JPS6016245B2 - 断層撮影装置 - Google Patents
断層撮影装置Info
- Publication number
- JPS6016245B2 JPS6016245B2 JP52056043A JP5604377A JPS6016245B2 JP S6016245 B2 JPS6016245 B2 JP S6016245B2 JP 52056043 A JP52056043 A JP 52056043A JP 5604377 A JP5604377 A JP 5604377A JP S6016245 B2 JPS6016245 B2 JP S6016245B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mask
- dimensional
- convolution
- image
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000003325 tomography Methods 0.000 title claims description 17
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 11
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 claims description 5
- 101100269850 Caenorhabditis elegans mask-1 gene Proteins 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4225—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using image intensifiers
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06E—OPTICAL COMPUTING DEVICES; COMPUTING DEVICES USING OTHER RADIATIONS WITH SIMILAR PROPERTIES
- G06E3/00—Devices not provided for in group G06E1/00, e.g. for processing analogue or hybrid data
- G06E3/001—Analogue devices in which mathematical operations are carried out with the aid of optical or electro-optical elements
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S378/00—X-ray or gamma ray systems or devices
- Y10S378/901—Computer tomography program or processor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、一次元投影データから逆投影
（戊ｃｋｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）によって断層像を再構
成する断層撮影装置に関する。
成する断層撮影装置に関する。
最初に、第１図及び第２図を参照して、一次元投影デー
タから逆投影によって断層像を再構成する原理を説明す
る。
タから逆投影によって断層像を再構成する原理を説明す
る。
まず、第１図に示した如く、Ｘ線源２１が検出装置の検
出面２２を照射するようにＸ線ビーム２を放射する。
出面２２を照射するようにＸ線ビーム２を放射する。
このＸ線ビーム２は一平面内に存在し、且つ相互に平行
なＸ線からなる。検出装置は、例えば検出面としてＸ線
蟹光スクリーン２２を含む。Ｘ線源２１とＸ線袋光スク
リーン２２との間に被写体１がＸ線ビーム２によって照
射されるように配置される。
なＸ線からなる。検出装置は、例えば検出面としてＸ線
蟹光スクリーン２２を含む。Ｘ線源２１とＸ線袋光スク
リーン２２との間に被写体１がＸ線ビーム２によって照
射されるように配置される。
被写体１は、Ｘ線源２１及びＸ線蟹光スクリーン２２に
対して回転軸線３の回りに相対的に回転することができ
るようになっている。被写体１を透過したＸ線ビーム２
がＸ線蟹光スクリーン２２を照射し、被写体１の透過度
に応じた光学像をＸ線蟹光スクリーン２２上に生成する
。
対して回転軸線３の回りに相対的に回転することができ
るようになっている。被写体１を透過したＸ線ビーム２
がＸ線蟹光スクリーン２２を照射し、被写体１の透過度
に応じた光学像をＸ線蟹光スクリーン２２上に生成する
。
この光学像は、一照射角度位置における一次元投射デー
タを含んでいる。次いで、被写体１をＸ線源２１及びＸ
線麓光スクリーン２２に対して順次回転軸線３の回りに
相対的に回転せしめ、このようにして、多数の照射角度
位置における一次元投射データ２３を得る。次に、この
ようにして得られた一次元投射データを第２図に示した
如く逆投影する。
タを含んでいる。次いで、被写体１をＸ線源２１及びＸ
線麓光スクリーン２２に対して順次回転軸線３の回りに
相対的に回転せしめ、このようにして、多数の照射角度
位置における一次元投射データ２３を得る。次に、この
ようにして得られた一次元投射データを第２図に示した
如く逆投影する。
即ち、まず、各一次元投射データ２３を二次元データに
引き延ばす。第２図に示された二次元データ２４は、一
次元投射データ２３に対して垂直に延びている多数個の
線からみるとみなすことができ、この線の値（例えば輝
度、電荷）はこれと交叉する−次元投射データ２３の値
に対応している（第２図）。このようにして得られた多
数個の二次元データ２４を、それぞれの照射角度を考慮
