JPS60159637A - 欠陥検出方法および装置 - Google Patents
欠陥検出方法および装置Info
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- JPS60159637A JPS60159637A JP59015870A JP1587084A JPS60159637A JP S60159637 A JPS60159637 A JP S60159637A JP 59015870 A JP59015870 A JP 59015870A JP 1587084 A JP1587084 A JP 1587084A JP S60159637 A JPS60159637 A JP S60159637A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は欠陥検出方法および装置に関し、特に例えば飲
料用ガラス壜の口部の如く、被検査部の表面が、略回転
面ｔなす場合に適した欠陥検出方法および装置に関する
。
料用ガラス壜の口部の如く、被検査部の表面が、略回転
面ｔなす場合に適した欠陥検出方法および装置に関する
。
〔発明の技術的背景および背景技術の問題点〕酒類、清
涼飲料１食品等を充填するガラス壜の口部にできる口火
げ、ビリ、割れ、打ち傷等の欠陥は壜の密閉を不完全な
ものとし、また食品衛生上の問題を起こす原因となって
いる。従って、これを検出し、欠陥ン有する壜を排除す
る必要がある。また１口部以外の箇所１例えば底部にで
きる欠陥についても１食品衛生上の理由等により、これ
を検出し、壜を排除する必要がある。このような必要が
あるのは１缶等におい【も同様である。
涼飲料１食品等を充填するガラス壜の口部にできる口火
げ、ビリ、割れ、打ち傷等の欠陥は壜の密閉を不完全な
ものとし、また食品衛生上の問題を起こす原因となって
いる。従って、これを検出し、欠陥ン有する壜を排除す
る必要がある。また１口部以外の箇所１例えば底部にで
きる欠陥についても１食品衛生上の理由等により、これ
を検出し、壜を排除する必要がある。このような必要が
あるのは１缶等におい【も同様である。
壜や缶の欠陥な検出する技術は、従来から種々提案され
ているが、それぞれ機械的構造が複雑である。検査精度
が低い、検査速度が低い等の欠点を有していた、 そごで１本出顧人により特願昭５６−１１８６０７号（
特開昭５８−５８０２０号）で１区分法と称する検出方
法が提案された。この方法１によれば、径方向に延びた
線によって区分し、この区分内のＩＩ！１ｉ素の明るさ
ン示す値の累算値同士が比較され、その差に基いて欠陥
の有無が判定される。この方法によれば、被検査体も、
受光部材も回転させる必要がなく、検量精度、検査速度
がそれ以前の方法に比べて晶い検査が可能になった。し
かし、欠陥の形状や位１Ｒｔｃ、ｃつては画素の信号の
値に及ぼす欠陥の影響が複数の区分に分数するため、欠
陥の検出が困離である場合があった、 〔発明の目的〕 本発明の目的は、検出精度が−１−高い欠陥検出方法お
よび装置を提供することにある。
ているが、それぞれ機械的構造が複雑である。検査精度
が低い、検査速度が低い等の欠点を有していた、 そごで１本出顧人により特願昭５６−１１８６０７号（
特開昭５８−５８０２０号）で１区分法と称する検出方
法が提案された。この方法１によれば、径方向に延びた
線によって区分し、この区分内のＩＩ！１ｉ素の明るさ
ン示す値の累算値同士が比較され、その差に基いて欠陥
の有無が判定される。この方法によれば、被検査体も、
受光部材も回転させる必要がなく、検量精度、検査速度
がそれ以前の方法に比べて晶い検査が可能になった。し
かし、欠陥の形状や位１Ｒｔｃ、ｃつては画素の信号の
値に及ぼす欠陥の影響が複数の区分に分数するため、欠
陥の検出が困離である場合があった、 〔発明の目的〕 本発明の目的は、検出精度が−１−高い欠陥検出方法お
よび装置を提供することにある。
ｔ＄１図は１本発明に係る欠陥検出装置の一実施例の全
体的構成ン示す図である。
体的構成ン示す図である。
この実施例の欠陥検出装置は壜の口部の欠陥の検出ン行
なうためのものである。被検査部１は。
なうためのものである。被検査部１は。
図示しないコンベア等により搬送されて検査位置（図示
の位置）に来ると１口部１ａが環状の発光部分２ａｉ有
する照明装置２により照明される。
の位置）に来ると１口部１ａが環状の発光部分２ａｉ有
する照明装置２により照明される。
照明装置２は第１図に示すように、検査位置にある壜１
の上方に位ｆａｉするように設けられ、また照明装置２
の中央部には壜口部からの反射光を照明装置２の上方に
抜けさせるための貫通孔３が設けられている。照明装置
２の上方には二次元光電変換装置１例えばＣＣＵカメラ
４が貫通孔３を通り抜けた壜口部からの光を受けるよう
に、即ち口部の画像をレンズ４ａＹ通してＣｃＤ受光面
に結像させるように設けられているＣＯＤカメラ４は１
例えば光電変！Ｊ８菓子７２００行２００列のマトリッ
クス状に配列して成るもので、これにより被検査部口部
のそれぞれの部分の明るさに対応する画素信号が得られ
る、 照明装置２０部分は壜の口部１ａと略同軸的となるよう
配置されており、該口部１ａＹ斜め外方から均一に照明
するようになっている。このよ５に照明を行なうと１口
部１ｍの表面が。
の上方に位ｆａｉするように設けられ、また照明装置２
の中央部には壜口部からの反射光を照明装置２の上方に
抜けさせるための貫通孔３が設けられている。照明装置
２の上方には二次元光電変換装置１例えばＣＣＵカメラ
４が貫通孔３を通り抜けた壜口部からの光を受けるよう
に、即ち口部の画像をレンズ４ａＹ通してＣｃＤ受光面
に結像させるように設けられているＣＯＤカメラ４は１
例えば光電変！Ｊ８菓子７２００行２００列のマトリッ
クス状に配列して成るもので、これにより被検査部口部
のそれぞれの部分の明るさに対応する画素信号が得られ
る、 照明装置２０部分は壜の口部１ａと略同軸的となるよう
配置されており、該口部１ａＹ斜め外方から均一に照明
するようになっている。このよ５に照明を行なうと１口
部１ｍの表面が。
