JP3181605B2 - びん等の検査装置 - Google Patents

びん等の検査装置

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JP3181605B2 JP52005998A JP52005998A JP3181605B2 JP 3181605 B2 JP3181605 B2 JP 3181605B2 JP 52005998 A JP52005998 A JP 52005998A JP 52005998 A JP52005998 A JP 52005998A JP 3181605 B2 JP3181605 B2 JP 3181605B2
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    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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    • G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
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    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/063—Illuminating optical parts
    • G01N2201/0636—Reflectors

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は，光源と，付属の画像評価装置を備えた撮像
要素と，および透光性材料からなる単体の光学本体とを
備えたびん等の検査装置に関するものである。このよう
な装置は欧州特許公開第0657732号から既知である。こ
の資料の図11ないし14に種々の変更態様で示されている
装置はビーム通路のための入射面および射出面を備えた
リング形状光学本体を有している。この本体の内側およ
び外側リング面は鏡反射面として形成され，これによ
り，びんからくるビーム通路が光学本体内に入射した
後，鏡面反射により撮像要素の方向に転向される。鏡面
反射のために設けられた面において必要な本体のコーテ
ィングはそれほどコストを必要としない。組立中または
使用中にコーティングに引っ掻き傷が入った場合，光学
本体は使用可能となり，したがって交換されなければな
らない。この検査装置の他の欠点は，相互に上下に重な
る鏡面が同じ高さに配置され，これにより撮像すべきび
ん口部側壁と撮像体との間に比較的大きな間隔が必要と
なることである。さらに，検査すべき口部側壁領域が好
ましくない角度でのみ検出され，これにより撮像品質が
制限される。さらに，光学撮像内に到達した光が迷走光
をも含めてすべてが鏡面反射される。この装置はびん胴
部に付着されているラベル等を検査するためにラベル検
査等を実行するようには設計されていない。
したがって，このようなびん等の検査装置を改善する
ことが本発明の課題である。
この課題は，透光性材料からなる単体の光学本体が，
照明された検査すべきびんからくる全周範囲のビーム通
路が撮像要素に至る途中で光学本体内を通過するときに
複数回光学本体内の全反射により転向されるように形成
された輪郭を有することにより解決される。ビーム通路
の複数回の全反射のために必要な本体の輪郭形状は不透
光性鏡面を必要としないので，製作費は低減される。本
発明の代替態様により，全反射を行う光学本体の面は，
少なくとも３回の全反射の場合，びんの全周範囲にわた
り検査すべき部分が好ましい角度で検出可能なように相
互に配置させることができる。この方法はとくにねじ山
検査において有利である。
既知の従来技術のように反射鏡面が設ける必要がない
ので，一方で検査すべきびんの周囲領域を上方から光学
本体内を通過して照明することができ，これによりリン
グ照明を問題なく行うことができるという利点があり，
他方で全反射のために必要な限界角を超えたときに発生
する検査のために好ましくない迷走光ビームは撮像要素
の方向に反射されないで，光学本体から外に射出するこ
とができる。
以下に好ましい実施態様を図面により説明する。ここ
で， 図1aはとくにねじ山を設けたびんの口部側壁検査のた
めの光学本体の縦断面図を示し， 図1bはそれによりさらに透明なびんにおける内部側壁
検査，底部検査および口部シール面検査が可能な光学本
体の第２の実施態様を示し， 図1cないし1eは同軸の２つの光学本体を備えた図1aに
対応する３つの異なる実施態様における光学本体を示
し，および 図2aないしｄはぴん側壁を撮像するための光学本体の
縦断面図を示す。
図1aに示した回転対称本体４は下向きに設けられたCC
Dカメラ２の下方に共軸に配置されている。撮像は，検
査すべき空のびん１が連続的に行われる搬送の間にその
垂直軸１′をカメラ２の光軸および本体４の対称軸と一
致させたときに短時間に行われる。画像評価のために電
子式評価装置２′が使用され，電子式評価装置２′によ
