JPS60219640A - トラツキングサ−ボ信号生成方式 - Google Patents
トラツキングサ−ボ信号生成方式Info
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- JPS60219640A JPS60219640A JP7455784A JP7455784A JPS60219640A JP S60219640 A JPS60219640 A JP S60219640A JP 7455784 A JP7455784 A JP 7455784A JP 7455784 A JP7455784 A JP 7455784A JP S60219640 A JPS60219640 A JP S60219640A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/094—Methods and circuits for servo offset compensation
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
ＬＪＩＩＬ
本発明は記録情報読取装置におけるトラッキングサーボ
信号生成方式に関するものである。
信号生成方式に関するものである。
１１１
例えば光学式情報記録装置におけるいわゆるワンビーム
式トラッキングサーボ装置として特開昭５８−７３０２
３号公報に開示の装置があり、そのブロックが第１図に
示されている。ずなわちレーザ光源１よりの照射光束は
、レンズ２、ビームスプリッタ３．１／４波長板４及び
対物レンズ５を経て記録ディスク６の記録面へ入射する
。対物レンズ５によりレーザ光は収束せしめられて記録
面上にて微妙な情報検出点としてのスポット光となる。
式トラッキングサーボ装置として特開昭５８−７３０２
３号公報に開示の装置があり、そのブロックが第１図に
示されている。ずなわちレーザ光源１よりの照射光束は
、レンズ２、ビームスプリッタ３．１／４波長板４及び
対物レンズ５を経て記録ディスク６の記録面へ入射する
。対物レンズ５によりレーザ光は収束せしめられて記録
面上にて微妙な情報検出点としてのスポット光となる。
このディスク６による反射反射光は、ビームスプリッタ
３により分離されて一対の光電変換索子９ａ、９ｂの各
受光面上に照射される。画素子９ａ 、９１１の出力は
アンプ１０ａ、１０ｂ及びＬＰＦ（０−パスフィルタ）
１１８．１Ｎ＋を夫々介してへ１２の差動入力Ｂ＋ 、
８ｚとなる。
３により分離されて一対の光電変換索子９ａ、９ｂの各
受光面上に照射される。画素子９ａ 、９１１の出力は
アンプ１０ａ、１０ｂ及びＬＰＦ（０−パスフィルタ）
１１８．１Ｎ＋を夫々介してへ１２の差動入力Ｂ＋ 、
８ｚとなる。
また、レンズ１０ａ、１０ｂの各出力Ａｔ、Ａ２はＨＰ
Ｆ（バイパスフィルタ）１７ａ、１７ｂにより高域成分
Ｄ’＋ 、Ｄ２が抽出されて、全波整流器ｉｓａ、ｉａ
ｂによ一９整流され整流波Ｅ＋。
Ｆ（バイパスフィルタ）１７ａ、１７ｂにより高域成分
Ｄ’＋ 、Ｄ２が抽出されて、全波整流器ｉｓａ、ｉａ
ｂによ一９整流され整流波Ｅ＋。
Ｅ２となる。これ等出力Ｅ＋ 、Ｅ２はＬＰＦ１９ａ、
１９ｂにてエンベロープ成分Ｆ＋ 、Ｆ２が抽出され差
動アンプ２０にて同成分Ｆ’＋ 、Ｆｚの差Ｇが得られ
る。
１９ｂにてエンベロープ成分Ｆ＋ 、Ｆ２が抽出され差
動アンプ２０にて同成分Ｆ’＋ 、Ｆｚの差Ｇが得られ
る。
そして、検出素子９ａ 、９ｂによる検出出力の低域成
分８＋ 、Ｂｚの差動アンプ１２による差成分Ｃと、先
のエンベロープ成分の差成分Ｇとの差Ｈを差動アンプ２
１により得て、これをイコライザ１３及び駆動アンプ１
４を介して対物レンズ５の駆動をなすコイル８へ供給し
、レンズ５による収束スポット光のディスク半径方向の
移動制御がなされてトラッキングサーボが行なわれるの
である。
分８＋ 、Ｂｚの差動アンプ１２による差成分Ｃと、先
のエンベロープ成分の差成分Ｇとの差Ｈを差動アンプ２
１により得て、これをイコライザ１３及び駆動アンプ１
４を介して対物レンズ５の駆動をなすコイル８へ供給し
、レンズ５による収束スポット光のディスク半径方向の