欠陥がない場合略回転面（壜の軸を回転中心軸とする）
をなす形状であるため、ＣＯＤカメラ４で得られる光学
像は、壜の軸に対応する環状の形状を持つ。光学像の分
解能、形状、コントラスト等は照明装置２０発光部分２
ａの高さおよび径、従って壜口部１ａへの照明光の角度
、ならびにその性質即ち指向性が強い光な発するものか
。
をなす形状であるため、ＣＯＤカメラ４で得られる光学
像は、壜の軸に対応する環状の形状を持つ。光学像の分
解能、形状、コントラスト等は照明装置２０発光部分２
ａの高さおよび径、従って壜口部１ａへの照明光の角度
、ならびにその性質即ち指向性が強い光な発するものか
。
または拡散光を発するものか等によって異なる。
従って、壜口部１ａの形状、一般的に言えば被検査部の
形状に応じて最適の照明をなす必要がある。
形状に応じて最適の照明をなす必要がある。
第２図は、照明装置２の一例な縦断面にして詳細に示す
ものである。同図の照明装置２は１図示のように内円筒
部材２ｂ、外円筒部材２ｃ、内円筒部材２ｂと外円筒部
材２ｃとを結合する環状の上板２ｄ、内円筒部材２ｂの
下端に連結された内側糧い２ｅ、外円筒部材２ｃの下端
に連結された外側覆い２ｆ、および環状の上板２ｄの円
周方向に等１…隔に配置され、それぞれソケット２ｈに
より上板２ｄに保持された複数個例えば６個のハロゲン
電球２ｇとｔ備えている。外円筒部材２ｃの内面および
内円筒部材２ｂの外面（ハロゲン電球２ｇに面する）は
反射率は良好で、しかも適度な粗さケ有する拡散面であ
る。内円筒部材２ｂは。
ものである。同図の照明装置２は１図示のように内円筒
部材２ｂ、外円筒部材２ｃ、内円筒部材２ｂと外円筒部
材２ｃとを結合する環状の上板２ｄ、内円筒部材２ｂの
下端に連結された内側糧い２ｅ、外円筒部材２ｃの下端
に連結された外側覆い２ｆ、および環状の上板２ｄの円
周方向に等１…隔に配置され、それぞれソケット２ｈに
より上板２ｄに保持された複数個例えば６個のハロゲン
電球２ｇとｔ備えている。外円筒部材２ｃの内面および
内円筒部材２ｂの外面（ハロゲン電球２ｇに面する）は
反射率は良好で、しかも適度な粗さケ有する拡散面であ
る。内円筒部材２ｂは。
外円筒部材２ｃに対して、上下動可能で、その上下動に
、より内側覆い２ｅと外側覆い２ｆとの間の開口２ａの
幅を調節し得るようになっている。この開口２ａは、照
明光７発する発光部分を構成するもので、開口２ａの幅
の変化によって照明光の指向性を変えられる。照明装置
２また。その全体が上下動可能になっており、その上下
動に−り。
、より内側覆い２ｅと外側覆い２ｆとの間の開口２ａの
幅を調節し得るようになっている。この開口２ａは、照
明光７発する発光部分を構成するもので、開口２ａの幅
の変化によって照明光の指向性を変えられる。照明装置
２また。その全体が上下動可能になっており、その上下
動に−り。
発光部２ａから壜口部１ａに達する照明光の角度（壜の
軸に対する）を変えられるよ゛うになっている。
軸に対する）を変えられるよ゛うになっている。
このような照明装置２にエリ、壜口部１８を照明したと
きに、ＣＯＤカメラ４に得られる光学像の例を第３図（
ａ）および（ｂ）に示す。同図では、明るい部分χ塗り
つぶして示す。また、−口部の内縁１ｃおよび外縁１ｄ
は鎖線で示す。同図（ａ）は、欠陥のない壜口部１ａの
光学像を示し、同図（ｂ）は欠陥のある壜口部１ａの例
の光学像ビ示１−、、欠陥がない壜の場合１図示のよう
に、明るい部分が２重の環を形成するのは次の理由によ
る。即ち壜口部１＠はその身部が丸みをおびた回転面で
構成されている。従って、第４図（ａ）Ｋ示すように、
環状の発光部２ａからの光が反射（正反射）してカメラ
４に回けられる光の強さが大きくなるのは、内縁ＩＣの
近傍１ｅと、外縁１ｄの近傍１ｆとである。
きに、ＣＯＤカメラ４に得られる光学像の例を第３図（
ａ）および（ｂ）に示す。同図では、明るい部分χ塗り
つぶして示す。また、−口部の内縁１ｃおよび外縁１ｄ
は鎖線で示す。同図（ａ）は、欠陥のない壜口部１ａの
光学像を示し、同図（ｂ）は欠陥のある壜口部１ａの例
の光学像ビ示１−、、欠陥がない壜の場合１図示のよう
に、明るい部分が２重の環を形成するのは次の理由によ
る。即ち壜口部１＠はその身部が丸みをおびた回転面で
構成されている。従って、第４図（ａ）Ｋ示すように、
環状の発光部２ａからの光が反射（正反射）してカメラ
４に回けられる光の強さが大きくなるのは、内縁ＩＣの
近傍１ｅと、外縁１ｄの近傍１ｆとである。
第４図（ｂ）に示すように１口部１ａの外縁１ｄの近傍
に欠陥例えば口欠けＩＸがあると、光学像Ｃの、その部
分に対応する位置にＩＸａ図（ｂ）に示すように暗くな
る部分ができる反射光がカメラ４とは異なる方向に向け
られるからである。また１口部１ａの内縁１ｃと外縁１
ｄの中間の位置（本来反射光がカメラ４に向けられない
部分）に欠陥例えば口欠け１ｙがあると、光学像のその
部分に対応する位置に、明るい部分ができる。これはそ
の部分の反射光の中にカメラ４に向けられるものが多く
なるためである。
に欠陥例えば口欠けＩＸがあると、光学像Ｃの、その部
分に対応する位置にＩＸａ図（ｂ）に示すように暗くな
る部分ができる反射光がカメラ４とは異なる方向に向け
られるからである。また１口部１ａの内縁１ｃと外縁１
ｄの中間の位置（本来反射光がカメラ４に向けられない
部分）に欠陥例えば口欠け１ｙがあると、光学像のその
部分に対応する位置に、明るい部分ができる。これはそ
の部分の反射光の中にカメラ４に向けられるものが多く
なるためである。
尚、第３図では明るい部分と暗い部分というよ５に２つ
に分けて示しであるが、これは図示の簡略化のためであ
って、実際には明るさの程度は連続的に変化する。
に分けて示しであるが、これは図示の簡略化のためであ
って、実際には明るさの程度は連続的に変化する。
第３図（＆）（ｂ）のような光学像な表わす信号は、デ
ータ処理装置５で処理され、これにより欠陥の有無の判
定がなされ、欠陥が有ると判定されたときは、排除装置
６により壜が排除される。
ータ処理装置５で処理され、これにより欠陥の有無の判
定がなされ、欠陥が有ると判定されたときは、排除装置
６により壜が排除される。
