JPS60190875A - 基板の試験装置 - Google Patents
基板の試験装置Info
- Publication number
- JPS60190875A JPS60190875A JP59045475A JP4547584A JPS60190875A JP S60190875 A JPS60190875 A JP S60190875A JP 59045475 A JP59045475 A JP 59045475A JP 4547584 A JP4547584 A JP 4547584A JP S60190875 A JPS60190875 A JP S60190875A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- board
- plate
- substrate
- air cylinder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Special Conveying (AREA)
- Control Of Conveyors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔兜明の利用分野〕
本発明は製作後の基板の台栢、不合格の判別を行う基板
の試験装置に係り、特にコネクタの挿抜の際の基板表向
の傷つきを防止し、かつ基板の位置決めを正確に行うに
好適な基板の試験装置に関する。
の試験装置に係り、特にコネクタの挿抜の際の基板表向
の傷つきを防止し、かつ基板の位置決めを正確に行うに
好適な基板の試験装置に関する。
第1図は従来よ如実施されている基板の試験装置の正m
j図、第2図は第1図の側面図を示していを。図におい
て、1は基板搬送用のベルトコンペア、2i−1基板、
3は基板20表面についているしS■、4および5は基
板2の端部についているメインコネクタおよびザブコネ
クタである。この試験装置は、上下方向に移動可能な可
動板らと固定板7とからなる基板の位置決め機構と、複
数のビン8と該ビン8を取イ月けているフ゛レート9と
からなシ基板のy、D止め機構と、基板表向のハンダ面
全チェックするプローブへラド10と、メインコネクタ
4同志の挿抜全行うエアシリンダー1およびサブコネク
タ5同志の挿抜勿行うエアシリンダと 125を・備えている。そして、前記反シ止め機構のプ
ンート9は、所定の位置に固定された構成となっている
。
j図、第2図は第1図の側面図を示していを。図におい
て、1は基板搬送用のベルトコンペア、2i−1基板、
3は基板20表面についているしS■、4および5は基
板2の端部についているメインコネクタおよびザブコネ
クタである。この試験装置は、上下方向に移動可能な可
動板らと固定板7とからなる基板の位置決め機構と、複
数のビン8と該ビン8を取イ月けているフ゛レート9と
からなシ基板のy、D止め機構と、基板表向のハンダ面
全チェックするプローブへラド10と、メインコネクタ
4同志の挿抜全行うエアシリンダー1およびサブコネク
タ5同志の挿抜勿行うエアシリンダと 125を・備えている。そして、前記反シ止め機構のプ
ンート9は、所定の位置に固定された構成となっている
。
次に前記試験装置の作用について説明すると、ベルトコ
ンベア1にて搬送されてきた基板2は、仮想線で示した
如くベルトコンベア1の下方に待機している可動板6に
よって固定板7の位置丑で矢印方向に持ち上げられた後
、固定板7および可動板すにてルf定の位置(実線の位
置)にセントされる。この時、反り止め機構の谷ビン8
の先端が前記基板20表面に接触する。そして、基板2
がセットされると、エアシリンダ11および12が作動
し、メインコネクタ4同志およびサブコネクタ5同志を
それぞれ接続させる。次にプローブヘッド10が基板表
向のハンダ面に接触して該ハンダ15のチェックを行う
。この際、グローブヘッド10の押し付けによる基板2
の反りは前記ビン8で防がれる。
ンベア1にて搬送されてきた基板2は、仮想線で示した
如くベルトコンベア1の下方に待機している可動板6に
よって固定板7の位置丑で矢印方向に持ち上げられた後
、固定板7および可動板すにてルf定の位置(実線の位
置)にセントされる。この時、反り止め機構の谷ビン8
の先端が前記基板20表面に接触する。そして、基板2
がセットされると、エアシリンダ11および12が作動
し、メインコネクタ4同志およびサブコネクタ5同志を
それぞれ接続させる。次にプローブヘッド10が基板表
向のハンダ面に接触して該ハンダ15のチェックを行う
。この際、グローブヘッド10の押し付けによる基板2
の反りは前記ビン8で防がれる。
しかるに、従来の試験装置では、基板2が所定の位置に
セットされると同時に反り止め機構の各ビン8が基板衣
UMVc接融してしまうので、基板の位置決めを正確に
行えない問題がある。1だメインコネクタ同志、サブコ
ネクタ同志をエアシリンダにて接続する際、基板が横方
向に若干動くため、基板表向の前記ビン8と接触してい
る部分を協つけてしまう問題があった。
セットされると同時に反り止め機構の各ビン8が基板衣