して、重ね合わせる。これによって、被写体１の断層像
２５を得ることができる。しかしこの断層像２５はぼけ
た断層像である。このようにして得られたぼけた断層像
２５から、数学的処理、例えば次の通りのコンボリュー
ション処理によって、鮮明な断層像を得ることができる
。
引き延ばす。第２図に示された二次元データ２４は、一
次元投射データ２３に対して垂直に延びている多数個の
線からみるとみなすことができ、この線の値（例えば輝
度、電荷）はこれと交叉する−次元投射データ２３の値
に対応している（第２図）。このようにして得られた多
数個の二次元データ２４を、それぞれの照射角度を考慮
して、重ね合わせる。これによって、被写体１の断層像
２５を得ることができる。しかしこの断層像２５はぼけ
た断層像である。このようにして得られたぼけた断層像
２５から、数学的処理、例えば次の通りのコンボリュー
ション処理によって、鮮明な断層像を得ることができる
。
コンボリューション処理において、ぼけた断層像２５を
表わす信号が適当な２次元関数Ｆ２（ｘ、ｙ）とたたみ
込まれ、即ちコンボＩＪユーション処理されて、これに
よって鮮明な断層像を表わす信号を得ることができる。
表わす信号が適当な２次元関数Ｆ２（ｘ、ｙ）とたたみ
込まれ、即ちコンボＩＪユーション処理されて、これに
よって鮮明な断層像を表わす信号を得ることができる。
この２次元関数Ｆ２（ｘ、ｙ）は次の通りに決定される
。ノｘ＝・±叢 ノｙ＝±舞（ＰＳＦ）Ｆ２（ｘ、ｙ
）ｄｘｄｙ＝６（ｘ、ｙ）ＰＳＦは点拡散関数であり、
上記の通りのぼけた断層像２５が、本来の断層像に対し
てどのようにぼけるかによって決定できる。
。ノｘ＝・±叢 ノｙ＝±舞（ＰＳＦ）Ｆ２（ｘ、ｙ
）ｄｘｄｙ＝６（ｘ、ｙ）ＰＳＦは点拡散関数であり、
上記の通りのぼけた断層像２５が、本来の断層像に対し
てどのようにぼけるかによって決定できる。
６（ｘ、ｙ）はデイラツク関数である。
上記の通りの原理に従って、コンピュータを用いて一次
元投影データを処理して鮮明な断層像を得る断層撮影装
置が提案されている。
元投影データを処理して鮮明な断層像を得る断層撮影装
置が提案されている。
しかしながら、このような装置は、大掛りなものになっ
てしまい好ましくない。本発明は、上記の通りの状況下
にてなされたものであり、その目的は、上記の通りの原
理に従ってコンピュータを用いず、電子工学的装置及び
光学的装置を用いて鮮明な断層像を再構成することがで
きる断層撮影装置を提供することである。
てしまい好ましくない。本発明は、上記の通りの状況下
にてなされたものであり、その目的は、上記の通りの原
理に従ってコンピュータを用いず、電子工学的装置及び
光学的装置を用いて鮮明な断層像を再構成することがで
きる断層撮影装置を提供することである。
次に、第３図乃至第５図を参照して、本発明の２つの具
体例を説明する。尚、各図面の対応する部分は同じ参照
番号を付してある。まず、第１の具体例を、第３図Ａ及
び第４図を参照して説明する。
体例を説明する。尚、各図面の対応する部分は同じ参照
番号を付してある。まず、第１の具体例を、第３図Ａ及
び第４図を参照して説明する。
第３図Ａは、第１の具体例に従う断層撮影装置のデータ
処理過程を示す。
処理過程を示す。
Ｐ（の）は、多数の照射角度位置における一次元投射デ
ータを得る過程を示す。
ータを得る過程を示す。
のは照射角度である。Ｓｂは、一次元投射データを引き
延ばした二次元データを得る過程を示す。
延ばした二次元データを得る過程を示す。
Ｓ（の）は、このこ次元データを多数その照射角度を考
慮して重ね合わせる過程、即ちぼけた断層像を得る過程
を示す。
慮して重ね合わせる過程、即ちぼけた断層像を得る過程
を示す。
Ｃ２は、ぼけた断層像を表わす信号を２次元コンボリュ
ーション処理する過程を示す。
ーション処理する過程を示す。
Ｗは、コンボリューション処理によって得られた信号に
基づき、鮮明な断層像を表示する過程を示す。
基づき、鮮明な断層像を表示する過程を示す。
第４図に上記の通りの処理を行なう第１の具体例に従う
断層撮影装置を示す。
断層撮影装置を示す。
＜Ｐ（の）＞
この断層撮影装置は、Ｘ線源２６と、検出装置であるＸ
線テレビ装置４とを備えている。
線テレビ装置４とを備えている。
Ｘ線源２６は、Ｘ線テレビ装置４の検出面を照射するよ
うにＸ線ビーム２を放射する。このＸ線ビームは実質的
に一平面内に存在し（即ち、第４図の紙面に垂直な方向
にてわずかな厚しか有さない）且つ相互に平行なＸ線か
らなる。Ｘ線テレビ装置４は、例えば、検出面としてＸ
線蟹光スクリーン２２と、このＸ線蟹光スクリ−ン２２
に生成された光学像を電気信号に変換するテレビ装置と
を含む。Ｘ線源２６とＸ線テレビ装置４との間に、被写
体１がＸ線ビーム２によって照射されるように配置され
る。
うにＸ線ビーム２を放射する。このＸ線ビームは実質的
に一平面内に存在し（即ち、第４図の紙面に垂直な方向
にてわずかな厚しか有さない）且つ相互に平行なＸ線か
らなる。Ｘ線テレビ装置４は、例えば、検出面としてＸ
線蟹光スクリーン２２と、このＸ線蟹光スクリ−ン２２
に生成された光学像を電気信号に変換するテレビ装置と
を含む。Ｘ線源２６とＸ線テレビ装置４との間に、被写
体１がＸ線ビーム２によって照射されるように配置され
る。
更に、被写体１をＸ線源２６及びＸ線テレビ装置４に対
して、回転軸線３の回りに相対的に回転せしめる回転装
置（図示せず）が設けられている。被写体１を透過した
Ｘ線ビーム２がＸ線テレビ装置４によって検出され、処
理されて、一次元投影データを含む電気信号が生成され
る。
して、回転軸線３の回りに相対的に回転せしめる回転装
置（図示せず）が設けられている。被写体１を透過した
Ｘ線ビーム２がＸ線テレビ装置４によって検出され、処
理されて、一次元投影データを含む電気信号が生成され
る。
この−次元投影データは、一照射角度における被断体１
の断面のＸ線吸収度に従っている。この電気信号が対数
化増幅器Ｌによって対数化される。
の断面のＸ線吸収度に従っている。この電気信号が対数