り次に撮像されたびんの「良否」の判定が行われる。
透明材料からなる上が開いた空のびん１の照明は，び
ん底部の下側に配置された光源3aにより行われるかまた
は検査すべきびん側壁部分に隣接して横に位置決めされ
た光源3cにより行われる。さらに，対応するびん側壁部
分は，びん口部の下側に配置された光源3bにより下から
上へ斜めに照明してもよく，または逆にびん口部の上側
に配置された光源3dにより上から下へ斜めに照明しても
よい。光学本体４は反射鏡面を有していないので，上か
らの照明のために必要な光学3dは光学本体の上側に配置
してもよく，この場合光学本体はたとえば直線のびんコ
ンベヤベルトの外側に存在するので，光源3dは理想的に
は円環本体の形にリング状に形成することができる。し
たがって，全周に均等な照明とくにシール面検査におけ
る口部面の照明を行うことができる。
照明に関する上記の種々の変更態様はそれぞれ単独で
使用されるばかりでなく，びんの性状（輪郭等）および
検査すべき領域に応じて適切な組合せで使用してもよ
い。びんを透過して照明可能でない場合，光源3bないし
3dによる垂直照明法による照明が行われ，一方このとき
底部光源は必要ではない。
図1aに示したビーム通路Ｓは光学本体４の選択された
輪郭により決定され，光学本体４は傾斜された３つの面
部分B,C,Dを有し,3つの面部分B,C,Dは，びん１の口部側
壁からきて，下から上へ斜めに，ガラスまたはプラスチ
ックたとえばアクリルガラスからなる本体４に向けて入
射するビーム通路Ｓが面B,C,Dにおける全反射により合
計３回転向されかつ最終的に本体４から上方に射出され
てカメラ２で収斂するように傾斜されている。前記３つ
の面B,C,Dの傾斜は，入射するビーム通路Ｓに関して，
全反射のために必要な材料固有の限界角を超えないよう
に選択されていることがわかる。口部に入射するビーム
通路部分の中心軸の水平な口部平面に対する傾斜角が15
ないし30゜の範囲内で変動するとき，とくにこの傾斜部
分が27゜であるときにとくに有効な撮像を行うことが可
能である。
第１の面部分Ｂが同様に外面に存在する第２の面部分
Ｃより低い位置に配置されることにより，中空円錐台形
状の回転対称ディスク本体４の下端縁は検査すべきびん
１の口部のすぐ近くに到達し，これによりねじ山を有す
る口部側壁面の横側の十分な撮像が可能となり，すなわ
ち全周範囲で口部から放出するビーム通路Ｓは水平面に
対し鋭角を形成している。本体４の下側範囲に存在する
ビーム通路入射面Ａおよび外面部分Ｂの傾斜により，本
体４は断面図において刃形状の下端縁を有している。
符号Ａで示した本体の下端縁における内面はびん口部
側壁からくるビーム通路Ｓの中心軸に対し直角方向に向
けられ，すなわち入射面Ａの垂線はビーム通路軸と一致
している。このようにして光学的に密度の小さい媒体か
ら密度の大きい媒体へ移行するときの屈折が回避され
る。同じ理由から，本体４の上側に存在しカメラの方向
を向く射出面Ｅもまた同様に，射出するビーム通路が射
出面Ｅをカメラの方向に上方に垂直に通過するように傾
斜されている。
さらに，光学本体４はその外側輪郭および内側輪郭に
平行に傾斜された相互に対面する２つの面部分Ｇおよび
Ｆを有し，面部分ＧおよびＦは，びん口部に対し，口部
を本体４の上方に配置された光源3dにより照明した場合
に射出された光の一部が面部分ＧおよびＦに垂直にびん
口部の方向にほとんど屈折なしに本体４を通過可能なよ
うに配置されている。
底部光源3aが使用されているが，びん底部検査が必要
ではないかないしはびん底部検査が口部側壁検査との組
合せで行われないとき，本体４の中空空間内で面部分Ｇ
の上方に不透光性ディスク５を設けてもよく，これによ
りびん底部から垂直にきてびん内側断面内を通過して上
方に射出する光はカメラ対物レンズに到達することはな
い。
図1bに示した本体４の変更態様はこの最後に記載した
点において異なり，この変更態様においては，底部照明
により内部側壁検査，底部検査および口部シール面検査
がねじ山検査と同時に行われ，この場合，口部側壁の全
周範囲の撮像が図１に示した実施態様と同様に行われ
る。図1bに示した変更態様においては本体の中心に不透
光性ディスクが存在せず，したがってびん口部およびび
んシール面から垂直方向上方に射出する光束SZは遮蔽さ
れることなく本体４を通過してカメラ２に到達する。図
1bに示した本体４は図1aにおける実施態様とは異なり，
その上部中心部分の外側および内側に平行な２つの水平
面ＨおよびＩを有し，平行な水平面ＨおよびＩにより口
部およびびん底部を撮像する垂直な光束SZはほとんど屈
折なしに通過することができる。図からわかるように，
周方向に円形状に形成された曲面部分A,B,C,D,Fおよび
Ｇは直線の母線を有している。
図1cないし1dに示した変更態様は，図1aおよび1bに示
した実施態様とは，本体４の内部空間にたとえば接着剤
により同軸に固定された追加本体４′により異なってい
る。図1cにおいては，底部光源3aからきてびん口部から
上方に射出する光が，同様に透光性材料からなる本体
４′により,2つの円錐形状本体面ＫおよびＬにおける２
回の全反射で転向され，これにより光は上方から口部シ
