JPS60151300A - 減圧デポジシヨン用不純物源 - Google Patents
減圧デポジシヨン用不純物源Info
- Publication number
- JPS60151300A JPS60151300A JP23310384A JP23310384A JPS60151300A JP S60151300 A JPS60151300 A JP S60151300A JP 23310384 A JP23310384 A JP 23310384A JP 23310384 A JP23310384 A JP 23310384A JP S60151300 A JPS60151300 A JP S60151300A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- boat
- impurity source
- boron nitride
- impurity
- silicon wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B31/00—Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor
- C30B31/06—Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor by contacting with diffusion material in the gaseous state
- C30B31/16—Feed and outlet means for the gases; Modifying the flow of the gases
- C30B31/165—Diffusion sources
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[技術分野1
本発明は半導体ウェーッ\に対するデポジション技術、
特にそこで使用される不純物源の構造に関する。
特にそこで使用される不純物源の構造に関する。
1背景技術1
従来、半導体ウェーハに不純物を拡散する場合、例えば
ボロンナイトライド(BN)を用いてシリコンウェーハ
にP型不純物を拡散する場合、ボート−ににP型不純物
源でおるボロンナイトライド(BN)の円板状ウェーt
s(一部を若干酸化したもの)とシリフンのウェーハを
交互に整列配置し、この状態でボートを石英管に挿入し
、石英管を外周より加熱し石英管内に酸化ボロン雰囲気
を作り、これによりシリコンウェーハにボロン酸化物を
デポジションし、かつそれよりウェーハ内へ不純物を拡
散している。この場合石英管内を不活性ガス(N2)の
雰囲気にして加熱し、これによりシリコンウェーハの表
面にボロン酸化物をデポジションし、かつボロンを)1
′・導体表面に浅く拡散している。
ボロンナイトライド(BN)を用いてシリコンウェーハ
にP型不純物を拡散する場合、ボート−ににP型不純物
源でおるボロンナイトライド(BN)の円板状ウェーt
s(一部を若干酸化したもの)とシリフンのウェーハを
交互に整列配置し、この状態でボートを石英管に挿入し
、石英管を外周より加熱し石英管内に酸化ボロン雰囲気
を作り、これによりシリコンウェーハにボロン酸化物を
デポジションし、かつそれよりウェーハ内へ不純物を拡
散している。この場合石英管内を不活性ガス(N2)の
雰囲気にして加熱し、これによりシリコンウェーハの表
面にボロン酸化物をデポジションし、かつボロンを)1
′・導体表面に浅く拡散している。
例えば1、−の方法は特公昭43−28722号公報に
よって開示されている。
よって開示されている。
しかしながら、従来のこのような方法にあってはシリコ
ンウェーハの全数枚にそれぞれボロンナイトライド(1
3N)のウェーハを対応配置させなければならず、それ
に要する手数は相当なもので作力能率を大幅に1氏下し
、また5英ボート上にシリコンウェ−ハおよびボロンナ
イトライド(B N )のウェーハを交互に並べるため
、ボロンナイトライド(13N)のウェーハにスペース
がとられてしまい、石英ボート上に1度に並べられるシ
リコンウェーハの枚数が少ないものになる。
ンウェーハの全数枚にそれぞれボロンナイトライド(1
3N)のウェーハを対応配置させなければならず、それ
