には1O−
GTorr以下が望ましい。
堆積室l内が減圧されたところで、ヒーター4に通電し
、支持体3を所定の温度に加熱する。このときの支持体
の温度は、好ましくは50〜!50℃、より好ましくは
50〜100℃とされる。
このように、本発明の方法に於し)ては支持体温度が比
較的低温であるので、グロー放電堆積法や熱エネルギー
堆積法に於けるような支持体の高温加熱を必要としない
ために、このために必要とされるエネルギー消費を節約
することができる。
次に、先に挙げたようなa−3i膜形成用の原料化合物
ガスが貯蔵されている供給源90/(ルブ14−1、1
B−1を各々開き、原料ガスを堆積室l内に送りこむ、
なお、一種以上の原料混合ガスを使用する場合、これら
が互いに反応しないものであれIf、これらを所定の混
合比で混合したものを供給源9に充填しておいても良い
このとき対応するフローメータ15−1.15−2でス
1測しながら流量調整を行う0通常、原料ガスの流量は
10〜100O5CCN 、好適には20〜5003C
CMの範囲が望ましい。
堆積室l内の原料ガスの圧力は10−2〜100Tor
r、好ましくは10−2〜l Tartの範囲に維)キ
されることが望ましい。
堆積室l内に、原料ガスが導入されたところで、光エネ
ルギー発生装置7を駆動させ、光エネルギーを、原料ガ
スに照射する。
光エネルギー発生装置7としては、例えば水銀ランプ、
キセノンランプ、炭酸ガスレーザー、アルゴンイオンレ
ーザ、又はエキシマレーザ等を用いることができる。
光エネルギー発生装置7の駆動により発生する所望の光
エネルギーは堆積室1内に設置された支持体2を照射す
るように不図示の光学系が組みこまれている。
光エネルギーは、堆積室1内に配置された支持体2の近
傍を流れるガスに対して、一様に、または照射部分を選
択的に制御して照射することができる。
このようにして、支持体2の表面近傍を流れる原料ガス
には光エネルギーが付与され、光励起・光分解が促され
、生成物質であるa−3iが支持体上に堆積される0本
発明の方法に使用される原料ガ容易に励起、分解するの
で、5〜100八/see程度の高い成膜速度が得られ
る。 a−8i以外の分解生成物及び分解しなかった余
剰の原料ガス等はガス排気管20を通して排出され、一
方、新たな原料ガスがガス導入管17を通して連続的に
供給される。
本発明の方法に於いては、励起エネルギーとして、光エ
ネルギーを使用し、この光エネルギーは、該エネルギー
を照射すべき原料ガスの占める所定の空間に対して常に
均一に照射できるように、すなわち励起エネルギーの不
均一な分布を生じることのないように光学系を用いて制
御することが容易であり、また、光エネルギー自身によ
る、形成過程にある堆積膜へのグロー放電堆積法に於い
て認められたような高出力放電による影響はなく、堆積
時の膜表面の乱れ、堆積膜内の欠陥を起こすことなく、
均一性を保ちつつ堆積膜の形成が継続される。特に、光
エネルギーは、広範囲にわたって均一に照射できるので
、大面積の堆積膜を精度良く、均一に形成することが可
能となつた。
また、光エネルギーの照射部分を選択的に制御すること
によって、支持体上の堆積膜形成部分を限定することも
できる。
なお、本発明に於ける光エネルギーによる原料ガスの励
起、分解には、光エネルギーによって直接原料ガスが励
起、分解される場合のみならず、光エネルギーが原料ガ
ス、または支持体に吸収されて熱エネルギーに変換され
、その熱エネルギーによって原料ガスの励起、分解がも
たらされるような光エネルギーによる派生的効果による
場合をも含むものである。
このようにしてa−Si膜が支持体2上に形成され、a
−3iの所望の膜厚が得られたところで、光エネルギー
発生装M7からの光エネルギーの照射を停止し、更にバ
ルブ14−1.16−1を閉じ、原料ガス。
の供給を停止する。 a−3ill*の膜厚は、形成さ
れたa−Si膜の用途等に応じて適宜選択される。
次に、不図示の排気装置の駆動により、堆積室内のカス
を排除した後ヒーター4を切り、支持体及び堆積膜が常
温となったところでバルブ21をあけて、堆積室に大気