化増幅器Ｌによって対数化される。
これは、Ｘ線テレビ装置４の出力電気信号が、Ｘ線透過
軌跡に沿った被写体１で生じた透過度の積の値に対応す
るが、断層像を再構成するためには、上記透過度の和の
値に対応する電気信号を得る必要があることによる。＜
Ｓｂ、Ｓ（の）＞ 対数化増幅器Ｌの出力電気信号は、走査コンバータ６に
加えられる。
軌跡に沿った被写体１で生じた透過度の積の値に対応す
るが、断層像を再構成するためには、上記透過度の和の
値に対応する電気信号を得る必要があることによる。＜
Ｓｂ、Ｓ（の）＞ 対数化増幅器Ｌの出力電気信号は、走査コンバータ６に
加えられる。
走査コンバータは、電子光学的手段によって、一次元投
射データが引き延ばされた二次元データに従った像をタ
ーゲット５上に生成する。
射データが引き延ばされた二次元データに従った像をタ
ーゲット５上に生成する。
例えば、偏向コイル７が設定されたヨークを、一次元投
影データのそれぞれの照射角度に従って適切な角度位置
に位置付けて、多数の二次元データがターゲット５上に
電荷として重ね合わされる。
影データのそれぞれの照射角度に従って適切な角度位置
に位置付けて、多数の二次元データがターゲット５上に
電荷として重ね合わされる。
上記の通りの角度位置への位置付けは、像の誤差、特に
最終的な断層像の‘まけを最小にするため、極めて正確
に行なわなければならない。このようにして重ねられた
ターゲット上の電荷によって生成された、多数の二次元
データに従った像、即ちぼけた断層像が、走査部８によ
って走査されて、電気信号に変換される。＜Ｃ２＞ 走査コンバータ６の走査部８の出力電気信号が、陰極線
管９に加えられる。
最終的な断層像の‘まけを最小にするため、極めて正確
に行なわなければならない。このようにして重ねられた
ターゲット上の電荷によって生成された、多数の二次元
データに従った像、即ちぼけた断層像が、走査部８によ
って走査されて、電気信号に変換される。＜Ｃ２＞ 走査コンバータ６の走査部８の出力電気信号が、陰極線
管９に加えられる。
陰極線管９は持続性のあるスクリーンを有する。走査部
８の出力電気信号に従って、スクリーン上にぼけた断層
像が描かられる。陰極線管９のビームによってスクリー
ン上に描かられる像の最初の部分と最後の部分との間に
て、時間的ずれに起因する輝度の差を補償するために、
走査部８と陰極線管９との間にのこぎり波発生器Ｚが接
続され、陰極線管９の入力電気信号にのこぎり波信号が
掛け合わされる。陰極線管９のスクリーンに生成された
ぼけた断層像が輝度増幅器１１によって検出される。輝
度増幅器１１は、検出したぼけた断層像の輝度を強化し
た像を、その出力に生成する。更に、輝度増幅器１１は
偏向コイル１０を備えていて、輝度を強化した像をその
出力にて全体として周期的に移動せしめる。全体として
周期的に移動せしめられる、輝度が強化された像を含む
輝度増幅器１１の出力像が、レンズ１５を介してビーム
スプリッタ１４に送られる。
８の出力電気信号に従って、スクリーン上にぼけた断層
像が描かられる。陰極線管９のビームによってスクリー
ン上に描かられる像の最初の部分と最後の部分との間に
て、時間的ずれに起因する輝度の差を補償するために、
走査部８と陰極線管９との間にのこぎり波発生器Ｚが接
続され、陰極線管９の入力電気信号にのこぎり波信号が
掛け合わされる。陰極線管９のスクリーンに生成された
ぼけた断層像が輝度増幅器１１によって検出される。輝
度増幅器１１は、検出したぼけた断層像の輝度を強化し
た像を、その出力に生成する。更に、輝度増幅器１１は
偏向コイル１０を備えていて、輝度を強化した像をその
出力にて全体として周期的に移動せしめる。全体として
周期的に移動せしめられる、輝度が強化された像を含む
輝度増幅器１１の出力像が、レンズ１５を介してビーム
スプリッタ１４に送られる。
このビームスプリッタ１４によって光学的に２つに分離
されて、第１及び第２のマスク１２及び１３上に出力像
に従った像が形成される。第１のマスク１２は、２次元
コンボリューション関数の正の部分に従った光透過率分
布を有する。第２のマスクは、２次元コンボリュ−ショ
ン関数の負の部分に従った光透過率分布を有する。第１
及び第２のマスク１２及び１３の後方には第１の及び第
２の光増倍管１６及び１７がそれぞれ配置されている。
されて、第１及び第２のマスク１２及び１３上に出力像
に従った像が形成される。第１のマスク１２は、２次元
コンボリューション関数の正の部分に従った光透過率分
布を有する。第２のマスクは、２次元コンボリュ−ショ
ン関数の負の部分に従った光透過率分布を有する。第１
及び第２のマスク１２及び１３の後方には第１の及び第
２の光増倍管１６及び１７がそれぞれ配置されている。
第１及び第２の光増倍管１６及び１７は、それぞれ第１
及び第２のマスク１２及び１３を透過した全ての光の強
度の合計に応じた出力電気信号を出す。第１及び第２の
光増倍管１６及び１７の出力電気信号は、差動増幅器１
８のプラス入力端子及びマイナス入力端子に加えられる
。
及び第２のマスク１２及び１３を透過した全ての光の強
度の合計に応じた出力電気信号を出す。第１及び第２の
光増倍管１６及び１７の出力電気信号は、差動増幅器１
８のプラス入力端子及びマイナス入力端子に加えられる
。
差動増幅器１８の出力電気信号は、コンボリュート処理
された信号である。仮に、輝度増幅器１１の出力スクリ
ーンに、ぼけた断層像がその中央にある場合、差動増幅
器１８の出力電気信号は、鮮明な断層像の中央点の輝度
に対応する。
された信号である。仮に、輝度増幅器１１の出力スクリ
ーンに、ぼけた断層像がその中央にある場合、差動増幅
器１８の出力電気信号は、鮮明な断層像の中央点の輝度
に対応する。
輝度増幅器１１の出力像として、ぼけた断層像がその右
上にある場合、差動増幅器１８の出力電気信号は、鮮明
な断層像の右上点の輝度に対応する。従って、輝度増幅
器１１の偏向コィルー川こ適切な制御電流を流して、例
えば、輝度増幅器１１の出力スクリーンにて、ぼけた像