移動制御がなされてトラッキングサーボが行なわれるの
である。
第１図の装置の動作原理については前述の公開公報に詳
、記されているので一詳述しないが、１組の検出索子９
ａ、９．ｂの低域成分の差Ｃと高域エンベロープ成分の
差Ｇとには、夫々外乱によるＤＣ成分が同相にて含まれ
ており、またトラッキングエラー成分となる交流成分が
逆相にて含まれているという事実を利用して、これら両
差成分ＧとＣとを差動アンプ２１にて所望の合成比にて
合成し、外乱によるオフセット成分（ＤＣ成分）を除去
しているのである。
、記されているので一詳述しないが、１組の検出索子９
ａ、９．ｂの低域成分の差Ｃと高域エンベロープ成分の
差Ｇとには、夫々外乱によるＤＣ成分が同相にて含まれ
ており、またトラッキングエラー成分となる交流成分が
逆相にて含まれているという事実を利用して、これら両
差成分ＧとＣとを差動アンプ２１にて所望の合成比にて
合成し、外乱によるオフセット成分（ＤＣ成分）を除去
しているのである。
しかしながら、当該合成比は対物レンズ５のオフセット
によるスポット光偏倚の場合とディスク６の傾きによる
光分布偏倚の場合とでは最良値が相異するもので、これ
等レンズ偏倚やディスク傾斜を加味した最良の合成比を
得なければ、トラッキングサーボ信号に含まれるオフセ
ット成分は除去できな（なって、サーボ系の目標値ずれ
を引き起こすことになる。
によるスポット光偏倚の場合とディスク６の傾きによる
光分布偏倚の場合とでは最良値が相異するもので、これ
等レンズ偏倚やディスク傾斜を加味した最良の合成比を
得なければ、トラッキングサーボ信号に含まれるオフセ
ット成分は除去できな（なって、サーボ系の目標値ずれ
を引き起こすことになる。
１１匹１Ｌ
本発明の目的は、対物レンズ偏倚及び記録ディスク傾斜
を加味して上記両差成分の合成比を最適値に設定し外乱
に起因するオフセットを除くようにしたトラッキングサ
ーボ信号生成方式を提供することである。
を加味して上記両差成分の合成比を最適値に設定し外乱
に起因するオフセットを除くようにしたトラッキングサ
ーボ信号生成方式を提供することである。
本発明によるトラッキング：′サーボ信号生成方式は、
記録情報検出点の記録ト１ラック直交方向における偏倚
量を検出１べく−この偏倚ωに応じて一対の検出出力相
互間に相補的な差異が生ずるように設けられた検出手段
の当該一対の検出出力の低域成分の差と、当該一対の検
出出力の高域エンベロープ成分の差との合成比を設定す
るに際し、一対の検出出力の各直流成分レベル、各交流
成分レベル比のディスク傾斜及び対物レンズ偏倚に対す
る各関数を、これ等差成分の合成出力にて得られる式に
導入りることにより当該合成比を最適値と覆るようにし
たことを特徴とする。
記録情報検出点の記録ト１ラック直交方向における偏倚
量を検出１べく−この偏倚ωに応じて一対の検出出力相
互間に相補的な差異が生ずるように設けられた検出手段
の当該一対の検出出力の低域成分の差と、当該一対の検
出出力の高域エンベロープ成分の差との合成比を設定す
るに際し、一対の検出出力の各直流成分レベル、各交流
成分レベル比のディスク傾斜及び対物レンズ偏倚に対す
る各関数を、これ等差成分の合成出力にて得られる式に
導入りることにより当該合成比を最適値と覆るようにし
たことを特徴とする。
実 施 例
以下に、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第２図は本発明の詳細な説明するブロック図であり、Ｍ
１図と同等部分は同一符号により示されている。第１図
と異なる部分は、差動アンプ２０と２１との間にゲイン
制御アンプ（又はアッテネータ）２２を挿入し、第１図
のアンプ１０ａをゲイン制御アンプ２３とした点である
。
１図と同等部分は同一符号により示されている。第１図
と異なる部分は、差動アンプ２０と２１との間にゲイン
制御アンプ（又はアッテネータ）２２を挿入し、第１図
のアンプ１０ａをゲイン制御アンプ２３とした点である
。
かかる構成において、ディスクによって変調されて光電
変換素子９ａ及び９ｂに得られる電流波形は各々第３図