ール面に斜めに入射しかつ口部シール面を最適に照明す
る。
図1aにおける本体４′は，びん口部およびそのシール
面から上方に射出する光が３つの本体面K,LおよびＭに
ついてそれぞれ全反射によりカメラに向かって上方に転
向される。図1eに本体４′が示され，本体４′は口部の
下側領域内の支持リング10の検査のために使用される。
２回の全反射により形成された全周範囲のビーム通路ST
は支持リングにおける割れ，欠損または記号を検出する
ための最適射出角を有している。リングディスク形状の
ミラー11により，ビーム通路は横方向のカメラに向けて
転向され，これにより上方からミラー中心内の穴を通過
してびんの照明を行うことができる。
図2aに光学本体14が示され，光学本体14の形状ないし
内側および外側輪郭は，びん側壁がその全高さに対し全
周範囲にわたり撮像されるように形成されている。同時
に，図1bに示す実施態様と同様に，対応する照明におい
てびん底部および口部シール面もまた損傷または汚れに
関して検査することができる。このために，中央に形成
された垂直方向に走行するビーム通路SZは本体14の中心
を通過してカメラ２に導かれる。光学本体は図1bに示す
実施態様と同様に中心にびん口部から垂直方向にくるビ
ーム通路SZのための平行な平面ＨおよびＩを備えた水平
部分を有し，ビーム通路SZはカメラ２内で口部シール面
およびビーム底部を撮像する。この場合もまた，ビーム
通路が平行な平面ＨおよびＩ内を通過するときほとんど
屈折を行わない。
図2aに示す光学本体14においては，前記の実施態様と
同様に，ビーム入射面Ａおよびビーム射出面Ｅは，びん
側壁を含むビーム通路Ｓがこれらの面を垂直にすなわち
ほとんど屈折なく通過するように配置されている。光学
本体14内を通過するとき，ビーム通路Ｓの２回の転向は
本体の外側および内側の非鏡面における全反射により行
われ，この場合，びん外壁から斜め上方に走行するビー
ムＳは光学本体14に入射した後まず外面Ｃにより半径方
向内方に内側に存在する第２の面Ｄの方向に反射され，
この第２の面Ｄから再び上方にCCDカメラ２の方向に反
射される。びんの照明は底部および／または側部から行
うことができる。両方の面ＣおよびＤは周方向に円形状
に曲面として形成されているが，直線の母線を有してい
る。本体14によりびんの全外面は全周範囲にわたりカメ
ラ２に投影され，カメラ２において円形面として撮像す
ることができる。次に撮像は通常のように損傷または汚
れの検出のために評価される。
代替態様として，光学本体14を角錐台形状に形成する
方法も存在し，これにより全反射を行う面は円周方向に
複数に分割された部分平面から構成される。このような
輪郭ないし形状を用いることにより，曲面の場合には必
ずしも完全に防止することができないひずみによる撮像
エラーを低減することができる。この実施態様は図1aお
よび1bに示す光学本体４にも適用可能である。
図2bは本体14のとくに有利な実施態様を示し，この本
体14を用いて最も安い費用によるびん外面の全周範囲の
撮像に基づき，任意の周囲位置に存在するびん外面にお
ける任意の品質特性の存在を特定可能であり，このと
き，従来たとえばクリップロックびんのロックの検査の
ために行われているような撮像前のびんの位置決めを行
う必要はない（欧州特許第0512539号参照）。本体14は
開かれたクリップロックびんの肩部面全体をカメラ２に
投影し，カメラ２に付属の画像評価装置が次に円形状画
像からまずロック本体20の位置を求め，次に最終的にロ
ックシールゴム21の存在を検査する。図1a,1bに関して
既に説明したように，照明は適切な発光体3c,3dにより
横側からまたは上方から行われる。検査すべきびんは任
意の回転位置において単にプレートコンベヤベルト等に
より本体14の下側に連続的に供給される。
同様に，ラベルの剥離，斜めに貼られたラベルまたは
誤ったラベル，すなわち逆さの商標マークまたはバーコ
ードを有するラベルを検出するために，ラベル検査も行
うことができる（図2c）。この場合もまた，まず外面全
体が全周範囲にわたり撮像され，次に円形画像からラベ
ルの位置を求めることができる。この課題に対しては，
画像評価装置に，ラベルの正確な高さ位置，形状，びん
垂直軸に対する方向，商標マークおよびバーコードを与
えることができる。照明は同様に発光体3c,3d,3e,3gに
より横側または上方から行うことができる。
図2dに示すように，本体14により，透明材料からなる
充填びんの場合に充填レベル30の高さ位置もまた検査す
ることができ，充填レベル30は画像において異なる明る
さを有する２つの円形リング31,32の間の円形線として
表わすことができる。この充填レベル検査は，充填レベ
ルの高さ範囲内においてびんの周囲を部分的にのみ被覆
するラベルが存在するときにおいても可能であり，この
場合，ラベルのない円周範囲が画像評価のために利用さ
れる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/90

Claims (36)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】びんを証明するための少なくとも１つの光