UMVc接融してしまうので、基板の位置決めを正確に
行えない問題がある。1だメインコネクタ同志、サブコ
ネクタ同志をエアシリンダにて接続する際、基板が横方
向に若干動くため、基板表向の前記ビン8と接触してい
る部分を協つけてしまう問題があった。
本発明の目的は、従来技術の問題を解消し、基板のセッ
トの際、該基板を正確に位置決めできると共に、基板表
面の傷つきを防止できる基板の試験装置を提供すること
にある。
トの際、該基板を正確に位置決めできると共に、基板表
面の傷つきを防止できる基板の試験装置を提供すること
にある。
この目的を達成するために、本発明は、基板の反シ止め
機構を上下方向に移動可能となし、基板のセットに際し
ては前記反り止め機構を上方に移動させて各ビンが基板
表面と接触しないようにし、プローブヘッドが基板裏面
に接触する時のみ反υ止め機構を下降させて各ビンを基
板裏面に接触させるようにしたものである。
機構を上下方向に移動可能となし、基板のセットに際し
ては前記反り止め機構を上方に移動させて各ビンが基板
表面と接触しないようにし、プローブヘッドが基板裏面
に接触する時のみ反υ止め機構を下降させて各ビンを基
板裏面に接触させるようにしたものである。
以下、本発明の実施例を第3図および第4図により説明
する。第3図は本発明による基板の試験装置の正面図、
第4図は第3図の側面図を示している。図において、第
1図、第2図と同一符号のものは同じもの、もしくは相
当するものを表わしている。この試験装置は、基板の反
り止め機構を上下方向に移動可能としである。詳しく説
明すると、プレー1−9の上方にはエアシリンダ13を
装着したベース14が配設されている。ベース14は静
止部材(図示せず)に固定して取付けられている。前記
エアシリンダ13(は、そのロッド13aの先端部をグ
レート9に連結させている。また前記ベース14には、
エアシリンダ13のストロークを調整するリニアボール
ガイド15が装設されている。そして、エアシリンダ1
3のロッド13aを伸縮すればプレート9全上下方向に
移動させられるようVCなっている。
する。第3図は本発明による基板の試験装置の正面図、
第4図は第3図の側面図を示している。図において、第
1図、第2図と同一符号のものは同じもの、もしくは相
当するものを表わしている。この試験装置は、基板の反
り止め機構を上下方向に移動可能としである。詳しく説
明すると、プレー1−9の上方にはエアシリンダ13を
装着したベース14が配設されている。ベース14は静
止部材(図示せず)に固定して取付けられている。前記
エアシリンダ13(は、そのロッド13aの先端部をグ
レート9に連結させている。また前記ベース14には、
エアシリンダ13のストロークを調整するリニアボール
ガイド15が装設されている。そして、エアシリンダ1
3のロッド13aを伸縮すればプレート9全上下方向に
移動させられるようVCなっている。
次に本発明の作用について説明する。
ベルトコンベアIKて搬送されてきた基板2は、どルト
コンベア1の下方に待機している可動板(仮想線で示す
)6によって固定板7の位置まで矢印方向に待ち上げら
れた後、固定板7および可動板6にて所定の位置に七ノ
ドされる。この時、ノ又り止め機構tiミニアシリンダ
3により上方位置にイネルυさl−ら!Z−ていて、名
ビン8が峨板六面から離nた状態にめる。基板2がセッ
トされると、エアシリンダ11および12が作動し、メ
インコネクタ4同志およびサブコネクタ5同志がそれぞ
れ接続される。しかる後、エアシリンダ13が伸長。ン 方向に作動してプレート9を下降させ、各ヒエ8を基板
表面に接触させる。次いで、プローブヘッド10が基板
裏面のハンダ面に接触して該ハンダ面のチェックを行う
。この機、グローブヘッド10の押し付けによる基板2
0反りは前記ビン8で防がれる。前記ハンダ面のチェッ
クが完了すると、エアシリンダ13の縮小動作によりプ
レート9が上昇させられて各ビン8は基板表向より離れ
る従って、本発明による基板の試験装置でに、基板2の
セットに際しては反り止め機構の各ビン8を基板表面に
接触させないので、該基板2の位置決めを正確に行える
。またメインコネクタ4同志およびサブコネクタb同志
の接@に際して基板2が横方向に若干動いでも、IJI
J記ビン8が基板表向から離れた状即罠あるので、4根
2の表向を傷つけることItifxい。
コンベア1の下方に待機している可動板(仮想線で示す
)6によって固定板7の位置まで矢印方向に待ち上げら
れた後、固定板7および可動板6にて所定の位置に七ノ
ドされる。この時、ノ又り止め機構tiミニアシリンダ
3により上方位置にイネルυさl−ら!Z−ていて、名
ビン8が峨板六面から離nた状態にめる。基板2がセッ
トされると、エアシリンダ11および12が作動し、メ
インコネクタ4同志およびサブコネクタ5同志がそれぞ
れ接続される。しかる後、エアシリンダ13が伸長。ン 方向に作動してプレート9を下降させ、各ヒエ8を基板
表面に接触させる。次いで、プローブヘッド10が基板
裏面のハンダ面に接触して該ハンダ面のチェックを行う
。この機、グローブヘッド10の押し付けによる基板2
