JPS60206445A - 光化学気相成長方法 - Google Patents
光化学気相成長方法Info
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- JPS60206445A JPS60206445A JP59062959A JP6295984A JPS60206445A JP S60206445 A JPS60206445 A JP S60206445A JP 59062959 A JP59062959 A JP 59062959A JP 6295984 A JP6295984 A JP 6295984A JP S60206445 A JPS60206445 A JP S60206445A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B05D3/00—Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
- B05D3/06—Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発′明は、光化学気相成長方法、特に光化学反応を利
用することにより、低温づatスにて高純度の薄膜を形
成し得る新規な気相成長薄膜製造方法に関するものであ
る。
用することにより、低温づatスにて高純度の薄膜を形
成し得る新規な気相成長薄膜製造方法に関するものであ
る。
光化学気相成長装置(以下、光CVD装置と略称する)
は、反応容器と、該反応容器内に原料ガスを導入する手
段と、該原料ガスに高エネル千光を照射する手段とを備
え、光化学反応を利用して該反応容器内に設けた基板上
に薄膜を堆積するものである。
は、反応容器と、該反応容器内に原料ガスを導入する手
段と、該原料ガスに高エネル千光を照射する手段とを備
え、光化学反応を利用して該反応容器内に設けた基板上
に薄膜を堆積するものである。
従来の代表的光CVD装置の原理構成図を第1図に示す
。ここで1は光束、2は窓1.3は反応容器、4は原料
ガス導入バルブ、5は薄膜、6は基板、7は排気口を示
す。
。ここで1は光束、2は窓1.3は反応容器、4は原料
ガス導入バルブ、5は薄膜、6は基板、7は排気口を示
す。
従来のこの種の光CvD装置は、光エネルギを利用する
ことによシ、原料ガスを分解して成膜する方式のもので
ある。例えばシランガスを反応容器3に導入し、1士シ
マレーザー(excimerlaser )等の高エネ
ル甲光を照射し、基板上に水素化シリコシ膜を形成する
例等が知られている。
ことによシ、原料ガスを分解して成膜する方式のもので
ある。例えばシランガスを反応容器3に導入し、1士シ
マレーザー(excimerlaser )等の高エネ
ル甲光を照射し、基板上に水素化シリコシ膜を形成する
例等が知られている。
しかしこれらの例でも、光エネルギだけで成膜するため
、成長速度が遅く、水素とシリコン原子との都合も十分
でなく、膜の電気的な性質に劣る欠点があった。
、成長速度が遅く、水素とシリコン原子との都合も十分
でなく、膜の電気的な性質に劣る欠点があった。
例えばシランガスを分解して、水素化シリコシ膜を形成
するためには、 * * SiH4→Si+2H2 SiH,→SiH+Hz+H(*は励起状態を示す)等
の反応が考えられるが、それぞれの解離のために必要な
エネルfは異なる。これらのすべてに対して一つの波長
の光だけで処理することは困難である。
するためには、 * * SiH4→Si+2H2 SiH,→SiH+Hz+H(*は励起状態を示す)等
の反応が考えられるが、それぞれの解離のために必要な
エネルfは異なる。これらのすべてに対して一つの波長
の光だけで処理することは困難である。
本発明の目的は、上記のような従来の光化学気相成長方
法における欠点を改め、膜の成長速度が早く、化合物薄
膜の形成を可能とし、電気的機械的性質の優れた薄膜を
形成し、かつ膜のバターニシクの容易な光化学気相成長
方法を提供することにある。
法における欠点を改め、膜の成長速度が早く、化合物薄
膜の形成を可能とし、電気的機械的性質の優れた薄膜を
形成し、かつ膜のバターニシクの容易な光化学気相成長
方法を提供することにある。
上記の目的をもって、本発明は反応容器内に原料カスを
導入し、該原料ガスに高エネル千光を照射し、光化学反
応を利用して基板上に薄膜を堆積する光化学気相成長方
法において、反応容器内に複数の原料ガスを同時に導入
し、複数の原料ガスの各々のカス吸収スペクトルに合せ
た複数の波長の光を同時に照射することにより、前記カ
スの化合物を基板上に堆積することを特徴とする光化学
気相成長方法を提供する。
導入し、該原料ガスに高エネル千光を照射し、光化学反
応を利用して基板上に薄膜を堆積する光化学気相成長方
法において、反応容器内に複数の原料ガスを同時に導入
し、複数の原料ガスの各々のカス吸収スペクトルに合せ
た複数の波長の光を同時に照射することにより、前記カ
スの化合物を基板上に堆積することを特徴とする光化学
気相成長方法を提供する。
例えばシランカスを分解して水素化シリコン膜を形成す
る際、本発明によれば、水素の励起に必要な紫外光及び
SiH,SiH2等の励起に有効な赤外光を合せて照射
することによシ、水素化シリコンの成長速度を高め、か
つ水素との結合力を強めることができ、水素化シリコン
膜の電気的性質も改善することが可能となる。
る際、本発明によれば、水素の励起に必要な紫外光及び
SiH,SiH2等の励起に有効な赤外光を合せて照射
することによシ、水素化シリコンの成長速度を高め、か
つ水素との結合力を強めることができ、水素化シリコン
膜の電気的性質も改善することが可能となる。
第2図は本発明の実施例で21は波長λAなる光束、2
2は波長λBなる光束で、反応容器24内に置かれた基
板28を同時に照射する。一方バルづ25及びパルプ2
6から異なる原料ガスA、Bをパル’′j25.26を
通して反応容器内に排気口29から排気しながら流す。
2は波長λBなる光束で、反応容器24内に置かれた基
板28を同時に照射する。一方バルづ25及びパルプ2
6から異なる原料ガスA、Bをパル’′j25.26を
通して反応容器内に排気口29から排気しながら流す。
波長λAは原料ガスAに対して、波長λBは原料ガスB
に対して活性化する波長を選択する。
に対して活性化する波長を選択する。
基板28上の光λム、光λBの重った点に化合 1物A
Bの薄膜27が成長する。
Bの薄膜27が成長する。
前記では、SiH4の分解したガス種SiH%SiH2
、H2、H等に、各々合せた波長の光を照射する場合で
あうたが、別々の原料ガスを導入し、それぞれのガスに
適合するような複数の波長の光を照射する場合も考えら
れる。
、H2、H等に、各々合せた波長の光を照射する場合で
あうたが、別々の原料ガスを導入し、それぞれのガスに
適合するような複数の波長の光を照射する場合も考えら
れる。
すなわち、メタンガス及びシランカスを同時に反応容器
内に導き、メタンガスの励起用として、3.3μ前後の
赤外光及びシランカス分解用として、1牛シマレーザー
等の紫外光を同時に照射することにより、両者の化合物
であるSiC膜を形成することができる。
内に導き、メタンガスの励起用として、3.3μ前後の
赤外光及びシランカス分解用として、1牛シマレーザー