を右上から左上へ、そして順次下方へ移動せしめ「右下
から左下へ移動せしめれば、鮮明な断層像のための電気
信号を生成することができる。＜Ｗ＞上記の通りの差動
増幅器１８の出力電気信号に従って、鮮明な断層像がモ
ニタ−２０１こ生成される。
上にある場合、差動増幅器１８の出力電気信号は、鮮明
な断層像の右上点の輝度に対応する。従って、輝度増幅
器１１の偏向コィルー川こ適切な制御電流を流して、例
えば、輝度増幅器１１の出力スクリーンにて、ぼけた像
を右上から左上へ、そして順次下方へ移動せしめ「右下
から左下へ移動せしめれば、鮮明な断層像のための電気
信号を生成することができる。＜Ｗ＞上記の通りの差動
増幅器１８の出力電気信号に従って、鮮明な断層像がモ
ニタ−２０１こ生成される。
次に、第２の具体例を、第３図Ｂ及び第５図を参照して
説明する。
説明する。
第３図Ｂは、第２の具体例に従う断層撮影装置のデータ
処理過程を示す。
処理過程を示す。
Ｐ（の）は、多数の照射角度位置における一次元投射デ
ータを得る過程を示す。
ータを得る過程を示す。
のは照射角度である。Ｃ，は、この一次元投射データを
表わす信号を一次元コンボリューション処理する過程を
示す。
表わす信号を一次元コンボリューション処理する過程を
示す。
Ｓｂは、コンボリューション処理された一次元投射デー
タを引き延ばした二次元データを得る過程を示す。Ｓ（
の）は、この二次元データを多数をその照射角度を考慮
して重ね合わせる過程を示す。
タを引き延ばした二次元データを得る過程を示す。Ｓ（
の）は、この二次元データを多数をその照射角度を考慮
して重ね合わせる過程を示す。
Ｗは、重ね合わせる過程によって得られた信号に基づき
、鮮明な断層像を表示する過程を示す。上記の通り、こ
の第２の具体例に従う断層撮影装置によると、一次元投
射データが、適当な一次元関数Ｆ，（ｘ）とたたみ込ま
れる、即ち、一次大コンボリューション処理される。こ
のようにして、コンボリューション処理された一次元投
射データが、逆投影されて鮮明な断層像が生成される。
この一次元関数Ｆ，（ｘ）は、上記した２次元関数Ｆ２
（ｘ、ｙ）と同様に決定できる。
、鮮明な断層像を表示する過程を示す。上記の通り、こ
の第２の具体例に従う断層撮影装置によると、一次元投
射データが、適当な一次元関数Ｆ，（ｘ）とたたみ込ま
れる、即ち、一次大コンボリューション処理される。こ
のようにして、コンボリューション処理された一次元投
射データが、逆投影されて鮮明な断層像が生成される。
この一次元関数Ｆ，（ｘ）は、上記した２次元関数Ｆ２
（ｘ、ｙ）と同様に決定できる。
第５図に、上記の通りの処理を行なう第２の具体例に従
う断層撮影装置を示す。
う断層撮影装置を示す。
＜Ｐ（の）〉
上記した第１の具体例に従う断層撮影装置と同様に、種
々の照射角度における一次元投影データを含む電気信号
が生成され、これが対数化される。
々の照射角度における一次元投影データを含む電気信号
が生成され、これが対数化される。
＜Ｃ，＞
対数化増幅器Ｌの出力電気信号が陰極線管９に加えられ
る。
る。
対数化された対数化増幅器Ｌの出力電気信号に従って、
陰極線管９の出力スクリーンに一次元光学像が生成され
る。もちろん実際上、この一次元光学像は長手方向の長
さと、これと垂直な方向の比較的４・ミな厚さとを有す
る光学像である。この光学像が、輝度が強化されて、輝
度増幅器１１の出力スクリーンにて、偏向コイル１０に
よって、その長手方向に移動せしめられる。全体として
長手方向に移動せしめられる、一次元光学像に応じた輝
度が強化された像を含む輝度増幅器１１の出力像が、レ
ンズ１５を介してビームスプリツタ１４に送られる。こ
のビームスプリッタ１４によって光学的に２つに分離さ
れて、第１及び第２のマスク１２及び１３上に出力像に
従った像が形成される。第１のマスク１２は、一次允コ
ンボリューション関数の正の部分に従った光透過率分布
を有する。第２のマスクは、一次元コンボリューション
関数の負の部分に従った光透過率分布を有する。第１及
び第２のマスク１２及び１３の後方には第１の及び第２
の光増倍管１６及び１７がそれぞれ配置されている。
陰極線管９の出力スクリーンに一次元光学像が生成され
る。もちろん実際上、この一次元光学像は長手方向の長
さと、これと垂直な方向の比較的４・ミな厚さとを有す
る光学像である。この光学像が、輝度が強化されて、輝
度増幅器１１の出力スクリーンにて、偏向コイル１０に
よって、その長手方向に移動せしめられる。全体として
長手方向に移動せしめられる、一次元光学像に応じた輝
度が強化された像を含む輝度増幅器１１の出力像が、レ
ンズ１５を介してビームスプリツタ１４に送られる。こ
のビームスプリッタ１４によって光学的に２つに分離さ
れて、第１及び第２のマスク１２及び１３上に出力像に
従った像が形成される。第１のマスク１２は、一次允コ
ンボリューション関数の正の部分に従った光透過率分布
を有する。第２のマスクは、一次元コンボリューション
関数の負の部分に従った光透過率分布を有する。第１及
び第２のマスク１２及び１３の後方には第１の及び第２
の光増倍管１６及び１７がそれぞれ配置されている。
第１及び第２の光増倍管１６及び１７は、それぞれ第１
及び第２のマスク１２及び１３を透過した全ての光の強
度の合計に応じた出力電気信号を出す。第１及び第２の
光増倍管１６及び１７の出力電気信号は、差動増幅器１
８のプラス入力端子及びマイナス入力端子に加えられる
。
及び第２のマスク１２及び１３を透過した全ての光の強
度の合計に応じた出力電気信号を出す。第１及び第２の
光増倍管１６及び１７の出力電気信号は、差動増幅器１
８のプラス入力端子及びマイナス入力端子に加えられる
。
差動増幅器１８の出力電気信号は、コンボリュート処理
された−次元投影データに従った信号である。＜Ｓｂ、
Ｓ（の）＞ 上記の通りコンボリュ−ト処理された一次元投射デー外
こ従った信号である差動増幅器１８の電気信号が、走査
コンバータ１９に加えられる。
された−次元投影データに従った信号である。＜Ｓｂ、