0反りは前記ビン8で防がれる。前記ハンダ面のチェッ
クが完了すると、エアシリンダ13の縮小動作によりプ
レート9が上昇させられて各ビン8は基板表向より離れ
る従って、本発明による基板の試験装置でに、基板2の
セットに際しては反り止め機構の各ビン8を基板表面に
接触させないので、該基板2の位置決めを正確に行える
。またメインコネクタ4同志およびサブコネクタb同志
の接@に際して基板2が横方向に若干動いでも、IJI
J記ビン8が基板表向から離れた状即罠あるので、4根
2の表向を傷つけることItifxい。
以上説明したように、本発明によれば、基板のセットの
際、該基板を正確に位置決めできると共に、基板表面の
鶴つきを防止できる。
際、該基板を正確に位置決めできると共に、基板表面の
鶴つきを防止できる。
第1図は従来の基板の試験装置を示す正面図、第2図は
第1図の側面図、第3図は本発明による基板の試験装置
を示す正面図、第4図は第3図の側1m図である。 2・・・基板 4・・・メインコネクタ 5・・・ザブ
コネクタ 6・・・可動板 7・・・[ん定板 8・・
・ビン 9・・・プレート 10・・・グローブヘッド
11.12.13・・・エアシリンダ。 ”4+図
第1図の側面図、第3図は本発明による基板の試験装置
を示す正面図、第4図は第3図の側1m図である。 2・・・基板 4・・・メインコネクタ 5・・・ザブ
コネクタ 6・・・可動板 7・・・[ん定板 8・・
・ビン 9・・・プレート 10・・・グローブヘッド
11.12.13・・・エアシリンダ。 ”4+図
Claims (1)
- 上下方向に移動可能な可動板と固定板とからなり、コネ
クタ付基板を所定の位置にセントする位置決め手段と、
位It決めされた前記基板の裏面に接触して該基板のハ
ンダ面をナエソクするプローブヘッドと、基板の表面に
接触させる複数のビンと該ビンを取付けるプレートとか
らなシ、前記プローブヘッドによるハンダ面のチェック
の際に基板の反りを防ぐ反り止め手段と、コネクタの挿
抜を行う弓・段と全備えた基板の試験装置ittであっ
て、前記反り止め手段が上下方向に移動可能に構成され
ていることを特徴とする基板の試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59045475A JPS60190875A (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 基板の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59045475A JPS60190875A (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 基板の試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60190875A true JPS60190875A (ja) | 1985-09-28 |
Family
ID=12720415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59045475A Pending JPS60190875A (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 基板の試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60190875A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005026754A1 (ja) * | 2003-09-11 | 2005-03-24 | Advantest Corporation | 半導体試験システム |
CN109533961A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-03-29 | 惠州市华阳多媒体电子有限公司 | 一种用于测试锂电池保护板的自动补料装置 |
-
1984
- 1984-03-12 JP JP59045475A patent/JPS60190875A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005026754A1 (ja) * | 2003-09-11 | 2005-03-24 | Advantest Corporation | 半導体試験システム |
US7135853B2 (en) | 2003-09-11 | 2006-11-14 | Avantest Corporation | Semiconductor test system |
CN109533961A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-03-29 | 惠州市华阳多媒体电子有限公司 | 一种用于测试锂电池保护板的自动补料装置 |
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