以下、第５図を参照して、データ処理部５について詳し
く説明する。カメラ４で得られた光学像の画素は順次走
査されて画素信号（画素の明るさを示す）が順次取り出
され、増幅器７により増幅されＡ／Ｄ変換器８によりデ
ィジタル信号に変換された後、データメモリ９の対応す
るアドレスに記憶される。画素の走査は１例えばラスタ
スキャンにより行なわれる。
く説明する。カメラ４で得られた光学像の画素は順次走
査されて画素信号（画素の明るさを示す）が順次取り出
され、増幅器７により増幅されＡ／Ｄ変換器８によりデ
ィジタル信号に変換された後、データメモリ９の対応す
るアドレスに記憶される。画素の走査は１例えばラスタ
スキャンにより行なわれる。
アドレス回路１１は、データメモリ９からのデータの読
み出し中に続出しアドレスをデータメモリ９に与え、デ
ータを読み出し判定回路に与える。
み出し中に続出しアドレスをデータメモリ９に与え、デ
ータを読み出し判定回路に与える。
ここで、映像の画素は、映像の一部（略四半部）を第６
図に示すように、マトリクス状に配列されているものと
する。、各画素の明るさを示ｆ信号は。
図に示すように、マトリクス状に配列されているものと
する。、各画素の明るさを示ｆ信号は。
Ａ／Ｄ変換器８で６４値に瞳子化され６ビツトのディジ
タル信号となる。その値は０のとき最も暗く。
タル信号となる。その値は０のとき最も暗く。
６３のとき最も明るいものとする。各画素の値は。
各画素の位置に関係付けられた。メモリ９のアドレスに
記憶される。
記憶される。
次に、メモリ９に記憶された画素の信号を処理して、欠
陥の有無の判定がなされる。以下その判、定につき説明
する。
陥の有無の判定がなされる。以下その判、定につき説明
する。
まず、中心検出回路１２により、壜１の軸（従って口部
１ａの軸）に対応する映像の中心０（第６図）が検出さ
れる。この検出は次のようにして行なわれる。即ちまず
、所定の水平線（映像の中心０が位置すると予想される
点を通るものであるのが望ましい）に沿って、画素を検
査し、「明るいＪと判定される画素のうちの最も左のも
のと最も右のものとを識別する。次に、これら最も左お
よび最も右の画素の中間の点を通る垂直線に沿って画素
を検査し、「明るい」と判定される画素のうちの最も上
のものと最も下のものと識別する。そして、これら最も
上および最も下の画素の中間の点を中心０とする。尚各
画素が「明るい」かどうかの判定は１画素の信号の値が
所定値以上であるかどうかによってもよく、また、近接
する（隣接下る。または１個または数個の他の画素によ
って隔てられた）他の画素の信号の１直との差分によっ
て（差が所定値以上かどうかによる）もよく、またこれ
らの組合せによってもよい。さらに「明るい」と判定さ
れた画素が１個だけのときは無視し、所定数連続した場
合にのみ、その判定を有効なものとしてもよい。
１ａの軸）に対応する映像の中心０（第６図）が検出さ
れる。この検出は次のようにして行なわれる。即ちまず
、所定の水平線（映像の中心０が位置すると予想される
点を通るものであるのが望ましい）に沿って、画素を検
査し、「明るいＪと判定される画素のうちの最も左のも
のと最も右のものとを識別する。次に、これら最も左お
よび最も右の画素の中間の点を通る垂直線に沿って画素
を検査し、「明るい」と判定される画素のうちの最も上
のものと最も下のものと識別する。そして、これら最も
上および最も下の画素の中間の点を中心０とする。尚各
画素が「明るい」かどうかの判定は１画素の信号の値が
所定値以上であるかどうかによってもよく、また、近接
する（隣接下る。または１個または数個の他の画素によ
って隔てられた）他の画素の信号の１直との差分によっ
て（差が所定値以上かどうかによる）もよく、またこれ
らの組合せによってもよい。さらに「明るい」と判定さ
れた画素が１個だけのときは無視し、所定数連続した場
合にのみ、その判定を有効なものとしてもよい。
次にアドレス回路１１により、映像の中心０を通る径方
向の線（そのうちいくつかをＯＡ、ＯＢ。
向の線（そのうちいくつかをＯＡ、ＯＢ。
ＯＣ，・・・、ＯＧで示す）の各々に沿い、かつ所定の
径方向範囲（鎖線Ｒ１−Ｒ２の範囲）内に位置する所定
数（例えば１３）の画素の信号が１組の信号として読み
出される。径方向の線は基準線（水平線）から所定角度
１例えば６．５°の間隔で取られ。
径方向範囲（鎖線Ｒ１−Ｒ２の範囲）内に位置する所定
数（例えば１３）の画素の信号が１組の信号として読み
出される。径方向の線は基準線（水平線）から所定角度
１例えば６．５°の間隔で取られ。
この読み出しは例えば７２０回繰返される。この結果、
０．５°きざみで、７２０本の径方向の線に対応する信
号の組を生じさせることとなる。
０．５°きざみで、７２０本の径方向の線に対応する信
号の組を生じさせることとなる。
尚画素の配列はマトリクス状であるので、水平および垂
直の径方向の線以外の場合、いずれの画素が径方向の線
に「沿う」ものであるかの判定が問題となるが、基準線
上の画素の中心点を、座標の中心点Ｏを中心として回転
させ、当該径方向の線と交差した点を含む画素を「沿う
」画素とする交差点を２つ含む場合は、その画素は２回
利用される。
直の径方向の線以外の場合、いずれの画素が径方向の線
に「沿う」ものであるかの判定が問題となるが、基準線
上の画素の中心点を、座標の中心点Ｏを中心として回転
させ、当該径方向の線と交差した点を含む画素を「沿う
」画素とする交差点を２つ含む場合は、その画素は２回
利用される。
以下の説明で、径方向の線ＯＡ、ＯＢ、ＱＣ’。
・・；に対応する信号の組をＡ組、Ｂ組、０組・・・と
呼び、また各組の信号は対応する画素の信号の順に内側
から１番目の画素の信号、２番目の画素の信号、・・・
と呼ぶ。
呼び、また各組の信号は対応する画素の信号の順に内側
から１番目の画素の信号、２番目の画素の信号、・・・
と呼ぶ。
順次、読み出される信号の組は、第１の判定回路１３お
よび第２の判定回路１４に送られる。
よび第２の判定回路１４に送られる。
第１の判定部１３は、第８図に示すように構成され、各
組の信号の値が２値化部３１で所定のしきい値により２