の（ω及び山）となる。さらにそれらのＬＰＦ通過後の
出力Ｂ＋ 、８２は各々第３図の ゛（ｅ）及びりｄ＋
となり、またＲＦ（高周波）エンベロープ検波後の出力
Ｆｌ、Ｆ２は各々第３図の（ｅ）及び＋ｆ＞となる。こ
こまでは従来と同じである。尚、第３図において素子９
ａと９ｂの出力が異なっているのは、光学ピックアップ
の部品精良や調整の不完全さ、さらにディスクの不完全
さ等の理由によってＲＦ信号最良の点でがならずしも素
子９ａと９ｂの出力が等しぐはならないという事実によ
る。
変換素子９ａ及び９ｂに得られる電流波形は各々第３図
の（ω及び山）となる。さらにそれらのＬＰＦ通過後の
出力Ｂ＋ 、８２は各々第３図の ゛（ｅ）及びりｄ＋
となり、またＲＦ（高周波）エンベロープ検波後の出力
Ｆｌ、Ｆ２は各々第３図の（ｅ）及び＋ｆ＞となる。こ
こまでは従来と同じである。尚、第３図において素子９
ａと９ｂの出力が異なっているのは、光学ピックアップ
の部品精良や調整の不完全さ、さらにディスクの不完全
さ等の理由によってＲＦ信号最良の点でがならずしも素
子９ａと９ｂの出力が等しぐはならないという事実によ
る。
次に素子９ａと９ｂの出力について図に示したように各
々ＤＣレベルとＡＣレベルとの比を夫々α及びβとＪる
。ＤＣレベルは各々Ｄ及び（Ｄ＋ΔＤ）と表わされ、Ａ
ＣレベルはαＤ及びβ（Ｄ十へＤ）とあられされる。Ｌ
ＰＦＩ Ｉａ及び１１ｂによるＬＦ（低周波）出力Ｂ＋
、８２を９８（ＬＦ） 、９ｂ （１＝Ｆ）とし、Ｈ
ＰＦ１９ａ及び１９ｂのＲＦ出力Ｆ＋ 、Ｆ２を９ａ
（ＲＦ）、９ｂ （ＲＦ）とすると、次のような近似式
で表わすことができる（但しアンプ２３と１０ｂのゲイ
ンを同一とする）。
々ＤＣレベルとＡＣレベルとの比を夫々α及びβとＪる
。ＤＣレベルは各々Ｄ及び（Ｄ＋ΔＤ）と表わされ、Ａ
ＣレベルはαＤ及びβ（Ｄ十へＤ）とあられされる。Ｌ
ＰＦＩ Ｉａ及び１１ｂによるＬＦ（低周波）出力Ｂ＋
、８２を９８（ＬＦ） 、９ｂ （１＝Ｆ）とし、Ｈ
ＰＦ１９ａ及び１９ｂのＲＦ出力Ｆ＋ 、Ｆ２を９ａ
（ＲＦ）、９ｂ （ＲＦ）とすると、次のような近似式
で表わすことができる（但しアンプ２３と１０ｂのゲイ
ンを同一とする）。
９ａ （Ｒ’Ｆ） ＝ユａＤ（−ｅ”””）＋１） ＝
（３）９ｂ（ＲＦ）＝ユβ（Ｄ十ΔＤ）（−６’“−”
＋１）・・曲（４）ここで、ωはスポット光がラジアル
方向を横切る角周波数であり、δは素子９ａ、９ｂ上に
照射される回折した反射光の位相差である。
（３）９ｂ（ＲＦ）＝ユβ（Ｄ十ΔＤ）（−６’“−”
＋１）・・曲（４）ここで、ωはスポット光がラジアル
方向を横切る角周波数であり、δは素子９ａ、９ｂ上に
照射される回折した反射光の位相差である。
次にこれらより合成される最終的なトラッキングエラー
信号、つまり作動アンプ２１の出力Ｈは次のように表わ
される。但しゲイン可変アンプ２２のゲイン係数をγと
する。
信号、つまり作動アンプ２１の出力Ｈは次のように表わ
される。但しゲイン可変アンプ２２のゲイン係数をγと
する。
１」＝−ΔＤ−（αＤ−β（Ｄ十へＤ）（−Ｌ＋ユγ）
２ ＋αＤ（Ｌ＋ユγ）εｊ（吋１δ） ２ この式からγの値によってＤＣ成分（（５）式の第１．
２項成分、尚第３，４項はＡＣ成分である）すなわちト
ラッキングエラーのオフセットを打ち消し得るこζがわ
かる。この時のＡＣ成分についてはＬＦの出力とＲＦ比
出力が同相であることから、加算されて振幅が増大する
。
２ ＋αＤ（Ｌ＋ユγ）εｊ（吋１δ） ２ この式からγの値によってＤＣ成分（（５）式の第１．
２項成分、尚第３，４項はＡＣ成分である）すなわちト
ラッキングエラーのオフセットを打ち消し得るこζがわ
かる。この時のＡＣ成分についてはＬＦの出力とＲＦ比
出力が同相であることから、加算されて振幅が増大する
。
以下にピックアップからディスクの全ての系を含む一つ
の例について示す。まずディスクが光軸に対して傾いた
場合のα、βについてその変化を第４図に、Ｄ、Ｄ＋Δ
Ｄについての変化を第５図に各々示す。第５図のＤＣレ
ベルがディスク傾きによって変化するのは、傾きにより
光電変換素子９ａ 、９ｂ上で反射光スポットが偏倚１
６ためである。この変化は図のように略傾きの一次関数
