JPS6019622B2 - 透過型電子顕微鏡の集束レンズ系 - Google Patents

透過型電子顕微鏡の集束レンズ系

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JPS6019622B2
JPS6019622B2 JP10618878A JP10618878A JPS6019622B2 JP S6019622 B2 JPS6019622 B2 JP S6019622B2 JP 10618878 A JP10618878 A JP 10618878A JP 10618878 A JP10618878 A JP 10618878A JP S6019622 B2 JPS6019622 B2 JP S6019622B2
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JP
Japan
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lens
focusing lens
east
electron beam
focusing
Prior art date
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JP10618878A
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JPS5533716A (en
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畊平 代田
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KOKUSAI SEIKO KK
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KOKUSAI SEIKO KK
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、試料へ照射する電子線東の照射面積を変化さ
せた場合にも照射電子線が光軸に平行となるようにした
電子顕微鏡の集東レンズ系に関する。
一般に、二段以上の集東レンズを組み合せた電子顕微鏡
の集東レンズ系は、主として大型・高性能の電子顕微鏡
に採用されている。
このように集東レンズを二段以上にする主目的は、試料
面上の狭範囲を高い電子流密度で、しかも比較的小さい
照射角で照射し、対物レンズの諸収差による影響を少な
くし最終像の像費を良くするためである。ここにおいて
、従釆、試料への電子線束の照射面積の調節は、最終段
集東レンズより一段前方の集東レンズ(以下、「第一集
東レンズJという)の焦点距離を固定のままとし、最終
段集東レンズ(以下、「第二集東レンズ」という)の焦
点距離、又は第二集東レンズの絞りの口径を変化させる
ことにより行なっていた。ここで、第二集東レンズの焦
点距離を変化させて試料への電子線東の照射面積を大き
くするには、例えば第1図に示すように、第二集東レン
ズ2の焦点距離f2を第一集東レンズ1によるクロスオ
ーバポイント4の前方まで延びるように長くし、一方、
照射面積を小さくするには、例えば第2図に示すように
、第二集東レンズ2の焦点距離f2を第一集東レンズ1
によるクロスオーバポィント4まで至らない範囲で短く
していた。又、他の手段としては、第1図に二点鎖線で
示すように、第二集東レンズ2のクロスオーバポィント
5がこの集東レンズ2の後方の近くにできるようにその
焦点距離ら′を短くして照射面積を大きくし、また、第
2図に二点鎖線で示すよ夕うに、第二集東レンズ2のク
ロスオーバポィント5が試料3の前方の近くにできるよ
うにその焦点距離ら′を長くして照射面積を小さくして
いた。しかしこれらの場合、第1図及び第2図に示すよ
うに、試料3への照射電子線は光軸7に平行と0ならず
、最外側の電子線は照射角Qで試料3に照射している。
そのため対物レンズ8へ入射する電子線もある角度の入
射角をもって入射することになり、対物レンズ8の倍率
色収差、塚面わん曲収差等の鞠外収差が大きく、最終像
の像質を悪くしょてし、た。また、試料3への電子線の
照射面積を変えることにより対物レンズ8によるクロス
オーバポイント9の位置が対物レンズ絞り10の前後に
大きく移動するので、電子線東のうち周辺部の電子線は
、第1図及び第2図に破線で示すように、対物レンズ絞
り10によって遮断されて結像に参加せず、いわゆる視
野カットを生ずる等の像面への悪影響を頻繁に生じてい
た。そこで従来、このような像面への悪影響を避けるた
め、第二簾束レンズ2と対物レンズ8との間の距離を十
分大きく(例えば20仇奴)とることにより照射面積の
変化の割に照射角の変化を小さく抑える等の工夫が行な
われていたが、このことによっては電子線東を光軸7に
平行とすることはできなかった。
また、第二集東レンズ2と対物レンズ8との間の距離を
大きくとるため、第二集東レンズ2自身の収差を大きく
するばかりか、顕微鏡筒自体を長くしなければならない
等の欠点があった。本発明は、上記事情に対処して、試
料及び対物レンズへ照射又は入射する電子線東を光軸に
平行となるようにして、対物レンズによる諸収差による
影響を少なくし最終像の像質を悪くすることなく試料へ
の電子線東の照射面積を任意に調節することができる電
子顕微鏡の集東レンズ系を提供す2ることを目的とする
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
第3図は、本発明による電子顕微鏡の集東レンズ系の原
理を示す光学的概略図である。
すなわ2ち、上述のような像面への悪影響を避けるため
には、第3図に示すように、試料3へ照射する電子線東
が光重由7に平行になるようにし、かつ、対物レンズ8
によるクロスオーバポィント9と対物レンズ絞り10の
位置を一致させればよい。ここ3で、第二集東レンズ2
の前方焦点と第一集東レンズ1のクロスオーバポィント
4とを一致させれば、第二集東レンズ2を通過した後の
電子線東は光軸7に平行となり、試料3への照射電子線
東を光軸7に平行とすることができるとともに、対物3
レンズ8へ入射する電子線東を光軸7に平行とすること
ができる。従って、対物レンズ8の諸収差を小さくする
ことができる。また、対物レンズ8へ入射する電子線東
が光軸7に平行とされ、クロスオーバボィント9の位置
がその後方焦V点位置と4常に一致することになるので
、この対物レンズ8の後方焦点位置に対物レンズ絞り1
0を設置すれば絞り10による視野カットを避けること
ができる。このような状態を保ちつつ試料3への電子線