値化される。この２値化は１例えば所定のしきい値より
信号の値が大きい場合に１とし、そうでない場合に０と
でることによって行なわれる。、３１をしきい値として
２値化する場合の、２値化の前（６４値）ど鎌（２値）
のデータをＡ〜Ｇ組につき、第７図に示す。次に、各組
の２値信号は予め定められた径方向の小範囲毎に値・「
１」のものの数が数えられる。径方向の小範囲は１例え
ば内側から２〜５番目の画素、６〜８番目の画素。
組の信号の値が２値化部３１で所定のしきい値により２
値化される。この２値化は１例えば所定のしきい値より
信号の値が大きい場合に１とし、そうでない場合に０と
でることによって行なわれる。、３１をしきい値として
２値化する場合の、２値化の前（６４値）ど鎌（２値）
のデータをＡ〜Ｇ組につき、第７図に示す。次に、各組
の２値信号は予め定められた径方向の小範囲毎に値・「
１」のものの数が数えられる。径方向の小範囲は１例え
ば内側から２〜５番目の画素、６〜８番目の画素。
９〜１１番目の画素で構成される。尚小範囲が互いに重
複するものであってもよく、また互いＶＣｌつまたはい
くつかの画素を間において分離していてもよい。このよ
うな計数は、各小範囲に対応して設けられたゲート計数
部３２ ａ〜３２ｃによって行なわれる。各小範囲にお
ける１の計数値は、それぞれ弁別部３３１〜３３ｃで、
所定範囲内にあるかどうかの判断をされる。所定範囲は
１例えば３つの小範囲に対しそれぞれ２〜３，０以下、
２〜３である。そして、所定範囲外であると、弁別部３
３ａ〜３３ｃの出力信号が１となる。草９図は、それぞ
れの線についての弁別の結果を示′ｆ、即ち、出力が「
１」となった弁別部の符号が記されている。いずれの弁
別部も「１」を出力しない場合は「無しＪと記されてい
る。
複するものであってもよく、また互いＶＣｌつまたはい
くつかの画素を間において分離していてもよい。このよ
うな計数は、各小範囲に対応して設けられたゲート計数
部３２ ａ〜３２ｃによって行なわれる。各小範囲にお
ける１の計数値は、それぞれ弁別部３３１〜３３ｃで、
所定範囲内にあるかどうかの判断をされる。所定範囲は
１例えば３つの小範囲に対しそれぞれ２〜３，０以下、
２〜３である。そして、所定範囲外であると、弁別部３
３ａ〜３３ｃの出力信号が１となる。草９図は、それぞ
れの線についての弁別の結果を示′ｆ、即ち、出力が「
１」となった弁別部の符号が記されている。いずれの弁
別部も「１」を出力しない場合は「無しＪと記されてい
る。
弁別部３３ａ〜３３ｃの出力はそれぞれ計数部：（４１
〜３４ｃの出力・で計数・される。°この計数は、各＃
についての処理が７２０回繰返される間（１本の壜の口
部の全周にわたる検査が終るまでの間）続けられ。
〜３４ｃの出力・で計数・される。°この計数は、各＃
についての処理が７２０回繰返される間（１本の壜の口
部の全周にわたる検査が終るまでの間）続けられ。
最終計数値が所定の匝以上であるかどうかの判定が弁別
部３６ａ〜：３６ｃで行なわれ、所定の値以上であれば
、弁別ｆ！Ａ３６ａ〜３６ ｃの出力の値が「１」とな
る。オア回路３６は、弁別部３６ ａ ＝ ３６ ｃの
出力の嗣理和を敗るもので、その出力をま第１の判定回
路１３の出力を構成てる。
部３６ａ〜：３６ｃで行なわれ、所定の値以上であれば
、弁別ｆ！Ａ３６ａ〜３６ ｃの出力の値が「１」とな
る。オア回路３６は、弁別部３６ ａ ＝ ３６ ｃの
出力の嗣理和を敗るもので、その出力をま第１の判定回
路１３の出力を構成てる。
第２の判定回路１４は、第１０図に示すように構成され
、各棋の信号の値と、それより１回だけ前に読み出され
た他の組の信号の値（レジスタ４１に記憶されている）
との差が減算部４２でめられる。
、各棋の信号の値と、それより１回だけ前に読み出され
た他の組の信号の値（レジスタ４１に記憶されている）
との差が減算部４２でめられる。
更に詳しくざっと、この減算は、異なる２つの径方向の
線上の、径方向の位置（中心０からの距離）が略同じ画
素、即ち、１つの径方向の線の内９１１１からｉ番目の
画素と、他の径方向の線の内側からｉ番目の画素とにつ
いて行なわれる。そして、それぞれの差が２値化部で２
値化される。この２値化においては、差が加以上であれ
ば２値信号の値を「１」とし、そうでなければ、「０」
とｆろ〇第１１図（ａ）は、線ＯＡＫ沿う画素の組の信
号と練ＯＢに沿う画素の組の信号との差の２値化の結果
を示し、第１１図（ｂ）は、同様に紛ＯＣ′に沿う画素
の組の信号と線ＯＤに沿う画素の組の信号との差の２値
化の結果を示″ｆ。
線上の、径方向の位置（中心０からの距離）が略同じ画
素、即ち、１つの径方向の線の内９１１１からｉ番目の
画素と、他の径方向の線の内側からｉ番目の画素とにつ
いて行なわれる。そして、それぞれの差が２値化部で２
値化される。この２値化においては、差が加以上であれ
ば２値信号の値を「１」とし、そうでなければ、「０」
とｆろ〇第１１図（ａ）は、線ＯＡＫ沿う画素の組の信
号と練ＯＢに沿う画素の組の信号との差の２値化の結果
を示し、第１１図（ｂ）は、同様に紛ＯＣ′に沿う画素
の組の信号と線ＯＤに沿う画素の組の信号との差の２値
化の結果を示″ｆ。
計数部４４は、差を表わす２値信号のうち値「１」のも
のの数を計数し、弁別部４５は計数結果が所定値例えば
２以上であるときに、信号「１」を出力する。
のの数を計数し、弁別部４５は計数結果が所定値例えば
２以上であるときに、信号「１」を出力する。
第１１図（ａ）では、「１」の値を収るものの数で１で
あり、従って、弁別部４５の出力は「０」である。
あり、従って、弁別部４５の出力は「０」である。
一方第１１図（ｂ）では「１」の値を収るものの数は３
であり、従って弁別部４５の出力は「１」となる。
であり、従って弁別部４５の出力は「１」となる。
このように減算部４２では、異なる径方向線上の略同じ
径方向位置（中心０・からり距離が略同じ）の画素同士
で信号の値の差をめ、２値化部４３では、その差の大小
に応じて、２値化信号の値を定めている。従って、弁別
部４５の出力は、醋同じ径方向位置の画素間で信号の値
の差が大きかったものが、所定数以上あったことを示″
ｆｌ。