    源（３）と、 付属の画像評価装置を備えた撮像要素（２）と、 照明されるびん（１）を領域ごとに全周範囲にわたり撮
    像する少なくとも１つのビーム通路（Ｓ）が発生するよ
    うに、複数の輪郭部が一体的に形成されている透光性材
    料からなる光学本体（4,14）であって，ビーム通路
    （Ｓ）の光が光学本体（4,14）を通過するときに複数回
    全反射により転向される前記光学本体（4,14）と、 を備えたびんの検査装置。
  2. 【請求項２】光学本体（4,14）の入射面および／または
    射出面（A,E）が，撮像すべきびん領域からくるビーム
    通路（Ｓ）の光軸に対し直角に，ないし撮像要素（２）
    に導くビーム領域（Ｓ）の光軸に対し直角に向けられて
    いることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
  3. 【請求項３】前記光学本体（４）がびんのねじ部検査お
    よび／または口部側壁検査のために使用可能であり、２
    つの外面部分（B,C）および１つの内面部分（Ｄ）を有
    し，これらの部分においてそれぞれビーム通路（Ｓ）の
    全反射が行われるように、これらの部分が相互に傾斜し
    て配置されていることを特徴とする請求項１または２に
    記載の検査装置。
  4. 【請求項４】前記２つの外面部分（B,C）が高さ方向に
    相互にずらして配置され，実質的に反対方向に傾斜して
    配置されていることを特徴とする請求項３に記載の検査
    装置。
  5. 【請求項５】前記光学本体（４）が、照明されたびん
    （１）からくるビーム通路（Ｓ）を、その光軸を口部平
    面ないし水平面に対し15ないし30゜の範囲とくに27゜の
    鋭角（α）をなして傾斜させ，下側に存在する第１の外
    面部分（Ｂ）に衝当させ，そこでビーム通路（Ｓ）は上
    側に存在する第２の外面部分（Ｃ）に向けて反射させか
    つ外面部分（Ｃ）から内面部分（Ｄ）に反射させ，一方
    内面部分（Ｄ）は撮像要素（２）に向けた全反射を行う
    ことを特徴とする請求項３又は４に記載の検査装置。
  6. 【請求項６】びんを領域ごとに全周範囲にわたり撮像す
    るビーム通路が撮像要素（２）に収斂するように、内面
    部分（Ｄ）の傾斜が選択されていることを特徴とする請
    求項５に記載の検査装置。
  7. 【請求項７】前記光学本体（4,14）が、撮像すべきびん
    からくるビーム通路（Ｓ）に対してびん（１）に向けら
    れた光入射面（Ａ）を有し、この光入射面（Ａ）が第１
    の全反射を行わせる第１の外面部分（Ｂ）と共に光学本
    体（4,14）における刃形状の下端縁を形成することを特
    徴とする請求項１ないし６のいずれかに記載の検査装
    置。
  8. 【請求項８】前記光学本体（4,14）がびん口部の上方に
    配置された下端縁を有することを特徴とする請求項１な
    いし７のいずれかに記載の検査装置。
  9. 【請求項９】前記光学本体（4,14）が、キャップ状の垂
    直断面を有するほぼディスク状の閉じた本体として形成
    されていることを特徴とする請求項１ないし８のいずれ
    かに記載の検査装置。
  10. 【請求項１０】前記光学本体（4,14）が下側から上側に
    向かう方向に狭くなる中空空間を有し，前記中空空間の
    中心領域が，びん（１）がびん底部から照明されるとき
    に，びん口部からその上方に共軸に配置されている撮像
    要素（２）に向かう軸方向光路に対する遮蔽体（５）を
    有することを特徴とする請求項１ないし９のいずれかに
    記載の検査装置。
  11. 【請求項１１】前記光源（3a）が、びん（１）の下方に
    配置されかつびん底部を照明することを特徴とする請求
    項１ないし10のいずれかに記載の検査装置。
  12. 【請求項１２】前記光源（3b）が、検査すべきびん周囲
    部分の横側下方に配置されかつこのびん周囲部分を外側
    から斜め上方にびん口部の方向に向けて照明することを
    特徴とする請求項１ないし10のいずれかに記載の検査装
    置。
  13. 【請求項１３】前記光源（3c）が、検査すべきびん周囲
    部分に隣接して横側に配置されかつこのびん周囲部分を
    外側から照明することを特徴とする請求項１ないし10の
    いずれかに記載の検査装置。
  14. 【請求項１４】前記光源（3d）が、びん口部の上方に配
    置されかつ検査すべきびん周囲部分を斜め上方から照明
    することを特徴とする請求項１ないし10のいずれかに記
    載の検査装置。
  15. 【請求項１５】前記光源（3d）が光源本体（４）の上方
    に配置されかつ光学本体（４）を貫通して検査すべきび
    ん周囲部分を照明し，前記光源（3d）がリング状に形成
    されていることを特徴とする請求項14に記載の検査装
    置。