である。第４図はα及びβがディスク傾きにより略二次
又はそれ以上で近似されることを示づ゛。これはディス
クが傾くにしたがってピットによる変調が低下すること
による。これらディスク傾きの場合に対して、対物レン
ズ５が移動するいわゆる二輪アクチュエータの場合はレ
ンズ偏倚に対しＡＣレベル比α、βは第６図に示すよう
に変化は少なく略定数となる。またＤＣレベルは第５図
のディスク傾き軸をレンズ偏倚軸とみなして、同様な略
−次間数となる。
の例について示す。まずディスクが光軸に対して傾いた
場合のα、βについてその変化を第４図に、Ｄ、Ｄ＋Δ
Ｄについての変化を第５図に各々示す。第５図のＤＣレ
ベルがディスク傾きによって変化するのは、傾きにより
光電変換素子９ａ 、９ｂ上で反射光スポットが偏倚１
６ためである。この変化は図のように略傾きの一次関数
である。第４図はα及びβがディスク傾きにより略二次
又はそれ以上で近似されることを示づ゛。これはディス
クが傾くにしたがってピットによる変調が低下すること
による。これらディスク傾きの場合に対して、対物レン
ズ５が移動するいわゆる二輪アクチュエータの場合はレ
ンズ偏倚に対しＡＣレベル比α、βは第６図に示すよう
に変化は少なく略定数となる。またＤＣレベルは第５図
のディスク傾き軸をレンズ偏倚軸とみなして、同様な略
−次間数となる。
以上の事を以下に式として表わす。まずディスク傾きが
ある場合について示す。傾きをＸとして、傾きＯの時の
ＤＣレベルをＤｏ、’Ｄの変化率を−ｍ、Ｄ＋ΔＤの変
化率をｍ１傾き０の時のＡＣレベル比を各々α０．Ｆ０
としまたピーク値での傾ぎをＸα、−Ｘβ、、そして二
次関数としてその二次項係数をＲとすると、 Ｄ＝−ｎ＋ｘ＋Ｄｏ ・−−−・・（６）ａ＝−Ｒ（Ｘ
＋Ｘ α） ’ ＋α０ ”−”−（８）Ｄ十Δ［）
＝ｍｘ＋Ｄ ｏ −（７）β＝−Ｒ（ｘ＋ｘβ）’
＋／３ｏ’・・・・・（９）と表される。これらは光学
系によって異るものであり用いる光学系についてめる必
要がありＸの多項式である場合や、実測値を用いる場合
等が考えられる。以上（６）〜（９）を（５）式のＤＣ
成分（ト１ｏｃと表わす）の式に代入し、あるモデルシ
ステムにて測定した定数を用いて計算を行なうと第７図
の結果が得られる。この時のＡＣ成分（＋−ＩＡｃと表
わづ）を第９図に示す。同様にレンズが偏倚する場合を
考えるとα、βとも定数となるから、同様に計算を行う
と第８図の結果が得られる。、これらＩｌｌ、Ｄｏ、Ｒ
，Ｘα、Ｘβ、αＱ。
ある場合について示す。傾きをＸとして、傾きＯの時の
ＤＣレベルをＤｏ、’Ｄの変化率を−ｍ、Ｄ＋ΔＤの変
化率をｍ１傾き０の時のＡＣレベル比を各々α０．Ｆ０
としまたピーク値での傾ぎをＸα、−Ｘβ、、そして二
次関数としてその二次項係数をＲとすると、 Ｄ＝−ｎ＋ｘ＋Ｄｏ ・−−−・・（６）ａ＝−Ｒ（Ｘ
＋Ｘ α） ’ ＋α０ ”−”−（８）Ｄ十Δ［）
＝ｍｘ＋Ｄ ｏ −（７）β＝−Ｒ（ｘ＋ｘβ）’
＋／３ｏ’・・・・・（９）と表される。これらは光学
系によって異るものであり用いる光学系についてめる必
要がありＸの多項式である場合や、実測値を用いる場合
等が考えられる。以上（６）〜（９）を（５）式のＤＣ
成分（ト１ｏｃと表わす）の式に代入し、あるモデルシ
ステムにて測定した定数を用いて計算を行なうと第７図
の結果が得られる。この時のＡＣ成分（＋−ＩＡｃと表
わづ）を第９図に示す。同様にレンズが偏倚する場合を
考えるとα、βとも定数となるから、同様に計算を行う
と第８図の結果が得られる。、これらＩｌｌ、Ｄｏ、Ｒ
，Ｘα、Ｘβ、αＱ。
β０等は光学系（ディスクを含む）により異なるもので
あり、その系について測定してめるものである。この結
果より先に設定したゲイン可変増幅器又はアッテネータ
２２の係数γによってＤＣレベルの変化、すなわちトラ
ッキングエラーのオフセットの変化の状態が異ることが
判る。
あり、その系について測定してめるものである。この結
果より先に設定したゲイン可変増幅器又はアッテネータ
２２の係数γによってＤＣレベルの変化、すなわちトラ
ッキングエラーのオフセットの変化の状態が異ることが
判る。
第８図のレンズ偏倚時で、γ＝２でＤＣレベル変化は０
