JPS6029185B2 - 電子顕微鏡 - Google Patents

電子顕微鏡

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Publication number
JPS6029185B2
JPS6029185B2 JP8619580A JP8619580A JPS6029185B2 JP S6029185 B2 JPS6029185 B2 JP S6029185B2 JP 8619580 A JP8619580 A JP 8619580A JP 8619580 A JP8619580 A JP 8619580A JP S6029185 B2 JPS6029185 B2 JP S6029185B2
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JP
Japan
Prior art keywords
lens
electromagnetic
image
lens system
magnification
Prior art date
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Expired
Application number
JP8619580A
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English (en)
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JPS5711464A (en
Inventor
善博 新井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
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Publication date
Application filed by Nihon Denshi KK filed Critical Nihon Denshi KK
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Publication of JPS5711464A publication Critical patent/JPS5711464A/ja
Publication of JPS6029185B2 publication Critical patent/JPS6029185B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は透過型電子顕微鏡に関し、特に5段以上の電磁
レンズを有する電子顕微鏡に関する。
電子顕微鏡においては3段或は4段レンズを備えたもの
が一般的に使用されているが、観察倍率範囲を更に拡大
するため5段或はそれ以上の段数を備えた電子顕微鏡が
開発されるに至った。ところで電子顕微鏡により良好な
像を観察するには中間レンズの物面と対物レンズの結像
面とのずれ、非点収差、像回転、色収差、鞠外収差、歪
収差等をできるだけ小さくすることが望まれる。ところ
が、これらの諸量は対物レンズ、中間レンズ、投影レン
ズに均等に関与しているわけではなく、例えば中間レン
ズの物面と対物レンズの結像面とのずれや、非点収差は
対物レンズが主に関与し、鞠外収差や嫁回転は主に中間
レンズが関与し、歪収差は主に投影レンズが関与してい
る。しかるに従釆の多段型電子顕微鏡においては観察倍
率を変更するに伴って対物レンズ系の結像位置や中間レ
ンズ系の結像位置、投影レンズ系の結像位置を相互に関
連して移動させる如く電磁レンズの励磁を変化させてい
る。従って倍率変化に伴って中間レンズの物面と対物レ
ンズの結像面とがずれ、焦点合わせを倍率変化に伴って
行なわなければならす、又対物レンズ系の励磁強度を非
点収差を最も小さくできる強励磁状態に固定して使用す
ることができず、更には投影レンズ系の励磁強度も歪収
差等が最も小さくできる強励磁状態に固定して使用する
ことができない。本発明はこのような従来の多段型電子
顕微鏡の欠点を解決すべくなされたものであり、以下図
面に基づき本発明を詳述する。図面は本発明の一実施例
を示す概略図であり、同図においてa,b,cは各々観
察倍率が高情、中倍、低倍における結像状態を説明する
ためのものである。
図中1は対物レンズであり、該対物レンズ1の後段には
3個の電磁レンズ2,3,4からなる中間レンズ系1が
備えられている。該中間レンズ系1の各電磁レンズ2,
3,4には倍率設定器16よりの倍率制御信号により供
給すべき励磁電流が制御される励磁電源17から励磁電
流が供給される。電磁レンズ2としンズ3とは常に互い
に逆極性に励磁され、又レンズ3としンズ4とは常に同
極性に励磁される。又、レンズ2,3,4の励磁電流を
各々12,13,14とするとき、励磁電源17は12
十(13十14)が常に略々一定になるような条件を保
つたまま倍率変化に応じて各レンズ2,3,4への励磁
電流の供g溝を変更する。中間レンズ系1の後段には投
影レンズ5が備えられている。図示外の電子銃から発生
し図示外の収束レンズによって収束された電子線は試料
6に照射される。試料6を透過した電子線は観察倍率に
かかわらず対物レンズ1によって該レンズ1と中間レン
ズ系1との間の一定位置xiに像7を結像する。図中a
に示すように高情観察時には、中間レンズ系1の電磁レ
ンズ2により8aのように拡大結像され、更に該像8a
は電磁レンズ3により電磁レンズ4の後段に虚像9aを
結像する。電磁レンズ4は該虚像9aを中間レンズ系1
と投影レンズ5との間にあり全ての観察倍率にわたって
共通な結像位置xpに実像10aとして結像する。該実
像10aは更に投影レンズ5によって蟹光板11の如き
投影面に像12aとして拡大結像される。中倍率で観察
する場合には、図中bに示すようにxiの位置に形成さ