径方向位置（中心０・からり距離が略同じ）の画素同士
で信号の値の差をめ、２値化部４３では、その差の大小
に応じて、２値化信号の値を定めている。従って、弁別
部４５の出力は、醋同じ径方向位置の画素間で信号の値
の差が大きかったものが、所定数以上あったことを示″
ｆｌ。
弁別部ｌ１５の出力は計数部４６で計数される。この計
数は２つの線についての比軟がすべての径方向の線につ
いて行なわれるまで、線ＯＡと線ＯＢ。
数は２つの線についての比軟がすべての径方向の線につ
いて行なわれるまで、線ＯＡと線ＯＢ。
線ＯＢと線ＯＣ・・・というように始まって最後の（７
２０番目の線）と線ＯＡに到るまで、繰返され。
２０番目の線）と線ＯＡに到るまで、繰返され。
最終計数値が所定の値以上であるかどうかの判定が弁別
部４７で行なわれ、所定の値以上であれば弁別部４７の
出力の値が「１」となる。弁別部４７の出力は第２の判
定回路１４の出力を構成する。
部４７で行なわれ、所定の値以上であれば弁別部４７の
出力の値が「１」となる。弁別部４７の出力は第２の判
定回路１４の出力を構成する。
第１の判定回路１３の出力および第２の判定回路１４の
出力は論理回路１５に加えられるｃ、＠理回路１５は、
例えばオア回路から成り、２つの判定部１３の出力のい
ずれかが「１」のとき、そσ〕比出力「１」とする、論
理回路１５の出力が「１」であることは。
出力は論理回路１５に加えられるｃ、＠理回路１５は、
例えばオア回路から成り、２つの判定部１３の出力のい
ずれかが「１」のとき、そσ〕比出力「１」とする、論
理回路１５の出力が「１」であることは。
與６図のデータ処理回路５により検査された壜σ〕口部
に欠陥があったことが判定されたことを意味し、この信
号に基いて、排除装置６が駆動され。
に欠陥があったことが判定されたことを意味し、この信
号に基いて、排除装置６が駆動され。
当該壜が排除される。
以上のようにして欠陥の有無の判定が行な（１得るのは
以下の理由による。まず、第１の判定回路、１３におけ
る判定は１個々σ−径方向の線に沿（１、かつ、それぞ
れ所定の径方向の位置範囲（小範囲）に属するもののう
ち２値信号の値の「１」のもの（「明るい」と判断され
たもの）の数が所定の範囲内にあるかどうかを判断てる
ものである。表面が回転面の被検音部を同軸の環状の発
光部を持つ照明装置で照明すれば、その映像は環状であ
り、中心からの距離が同じ位置にある画素の信号の値は
略（川じであり、また個々の壜による差はあまりない、
従って、欠陥のない壜について予め実験をして、各小範
囲内の「１」の数をめ、これに基いて上記「所定範囲」
を定めておく。例えば第３図（ａ）における内聞および
外側の「明るい」環状の部分を、第９図の第１および第
３の小範囲とし。
以下の理由による。まず、第１の判定回路、１３におけ
る判定は１個々σ−径方向の線に沿（１、かつ、それぞ
れ所定の径方向の位置範囲（小範囲）に属するもののう
ち２値信号の値の「１」のもの（「明るい」と判断され
たもの）の数が所定の範囲内にあるかどうかを判断てる
ものである。表面が回転面の被検音部を同軸の環状の発
光部を持つ照明装置で照明すれば、その映像は環状であ
り、中心からの距離が同じ位置にある画素の信号の値は
略（川じであり、また個々の壜による差はあまりない、
従って、欠陥のない壜について予め実験をして、各小範
囲内の「１」の数をめ、これに基いて上記「所定範囲」
を定めておく。例えば第３図（ａ）における内聞および
外側の「明るい」環状の部分を、第９図の第１および第
３の小範囲とし。
２つの明るい環状部分の中間の暗い環状部分を第２の小
範囲とする。被検萱ｊ−に欠陥がなければ。
範囲とする。被検萱ｊ−に欠陥がなければ。
各小範囲の「１」の数は上記所定範囲に入るはずである
、一方、「１」の数が上記所定範囲に入らない場合その
原因としては、欠陥の存在のほか。
、一方、「１」の数が上記所定範囲に入らない場合その
原因としては、欠陥の存在のほか。
ノイズ、中心位置の検、出のずれ、層のバラつき等が考
えられる。従って所定範囲に入らないという判断が１回
行なわれたことをもって欠陥有りの認足をするのは適切
ではない。しかし、多数回繰返されれば欠陥の存在によ
る可能性が大きい。そうで本発明では、全周にわたって
模ををする間に上記の判断が所定回数以上行なわれたと
きに限って第１の判定回路１３として、欠陥有りの認定
をする（その出力信号を「１」とする）こととしている
。
えられる。従って所定範囲に入らないという判断が１回
行なわれたことをもって欠陥有りの認足をするのは適切
ではない。しかし、多数回繰返されれば欠陥の存在によ
る可能性が大きい。そうで本発明では、全周にわたって
模ををする間に上記の判断が所定回数以上行なわれたと
きに限って第１の判定回路１３として、欠陥有りの認定
をする（その出力信号を「１」とする）こととしている
。
駆２０判足回路１４における判定は、互いに６．５゜離
れた（従って比較的近い）２本の径方向の線に沿う画素
であって、中心からの距離が略同じもの同士を比較し、
その比較結果に基いて判断をしているが、これ１・ま上
記のように、映像が環状であり。
れた（従って比較的近い）２本の径方向の線に沿う画素
であって、中心からの距離が略同じもの同士を比較し、
その比較結果に基いて判断をしているが、これ１・ま上
記のように、映像が環状であり。
中心からの距離が同じ位置にある画素の信号の値は略同
じであるということを利用している。そして、１対の線
間で上記互いの弗が大きい画素の対が所定数以上である
との判断が、映像の全周にわたる検査の間に所定回数以
上行なわれたときに限って、第２の判足部１４として、
欠陥有りの認定なてる（その出力信号を「１」とする）
のも、第１の判定回路１３の場合と同様、ノイズ等によ
る誤判断を避けるためである。
じであるということを利用している。そして、１対の線
間で上記互いの弗が大きい画素の対が所定数以上である
との判断が、映像の全周にわたる検査の間に所定回数以
上行なわれたときに限って、第２の判足部１４として、
欠陥有りの認定なてる（その出力信号を「１」とする）
のも、第１の判定回路１３の場合と同様、ノイズ等によ
る誤判断を避けるためである。