  16. 【請求項１６】前記光学本体（４）における前記光源
    （3d）に対する入射面部分（Ｆ）および射出面部分
    （Ｇ）が，前記光源（3d）からくる光ビームが面部分
    （F,G）をほぼ垂直に通過するように、形成されている
    ことを特徴とする請求項15に記載の検査装置。
  17. 【請求項１７】前記光源が前記光源本体（４）の中空空
    間内に配置されていることを特徴とする請求項10に記載
    の検査装置。
  18. 【請求項１８】前記光学本体（4,14）が撮像要素（２）
    の光軸と共軸に配置され、びんの垂直軸が撮像要素
    （２）の光軸とほぼ一致したときに撮像が行われること
    を特徴とする請求項１ないし17のいずれかに記載の検査
    装置。
  19. 【請求項１９】前記撮像要素が対物レンズを備えたCCD
    カメラであることを特徴とする請求項１ないし18のいず
    れかに記載の検査装置。
  20. 【請求項２０】びん（１）の口部側壁領域がこの領域内
    に存在するねじ山もまた検出されるように、前記光学本
    体（４）の輪郭が形成されていることを特徴とする請求
    項１ないし19のいずれかに記載の検査装置。
  21. 【請求項２１】びん側壁がその全高さに対し全周範囲に
    わたり検出されるように前記光学本体（14）の輪郭が形
    成されていることを特徴とする請求項１ないし19のいず
    れかに記載の検査装置。
  22. 【請求項２２】前記光学本体（4,14）が、内部側壁検
    査、底部検査または口部シール面検査のために、中央に
    ２つの平行な平面（H,I）又は１つの開口を有すること
    を特徴とする請求項１ないし21のいずれかに記載の検査
    装置。
  23. 【請求項２３】前記光学本体（4,14）が回転対称に形成
    されていることを特徴とする請求項１ないし22のいずれ
    かに記載の検査装置。
  24. 【請求項２４】前記光学本体が角錐台の輪郭を有するこ
    とを特徴とする請求項１ないし22のいずれかに記載の検
    査装置。
  25. 【請求項２５】ビーム通路（Ｓ）を全反射させる前記光
    学本体（4,14）の面部分（B,C,D）が直線の母線を有す
    ることを特徴とする請求項１ないし24のいずれかに記載
    の検査装置。
  26. 【請求項２６】びんの垂直軸に対し傾斜している少なく
    とも２つの異なるビーム通路が形成されるように、前記
    光学本体が形成されていることを特徴とする請求項１な
    いし25のいずれかに記載の検査装置。
  27. 【請求項２７】びんを撮像するために第１のビーム通路
    が使用され，かつびんを照明するために第２のビーム通
    路が使用されることを特徴とする請求項26に記載の装
    置。
  28. 【請求項２８】開いたびんの口部がビーム通路により撮
    像されるときに，びんは底部で照明されることを特徴と
    する請求項27に記載の検査装置。
  29. 【請求項２９】１つのビーム通路がびんの頭部面および
    ／または首部を撮像し，少なくとも１つの他のビーム通
    路がびん自体の外面の全周範囲を領域ごおに又は全体的
    に撮像することを特徴とする請求項26に記載の検査装
    置。
  30. 【請求項３０】光学本体が同軸に配置された複数の個別
    の本体を組み合わせて一体に構成されていることを特徴
    とする請求項26ないし29のいずれかに記載の検査装置。
  31. 【請求項３１】照明によりびんの円筒状表面の領域にお
    ける少なくとも一つの品質特性を検査する、びんの検査
    装置であって、 画像を取得する撮像装置と、 画像評価装置と、 前記円筒状表面からの少なくとも一つの光のビームを形
    成しかつ前記ビームを前反射により複数回反射する光学
    手段とを備え、 前記円筒状表面が全周に亘り検出され、前記光学手段に
    より撮像装置に入射され、その画像が前記撮像装置に投
    影されて前記画像評価装置により処理されるようにし
    た、検査装置。
  32. 【請求項３２】前記円筒状表面が、前記光学手段により
    その高さ方向及び円周方向の全範囲にわたり検出され、
    かつ撮像されることを特徴とする請求項31に記載の検査
    装置。
  33. 【請求項３３】前記画像評価装置は、前記円筒状表面の
    全周の撮像から、前記円筒状表面の周囲方向の任意の位
    置又は高さ方向の任意の位置における品質特性を検出
    し，検出された品質特性を所定の目標値または基準見本
    と比較し，許容できない偏差がある場合に信号を出力す
    ることを特徴とする請求項31または32に記載の検査装
    置。
  34. 【請求項３４】検査すべき品質特性が，開かれたクリッ
    プロックびんのロックシール面、びんの円筒状表面のラ
    ベルの形状および位置、前記ラベルの色および商標マー
    ク、前記ラベルのバーコード、若しくは前記ラベルの印
    刷であることを特徴とする請求項31ないし33のいずれか
