JPS63303071A - 光、プラズマ重畳cvd法 - Google Patents

光、プラズマ重畳cvd法

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JPS63303071A
JPS63303071A JP13665587A JP13665587A JPS63303071A JP S63303071 A JPS63303071 A JP S63303071A JP 13665587 A JP13665587 A JP 13665587A JP 13665587 A JP13665587 A JP 13665587A JP S63303071 A JPS63303071 A JP S63303071A
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JP
Japan
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plasma
raw materials
light
substrate
gas
Prior art date
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Pending
Application number
JP13665587A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoki Kubota
尚樹 久保田
Toru Mitomo
三友 亨
Noboru Nakano
昇 中野
Tomohiro Oota
与洋 太田
Hiroaki Sasaki
弘明 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、各種半導体材料、工具、装飾品等の被膜とし
て用いられるアモルファスシリコン膜、ダイヤモンド状
カーボン膜、AIL203 。
5i02のような酸化物膜、T i N 、 B Nの
ような窒化物膜、SiC,TiCのような炭化物膜、W
Si2.TiB2のような化合物膜の成膜方法に係る。
〔従来の技術〕
従来各種CVD法(Chemical Vapor D
eposi−tion法、気相化学反応を利用した薄膜
形成方法)、PVD法(Physical Vapor
 Deposition法、物理蒸着法)によりアモル
ファスシリコン膜、ダイヤモンド状カーボン膜等の薄膜
が作成されているが、原料ガスや成膜方法は現在はぼ一
定の形式に落ちつき、ガス圧、基板温度等の最適条件が
探索されているに過ぎない、その結果、多少の差はある
ものの通常の膜質を得る場合の成膜速度は、アモルファ
スシリコン膜の場合0.5〜50人/ S e C、ダ
イヤモンド状カーボン膜の場合、5〜40人/ S e
 C程度であり、それ以上の向上は見られない。
他のCVD法に比べ低い基板温度で成膜できる光CVD
法は、原料ガスまたは原料ガスおよび基板に同時に光を
照射して原料ガスを分解し、膜を作成する方法であるが
、この方法の場合、原料ガスの光分解が必須の条件であ
る0例えば、アモルファスシリコン膜、ダイヤモンド状
カーボン膜作成の場合、波長140〜180nm付近の
真空紫外光が必要であり、工業生産において強力な光を
得ることは難しい。
紫外光で実用1最も出力の大きい波長193nmの光は
ArFエキシマレーザにより得られるが、上記の膜を生
成するには多光子吸収過程を期待せねばならず、非効率
的で実用的でない。
ダイヤモンド状カーボン膜作成に最も良く用いられてい
るガスはCH4とH2の混合ガスである。これはダイヤ
モンドが炭素のSP3混成軌道の結合により成るためで
あるが、CH4は波長150nm付近に吸収端をもち、
ArFエキシマレーザによる光分解は生じない、従っ゛
乙波長193nm付近の光を吸収するアセチレン、ベン
ゼン等の不飽和炭化水素を用い、光CVDが行われてい
るが、原料ガスは、SPまたはSP2の炭素−炭素結合
から成り、完全なダイヤモンド膜は生じておらず、成膜
速度も1入/ s e c (0,361Lm/hr)
程度と非常に遅い。
プラズマCVD法では原料ガスの種類に依らず放電によ
りガスを分解することができる。しかし、分解効率はl
O%程度で、かっ成膜に関与する活性分解生成物はその
うちの数10%程度と考えられ非効率的である。
さらにプラズマCVD法でCVD反応器内に電極を有す
る装置では、直流、高周波いずれの電力を投入した場合
でも、投入電力の大、きさによっては、プラズマによる
電極スパッタリングにより、膜中に電極材料が不純物と
して混入する恐れがあり、同時に基板もスパッタリング
により損傷することがある。一般に0.5W/ctn’
以上の電力投入ではこれ等の現象が生じることが分って
いる。
従って、光CVD法とプラズマCVD法を組み合わせ、
低い基板温度、低投入電力により基板損傷、電極スパッ
タリングを押えたCVD法が発表されている。
特開昭6O−180999−t’は13.56MHzの