となっている。また第７図のディスク傾きがある場合は
γ＝０．５近辺でＤＣオフセット変動は少なくなる。よ
って、レンズ偏倚とディスク傾きの両方が存在する２軸
アクチユエータの場合にこの第７図と第８図の結果より
条件として定まるディスク傾きとレンズ偏倚ともに最大
となる時、両方とも等しいＤＣオフセットとなる様なγ
を選ぶ。
となっている。また第７図のディスク傾きがある場合は
γ＝０．５近辺でＤＣオフセット変動は少なくなる。よ
って、レンズ偏倚とディスク傾きの両方が存在する２軸
アクチユエータの場合にこの第７図と第８図の結果より
条件として定まるディスク傾きとレンズ偏倚ともに最大
となる時、両方とも等しいＤＣオフセットとなる様なγ
を選ぶ。
本例でディスク傾き最大±１（ｄｅ！ＩＩ）、レンズ偏
（６７１大±２００（μｍ）という条件であればγ＝１
〜１．５近辺に選べば良い。この時、レンズ偏倚やディ
スク傾きによるＤＣＪＣセフトを補償した良好なトラッ
キングエラー信号を得ることができる。
（６７１大±２００（μｍ）という条件であればγ＝１
〜１．５近辺に選べば良い。この時、レンズ偏倚やディ
スク傾きによるＤＣＪＣセフトを補償した良好なトラッ
キングエラー信号を得ることができる。
また以上の例においてはり、Ｄ＋ΔＤ、α、βを近似式
で表わしく５）に代入したが、これは測定データをその
まま用いて良いのは当然である。
で表わしく５）に代入したが、これは測定データをその
まま用いて良いのは当然である。
そうすることで近似よりも充分な補償ができる。
尚、上記実施例では、ゲインＩＩＪＩＩＩＩアンプ２２
によりアンプ２０の出力を制御するようにしたが、アン
プ１２の出力を制御しても良い。
によりアンプ２０の出力を制御するようにしたが、アン
プ１２の出力を制御しても良い。
−−１
以上の如く、本発明によれば、トラッキングエラー信号
に含まれる外乱によるＤＣオフセット成分をほぼ完全に
補正することが可能となるので、いわゆるワンビーム方
式のピックアップに対して・・も良好なトラッキングサ
ーボを行なうことができる効果がある。
に含まれる外乱によるＤＣオフセット成分をほぼ完全に
補正することが可能となるので、いわゆるワンビーム方
式のピックアップに対して・・も良好なトラッキングサ
ーボを行なうことができる効果がある。
第１図は従来のトラッキングサーボ信号生成装置のブロ
ック図、第２図は本発明の実施例の１０ツク図、第３図
は光検出素子により得られる一対の検出信号とそのＬＦ
酸成分びＨＦ成分のエンベロープ成分を夫々示す図、第
４図はディスク傾きに対する一対の検出出力のＡＣレベ
ル比α、βの変化を示す図、第５図はディスク傾きに対
する一対の検出出力のＤＣレベル変化を示す図、第６図
はレンズ偏倚に対するα、βの変化を示す図、第７図は
ディスク傾ぎに対するＤＣＪＣセフトの変化を示４図、
第８図はレンズ偏倚に対するＤＣオフレットの変化を示
す図、第９図はトラッキングエラー信号のＡＣ成分の変
化を示す図である。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・レーザ発振器 ５・・・・・・対物レンズ ６・・・・・・ディスク ９ａ 、９ｂ・・・・・・光検出素子 １１ａ 、 １ ｌｂ ・・・・−ＬＰＦ１２．２０．
２１・・・・・・差動アンプ１７ａ 、 １７ｂ−＝・
ＨＰ Ｆ ２２・・・・・・ゲイン制御アンプ
ック図、第２図は本発明の実施例の１０ツク図、第３図
は光検出素子により得られる一対の検出信号とそのＬＦ
酸成分びＨＦ成分のエンベロープ成分を夫々示す図、第
４図はディスク傾きに対する一対の検出出力のＡＣレベ
ル比α、βの変化を示す図、第５図はディスク傾きに対
する一対の検出出力のＤＣレベル変化を示す図、第６図
はレンズ偏倚に対するα、βの変化を示す図、第７図は
ディスク傾ぎに対するＤＣＪＣセフトの変化を示４図、
第８図はレンズ偏倚に対するＤＣオフレットの変化を示
す図、第９図はトラッキングエラー信号のＡＣ成分の変
化を示す図である。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・レーザ発振器 ５・・・・・・対物レンズ ６・・・・・・ディスク ９ａ 、９ｂ・・・・・・光検出素子 １１ａ 、 １ ｌｂ ・・・・−ＬＰＦ１２．２０．