東の照射面積を調節するためには、第一集東レンズーの
,総点距離もと、第二集東レンズ2の焦点距離らとが次
の関係を満足するように変化させなければならない。
すなわち、第3図において、電子銃によるクロスオーバ
ポィント11から第一集東レンズ1までの距離をa、第
一集東レンズ1から第二集東レンズ2までの距離をbと
すると、第一集。東レンズ1についてのレンズの式は言
十b三f2三で表わされうるから、f,とf2との間に
はf,二第三里の関轍成り立つ。第4図及び第5図は、
第一集東レンズ1の焦点距離f,と第二集東レンズ2の
焦点距離らとを、上記関係式を満足するように変化させ
て試料3への電子線束の照射面積を調節した状況を示す
光学的概略図である。
制御装置12は、第一集東レンズ1の電源装置13及び
第二集束レンズ2の電源装置14に接続され、上言己両
レンズー,2の励磁コイルへの供給電流(レンズー,2
が磁界レンズの場合)又は上記両レンズー,2の対向す
る金属板への印加電圧(レンズー,2が静電レンズの場
合)を、上記f,とらとの関係式を満足するように調節
するものである。
以下、上記両レンズー,2が磁界レンズの場合に限って
説明する。試料3への電子線東の照射面積を大きくする
には、第一集東レンズーの励磁コイルへの供給電流を大
きくしてその焦点距離f,を短かくし、第二集東レンズ
2の励磁コイルへの供給電流を小さくしてその焦点距離
らを長くして、第一集東レンズーによるクロスオーバポ
ィント4と第二集東レンズ2の前方焦点とを一致させる
と、第4図に示すように、電子線東の幅が広くなり照射
面積が大きくなる。
このとき、第二集東レンズ2を通過した電子線東は光軸
7に平行になり、対物レンズ8へ入射する電子線東が光
軸7に平行となるので、対物レンズ8を通過した電子線
東は、対物レンズ8の後方焦点にクロスオーバポィント
9を結像し、対物レンズ絞り1川こよる視野カットは起
らない。なお、このとき第一集東レンズの絞り15をセ
ットして第一集東レンズーへ入射する電子線の入射面積
を限定する必要がある。試料3への電子線東の照射面積
を小さくするには、第一集東レンズ1の励磁コイルへの
供給電流を小さくしてその焦点距離f,を長くし、第二
集東レンズ2の励磁コイルへの供給電流を大きくしてそ
の焦点距離らを短くして、第一集東レンズーによるクロ
スオーバポィント4と第二集東レンズ2の前方焦点とを
一致させると、第5図に示すように、電子線東の幅が狭
くなり照射面積が小さくなる。
このときにおいても上記と同様にして、第二集東レンズ
2を通過した電子線東は光軸7に平行Zとなり、対物レ
ンズ8の後万焦V則こクロスオーバポィント9を結像す
るので対物レンズ絞り1川こよる視野カットは起らない
。このようにして、試料面への電子線東の照射面積を任
意に調節することができる。
なお、上言己の実施例においては集東レンズが二段の場
合について説明したが、これに限られるものでなく、三
段以上の集東レンズであっても最終二段の集東レンズ間
において上記f,とf2との関係式を満足するような供
給電流の制御を行えば、上述のような照射面積の調節を
任意に行なうことができる。本発明は以上のように構成
されたから、試料3及び対物レンズ8へ照射又は入射す
る電子線東を光鞠7に対して平行として対物レンズ8に
よる敵外収差を大きくすることをなくし、かつ対物レン
ズ絞り10‘こよる視野カットを無くすことによって、
最終優に悪影響を生じさせることなく試料面への電子線
東の照射面積を任意に調節することができる。また、電
子線東を光軸7に対して平行とすることは、第二集東レ
ンズ2と対物レンズ8との間の距離に全く関係しないの
で顕微鏡筒を短く0するこもできる等の効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従釆の集東レンズ系を示す光学的概
略図、第3図は本発明による集束レンズ系の原理を示す
光学的概略図、第4図及び第5図5は試料への電子線東
の照射面積を調節した状況を示す光学的概略図である。 1・・・第一集東レンズ、2・・・第二集東レンズ、3
・・・試料、4・・・第一袋東レンズによるクロスオー
バポィント、7・・・光鞠、8・・・対物レンズ、12
…制0御装置、13…第一集東レンズの電源装置、14
・・・第二集東レンズの電源装置。第1図 第2図 第3図 第4図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電子銃と試料位置との間に少なくとも二段の集束レ
    ンズを配設すると共に最終段集束レンズ及びこれより一
    段前方の集束レンズには、双方の集束レンズに加えられ
    る電流又は電圧を互いに連動して可変調節する制御装置
    を設け、上記前方の集束レンズを通過した電子線のクロ
    スオーバポイントと最終段集束レンズの前方焦点とが一
    致するように、上記両集束レンズの焦点距離を変化させ
    るようにしたことを特徴とする透過型電子顕微鏡の集束
    レンズ系。
JP10618878A 1978-09-01 1978-09-01 透過型電子顕微鏡の集束レンズ系 Expired JPS6019622B2 (ja)

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JP10618878A JPS6019622B2 (ja) 1978-09-01 1978-09-01 透過型電子顕微鏡の集束レンズ系

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JPS5533716A JPS5533716A (en) 1980-03-10
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JPS5765655A (en) * 1980-10-07 1982-04-21 Internatl Precision Inc Electron microscope
JPS59221951A (ja) * 1983-05-31 1984-12-13 Internatl Precision Inc 電子線装置の照射系
JPS6261252A (ja) * 1985-09-12 1987-03-17 Jeol Ltd 電子顕微鏡の照射レンズ装置
JPH0793119B2 (ja) * 1988-06-17 1995-10-09 日本電子株式会社 電子顕微鏡
JP6074760B2 (ja) * 2012-09-13 2017-02-08 国立大学法人北海道大学 電子線照射装置

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