    に記載の検査装置。
  35. 【請求項３５】検査すべき品質特性が、透明材料から作
    られたびんの中に充填された内容物のレベルであること
    を特徴とする請求項31ないし34のいずれかに記載の検査
    装置
  36. 【請求項３６】前記光学手段が搬送手段によりその位置
    に連続的に供給可能なびんの上方に固定配置され、更
    に、前記光学手段が透光性材料から作られていて、請求
    項１ないし30のいずれかにより形成された光学本体とし
    て形成されていることを特徴とする、請求項31ないし35
    のいずれかに記載の検査装置。
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Families Citing this family (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10322459B3 (de) * 2003-05-16 2004-11-11 Krones Ag Inspektionsvorrichtung für Flaschen
DE19940363C2 (de) * 1999-08-25 2003-08-07 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zur optischen Inspektion offener Getränkebehälter
DE10027226C1 (de) * 2000-05-31 2001-10-18 Krones Ag Verfahren und Vorrichtung zum Inspizieren transparenter Behälter
DE10065290C2 (de) * 2000-12-29 2003-05-15 Krones Ag Verfahren und Vorrichtung zur optischen Inspektion von Flaschen
JP2002310629A (ja) * 2001-04-13 2002-10-23 Toyo Seikan Kaisha Ltd 周面撮像装置及び周面検査装置
US6643009B2 (en) * 2001-06-20 2003-11-04 Japan Crown Cork Co. Ltd. Method of inspecting a wrap-fitted state of a cap wrap-fitted to a neck of a bottle and apparatus therefor
DE10133104C2 (de) * 2001-07-12 2003-06-26 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion transparenter Böden von gefüllten und/oder verschlossenen Flaschen
DE20208943U1 (de) * 2002-06-10 2002-09-12 Hermann Heye I Ins Fa Vorrichtung zum Prüfen einer Behältermündung auf das Vorhandensein einer Neigung
DE10312051A1 (de) * 2003-03-18 2004-09-30 Vitronic Dr.-Ing. Stein Bildverarbeitungssysteme Gmbh Mantelflächensensor sowie Abbildungsoptik hierfür
JP2005283527A (ja) * 2004-03-31 2005-10-13 Hitachi High-Technologies Corp 異物検出装置
DE102004049260A1 (de) 2004-10-09 2006-04-13 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zur Erkennung von Behältern und/oder Gebinden
DE102005001810B3 (de) 2005-01-13 2006-06-22 Heye International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen einer Dichtfläche einer Behältermündung
DE102005017957A1 (de) * 2005-04-18 2006-10-26 Khs Ag Inspektionsvorrichtung
FR2896041B1 (fr) * 2006-01-11 2012-02-17 Michel Cayment Dispositif d'inspection en vue d'une face visible et d'une face normalement cachee d'objets et installation d'inspection comprenant un tel dispositif.