等の紫外光を同時に照射することにより、両者の化合物
であるSiC膜を形成することができる。
照射光及び原料カスは二つに限られず、多数のガス又は
波長光を使うことにより、更に効率的に反応を促進させ
ることもできる。
波長光を使うことにより、更に効率的に反応を促進させ
ることもできる。
以上説明したように、本発明を実施することにより、以
下に述べる効果が得られるものである。
下に述べる効果が得られるものである。
■ 従来の方式より、反応速度を早めるため、膜の成長
速度が速い。
速度が速い。
■ 化合物薄膜を容易に形成できる。
■ 化合物間の結合力を強めるため、膜の電気的、機械
的性質が改善される。
的性質が改善される。
■ 複数の光の合わさったところに、局所的に膜が形成
するため、膜のバターニシジが容易にできる。
するため、膜のバターニシジが容易にできる。
第1図は従来の光化学気相成長装置の概略を示す図、第
2図は本発明を実施する光化学気相成長装置を示す説明
図である。 1・・・反応光 2・・・窓 3・・・反応容器 4・・・原料ガス導入バルブ5・・
・膜 6・・・基板 7・・・排気口 21.22・・・反応光23・・・窓
材 24・・・反応容器 25.26・・・原料ガス導入バルブ 27・・・膜 28・・・基板 □ 29・・・排気口
2図は本発明を実施する光化学気相成長装置を示す説明
図である。 1・・・反応光 2・・・窓 3・・・反応容器 4・・・原料ガス導入バルブ5・・
・膜 6・・・基板 7・・・排気口 21.22・・・反応光23・・・窓
材 24・・・反応容器 25.26・・・原料ガス導入バルブ 27・・・膜 28・・・基板 □ 29・・・排気口
Claims (1)
- 反応容器内に原料ガスを導入し、該原料ガスに鳥エネル
千光を照射し、光化学反応を利用して基板上に薄膜を堆
積する光化学気相成長方法において、反応容器内に複数
の原料カスを同時に導入し、複数の原料ガスの各々のカ
ス吸収スペクトルに合せた複数の波長の光を同時に照射
することにより、前記ガスの化合物を基板上に堆積する
ことを特徴とする光化学気相成長方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59062959A JPH07107190B2 (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 光化学気相成長方法 |
US06/714,575 US4581249A (en) | 1984-03-30 | 1985-03-21 | Photochemical vapor deposition method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59062959A JPH07107190B2 (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 光化学気相成長方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60206445A true JPS60206445A (ja) | 1985-10-18 |
JPH07107190B2 JPH07107190B2 (ja) | 1995-11-15 |
Family
ID=13215364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59062959A Expired - Fee Related JPH07107190B2 (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 光化学気相成長方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4581249A (ja) |
JP (1) | JPH07107190B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60211077A (ja) * | 1984-04-05 | 1985-10-23 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 合金導電膜の形成方法 |
JP2021525308A (ja) * | 2018-05-31 | 2021-09-24 | イビデン株式会社 | 微細結晶粒3C−SiC厚膜およびそれを調製するためのプロセス |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61104614A (ja) * | 1984-10-29 | 1986-05-22 | Canon Inc | 堆積膜形成法 |
FR2579825B1 (fr) * | 1985-03-28 | 1991-05-24 | Sumitomo Electric Industries | Element semi-conducteur, procede pour le realiser et articles dans lesquels cet element est utilise |
US4719122A (en) * | 1985-04-08 | 1988-01-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | CVD method and apparatus for forming a film |
US5294285A (en) * | 1986-02-07 | 1994-03-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for the production of functional crystalline film |
US4918028A (en) * | 1986-04-14 | 1990-04-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for photo-assisted epitaxial growth using remote plasma with in-situ etching |
US4772565A (en) * | 1986-05-21 | 1988-09-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of manufacturing solid-state image sensor |
US4681640A (en) * | 1986-08-06 | 1987-07-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Laser-induced chemical vapor deposition of germanium and doped-germanium films |
JPH0774452B2 (ja) * | 1986-11-27 | 1995-08-09 | キヤノン株式会社 | 光化学気相成長法による機能性堆積膜の形成方法 |
US5308651A (en) * | 1986-12-25 | 1994-05-03 | Kawasaki Steel Corp. | Photochemical vapor deposition process |