に要する手数は相当なもので作力能率を大幅に1氏下し
、また5英ボート上にシリコンウェ−ハおよびボロンナ
イトライド(B N )のウェーハを交互に並べるため
、ボロンナイトライド(13N)のウェーハにスペース
がとられてしまい、石英ボート上に1度に並べられるシ
リコンウェーハの枚数が少ないものになる。
さらにシリコンウェーハ1枚1枚に、シリコンウェーハ
の犬外さとほぼ等しい大きさの円板状ボロンナイトライ
ド(BN)の1ンエーハを大づ応させる必要があるため
、それに要するボロンナイトライド(13N)の使用量
が増している。
の犬外さとほぼ等しい大きさの円板状ボロンナイトライ
ド(BN)の1ンエーハを大づ応させる必要があるため
、それに要するボロンナイトライド(13N)の使用量
が増している。
[発明の目的]
本発明の目的は、一度にデポジションで外る半導体ウェ
ーハの枚数を大幅に増すと共に半導体ウェーハ間の不純
物トープ量のバラツキも少なくすることのできる方法に
適して有効な不純物源を提供することにある。
ーハの枚数を大幅に増すと共に半導体ウェーハ間の不純
物トープ量のバラツキも少なくすることのできる方法に
適して有効な不純物源を提供することにある。
1発明の概要1
本発明は減圧デボシ゛シシンに特に有効な不純物源であ
って、その構造は細長い棒状もしくは板状をなしている
ことを特徴とする。
って、その構造は細長い棒状もしくは板状をなしている
ことを特徴とする。
[実施例1
以下に本発明の不純物源を使用して有効なデボンション
法について図面を用いて詳細に述べる。
法について図面を用いて詳細に述べる。
第1図は本発明による半導体ウェーへの拡散方法を実施
する際用いられる拡散装置を示し、同図においてこの拡
散装置はヒータを含む炉1に石英ガラスまたはシリフン
などからなる炉心管2がはめ込まれており、この炉心管
2の一端には取り外し可能なキャンプ3か嵌入され、前
記キャンプ3の一部には後述するボートを移動させるt
こめの引き出し捧4が挿入される孔5が設けられている
。
する際用いられる拡散装置を示し、同図においてこの拡
散装置はヒータを含む炉1に石英ガラスまたはシリフン
などからなる炉心管2がはめ込まれており、この炉心管
2の一端には取り外し可能なキャンプ3か嵌入され、前
記キャンプ3の一部には後述するボートを移動させるt
こめの引き出し捧4が挿入される孔5が設けられている
。
またif記炉心管2の他端には炉心管2内を真空にする
ための粘“式目6が形成され、これは図示しない真空ポ
ンプにつながっている。
ための粘“式目6が形成され、これは図示しない真空ポ
ンプにつながっている。
また前記孔5は前記炉心管2内を減圧にしても外気か入
り込まないように設計されている。
り込まないように設計されている。
このような拡散装置の前記炉心管2内に入れられるボル
ト9は石英ガラスまたはシリコンがら細長に形成された
ボートであって、このボート9の」二面には幅方向に向
ってシリコンウェーハ8の一部を収容できる溝10が長
さ方向に並列して複数設けられている。(第2図)。
ト9は石英ガラスまたはシリコンがら細長に形成された
ボートであって、このボート9の」二面には幅方向に向
ってシリコンウェーハ8の一部を収容できる溝10が長
さ方向に並列して複数設けられている。(第2図)。
また前記ボートつと同様に前記炉心管2内に入れられる
不純物源すなわちボロンナイトライド(BN)11は前
記シリコンウェーハ8の外周よりも大きく形成され、か
つ並列して複数並べられた弧状の支:t12間にかけ渡
されており、しかもこれらのボロンナイトライド(BN
)11は枠状をなして前記支注12の外周に沿って配設
されている(第3図)。
不純物源すなわちボロンナイトライド(BN)11は前
記シリコンウェーハ8の外周よりも大きく形成され、か
つ並列して複数並べられた弧状の支:t12間にかけ渡
されており、しかもこれらのボロンナイトライド(BN
)11は枠状をなして前記支注12の外周に沿って配設
されている(第3図)。
このような機構のもとに、まずシリコンウェーハ8をボ
ート9の溝9aにそれぞれ配置し、これを炉心管2の開
口端13におく、これと並行して前記シリコンウェーハ
8の外側から支注12に支えられたボロンナイトライド
(BN)1.1を覆った後、前記開口端】3をキャップ