を徐々に導入し、堆積室内を常圧に戻して、a−9i1
5Iの形成された支持体を取り出す。
このようにして本発明の方法により支持体上に形成され
たa−8i膜は、電気的、光学的特性の均一性、品質の
安定性に優れたa−3i膜である。
なお、以上説明した本発明の方法の一例に於いては、減
圧下に於いて堆積膜が形成されたが、これに限定される
ことなく、本発明方法は、所望に応じて、常圧下、加圧
下に於いて行なうこともできる。
以上のような本発明の方法によれば、励起エネルギーと
して、光エネルギーを使用し、かつ該光エネルギーによ
って容易に励起1分解する原料ガスを用いたことにより
、高い成膜速度による低エネルギーレベルでのa−3i
堆積膜の形成が可能となり、電気的、光学的特性の均一
性、品質の安定性に優れたδ−Si堆積膜を形成するこ
とができるようになった。従って、本発明の方法に於い
ては、従来のグロー放電堆積法や熱エネルギー堆積法に
は適用できなかった耐熱性の低い材料からなる支持体を
も使用することができ、また支持体の高温加熱に必要と
されるエネルギー消費を節約することが可能となった。
更に、光エネルギーは、該エネルギーを照射すべき原料
ガスの占める所定の空間に対して常に均一に照射できる
ように制御することが容易であり、厚膜の堆積膜も精度
良く均一に形成でき、特に広範囲にわたって均一に照射
できるので、大面積の堆積膜をも精度良く均一に形成す
ることがTJf能となった。
以下、本発明の方法を実施例に従って更に詳細に説明す
る。
実施例1 第1図に示した装置を使用し、堆積膜形成用の出発物質
として先に挙げたシリコン化合物遂lを用いて、■型の
a−Si (アモルファス−3i)膜の形成を以下のよ
うにして実施した。
まず、支持体(商品名、コーニング# 7059、透明
導電性フィルム(ポリエステルベース)を堆積室l内の
支持台3にセットし、ガス排気管20を通して排気装置
(不図示)によって堆積室1内を10” Torrに減
圧し、ヒーター4に通電して支持体温度を90℃に保ち
、次にシリコン化合物届1が充填された原料供給源9の
バルブ+4−1.18−1を各々開き、原料ガスを堆積
室1内に導入した。
このとき対応するフローメータ15−1で311Lなが
らガス流量を150 SC:CMに調製した0次に、堆
積室内の圧力を0.I Torrに保ち、光強度100
m−の低圧水銀灯の光を光エネルギー発生装置7から発
生させ支持体に対して垂直に照射して、厚さ400OA
の1型a−9i膜を、50八/secの成膜速度で支持
体2上に堆積させた。なお、光エネルギーは、堆積室l
内に配置された支持体2全体の近傍を流れるガスに対し
て、一様に照射された。このとき、a−3i以外の分解
生成物及び分解しなかった余剰の原料ガス等はガス排気
管20を通して排出され、一方、新たな原料ガスがガス
導入管17を通して連続的に供給された。
このようにして本発明の方法により形成された、a−S
i膜の評価は、基板上に形成されたa−9i膜のそれぞ
れの上に、更にクシ型のAIのギャップ電極(長さ25
0、μ巾5腸峠を形成して、光電流(光照射強度A旧;
約100 mW/crn”)と暗電流を測定し、その光
導電率σp及び光導電率σpと暗導電率σdとの比(σ
p/σd)をることによって行った。
なお、ギャップ電極は、上記のようにして形成されたa
−3ill@を蒸着槽に入れて、核種を一度1o−6T
orrの真空度まで減圧した後、真空度を10′5To
rrに調整して、蒸着速度20A/secテ、1500
A (7)膜厚で、 AIをa−3i膜上に蒸着し、こ
れを所定の形状を有するパターンマスクを用いて、エツ
チングしてパターンマスクを行なって形成した。
得られたσρ値、σp/σd比を表1に示す。
実施例2〜7 堆積膜形成用の出発物質として、先に列挙したシリコン
化合物遂6、逅14、遂24、遂28、魚3o、遂32
(実施例2〜7)のそれぞれを個々に用い、支持体温度
を表1に示したように設定する以外は実施例1と同様に
して、■型のa−3i膜の形成を実施し、得られたa−
9illを実施例1と同様にして評価した。評価結果を
