JPH02165067A - プリント基板試験装置機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 インライン上のプリント基板の試験部への駆動を単一の
駆動系を用いたプリント基板試験装置機構に関し、 単一の駆動手段で搬送機構の逃げ、及びプリント基板と
試験用ボードとの電気的接触を生じさせることを目的と
し、 基準孔２Ｈを有するプリント基板の両側端を支持した状
態でプリント基板をほぼ水平方向に搬送する搬送装置と
、搬送装置を搬送所定位置と退避位置との間で上下動可
能に支持する昇降機構と、プリント基板の搬送路下方に
配置され、プリント基板を支持するための複数の基準ビ
ン及びプリント基板底面の試験パターンと当接可能なプ
ローブを有する試験用ボードと、プリント基板上方側に
配置され、プリント基板２を押圧するための複数の押圧
棒を下向きに設けると共に、昇降機構を連動昇降せしめ
る押圧機構とを備え、各押圧棒の下降で、プリント基板
の基準孔に基準ビンが挿通され、退避位置より上側でプ
リント基板を押圧棒と基準ピンとの間に挟持し、搬送装
置をプリント基板の支持から解除するようにして構成し
た。

〔産業上の利用分野〕

本発明はプリント基板試験装置に係り、特に、インライ
ン上のプリント基板の試験部への駆動も単一の駆動系を
用いたプリント基板試験装置機構に関する。

〔従来の技術〕

従来、プリント基板を試験する装置として、ビンボード
を用いた装置が用いられている。この装置は主にプレス
式とバキューム式に大別される。

これらの方式を用いるに際して、プリント基板をインラ
イン方式で搬送する場合には、ビンボードが安価なこと
、プリント基板の搬送時間が短いことなどから一般にプ
レス方式が採用されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、従来のプレス式インライン方弐を適用した試験
装置の場合には、ベルトで搬送されたプリント基板の下
側にビンボードを配置し、ビンボードで支持されたプリ
ント基板をプレスによって押圧し、ビンボードに配置さ
れたスプリングプローブをプリント基板の試験パターン
に当接させてプリント基板を試験するように構成されて
いるが、ビンボードを上昇駆動するためのプローブとプ
レスを下降駆動する駆動部とが別体となっているため、
装置全体が大きくなるという不具合がある。

さらに、ベルト上のプリント基板をビンボードのプロー
ブに接触させるためには、ベルトをビンボードの移動範
囲から逃がす必要があるが、従来の装置は、この機構が
複雑であり、高価になるという不具合がある。

本発明の目的は、単一の駆動手段で搬送機構の逃げ、及
びプリント基板と試験用ボードとの電気的接触を生じさ
せることのできるプリント基板試験装置を提供すること
にある。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理構成図を示す。本発明は、基準孔
２Ｈを有するプリント基板２の両端を支持した状態でプ
リント基板２をほぼ水平方向に搬送する搬送装置工６と
、搬送装置１６を搬送所定位置と退避位置との間で上下
動可能に支持する昇降機構６と、プリント基板２の搬送
路下方に配置され、プリント基板２を支持するための複
数の基準ピン８及びプリント基板底面の試験パターンと
当接可能なプローブ１０を有する試験用ボード１１と、
プリント基板２上方側に配置され、プリント基板を押圧
するための複数の押圧棒１３を下向きに設けると共に昇
降機構６を連動昇降せしめる押圧機構４とを備え、各押
圧棒１３の下降で、プリント基板２の基準孔２Ｈに基準
ピン８が挿通され、前記退避位置より上側でプリントｉ
板２を押圧棒１３と基準ピン８との間に挟持して搬送装
置１６をプリント基板２の支持から解除するようにした
プリント基板試験装置機構を構成したものである。

３．５は、それぞれ搬入装置、搬出装置を示す。

〔作　用〕

試験用ボード１１を固定した状態で押圧機構４を下降駆
動すると、押圧棒１３をプリント基板２へ移動させるこ
とができる。その下降と連動して昇降機構６も下降する
。そして、押圧棒１３がプリント基板２に当接し、これ
を下降させるとき、基準ビン８はプリント基板２の基準
孔２Ｈへ挿通され、プリント基板２は、退避位置より上
側で押圧棒１３と基準ビン８との間に支持される。それ
より下への押圧機構４の下降駆動で、搬送装置１６はプ
リント基板２の支持を解除され、試験用ボード１１のプ
ローブ１０がプリント基板２底面の試験パターンと当接
する。即ち、試験用ボード１１を固定した状態で押圧機
構４を下降駆動するだけで、プリント基板２を押圧棒１
３で押圧することができると共に搬送機構１６．をプリ
ント基板２の支持から解除させることができる。従って
、押圧機構４の下降駆動だけで、搬送機構１６の逃げ及
びプリント基板と試験用ボード１１との電気的接触を生
じさせることができる。

〔実施例〕

第２図及び第３図において、ベース１０上には、４組の
シャフト１２が固定されており、各シャフト１２には上
下動可能なロッド１４が昇降自在に挿入されている。そ
して、各ロッド１４は搬送所定位置と退避位置との間で
シャフト１２内で上下動し得るように構成されている。

即ち、シャフト１２、ロッド１４は昇降機構として構成
されている。これら各ロッド１４の上端には、搬送装置
１６が固定されている。搬送装置１６はモータ１８、プ
ーリ２０，２２，２４，２６，２８，３０．ベルト３２
、及び支持枠材３３を備えており、ベルト３２がプーリ
２０〜３０を介してループ状に配置され、モータ１８の
駆動によって回動するように構成されている。そして、
各ベルト３２の上面にプリント基板２が搬入載置され、
ベルト３２がプリント基板２の下面を支持した状態で搬
送できるようになっている。