Ｓ（の）＞ 上記の通りコンボリュ−ト処理された一次元投射デー外
こ従った信号である差動増幅器１８の電気信号が、走査
コンバータ１９に加えられる。
走査コンバータ１９において、コンボリュート処理され
た一次元投射データが引き延ばされ、これによって生じ
た二次元データが照射角度を考慮して、ターゲットにて
電荷で重ね合わされる。しかる後に、ターゲットを走査
することにより、鮮明な断層像を表わす電気信号が得ら
れる。前記した如く、二次元データは一次元投射データ
に従った多数の線からなるとみなすことができ、この線
の各々の値はその長さ方向で変化しない。
た一次元投射データが引き延ばされ、これによって生じ
た二次元データが照射角度を考慮して、ターゲットにて
電荷で重ね合わされる。しかる後に、ターゲットを走査
することにより、鮮明な断層像を表わす電気信号が得ら
れる。前記した如く、二次元データは一次元投射データ
に従った多数の線からなるとみなすことができ、この線
の各々の値はその長さ方向で変化しない。
即ち、一次元役射デ−夕の一点が二次元データとしてタ
ーゲット上に一線として描かれる。このため、必要なら
ば、走査コンバータの夕−ゲット上の二次元像の一本の
線を生成するのに必要な時間、走査コンバータ１９の入
力信号を一定の値に保持するための保持回路日を、差動
増幅器１８と走査コンバータ１９の間に配置することが
できる。他方、第１の具体例の如く、コンボリューショ
ン処理された一次元投射データの電気信号に基づき、走
査コンバータ１９自体が引き延ばされた二次元データを
生成するようにも構成できる。＜Ｗ＞走査コンバータ１
９の出力電気信号に従って、鮮明な像がモニター２０‘
こ生成される。
ーゲット上に一線として描かれる。このため、必要なら
ば、走査コンバータの夕−ゲット上の二次元像の一本の
線を生成するのに必要な時間、走査コンバータ１９の入
力信号を一定の値に保持するための保持回路日を、差動
増幅器１８と走査コンバータ１９の間に配置することが
できる。他方、第１の具体例の如く、コンボリューショ
ン処理された一次元投射データの電気信号に基づき、走
査コンバータ１９自体が引き延ばされた二次元データを
生成するようにも構成できる。＜Ｗ＞走査コンバータ１
９の出力電気信号に従って、鮮明な像がモニター２０‘
こ生成される。
陰極線管のスクリーン上に一次元投射データを描く操作
はコンボリューション処理と実質上同時に行われるので
、断層像の形成は迅速に行なわれる。
はコンボリューション処理と実質上同時に行われるので
、断層像の形成は迅速に行なわれる。
このため検討すべき被写体の１回の回転の間に多数の重
ね合わされた断面の断層像を形成することができる。こ
の場合には、１つの断層像を形成するために１つの走査
コンバータを必要こする。更に、必要とする任意の数の
モニタ−を使用し、あるいはただ１つのモニターを使用
して必要な時にそれを必要な走査コンバータに接続する
ことができる。また、コンボリユーション処理された一
次元データを記憶するために、保持回路日と走査コンバ
ータ１９との間に言己億装置２１、例えばビデオレコー
ダを接続することも可能である。その場合には、形成さ
れる断層像ごとに適切な時間間隔で記憶装置から必要な
デ−夕を読み出して、逆投影によって走査コンバータの
ターゲット上に変換することができる。
ね合わされた断面の断層像を形成することができる。こ
の場合には、１つの断層像を形成するために１つの走査
コンバータを必要こする。更に、必要とする任意の数の
モニタ−を使用し、あるいはただ１つのモニターを使用
して必要な時にそれを必要な走査コンバータに接続する
ことができる。また、コンボリユーション処理された一
次元データを記憶するために、保持回路日と走査コンバ
ータ１９との間に言己億装置２１、例えばビデオレコー
ダを接続することも可能である。その場合には、形成さ
れる断層像ごとに適切な時間間隔で記憶装置から必要な
デ−夕を読み出して、逆投影によって走査コンバータの
ターゲット上に変換することができる。
第１図及び第２図は、断層像を再構成する原理の説明図
。 第３図は、本発明の第１及び第２の具体例に従う断層撮
影装置のデータ処理過程を示す図。第４図は、本発明の
第１の具体例に従う断層撮影装置の簡略図。第５図は、
本発明の第２の具体例に従う断層撮影装置の簡略図。１
・・・・・・被写体、２・・・・・・Ｘ線ビーム、４・
・・・・・Ｘ線テレビジョン装置、６・・・・・・走査
コンバータ、７・・・・・・偏向コイル、９・・・・・
・陰極線管、１１・・・・・・輝度増幅器、１２及び１
３・・・・・・マスク、１４・・・・・・ビームスプリ
ッタ、１６及び１７・・・・・・光増倍管、１８・・・
・・・差動増幅器、２０・・・・・・モニター、２６・
・・・・・Ｘ線源。ＦＩＧ．ｌ ＦＩＧ．２ ＦＩＧ．３ ＦＩＧ．４ ＦＩＧ．５
。 第３図は、本発明の第１及び第２の具体例に従う断層撮
影装置のデータ処理過程を示す図。第４図は、本発明の
第１の具体例に従う断層撮影装置の簡略図。第５図は、
本発明の第２の具体例に従う断層撮影装置の簡略図。１
・・・・・・被写体、２・・・・・・Ｘ線ビーム、４・
・・・・・Ｘ線テレビジョン装置、６・・・・・・走査
コンバータ、７・・・・・・偏向コイル、９・・・・・
・陰極線管、１１・・・・・・輝度増幅器、１２及び１
３・・・・・・マスク、１４・・・・・・ビームスプリ
ッタ、１６及び１７・・・・・・光増倍管、１８・・・
・・・差動増幅器、２０・・・・・・モニター、２６・
・・・・・Ｘ線源。ＦＩＧ．ｌ ＦＩＧ．２ ＦＩＧ．３ ＦＩＧ．４ ＦＩＧ．５
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被写体にＸ線を照射するＸ線源、 Ｘ線が照射された被写体の断面のＸ線吸収に従つた一
次元撮影データを検出するＸ線テレビ装置４、 被写体
を該Ｘ線源及び該Ｘ線テレビ装置４に対して相対的に回
転せしめる回転装置、 該Ｘ線テレビ装置に接続され、
一次元投影データを逆投影する偏向コイル７及びターゲ