EP1826556A3 (de) * 2006-02-22 2009-02-11 Helmut A. Kappner Prüfeinrichtung
FR2901022B1 (fr) * 2006-05-10 2008-08-08 Saverglass Soc Par Actions Sim Dispositif et procede de detection de defaut dans une bague d'article verrier.
EP1887345A1 (de) * 2006-08-03 2008-02-13 Finatec Holding GmbH Verfahren und Vorrichtung zur Werkstückprüfung und/oder - kontrolle
DE102006044786A1 (de) * 2006-09-14 2008-03-27 Schefenacker Vision Systems Germany Gmbh Kamerasystem, Verfahren zum Betreiben eines Kamerasystems und Sensoreinrichtung eines Kamerasystems
DE102007054657A1 (de) 2006-11-15 2008-07-03 Loell Industry Solutions Gmbh Optische Erfassungseinrichtung, insbesondere zur Inspektion von Flaschen, sowie entsprechendes Visualisierungsverfahren
US20080186693A1 (en) * 2007-02-02 2008-08-07 White Timothy P Container inspection machine
DE102007020460B3 (de) * 2007-04-27 2009-01-08 Krones Ag Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren für Behältnisse
DE102007031749A1 (de) 2007-07-06 2009-01-08 Syscona Kontrollsysteme Gmbh Erkennungssystem für Markierungen im Schulter- und Halsbereich von Flaschen
ITBO20070773A1 (it) * 2007-11-22 2009-05-23 Gieffe Vision S N C Dispositivo per l'ispezione visiva di articoli portati da organi trasportatori
US8489232B2 (en) * 2008-09-30 2013-07-16 Amazon Technologies, Inc. Systems and methods for receiving shipment parcels
US8639384B2 (en) 2008-09-30 2014-01-28 Amazon Technologies, Inc. Systems and methods for receiving shipment parcels
DE102008050249B4 (de) * 2008-10-07 2011-04-14 Khs Gmbh Testverfahren zur Überprüfung einer Inspektionseinrichtung, die als Etikettensitzkontrolleinrichtung ausgeführt ist
DE102008063076B3 (de) * 2008-12-24 2010-04-29 Krones Ag Flascheninspektionsvorrichtung mit abbildungskorrigiertem Spiegelkabinett
JP2010151473A (ja) * 2008-12-24 2010-07-08 Kirin Techno-System Co Ltd ねじ口壜の検査装置
JP5324415B2 (ja) * 2009-12-22 2013-10-23 ユニバーサル製缶株式会社 缶の凹凸検出装置
DE102010012214A1 (de) * 2010-03-19 2011-09-22 Khs Gmbh Deckelsichttulpe
DE102010012570A1 (de) * 2010-03-23 2011-09-29 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zum Untersuchen von befüllten Behältnissen auf Fremdkörper
JP5633005B2 (ja) * 2010-08-20 2014-12-03 キリンテクノシステム株式会社 異物検査装置
JP5773741B2 (ja) * 2011-05-11 2015-09-02 倉敷紡績株式会社 透明体ボトルの外観検査装置及び外観検査方法
JP5734104B2 (ja) * 2011-06-06 2015-06-10 倉敷紡績株式会社 ボトル缶の口金部検査装置
JP5698608B2 (ja) * 2011-06-06 2015-04-08 倉敷紡績株式会社 ボトル缶のねじ部検査装置
JP5877657B2 (ja) * 2011-06-06 2016-03-08 倉敷紡績株式会社 ボトル缶の口金部検査方法および検査装置
US9335274B2 (en) 2011-06-29 2016-05-10 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optical inspection of containers
JP5795948B2 (ja) * 2011-11-25 2015-10-14 株式会社キーエンス 照明器具及びこれを組み込んだ撮像装置
KR101358111B1 (ko) * 2013-01-31 2014-02-05 주식회사 서울금속 대상물의 복수 부분에 대한 검사가 가능한 비전 검사 장치
KR101358112B1 (ko) * 2013-04-29 2014-02-05 주식회사 서울금속 대상물의 복수 부분을 검사하기 위한 비전 검사 장치
FR3005354B1 (fr) * 2013-05-03 2015-05-15 Msc & Sgcc Procede et dispositif d'observation et d'analyse de singularites optiques portees par des recipients en verre
ITPR20130049A1 (it) * 2013-06-10 2014-12-11 Marco Lottici Dispositivo e metodo per la visione ottica di oggetti
KR101366195B1 (ko) * 2013-07-25 2014-02-25 주식회사 서울금속 팬너트 비전 검사 장치
KR101366204B1 (ko) * 2013-08-29 2014-02-25 주식회사 서울금속 조명을 이용한 팬너트 비전 검사 장치
DE102014102449A1 (de) 2014-02-25 2015-08-27 Khs Gmbh Inspektionsvorrichtung