向上配車１の判定回路１３については、次のニーな変形
が可能である。まず、上記の実施例では。
が可能である。まず、上記の実施例では。
各画素の信号が所定のしきい値より大きいかどうかによ
って２１直信号の１直を定めることとしているが、差分
（同じ径方向線上の近接する画素信号との差）の大小に
基いて２値化号の直を定めることとしてもよく、また各
画素信号の１直と、差分との双方に基いて２値化号を定
めることとしてもよい。また、上記の実施例では、゛各
群の画素の２値化号の総和が所定の範囲内にあるかどう
かの判堕をしているが２値化号の代りに６４ ｊｉＭの
信号を用い、その各群の約和が所定の範囲にあるかどう
かの判断をすることとしてもよい。
って２１直信号の１直を定めることとしているが、差分
（同じ径方向線上の近接する画素信号との差）の大小に
基いて２値化号の直を定めることとしてもよく、また各
画素信号の１直と、差分との双方に基いて２値化号を定
めることとしてもよい。また、上記の実施例では、゛各
群の画素の２値化号の総和が所定の範囲内にあるかどう
かの判堕をしているが２値化号の代りに６４ ｊｉＭの
信号を用い、その各群の約和が所定の範囲にあるかどう
かの判断をすることとしてもよい。
また、上記の実施例の車２の判定回路１４については次
のような変形が可能である。、ま゛ず、上記の実施例で
は１画素の信号の値（６４値）の差をめた後、その差を
２値化しているが、各画素の信号を駆８図の２値化部、
う１による２値化と同様の方法で２値化した後、２つの
画素同士で一致しているかどうかの判断をし、不一致の
とき「１」、一致のとき「０」とし、このようにして得
られた２値化号を、上記実施例における差の大きいこと
を示す２値化号の代りに用いることとしてもよい。
のような変形が可能である。、ま゛ず、上記の実施例で
は１画素の信号の値（６４値）の差をめた後、その差を
２値化しているが、各画素の信号を駆８図の２値化部、
う１による２値化と同様の方法で２値化した後、２つの
画素同士で一致しているかどうかの判断をし、不一致の
とき「１」、一致のとき「０」とし、このようにして得
られた２値化号を、上記実施例における差の大きいこと
を示す２値化号の代りに用いることとしてもよい。
また、差の大きいことまたは不一致を示す２値化号が所
定回数（例えば２）以上連続して現われた場合に限って
カウントしそれ以外の場合は無視することとしてもよい
。
定回数（例えば２）以上連続して現われた場合に限って
カウントしそれ以外の場合は無視することとしてもよい
。
以上のような、欠陥検出装置は壜口部の欠け。
当り傷、すり傷、ビリ（ヒビ）、異物の付着等の検出に
用いることができるほか１缶（充填前の空缶）のフラン
ジ部の異物付着、細り１割れ、パリ等の検出にも有効で
ある。さらに壜の底部１缶の底部等、被検部の表面が（
欠陥のない場合）回転面をなすものの検査に用いること
ができる。
用いることができるほか１缶（充填前の空缶）のフラン
ジ部の異物付着、細り１割れ、パリ等の検出にも有効で
ある。さらに壜の底部１缶の底部等、被検部の表面が（
欠陥のない場合）回転面をなすものの検査に用いること
ができる。
以上のように本発明によれば、被検査部の映像の径方向
の線に沿う画素の信号について、その径方向の位置に応
じて、予め設定した値と比較するとともに、異なる近接
する径方向の線間で、同じ径方向位置にある画素の信号
同士を比較−ｆることとし、これらの比較の結果に基い
て欠陥の有無の判定をすることとしたので、欠陥の形状
の影響が小さくなり、欠陥検出の精度が高い。
の線に沿う画素の信号について、その径方向の位置に応
じて、予め設定した値と比較するとともに、異なる近接
する径方向の線間で、同じ径方向位置にある画素の信号
同士を比較−ｆることとし、これらの比較の結果に基い
て欠陥の有無の判定をすることとしたので、欠陥の形状
の影響が小さくなり、欠陥検出の精度が高い。
第１図は本発明一実施例の欠陥検出装置の全体的構成を
示す概略図。 第２図は照明装置を断面にして示′ｆ概略図。 第３図（ａ） 、 （ｂ）は映像の例を示す図。 第４図（ａ）、 （ｂ）は壜口部罠おけ６光の反射を示
す図Ｊ 第５図はデータ処理部を示すブロック図。 第６図（＆） 、 （ｂ）は画素の配列および径方向の
線を示す図。 第７図はそれぞれ径方向の線に沿う信号の組と。 その２値化した値とを示す図。 第８図は第１の判定回路を詳細に示すブロック図。 第９図は第１の判定回路における判定法を示す図、 第１０図は第２の判定回路を詳細に示すブロック図。 第１１図（ａ） 、 （ｂ）は第２の判定回路における
信号の処理を示す図である、 １・・・壜、ｌａ・・・口部、２・・・照明装置、２ａ
・・・発光部、４・・・光電変換装置、５・・・データ
処理部。 ９・・・メモリ、 １１・・・アドレス回路、 １２・
・・中心千−出回路、１３・・・第１の判定回路、 １
４・・・第２の判冗回路。 ３３ａ、３３ｂ、３３ｃ・・・弁別部、 ４１・・・レ
ジスタ部。 ４２・・・減算部、４５・・・弁別部。 出願人代理人 猪 股 清 第１図 第２図 第３図（ａ） 第３図（ｂ） 第５図 ６へ 第６図（０） す２ 第７図 画素９４）号１２３４５６７８９１０１１１２１３第９
図 第１ｏ図 １１より 号 １５へ 第１１図（０） 第１Ｉ図（ｂ） ０００ ０００００ １ １ １ ００手続補正書 昭和５０年８・月ｒ日 特許庁長官 志賀 学 殿 １ 事件の表示 昭和５９年 特許願 第１５８７０号 ２ 発明の名称 欠陥検出方法および装置 ３ Ｊｔｔｉ正をする者 事（’ｌとの関係 特９′［出願人 皿Ｍ麦酒株式会社 ４ 代 理 人 明細書の「特３１ｊ請求の範囲」の欄および？、補正の
内容 （Ｉ） 明細書を以下のように訂正する。 （１） 特許請求の範囲を別紙の通り訂正する。 （２）第ダ頁第ｉｇ行の「Ｓざ一５ｔｒｏλＯ号」を「
３ｇ−２／／ＩＩ４号」に訂正する。 （３） 第５頁第３行の「被検査体も」の次の「、」を
削除する。 （４）第６頁第１３行の「部分」を「発光部分２ａＪに
訂正する。 （５）第６頁第１５行の「外方から均一に」を「上外方
から全周にわたって均一に」に訂正する。 （６）第ざ頁第Ｓ行の「照明装置コ」の次に「は」を挿