ツト５を備えた走査コンバータ６、 該走査コンバータ
６に接続され、上記逆投影することによつて形成された
二次元データに従つた光学像を生成する持続性スクリー
ンを備えた陰極線管９、 該陰極線管９に接続され、該
持続性スクリーンに生成された光学像を受け取り、該光
学像に応じた像を出力にて全体として移動せしめるため
の偏向コイル１０を含む輝度増幅器１１と、該輝度増幅
器１１の出力像を光学的に分離するためのスプリツタ１
４と、該スプリツタ１４によつて分けられた光学像の一
方を通すように配置され、コンボリユーシヨン関数の正
の部分に従つた光透過率分布を有する第１のマスク１２
と、該スプリツタ１４によつて分けられた光学像のもう
一方を通すように配置され、コンボリユーシヨン関数の
負の部分に従つた光透過率分布を有する第２のマスク１
３と、該第１のマスク１２に光学的に接続された第１の
光電子増倍管１６と、該第２のマスク１３に光学的に接
続された第２の光電子増倍管１７と、該第１の光電子増
倍管１６及び該第２の光電子増倍管１７に接続された差
動増幅器１８とを備えたコンボリユーシヨン装置、及び
該コンボリユーシヨン装置に接続され、該コンボリユ
ーシヨン装置の出力信号に従つて断層像を表示する表示
装置２０を具備することを特徴とする断層撮影装置。 ２ 被写体にＸ線を照射するＸ線源、 Ｘ線が照射された被写体の断面のＸ線吸収に従つた一
次元投影データを検出するＸ線テレビ装置４、 被写体
を該Ｘ線源及び該Ｘ線テレビ装置４に対して相対的に回
転する回転装置、 該Ｘ線テレビ装置４に接続され、該
一次元投影データに従つた一次元光学像を生成する持続
性スクリーンを備えた陰極線管９、 該陰極線管９に接
続され、該持続性スクリーンに生成された光学像受け取
り、該光学像に応じた像を出力にて全体として移動せし
めるための偏向コイル１０を含む輝度増幅器１１と、該
輝度増幅器１１の出力像を光学的に分離するためのスプ
リツタ１４と、該スプリツタによつて分離された光学像
の一方を通すように配置され、コンボリユーシヨン関数
の正の部分に従つた光透過率分布を有する第１のマスク
１２と、該スプリツタ１４によつて分けられた光学像を
もう一方を通すように配置され、コンボリユーシヨン関
数の負の部分に従つた光透過率分布を有する第２のマス
ク１３と、該第１のマスク１２に光学的に接続された第
１の光電子増倍管１６と、該第２のマスク１３に光学的
に接続された第２の光電子増倍管１７と、該第１の光電
子増倍管１６及び該第２の光電子増倍管１７に接続され
た差動増幅器１８とを備えたコンボリユーシヨン装置、 該コンボリユーシヨン装置に接続され、該コンボリユ
ーシヨン装置によつてコンボリユーシヨン処理された一
次元投影データを逆投影する偏向コイル及びターゲツト
を備えた走査コンバータ１９、及び 該走査コンバータ
１９に接続され、該走査コンバータ１９の出力信号に従
つて断層像を表示する表示装置２０を具備することを特
徴とする断層撮影装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL7605254 | 1976-05-17 | ||
| NL7605254A NL7605254A (nl) | 1976-05-17 | 1976-05-17 | Beeldconstructie. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52140286A JPS52140286A (en) | 1977-11-22 |
| JPS6016245B2 true JPS6016245B2 (ja) | 1985-04-24 |
Family
ID=19826211
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52056043A Expired JPS6016245B2 (ja) | 1976-05-17 | 1977-05-17 | 断層撮影装置 |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4173720A (ja) |
| JP (1) | JPS6016245B2 (ja) |
| CA (1) | CA1109971A (ja) |
| CH (1) | CH631264A5 (ja) |
| DE (1) | DE2720994C2 (ja) |
| FR (1) | FR2397682B1 (ja) |
| GB (1) | GB1568158A (ja) |
| IL (1) | IL52082A (ja) |
| IT (1) | IT1083102B (ja) |
| NL (1) | NL7605254A (ja) |
| SE (1) | SE424044B (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7609963A (nl) | 1976-09-08 | 1978-03-10 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Signaalverwerkend stelsel. |
| NL7611419A (nl) | 1976-10-15 | 1978-04-18 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting voor het uitlezen en verwerken van in- formatie vervat in beeldkaders, zoals gevormd door het achtereenvolgens vanuit meerdere rich- tingen met een in hoofdzaak platte bundel van kortgolvige straling, doorstralen van een object. |