US5171610A (en) * | 1990-08-28 | 1992-12-15 | The Regents Of The University Of Calif. | Low temperature photochemical vapor deposition of alloy and mixed metal oxide films |
EP0909985A1 (en) * | 1990-09-26 | 1999-04-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Photolithographic processing method and apparatus |
CN1765007A (zh) * | 2003-02-28 | 2006-04-26 | 独立行政法人科学技术振兴机构 | 自由空间配线的制造方法及其制造装置 |
GB2432363B (en) * | 2005-11-16 | 2010-06-23 | Epichem Ltd | Hafnocene and zirconocene precursors, and use thereof in atomic layer deposition |
TWI382987B (zh) * | 2007-07-24 | 2013-01-21 | Sigma Aldrich Co | 應用於化學相沉積製程的有機金屬前驅物 |
TWI425110B (zh) * | 2007-07-24 | 2014-02-01 | Sigma Aldrich Co | 以化學相沉積法製造含金屬薄膜之方法 |
EP2201149B1 (en) * | 2007-09-14 | 2013-03-13 | Sigma-Aldrich Co. | Methods of preparing titanium containing thin films by atomic layer deposition using monocyclopentadienyl titanium-based precursors |
EP2191034B1 (en) * | 2007-09-14 | 2013-03-13 | Sigma-Aldrich Co. LLC | Methods of preparing thin films by atomic layer deposition using monocyclopentadienyl triamino zirconium precursors |
KR20120088652A (ko) | 2009-07-21 | 2012-08-08 | 시그마-알드리치 컴퍼니., 엘엘씨 | 티타늄-함유 박막을 형성하기 위한 조성물 및 이용 방법 |
KR101538982B1 (ko) | 2009-08-07 | 2015-07-23 | 시그마-알드리치 컴퍼니., 엘엘씨 | 고분자량 알킬알릴 코발트트리카르보닐 착체 및 유전체 박막 제조를 위한 그 용도 |
WO2011115878A1 (en) | 2010-03-19 | 2011-09-22 | Sigma-Aldrich Co. | Methods for preparing thin fillms by atomic layer deposition using hydrazines |
EP2609102B1 (en) | 2010-08-27 | 2014-12-31 | Sigma-Aldrich Co. LLC | Molybdenum (iv) amide precursors and use thereof in atomic layer deposition |
US9175023B2 (en) | 2012-01-26 | 2015-11-03 | Sigma-Aldrich Co. Llc | Molybdenum allyl complexes and use thereof in thin film deposition |
WO2014193915A1 (en) | 2013-05-28 | 2014-12-04 | Sigma-Aldrich Co. Llc | Manganese complexes and use thereof for preparing thin films |
CN106232611A (zh) | 2013-10-28 | 2016-12-14 | 赛孚思科技有限公司 | 包含酰胺基亚胺配位体的金属配合物 |
EP3116884B1 (en) | 2014-03-13 | 2017-08-16 | Sigma-Aldrich Co. LLC | Molybdenum silylcyclopentadienyl and silylallyl complexes and use thereof in thin film deposition |
WO2016202883A1 (de) | 2015-06-17 | 2016-12-22 | Basf Se | Zusammensetzung zur sofortbeendigung einer radikalischen polymerisation |
US9793108B2 (en) * | 2015-06-25 | 2017-10-17 | Applied Material, Inc. | Interconnect integration for sidewall pore seal and via cleanliness |
KR20180114159A (ko) | 2016-02-19 | 2018-10-17 | 메르크 파텐트 게엠베하 | 몰리브덴 카르보닐 전구체를 사용하는 몰리브덴 박막의 증착 |
EP3510038B1 (en) | 2016-09-09 | 2021-02-17 | Merck Patent GmbH | Metal complexes containing allyl ligands |
WO2018086730A1 (en) | 2016-11-08 | 2018-05-17 | Merck Patent Gmbh | Metal complexes containing cyclopentadienyl ligands |
EP3642385A1 (en) | 2017-06-23 | 2020-04-29 | Merck Patent GmbH | Methods of atomic layer deposition for selective film growth |
KR20200118831A (ko) | 2018-02-12 | 2020-10-16 | 메르크 파텐트 게엠베하 | 무산소성 공반응물을 이용한 루테늄의 기상 증착 방법 |
EP4061978A1 (en) | 2019-11-20 | 2022-09-28 | Merck Patent GmbH | Compounds and methods for selectively forming metal-containing films |
TW202132606A (zh) | 2020-01-16 | 2021-09-01 | 德商馬克專利公司 | 沉積於釕-鈦氮化物膜上之含釕膜及其形成方法 |