入する。 （７）第１３頁第１−行の「判定部」を「判定回路」に
訂正する。 （８）第１３頁第１７行の「３／」を「−例として２９
」に訂正する。 （９）第１ｊ頁第１Ｓ行の「〃」の前に「例えば」を挿
入する。 顛 第１６頁第一行の「ＯＣ′」 を「ＯＣ」 に訂正
する。 慎）図面の第１図および第ダ図（ａ）を別紙の通り訂正
する。 特許請求の範囲 ｌ 被検査部分の表面が、略回転面をなす被検査体の上
記被検査部分における欠陥を検出する方法において、 上記被検査部分の上記回転面と略同軸的な環状の部分か
ら光を発して上記表面を照明することと、 上記表面からの反射光を受けて映像を形成することと、 上記映像を形成する画素の明るさを示す値を待つ信号を
、それぞれ画素が対応する上記表面上の点の位置に対応
して記憶することと、この記憶の内容を参照し、上記映
像の、上記回転面の軸に対応する点を通り、相互に一定
の角度をなす径方向の仮想線の各々に沿いかつ所定の径
方向範囲に位置する所定数の画素の信号な１組の信号と
して読み出すことと、 各組の信号を所定の設定値との比較に基いて欠陥の有無
の判定をすることと、 互いに近接するａつの径方向の仮想線に対応する２つの
組の信号同士の比較に基いて欠陥の有無を判定すること
と を含む欠陥検出方法。 ユ 被検査部分の表面が略回転面をなす被検査体の上記
被検査部分における欠陥を検出する装置におい℃、 上記被検査部分の上記回転面を略同軸的な環状の部分か
ら光を発して上記表面を照明する照明手段と、 上記表面からの反射光を受けて映像を形成する二次元光
電変換装置と、 上記二次元光電変換装置からの出力信号に基づいて、上
記映像を形成する画素の明るさを示す値を持つ信号を、
それぞれ画素が対応する上記表面上の点の位置に対応し
て記憶する記憶手段と、 上記記憶手段を参照し、上記映像の、上記回転面の軸に
対応する点を通り、相互に一定の角度をなす径方向の仮
想線の各々に沿いかつ所定の径方向範囲に位置する所定
数の画素の信号な７組の信号として、順次読出す手段と
、各組の信号を所定の設定値との比較に基いて欠陥の有
無を判定する第１の判定手段と、互いに近接するａつの
径方向の仮想線に対応するλつの組の信号同士の比較に
基いて欠陥の有無を判定する第２の判定手段と、 上記第７および第コの判定手段の少くとも一方で欠陥が
有ると判定されたとき、欠陥検出信号を発生する論理回
路と を備えた欠陥検出装置。 第４図 （０）
示す概略図。 第２図は照明装置を断面にして示′ｆ概略図。 第３図（ａ） 、 （ｂ）は映像の例を示す図。 第４図（ａ）、 （ｂ）は壜口部罠おけ６光の反射を示
す図Ｊ 第５図はデータ処理部を示すブロック図。 第６図（＆） 、 （ｂ）は画素の配列および径方向の
線を示す図。 第７図はそれぞれ径方向の線に沿う信号の組と。 その２値化した値とを示す図。 第８図は第１の判定回路を詳細に示すブロック図。 第９図は第１の判定回路における判定法を示す図、 第１０図は第２の判定回路を詳細に示すブロック図。 第１１図（ａ） 、 （ｂ）は第２の判定回路における
信号の処理を示す図である、 １・・・壜、ｌａ・・・口部、２・・・照明装置、２ａ
・・・発光部、４・・・光電変換装置、５・・・データ
処理部。 ９・・・メモリ、 １１・・・アドレス回路、 １２・
・・中心千−出回路、１３・・・第１の判定回路、 １
４・・・第２の判冗回路。 ３３ａ、３３ｂ、３３ｃ・・・弁別部、 ４１・・・レ
ジスタ部。 ４２・・・減算部、４５・・・弁別部。 出願人代理人 猪 股 清 第１図 第２図 第３図（ａ） 第３図（ｂ） 第５図 ６へ 第６図（０） す２ 第７図 画素９４）号１２３４５６７８９１０１１１２１３第９
図 第１ｏ図 １１より 号 １５へ 第１１図（０） 第１Ｉ図（ｂ） ０００ ０００００ １ １ １ ００手続補正書 昭和５０年８・月ｒ日 特許庁長官 志賀 学 殿 １ 事件の表示 昭和５９年 特許願 第１５８７０号 ２ 発明の名称 欠陥検出方法および装置 ３ Ｊｔｔｉ正をする者 事（’ｌとの関係 特９′［出願人 皿Ｍ麦酒株式会社 ４ 代 理 人 明細書の「特３１ｊ請求の範囲」の欄および？、補正の
内容 （Ｉ） 明細書を以下のように訂正する。 （１） 特許請求の範囲を別紙の通り訂正する。 （２）第ダ頁第ｉｇ行の「Ｓざ一５ｔｒｏλＯ号」を「
３ｇ−２／／ＩＩ４号」に訂正する。 （３） 第５頁第３行の「被検査体も」の次の「、」を
削除する。 （４）第６頁第１３行の「部分」を「発光部分２ａＪに
訂正する。 （５）第６頁第１５行の「外方から均一に」を「上外方
から全周にわたって均一に」に訂正する。 （６）第ざ頁第Ｓ行の「照明装置コ」の次に「は」を挿
入する。 （７）第１３頁第１−行の「判定部」を「判定回路」に
訂正する。 （８）第１３頁第１７行の「３／」を「−例として２９
」に訂正する。 （９）第１ｊ頁第１Ｓ行の「〃」の前に「例えば」を挿
入する。 顛 第１６頁第一行の「ＯＣ′」 を「ＯＣ」 に訂正
する。 慎）図面の第１図および第ダ図（ａ）を別紙の通り訂正
する。 特許請求の範囲 ｌ 被検査部分の表面が、略回転面をなす被検査体の上
記被検査部分における欠陥を検出する方法において、 上記被検査部分の上記回転面と略同軸的な環状の部分か
ら光を発して上記表面を照明することと、 上記表面からの反射光を受けて映像を形成することと、 上記映像を形成する画素の明るさを示す値を待つ信号を
、それぞれ画素が対応する上記表面上の点の位置に対応
して記憶することと、この記憶の内容を参照し、上記映
像の、上記回転面の軸に対応する点を通り、相互に一定
の角度をなす径方向の仮想線の各々に沿いかつ所定の径
方向範囲に位置する所定数の画素の信号な１組の信号と
して読み出すことと、 各組の信号を所定の設定値との比較に基いて欠陥の有無
の判定をすることと、 互いに近接するａつの径方向の仮想線に対応する２つの
組の信号同士の比較に基いて欠陥の有無を判定すること
と を含む欠陥検出方法。 ユ 被検査部分の表面が略回転面をなす被検査体の上記
被検査部分における欠陥を検出する装置におい℃、 上記被検査部分の上記回転面を略同軸的な環状の部分か