| JPS54130891A (en) * | 1978-04-03 | 1979-10-11 | Agency Of Ind Science & Technol | Tomograph using analogue picture memory |
| NL7804881A (nl) * | 1978-05-05 | 1979-11-07 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Werkwijze en inrichting voor het elektro-optisch convo- lueren van een eendimensionaal signaal. |
| EP0047780A1 (en) * | 1980-03-21 | 1982-03-24 | University Patents, Inc. | Transverse tomography with optical filtering |
| FR2496934A1 (fr) * | 1980-12-18 | 1982-06-25 | Thomson Csf | Appareil de tomographie axiale transverse a calculateur analogique |
| JPS57161852A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-05 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Image reconstituting device |
| NL8102872A (nl) * | 1981-06-15 | 1983-01-03 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Werkwijze en inrichting voor het vormen van tomografiebeelden. |
| US4635197A (en) * | 1983-12-29 | 1987-01-06 | Shell Oil Company | High resolution tomographic imaging method |
| DE3422144A1 (de) * | 1984-06-14 | 1985-12-19 | Josef Prof. Dr. 6900 Heidelberg Bille | Geraet zur darstellung flaechenhafter bereiche des menschlichen auges |
| US4750148A (en) * | 1986-06-03 | 1988-06-07 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Optical Gaussian convolvers |
| US6584338B1 (en) * | 1999-03-30 | 2003-06-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Deriving time-averaged moments |
| US6224284B1 (en) | 1999-10-12 | 2001-05-01 | Dri Mark Products Incorporated | Metallic ink composition for wick type writing instruments |
| JP4508789B2 (ja) * | 2004-09-07 | 2010-07-21 | キヤノン株式会社 | Ｘ線撮影装置 |
| JP2008073208A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 画像処理装置及び画像処理方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE693374C (de) * | 1938-06-27 | 1940-07-12 | C H F Mueller Akt Ges | Verfahren zur Herstellung von Koerperschnittbildern mittels Roentgenstrahlen |
| DE2017441A1 (de) * | 1970-04-11 | 1971-10-28 | Siemens Ag | Einrichtung zur Anfertigung von röntgenologischen Körper-Querschnittsaufnahmen |
| DE2318656C3 (de) * | 1973-04-13 | 1981-01-29 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Röntgen-Schichtaufnahmegerät mit einer Videosignale liefernden Bildaufnahmevorrichtung, mit einer Bildspeichervorrichtung und einer Bildspeicherröhre |
| GB1526764A (en) * | 1974-11-29 | 1978-09-27 | Univ Leland Stanford Junior | Position sensitive x-ray or ypsilon-ray detector and 3-d tomography using same |
| US4023036A (en) * | 1975-06-16 | 1977-05-10 | University Patents, Inc. | Apparatus and method for transverse tomography |
-
1976
- 1976-05-17 NL NL7605254A patent/NL7605254A/xx not_active Application Discontinuation