又、ベース１０上には支持台３６が固定されており、支
持台３６の両端にはリニアガイド３８゜４０がベルト３
２を横切る方向に配置されている。

そして各リニアガイド３８．４０にはレール４２゜４４
を介して一１第１図の試験用ボード１１としてのピンボ
ード４６が摺動自在に装着されている。

即ち、ビンボード４６がベルト３２を横切る方向に摺動
可能に装着されており、ピンボード４６が第２図の手前
側へ引き出せるように構成されている。そして、ピンボ
ード４６の上面の両端には鰐の下にスプリングを有する
基準ピン８が複数個配設されている。さらにプリント基
板２の試験パターンと当接可能なスプリングプローブ１
０が複数個配設されている。各基準ピン８は、プリント
基板２の基準孔２Ｈに挿通してプリント基板２を支持で
きるように構成されている。

一方、プリント基板２の搬送路上方にはプリント基板２
の搬送路に沿って延在するロッド５４が配置されており
、このロッド５４の底面側には複数の押圧棒１３が垂設
されている。そして、ロッド５４の両端がＵ字状の支持
枠５８に固定されている。搬送装置１６の支持枠材３３
の下面に搬送方向に対し直角に延設された上下動ビーム
６４が支持枠５８の下部に固着されている。

これにより、ロッド１４の昇降駆動に応じて搬送装置１
６とは上下動するように構成されている。

これら押圧棒１３、ロッド５４、支持枠５８、上下動ビ
ーム６４が第１図の押圧機構４に対応する。

又、第３図に示すように、プリント基板２の搬送路上に
はストップピン６０が配置されていると共にプリント基
板２の停止位置を検出するセンサ６２などが配置されて
いる。

以上の構成において、モータ１８の駆動に伴って、プリ
ント基板２がベルト３４に支持された状態で移動し、プ
リント基板２の先端がストップピン６０と当接すると、
センサ６２の検出出力によりモータ１８の駆動が停止さ
れる。ロッド５４を下降駆動すると、上下動ビーム６４
も下降する。

従って、上下動ビーム６４上に乗っている搬送装置１６
もその自重で下降する。このとき、ベルト３２上のプリ
ント基板２も同様に下降する。そして、プリント基板２
が下降すると、基準ピン８がプリント基板２の底面側か
ら基準孔２Ｈ内に挿通ずる。ロッドの下降駆動で、プリ
ント基板２は基準ピン８の鍔に乗って弾発支持された状
態となり、そのとき、押圧棒５６がプリント基板２の上
面と当接し、プリント基板２の上面側をピンボード４６
側へ押圧する。これにより、プリント基板２を基準ピン
８との間に弾発挟持しつつ、スプリングプローブ１０と
プリント基板２の試験パターンとの接触を生じさせる。

従って、プリント基板２は押圧棒１３で押圧された状態
でスプリングプローブ１０に接触する状態となっている
。この後スプリングプローブ１０に連結された測定器に
よってプリント基板２の試験が行なわれる。試験終了後
は、ロッド５４の上昇駆動で押圧棒１３による押圧を解
除し、プリント基板２を再び、押圧棒１３と基準ピン８
との弾発挟持から解除し、ベルト３２による支持を回復
させてベルト３２の駆動により試験法のプリント基板２
を搬出させた後、次のプリント基板の試験を開始するよ
う、上述の手順の繰返しに入る。

なお、プリント基板２は、素子が実装されているか否か
を問わない。基準ピン８は、必ずしも弾発性を付与され
ていなくてもよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、試験ボードを固定
した状態で押圧機構を下降駆動させるだけで、プリント
基板を試験用ボードの基準ピンと押圧棒との間で支持さ
せることができると共に、搬送装置をプリント基板から
退避させることができる。従って、プリント基板の試験
に伴う駆動機構の簡素化を図ることができ、製作コスト
の低減に寄与することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理構成図、 第２図は本発明の一実施例を示す正面図、第３図はプリ
ント基板の搬送路の構成を説明する要部平面図である。 第１図乃至第３図において、 ２はプリント基板、 ４は押圧機構（押圧棒１３、ロッド５４、支持枠５８、
上下動ビーム６４）、 ６は昇降機構（シャフト１２、ロッド１４）、１１は試
験用ボード（ピンボード４６、基準ビン８、スプリング
プローブ１０）、 １６は搬送装置である。 Ａ４８８目　のへト睡オ片かく［６ 第１図 本を８ｆＩｎ−澱兇分゛１〔承り六五灸艮毘の王面図＠
２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）基準孔（２Ｈ）を有するプリント基板（２）の両
   側端を支持した状態でプリント基板（２）をほぼ水平方
   向に搬送する搬送装置（１６）と、前記搬送装置（１６
   ）を搬送所定位置と退避位置との間で上下動可能に支持
   する昇降機構（６）と、 前記プリント基板（２）の搬送路下方に配置され、前記
   プリント基板（２）を支持するための複数の基準ピン（
   ８）及びプリント基板底面の試験パターンと当接可能な
   プローブ（１０）を有する試験用ボード（１１）と、 前記プリント基板（２）上方側に配置され、前記プリン
   ト基板（２）を押圧するための複数の押圧棒（１３）を
   下向きに設けると共に、前記昇降機構（６）を連動昇降
   せしめる押圧機構（４）とを備え、各押圧棒（１３）の
   下降で、前記プリント基板（２）の基準孔（２Ｈ）に前
   記基準ピン（８）が挿通され、前記退避位置より上側で
   前記プリント基板（２）を前記押圧棒（１３）と前記基
   準ピン（８）との間に挟持し、前記搬送装置（１６）を
   前記プリント基板（２）の支持から解除するようにした
   ことを特徴とするプリント基板試験装置機構。