TW202134457A (zh) | 2020-02-04 | 2021-09-16 | 德商馬克專利公司 | 選擇性形成含金屬膜之方法 |
WO2021239596A1 (en) | 2020-05-26 | 2021-12-02 | Merck Patent Gmbh | Methods of forming molybdenum-containing films deposited on elemental metal films |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60178622A (ja) * | 1984-02-27 | 1985-09-12 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPS60206019A (ja) * | 1984-02-27 | 1985-10-17 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 光分解析出による層形成方法および装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT329717B (de) * | 1973-03-28 | 1976-05-25 | Vianova Kunstharz Ag | Anordnung und verfahren zum harten von anstrichstoffen und uberzugen mittels von irasern emittierter infrarot-strahlung |
US4104438A (en) * | 1975-01-20 | 1978-08-01 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Gas-barrier coated films, sheets or foils and method of preparation |
US4059461A (en) * | 1975-12-10 | 1977-11-22 | Massachusetts Institute Of Technology | Method for improving the crystallinity of semiconductor films by laser beam scanning and the products thereof |
US4181751A (en) * | 1978-05-24 | 1980-01-01 | Hughes Aircraft Company | Process for the preparation of low temperature silicon nitride films by photochemical vapor deposition |
US4371587A (en) * | 1979-12-17 | 1983-02-01 | Hughes Aircraft Company | Low temperature process for depositing oxide layers by photochemical vapor deposition |
US4401689A (en) * | 1980-01-31 | 1983-08-30 | Rca Corporation | Radiation heated reactor process for chemical vapor deposition on substrates |
US4324854A (en) * | 1980-03-03 | 1982-04-13 | California Institute Of Technology | Deposition of metal films and clusters by reactions of compounds with low energy electrons on surfaces |
US4435445A (en) * | 1982-05-13 | 1984-03-06 | Energy Conversion Devices, Inc. | Photo-assisted CVD |
US4447469A (en) * | 1982-06-10 | 1984-05-08 | Hughes Aircraft Company | Process for forming sulfide layers by photochemical vapor deposition |
US4522845A (en) * | 1983-06-20 | 1985-06-11 | Varian Associates, Inc. | Process for producing a layer of a metal silicide by applying multichromatic radiation |
US4490211A (en) * | 1984-01-24 | 1984-12-25 | International Business Machines Corporation | Laser induced chemical etching of metals with excimer lasers |
-
1984
- 1984-03-30 JP JP59062959A patent/JPH07107190B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1985
- 1985-03-21 US US06/714,575 patent/US4581249A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60178622A (ja) * | 1984-02-27 | 1985-09-12 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPS60206019A (ja) * | 1984-02-27 | 1985-10-17 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 光分解析出による層形成方法および装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60211077A (ja) * | 1984-04-05 | 1985-10-23 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 合金導電膜の形成方法 |
JPH036992B2 (ja) * | 1984-04-05 | 1991-01-31 | Fuji Denki Sogo Kenkyusho Kk | |
JP2021525308A (ja) * | 2018-05-31 | 2021-09-24 | イビデン株式会社 | 微細結晶粒3C−SiC厚膜およびそれを調製するためのプロセス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4581249A (en) | 1986-04-08 |
JPH07107190B2 (ja) | 1995-11-15 |
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