3で封止して、図示しない真空ポンプで前記開口端13
の反対方向の排気口6から炉心管2内を真空にする。そ
して真空状態を保持した状態で前記ボート9およびボロ
ンナイトライド(BN)11を引き出し捧イによって炉
心管2の中央部2aまで移動させ、デポジションおよび
拡散をおこなう。この場合のデボン゛ジョンおよび拡散
は、njj記ボロ?ナイトライド(BN)11が炉心管
2内で加熱されることにより酸化ボロン(B、O,)不
純物ガス化されて、これが、シリコンウェーハ8に主表
面にデポジションおよび4d、散される。
ート9の溝9aにそれぞれ配置し、これを炉心管2の開
口端13におく、これと並行して前記シリコンウェーハ
8の外側から支注12に支えられたボロンナイトライド
(BN)1.1を覆った後、前記開口端】3をキャップ
3で封止して、図示しない真空ポンプで前記開口端13
の反対方向の排気口6から炉心管2内を真空にする。そ
して真空状態を保持した状態で前記ボート9およびボロ
ンナイトライド(BN)11を引き出し捧イによって炉
心管2の中央部2aまで移動させ、デポジションおよび
拡散をおこなう。この場合のデボン゛ジョンおよび拡散
は、njj記ボロ?ナイトライド(BN)11が炉心管
2内で加熱されることにより酸化ボロン(B、O,)不
純物ガス化されて、これが、シリコンウェーハ8に主表
面にデポジションおよび4d、散される。
このようにシリコンウェーハ8のデポジションおよび拡
散が完了した時点で前記引外出し棒4によりボート9を
炉心管2のキャップ3側に引外寄せてキャンプ3をはず
しボート9を取り出す。
散が完了した時点で前記引外出し棒4によりボート9を
炉心管2のキャップ3側に引外寄せてキャンプ3をはず
しボート9を取り出す。
なお前記実施例においては、支注12に複数の不純物源
すなわちボロンナイトライド(BN)11をかけ渡した
ものの中にシリコンウェーハ8を1重人してデポジショ
ンおよび拡散を行っているが、前記ボロンナイトライド
(BN)11を第4図に示すように、板状に形成し、こ
れをシリコンウェーハ8の上部または下部もしくは上部
、下部の両方に配置して、これらの間にシリコンウェー
ハ8をボート9ごと挿入した状態でデボシ゛シタンおよ
び拡散を行ってもよい。
すなわちボロンナイトライド(BN)11をかけ渡した
ものの中にシリコンウェーハ8を1重人してデポジショ
ンおよび拡散を行っているが、前記ボロンナイトライド
(BN)11を第4図に示すように、板状に形成し、こ
れをシリコンウェーハ8の上部または下部もしくは上部
、下部の両方に配置して、これらの間にシリコンウェー
ハ8をボート9ごと挿入した状態でデボシ゛シタンおよ
び拡散を行ってもよい。
なお、前記実施例においては、減圧状態を保持した状態
でボート9およびボロンナイトライド(BN)ifを、
引出棒によって移動させているが、他の方法としてボー
ト9及びボロンナイトライド(BN)1.1を炉心管2
の中央部に挿入した後、開目端をキャンプで封止して、
その後j威圧してデポジション及び拡散を行ってもほは
同様の効果を得ることができる。
でボート9およびボロンナイトライド(BN)ifを、
引出棒によって移動させているが、他の方法としてボー
ト9及びボロンナイトライド(BN)1.1を炉心管2
の中央部に挿入した後、開目端をキャンプで封止して、
その後j威圧してデポジション及び拡散を行ってもほは
同様の効果を得ることができる。
又、前記実施例においては、ボート9とホロンナイトラ
イド(BN)1.1を一緒に移動させているか池の方法
としてボロンナイトライドは、石英管の中央部に1−め
入れてもと、ボー1−のみ作業毎1こ出し入れすること
によってもほぼ同様の効果を代ることがでとる。
イド(BN)1.1を一緒に移動させているか池の方法
としてボロンナイトライドは、石英管の中央部に1−め
入れてもと、ボー1−のみ作業毎1こ出し入れすること
によってもほぼ同様の効果を代ることがでとる。
さらにまた他の方法としては半導体ウェーハおよびボロ
ンナイトライドを石英管内に封止し、それを炉心管内に
入れ加熱してもよい。
ンナイトライドを石英管内に封止し、それを炉心管内に
入れ加熱してもよい。
よjこデポジション剤としては若干の酸化ボロンを含む
ボロンナイトライドの他若干の酸化ボロンを含むセラミ
ック等の固形デポジション源がその保持−1−有効に利