れた像7は中間レンズ系1の電磁レンズ2によってレン
ズ2としンズ3の間に高倍率よりも小さな拡大率で8b
のように結像され、更に該像8bは電磁レンズ3によっ
て電磁レンズ4の後段に虚像9bとして結像される。該
虚像9bは電磁レンズ4によって高情時よりも大きな縦
少率で高情時と同じ位置xpに実像10bとして結像さ
れる。該実像10bは更に投影レンズ5によって蟹光板
11上に中倍率像12bとして結像される。低倍率で観
察する場合には、一定位置幻に結像された像7は電磁レ
ンズ2によってレンズ3の後段に虚像13として結像さ
れ、該虚像13は電磁レンズ3によって実像14として
縦少結像される。
該実像14は電磁レンズ4によって一定位置xpに実像
15として結像する。該実像15は電磁レンズ5によっ
て蟹光被11上に低倍像12cとして結像される。上述
したように本発明における電子顕微鏡においては中間レ
ンズの綾面位置幻及び投影レンズの像面位置が倍率変化
に伴って全く移動しないため、対物レンズの励磁を非点
収差を最小にするような固定された励磁強度に選ぶとと
もに、該励磁強度に関連して対物レンズの大きさや形状
も他の中間レンズや投影レンズと無関係に最澄に設計す
ることができ、従って広い範囲にわたって非点収差の小
さい像を得ることができる。
又倍率変化に伴い対物レンズの結像面を中間レンズ系の
物面に合わせるための焦点合わせも不要となる。更に又
、投影レンズについても対物レンズと同様に他のレンズ
系と無関係に歪収差等を最少にするような一定の励磁強
度と、該励磁強度に見合ったレンズの大きさや形状を選
択できるため、倍率にかかわらず歪収差の小さい像を観
察することができる。
又、中間レンズ系として少くとも3個の電磁レンズを使
用しているため低倍から高情にわたる広い範囲の倍率で
像観察可能であり、これらレンズ2,3,4のうら少く
とも1個の電磁レンズは虚像結像するようになっている
ため、各レンズ2,3,4によって生じた色収差は打ち
消し合うように作用し、小さな値に抑えることができる
更に電磁レンズ2,3,4に供給される電流が12十1
3十14ニー定なる条件を保つたまま変更されるため、
これらレンズによって生ずる像回転も常に一定となり、
倍率を変更しても像回転は殆んど生じない。尚、上述し
た実施例においては対物レンズ、投影レンズとも各々1
個のレンズで形成されていたが、単一の対物レンズ、投
影レンズの代わりに複数の電磁レンズよりなる対物レン
ズ系又は投影レンズ系を使用する場合にも本発明は同様
に適用できる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例を示すためのものである。 1:対物レンズ、2,3,4:中間レンズ系の電磁レン
ズ、6:投影レンズ、6:試料、T,8a,8b,14
,10a,10b,15,12a,12b,12c:実
像、9a,9b,13:虚像、11:蟹光板、1:中間
レンズ系、16:倍率設定器、17:励磁電源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 第1、第2、第3のレンズ系からなり、第1のレン
    ズ系は少なくとも1個の電磁レンズを有し試料を常に第
    1と第2のレンズ系の間の一定位置に結像させ、第3の
    レンズ系は少なくとも1個の電磁レンズを有し第2のレ
    ンズ系によつて結像された像を一定位置に配置された投
    影面上に結像させ、第2のレンズ系は2個の実像結像す
    る電磁レンズと1個の虚像結像する電磁レンズを有し第
    1のレンズ系によつて結像された像を第2と第3のレン
    ズ系の間の一定位置に結像する条件を保つたまま各電磁
    レンズの励磁強度を変更して観察倍率を変化させるよう
    にしたことを特徴とする電子顕微鏡。
JP8619580A 1980-06-25 1980-06-25 電子顕微鏡 Expired JPS6029185B2 (ja)

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JP8619580A JPS6029185B2 (ja) 1980-06-25 1980-06-25 電子顕微鏡

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JP8619580A JPS6029185B2 (ja) 1980-06-25 1980-06-25 電子顕微鏡

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JPS5711464A JPS5711464A (en) 1982-01-21
JPS6029185B2 true JPS6029185B2 (ja) 1985-07-09

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5931548A (ja) * 1982-08-17 1984-02-20 Internatl Precision Inc 電子線装置の結像法
DE3423149A1 (de) * 1984-06-22 1986-01-02 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Verfahren und anordnung zur elektronenenergiegefilterten abbildung eines objektes oder eines objektbeugungsdiagrammes mit einem transmissions-elektronenmikroskop

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JPS5711464A (en) 1982-01-21

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