-
1977
- 1977-05-09 US US05/795,238 patent/US4173720A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-05-10 GB GB19560/77A patent/GB1568158A/en not_active Expired
- 1977-05-10 DE DE2720994A patent/DE2720994C2/de not_active Expired
- 1977-05-10 CH CH581777A patent/CH631264A5/de not_active IP Right Cessation
- 1977-05-12 CA CA278,270A patent/CA1109971A/en not_active Expired
- 1977-05-13 IL IL52082A patent/IL52082A/xx unknown
- 1977-05-16 SE SE7705728-9A patent/SE424044B/xx not_active IP Right Cessation
- 1977-05-16 IT IT68110/77A patent/IT1083102B/it active
- 1977-05-17 FR FR7715060A patent/FR2397682B1/fr not_active Expired
- 1977-05-17 JP JP52056043A patent/JPS6016245B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SE7705728L (sv) | 1977-11-18 |
| US4173720A (en) | 1979-11-06 |
| FR2397682B1 (fr) | 1986-08-01 |
| CA1109971A (en) | 1981-09-29 |
| CH631264A5 (de) | 1982-07-30 |
| GB1568158A (en) | 1980-05-29 |
| IL52082A0 (en) | 1977-07-31 |
| NL7605254A (nl) | 1977-11-21 |
| JPS52140286A (en) | 1977-11-22 |
| IT1083102B (it) | 1985-05-21 |
| IL52082A (en) | 1979-11-30 |
| SE424044B (sv) | 1982-06-28 |
| DE2720994C2 (de) | 1983-10-20 |
| DE2720994A1 (de) | 1977-12-01 |
| FR2397682A1 (fr) | 1979-02-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4516252A (en) | Device for imaging layers of a body | |
| JPS6016245B2 (ja) | 断層撮影装置 | |
| JP3327948B2 (ja) | 光学像再構成装置 | |
| JPH05324801A (ja) | 円及び線軌道を組み合わせて用いた円錐ビーム再構成 | |
| JPH02237277A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP3583554B2 (ja) | コーンビームｘ線断層撮影装置 | |
| US4494838A (en) | Retinal information mapping system | |
| JPH0377619B2 (ja) | ||
| JPS5932852A (ja) | 非破壊検査法及びダイアフアノスコピイ装置 | |
| JP2002263092A (ja) | 断層撮影装置 | |
| JPH09282443A (ja) | Ｘ線荷物検査装置 | |
| Chang et al. | A method of tomographic imaging using a multiple pinhole coded aperture | |
| JP2003052680A (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JP3484283B2 (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| Meyer-Ebrecht et al. | Tomosynthesis-3-D X-ray imaging by means of holography or electronics | |
| JPS628740A (ja) | 断層検査装置 | |
| JP2000321219A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JPS6346136A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| CN117562562A (zh) | 一种基于x射线光场去除散射线的方法及x光成像系统 | |
| Geluk | The Image Intensifier as a Convolution Processing Device | |
| JPS584533A (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JPH01305929A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JPH04207366A (ja) | Ｘ線透視撮影装置 | |
| GB1481785A (en) | Radiography | |
| JPH06233193A (ja) | Ｘ線透視検査装置 |