DE102014220598B4 (de) 2014-10-10 2023-07-13 Krones Aktiengesellschaft Inspektionsvorrichtung und Verfahren zur Durchlichtinspektion von Behältern
FR3027428B1 (fr) * 2014-10-17 2016-12-09 Msc & Sgcc Procede, dispositif et ligne d'inspection pour la lecture optique de reliefs sur une paroi laterale d'un recipient
FR3027391A1 (fr) 2014-10-17 2016-04-22 Msc & Sgcc Procedes, dispositif et ligne d'inspection pour visualiser la planeite d'une surface de bague de recipient
DE102015211317B4 (de) * 2015-06-19 2021-04-01 Krones Ag Inspektionsverfahren und -vorrichtung zur Verschlusskontrolle von Behältern
US9612210B2 (en) * 2015-06-25 2017-04-04 The Boeing Company Systems and methods for automatically inspecting wire segments
ITUB20153230A1 (it) * 2015-08-26 2017-02-26 Marco Lottici Apparato di ispezione esterna di contenitori o oggetti in transito su trasportatori
ITUA20162005A1 (it) * 2016-03-24 2017-09-24 Marco Lottici Metodo e apparato di controllo della integrita' della baga di bottiglie di vetro tappate
FR3053792B1 (fr) * 2016-07-06 2023-07-14 Tiama Procede, dispositif et ligne d'inspection pour la determination d'une bavure a l'endroit d'un bord interne d'une surface de bague
US10096102B2 (en) 2016-10-26 2018-10-09 The Boeing Company Wire contact inspection
JP2018112456A (ja) * 2017-01-11 2018-07-19 澁谷工業株式会社 物品検査装置及び物品検査方法
US10309908B2 (en) * 2017-01-11 2019-06-04 Applied Vision Corporation Light field illumination container inspection system
FR3076619B1 (fr) 2018-01-05 2020-01-24 Tiama Procede, dispositif et ligne d'inspection pour determiner la geometrie tridimensionnelle d'une surface de bague de recipient
JP7148786B2 (ja) * 2018-04-25 2022-10-06 澁谷工業株式会社 キャップ検査装置
JP7082751B2 (ja) * 2018-08-17 2022-06-09 澁谷工業株式会社 ラベル検査装置
JP2021105554A (ja) * 2019-12-26 2021-07-26 東洋ガラス株式会社 容器検査装置及びそれを用いた容器製造方法
CN218629530U (zh) * 2021-03-10 2023-03-14 贝克顿·迪金森公司 一种用于获得柱形物体的图像的系统

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4025201A (en) * 1975-04-21 1977-05-24 Ball Brothers Service Corporation Method and apparatus for video inspection of articles of manufacture by decussate paths of light
US4249075A (en) * 1978-11-20 1981-02-03 Owens-Illinois, Inc. Detection of birdswing defects in glass containers
US4750035A (en) * 1986-09-11 1988-06-07 Inex/Vistech Technologies, Inc. Video container inspection with collimated viewing of plural containers
US4914289A (en) * 1988-10-26 1990-04-03 Inex-Vistech Technologies Incorporated Article inspection system for analyzing end and adjacent sides
DE4002034C1 (ja) * 1989-12-05 1991-05-02 Elpatronic Ag, Zug, Ch
JPH04297810A (ja) * 1991-03-27 1992-10-21 Mitsubishi Materials Corp 光学検査装置
DE4115264C2 (de) * 1991-05-10 1994-03-31 Rudolf Zodrow Inspektionsmaschine für Bügelverschlußflaschen
DE9313115U1 (de) * 1993-09-01 1994-10-06 Kronseder Maschf Krones Inspektionsmaschine
EP0657732A1 (de) * 1993-12-06 1995-06-14 Elpatronic Ag Verfahren und Vorrichtung zur optischen Prüfung eines durchsichtigen Behälterbereichs, insbesondere des Mündungsbereichs
US5536935A (en) * 1994-02-17 1996-07-16 Thermedics Detection, Inc. Detection of foaming contaminants in containers using image processing
GB2288016B (en) * 1994-03-31 1998-05-13 Tomra Systems As Device for generating,detecting and recognizing a contour image of a liquid container
DE29502708U1 (de) * 1995-02-18 1996-04-11 Kronseder Maschf Krones Inspektionsvorrichtung

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