高周波発振器22からコイル21を介して活性化したC
H4とH2の混合ガス25を、CVD反応器のガスフロ
ーにより加熱した基板2o上に導き、そこにハロゲンラ
ンプ等23.24により紫外線を照射している。この様
子を第2図に示す。
また特開昭61−6199では上記特開昭60−180
999に加え、マイクロ波を使用し、プラズマ中に基板
を配し、Xeランプ、低圧水銀灯からの紫外線と照射し
ている。ただし、原料ガスは炭化水素と水素の混合ガス
である。いずれの場合も成膜速度は多少向上しており、
最高14pm/ h rが得られているが、スパッタデ
ポジション法で得られている18Bm/hrには及んで
いない、また、生成した膜は粒子の集合体で、茶または
黒に若色していることにより、膜には水素等の不純物が
多量に含まれていると推測され、完全なダイヤモンド膜
とは言えない。
さらに従来技術では基板温度は200〜300℃にする
必要があり、生成膜の用途も限定される。その上、プラ
ズマを誘導結合方式で発生した場合は、プラズマ密度を
高くすることはできるが、均一な大面積の成膜は不可能
であり、実用的ではない、またプラズマ化したガスをガ
スのフローにより輸送する方式では輸送途中に活性粒子
種が消滅する割合が大きく効率的ではない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上のように従来技術は次の問題点がある。
l)基板損傷が少ない光CVD法では原料ガスの分解効
率が悪く、その結果、成膜速度が低い。
2)成膜速度の比較的速いプラズマCVD法では、基板
温度が高く、基板材料が限定され、またプラズマによる
基板損傷の恐れがある。
本発明はこのような問題点を解決した薄膜形成方法を提
供するもので、気相化学反応を利用した薄膜形成方法に
おいて、原料ガスの分解効率を向上し、原料ガスの利用
効率、成膜速度および膜質の向上を行うとともに、基板
温度と、基板損傷を押えることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は次の技術手段を特徴とするものである。
(a)原料ガスを容量結合型のプラズマ反応器中に導入
し、直流または高周波放電させつつ生じたプラズマ中に
光を照射する。
(b)原料ガスとしてそれ自身ラジカル連鎖反応性の強
いガス、もしくはラジカル反応性のない原料ガスにラジ
カル反応を誘起する反応開始剤であるガスを添加した混
合ガスを用いる。
以下本発明を第1図に基づいて詳細に説明する。
第1図は本発明を実施するために作られた装置である。
 [料カス1はマスフローコントローラ3を介してCV
D反応容器4に導入される。原料ガス1は高周波導入電
極6からシャワー状に吹き出し、均一に対向電極7上の
基板20に導かれ、直流電源13もしくは高周波型1I
A14、マツチング装置12によりプラズマ化される。
同時に反応容器4の光導入窓内側に不活性ガス2を流し
つつ、光5または5aは基板21と平行または斜めに反
応容器4内に導入される0反応容器4内の圧力は真空ポ
ンプ9により減圧され、圧力調整弁8によりコントロー
ルされる。基板温度は対向電極のヒータ7aによりコン
トロールされる。10はヒートシンク、11は電源切替
スイッチである。
〔作用〕
本発明は基板を容量結合型の高周波電極間に設置するこ
とと、基板を照射することなく基板真近の空間を該基板
面に平行に光を照射すること、または光を基板に対して
斜め方向から直接照射すること、さらに原料ガスにラジ
カル反応性を有したガスを用いることで構成される。
以上の方法によれば、光とプラズマを重畳し成膜を行い
、原料ガスの分解を効率的に行うことができ、従って、
プラズマ発生のための投入電力を低くすることができ、
プラズマによる基板損傷を防ぎながら、基板温度を低温
(100℃以下)に保ちつつI&膜速度を高くすること
ができる。
また、原料ガスにラジカル反応性を有するガスを用いる
ことにより、原料ガスの分解効率が向上することはもち
ろん、S質も向上する。
〔実施例〕
以下、ダイヤモンド状カーボン膜作成の例を挙げて説明
する。原料ガスとしてCH4にラジカル反応開始剤を添
加した場合およびそれ自身がラジカル連鎖反応性の強い
ガスを用いた場合について示す。
ラジカル反応開始剤を添加した場合は、単独では光化学
的に安定なCH,を光分解できない光源でも、ラジカル
反応開始剤としてN20を添加し、低圧水銀灯、ArF
レーザ光を照射することにより、CH,の分解を開始さ
せることができる。このときの主たる素反応は下記(1
)、(2)および(3)式に示す通りである。
s2o+hν→NO+O・・・(1) C)(4+O→CH3+OH・・・(2)CH4+OH
+CH3+H20・・・ (3)また、N20の代りに
C12を用いた場合には、下記(4)、(5)式で示す
反応によりCH,の分解を開始させることができ、プラ
ズマ中の未分解CH,の分解に効果がある。
C12+hν→2C1・・・(4) CH4+C皇→CH3+HC見  ・・・(5)さらに
(4)式で生じる塩素原子は生成したダイヤモンド状カ