ら光を発して上記表面を照明する照明手段と、 上記表面からの反射光を受けて映像を形成する二次元光
電変換装置と、 上記二次元光電変換装置からの出力信号に基づいて、上
記映像を形成する画素の明るさを示す値を持つ信号を、
それぞれ画素が対応する上記表面上の点の位置に対応し
て記憶する記憶手段と、 上記記憶手段を参照し、上記映像の、上記回転面の軸に
対応する点を通り、相互に一定の角度をなす径方向の仮
想線の各々に沿いかつ所定の径方向範囲に位置する所定
数の画素の信号な７組の信号として、順次読出す手段と
、各組の信号を所定の設定値との比較に基いて欠陥の有
無を判定する第１の判定手段と、互いに近接するａつの
径方向の仮想線に対応するλつの組の信号同士の比較に
基いて欠陥の有無を判定する第２の判定手段と、 上記第７および第コの判定手段の少くとも一方で欠陥が
有ると判定されたとき、欠陥検出信号を発生する論理回
路と を備えた欠陥検出装置。 第４図 （０）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被検査部分の表面が、略回転面をなす被検置体の上
記被検査部分における欠陥を検出する方法において。 上記被検査部分の上記回転面と略同軸的な□環状の部分
から光を発して上記表面を照明することと。 上記表面からの反射光を受けて映像を形成することと。 上記映像ン形成１−る画素の明るさを示′ｆ値ン待つ信
号を、それぞれ画素が対応する。上記表面上の点の位置
に対応して記憶することと。 この記憶の内ｇｔ参照し、′上記映像の、上記回転面の
軸に対応する点馨通り、相互に一定の角度欠なす径方向
の仮想線の各々に沿いかつ所定の径方向範囲に位置でる
所定数の画素の信号７１組の信号として抗み出すことと
、 各組の情号な所定の設定値との比較に基いて欠陥の有無
の判定ンすることと。 互いに近接する２つの径方向の仮想線忙対応する２つの
組の信号同士の比較に基いて欠陥の有無を判定すること
と を含む欠陥検出方法。 ２、被検査部分の表面が略回転面をなす被検置体の上記
被検査部分における欠陥を検出する装置において。 上記被検査部分の上記回転面奮略同軸的な環状の部分か
ら光を発して上記表面ン照明する照明手段と。 上記表面からの反射光を受けて１天稼を形成する二次元
光電変換装置と、 上記二次元光ｉｉ、ｑ換装置炉装置出力信号に基づいて
、上記映像な形成する画素の明るさ７示て値ン持つ信号
を、それぞれｉｉ素が対応する。 上記城面上の点の位置に対応して記憶する記憶手段と。 上記記憶手段を参照し、上記映像の、上記回転面の軸に
対応する点を通り、相互に一定の角度ｔなす径方向の仮
想線の名々に沿いかつ所定の径方向範囲に位置する所定
数の画素の信号２１組の信号として、順次読出す手段と
。 各組の信号を所足の設定値との比較に基いて欠陥の有無
χ判定する第１の判定手段と。 互いに近接する２つの径方向の仮想線に対応する２つの
組の信号同士の比較に基いて欠陥の有無な判定する第２
の判定手段と。 上記第１および第２の判定手段の少くとも一方で欠陥が
有ると判定されたどき１．欠陥検出信号を発生する論理
回路と ン備えた欠陥検出装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59015870A JPS60159637A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 欠陥検出方法および装置 |
| US06/694,627 US4606635A (en) | 1984-01-31 | 1985-01-24 | Defect detecting method and system |
| CA000473015A CA1222801A (en) | 1984-01-31 | 1985-01-29 | Defect detecting method and system |
| AU38125/85A AU565157B2 (en) | 1984-01-31 | 1985-01-29 | Video bottle fault detection system |
| EP85100912A EP0150846B1 (en) | 1984-01-31 | 1985-01-30 | Defect detecting method and system |
| DE8585100912T DE3570133D1 (en) | 1984-01-31 | 1985-01-30 | Defect detecting method and system |
| DK041085A DK161263C (da) | 1984-01-31 | 1985-01-30 | Fremgangsmaade ved og anlaeg til detektering af fejlbehaeftede genstande, saasom beholdere |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59015870A JPS60159637A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 欠陥検出方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60159637A true JPS60159637A (ja) | 1985-08-21 |
| JPH0345784B2 JPH0345784B2 (ja) | 1991-07-12 |
Family
ID=11900828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59015870A Granted JPS60159637A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 欠陥検出方法および装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
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