２１・・・・・・差動アンプ１７ａ 、 １７ｂ−＝・
ＨＰ Ｆ ２２・・・・・・ゲイン制御アンプ
Claims (1)
- 記録情報検出用光スポットが記録トラックを正確に追跡
するようにこの光スポットを対物レンズの駆動によって
前記記録−トラック直交方向に偏倚せしめるためのトラ
ッキングサーボ信号生成方式であつ°Ｃ１前記記録情報
検出点のトラック直交方向における偏倚量を検出づべく
この偏倚量に対応して一対の検出出力相互間に相補的な
差異が生ずるよう設けられた検出手段と、この一対の検
出出力の低域成分の差を得る手段と、この一対の検出出
力の高域成分のエンベロープ成分の差を得る手段と、こ
れ等低域成分の差及びエンベロープ成分の差を所定比に
て合成する合成手段とを含み、前記一対の検出出力の各
直流成分レベル及び各交流成分レベル比の少なくとも一
方の記録ディスク傾斜及び前記対物レンズ偏倚に応じて
前記合成手段の出力を制御することによって前記所定比
を最適値に選定して、こうして得られた合成手段の出力
をトラッキングサーボ信号とすることを特徴とするトラ
ッキングサーボ信号生成方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7455784A JPS60219640A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | トラツキングサ−ボ信号生成方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7455784A JPS60219640A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | トラツキングサ−ボ信号生成方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60219640A true JPS60219640A (ja) | 1985-11-02 |
Family
ID=13550648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7455784A Pending JPS60219640A (ja) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | トラツキングサ−ボ信号生成方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60219640A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5245174A (en) * | 1990-10-15 | 1993-09-14 | Applied Magnetics Corporation | Focus sensing apparatus utilizing a reflecting surface having variable reflectivity |
| US5349175A (en) * | 1990-10-15 | 1994-09-20 | Applied Magnetics Corporation | Focus sensing apparatus using electrical AGC to enhance differential focus error signal |
| WO2004019332A1 (en) * | 2002-08-21 | 2004-03-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Tracking system and method |
-
1984
- 1984-04-13 JP JP7455784A patent/JPS60219640A/ja active Pending
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