ーボン膜中に存在する水素原子を引き抜く作用があり、
膜をよりダイヤモンドに近い状態に改善することができ
る。
原料ガスとして、ラジカル連鎖反応性の強いCH3Cl
を用いれば、 CH3Cl+hν→CH3+C文 ・・・(6) と分解し、生成したC1原子がさらに他のCH3Cff
1とラジカル反応し、l光子で効率良くガス分解が生じ
る。
■ また、原料ガスにラジカル反応性ガスを用いない場
合においても1例えばCH,プラズマに紫外光を照射す
れば、プラズマ中で生じるC2 H4やC2H2が光吸
収を起こし分解するので、原料ガスの分解効率が向上す
る。
以上の原料ガスの分解過程は光の寄与が効率よく加わる
めで、基板温度は低温(100℃以下)にすることがで
き、プラズマ発生のための投入電力も小さくすることが
できた。
従って、本発明は原料ガスの分解効率向上を基板の損傷
なく低温(100℃以下)に保ちながら達成し、膜の生
成速度を向上させ、同時に膜質を向上することに対して
効果が大である。
次にさらに具体的な例について説明する。
温度を室温または100℃に保ったシリコンウェハ基板
上への成膜した結果を第1表に示す、ガス流量は、CH
4、CH3C1は1Ocrn”7分、H2は200cr
rf/分、N20は5cm″/分で、ガスの全圧はIT
o r rである。
ラジカル反応性ガスを含む原料ガスを用い、光とプラズ
マを重畳した実施例2.4.5.6は明らかにプラズマ
独立に用いた比較例1.2よりも成膜速度は向上した。
またCH,+)12系にN20を混合した実施例2の場
合は成膜速度の向上とともにビッカース硬度の向上、比
抵抗の向上等の膜の改質ができた。ラジカル反応性を有
するガスを含む原料ガスを用い作成した膜の構造はX線
回折、レーザラマンスペクトルにより、ダイヤモンド状
であることを確認している。
第2図と同等の装置を用い成膜した場合(比較例3)、
膜の構造はアモルファス状であり、比抵抗、ビッカース
硬度ともに本発明には及ばない。
〔発明の効果〕
本発明はプラズマCVDで現在性われている単体元素薄
膜酸化物薄膜、窒化物薄膜、化合物薄膜の成膜すべてに
利用することができる。特に成膜速度が向上することは
原料ガスの高効率利用、成膜時間の短縮につながり、半
導体産業をはじめ各種薄膜産業に多大な貢献を果す。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施に用いる装置のブロック図、第2
図は従来の技術の説明図である。 1・・・原料ガス     2・・・不活性ガス3・・
・マスフローコントローラ 4・・・CVD反応容器  5・・・光6・・・高周波
導入電極  7・・・対向電極8・・・圧力コントロー
ル弁 9・・・真空ポンプ    10・・・ヒートシンク1
1・・・電力切替スイッチ 12・・・マツチングボックス

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 気相化学反応を利用した薄膜形成方法において、対
    向する容量結合型の放電電極を用いて、原料ガスをプラ
    ズマ化し、同時に該プラズマ中に光を照射することによ
    り、前記電極間に配置した基板上に薄膜を形成すること
    を特徴とする光、プラズマ重畳CVD法。 2 原料ガスとしてそれ自身でラジカル反応性を有する
    ガスを用いる特許請求の範囲第1項に記載の光、プラズ
    マ重畳CVD法。 3 原料ガスにラジカル反応を誘起するガスを混合して
    供給する特許請求の範囲第1項に記載の光、プラズマ重
    畳CVD法。
JP13665587A 1987-05-30 1987-05-30 光、プラズマ重畳cvd法 Pending JPS63303071A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003023842A1 (fr) * 2001-09-10 2003-03-20 Kabushiki Kaisha Watanabe Shoko Procede et dispositif de fabrication d'un film a permittivite faible et appareil electronique faisant intervenir ce film
KR100952854B1 (ko) 2003-07-18 2010-04-14 주성엔지니어링(주) 대면적 엘씨디기판 제조에 사용되는 플라즈마 발생장치
JP2014527257A (ja) * 2011-06-28 2014-10-09 エムティーアイエックス リミテッド 複数の結合されたエネルギー源を用いた材料の表面処理方法及び装置。
US9605376B2 (en) 2011-06-28 2017-03-28 Mtix Ltd. Treating materials with combined energy sources

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