表1に示す。
比較例I Si供給用の原料物質としてSi2H6を用いる以外は
実施例5と同様にして1型aJilllの形成を実施し
、得られたa−Sill!Jを実施例1と同様にして評
価した。評価結果を表1に示す。
実施例8〜14 堆積膜形成用の出発物質として、先に列挙したシリコン
化合物N62、遂lO1逅13、届14、届27、N6
30、遂34のそれぞれ(実施例8〜14)を個々に用
い、支持体温度を表2の様に設定し、光強度15■J/
パルスのA「エキシマ−レーザーによる光を支持体に垂
直に照射する以外は実施例1と同様にして、a−Si膜
を堆積した。得られたa−3iljJを実施例1と同様
にして評価した。評価結果を表2に示す。
比較例2 Si供給用の原料物質としてSi2H6を用いる以外は
実施例8と同様にして夏型a−3i膜の形成を実施し、
得られたa−Si膜を実施例5と同様にして評価した。
評価結果を表2に示す。
以上の実施例1−14及び比較例1.2の結果をまとめ
ると、成膜速度については表1及び表2の評価結果に示
されたように、光強度100s+Wの低圧水銀灯の光を
使用し、支持体温度を80℃とした場合では、比較例1
に於ける成膜速度が12A/secであるのに対して、
本発明の実施例5.6.7に於けるr&膜速度が45A
/secであり、また光強度15■J/パルスのArエ
キシマ−レーザーを使用し。
支持体温度を80℃とした場合では比較例2に於ける成
膜速度が12A/secであるのに対して、未発〜しO 明の実施例8.1O113,14に於いては貨τ/se
cと良好な成膜速度が得られ、かつ本発明の実施例1〜
34のいづれの場合に於いても、光導電率σpが6X1
0”’〜lXl0′4、またσp/σdは8X103〜
9XIO’ と良好な値を示した。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の方法に用いられる堆積膜形成装置の
一例の概略構成図である。 1;堆積室 2:支持体 3:支持台 4:ヒーター 5:導線 13−1.8−2.8−3:ガスの流れ7:光エネルギ
ー発生装置 8:光エネルギー 9,10,11,12 :ガス供給
源13−1.13−2.13−3.13−4.18:圧
力メーター14−1.14−2.14−3.14−4゜
1B−1,18−2,16〜348−4,21:バルブ
+5−1.15−2.15−3.15−4:フローメー
ター17.17−1.17−2.17−3.17−4:
ガス導入管20:ガス排気管 特許出願人 キャノン株式会社 代 理 人 若 林 忠

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (+)支持体が配置された堆積室内に、下記一般式; %式% (但し、Xはハロゲン、n、閣、rは1以上の整斂を表
    わし、かつm+r=2n+2である)で示されるシリコ
    ン化合物の気体状雰囲気を形成し、該化合物を光エネル
    ギーを利用して、励起し、分解することにより、前記支
    持体りにシリコン原子を含む堆積膜を形成することを特
    徴とする堆alliJの形成方法。
JP7613684A 1984-04-16 1984-04-16 堆積膜の形成法 Pending JPS60219736A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5120394A (en) * 1988-11-11 1992-06-09 Fujitsu Limited Epitaxial growth process and growing apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5120394A (en) * 1988-11-11 1992-06-09 Fujitsu Limited Epitaxial growth process and growing apparatus

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