用できる。またデポジション剤としては酸化ボロンの他
酸化りんその他の他の酸化物を用いることが゛できる。
ボロンナイトライドの他若干の酸化ボロンを含むセラミ
ック等の固形デポジション源がその保持−1−有効に利
用できる。またデポジション剤としては酸化ボロンの他
酸化りんその他の他の酸化物を用いることが゛できる。
(効果]
1)J、上のように本発明によれば、不純物源を半導体
ウェーハのおのおのに配置する必要がないから、その配
置作業に要する手数が大幅に減少される。
ウェーハのおのおのに配置する必要がないから、その配
置作業に要する手数が大幅に減少される。
また、本発明によれは、ボート」−に゛1′−導木ウェ
ーハと不純物源とを交互に並べる必要がないから、一つ
のボートに収められる半導体ウェーへの数を増すことが
できる。したかって、半導体ウェ−ハの1回の処理枚数
が増す。
ーハと不純物源とを交互に並べる必要がないから、一つ
のボートに収められる半導体ウェーへの数を増すことが
できる。したかって、半導体ウェ−ハの1回の処理枚数
が増す。
さらに、本発明によれば、半導体ウェーハと不純物源と
を交互に並べないことがら、不純物源の使用風を大幅に
低)威でたるなどの数々の効果がある。
を交互に並べないことがら、不純物源の使用風を大幅に
低)威でたるなどの数々の効果がある。
上述のようなデボシ゛ジョン」1程においては若干のボ
ロン原子か半導体表面部に拡散されるから上記工程の後
上記デボンシタンされた酸化物をエンチング除去し、さ
らに加熱すれば半導体表面に所定の:fAさで所定の比
抵抗の拡散層を得ることがで外る。
ロン原子か半導体表面部に拡散されるから上記工程の後
上記デボンシタンされた酸化物をエンチング除去し、さ
らに加熱すれば半導体表面に所定の:fAさで所定の比
抵抗の拡散層を得ることがで外る。
m1図は拡散装置の断面図、第2図はボートの斜面図、
第3図(a)、(+1)は本発明による半導体ウェーハ
の4ガ、敵方法の実施例中用いられる不純物源の正面図
および11111而図、第4図(all、 (+))は
本発明方法の他の実施例中用いられる不純物源の正面図
および側面図である。 1・・・炉、2・・・炉心管、2a・・・中火部・ 3
゛°゛キヤンプ、4・・・引き出し棒、5・・・孔、6
・・・排気[二l、8・・・シリフンウェーハ、1〕・
・・ボー)、9a・・・2TL 11・・・ボロンナイ
トライド(BN)、12・・・文法、13・・・開口端
。
第3図(a)、(+1)は本発明による半導体ウェーハ
の4ガ、敵方法の実施例中用いられる不純物源の正面図
および11111而図、第4図(all、 (+))は
本発明方法の他の実施例中用いられる不純物源の正面図
および側面図である。 1・・・炉、2・・・炉心管、2a・・・中火部・ 3
゛°゛キヤンプ、4・・・引き出し棒、5・・・孔、6
・・・排気[二l、8・・・シリフンウェーハ、1〕・
・・ボー)、9a・・・2TL 11・・・ボロンナイ
トライド(BN)、12・・・文法、13・・・開口端
。
Claims (1)
- ボロンナイトライドまたは酸化ボロンあるいは酸化9ん
より成り、その形状は細長い棒状もしくは板状をなして
いることを特徴とする減圧デポジション用不純物源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23310384A JPS60151300A (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 | 減圧デポジシヨン用不純物源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23310384A JPS60151300A (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 | 減圧デポジシヨン用不純物源 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP48036757A Division JPS6011457B2 (ja) | 1973-04-02 | 1973-04-02 | デイポジシヨン法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60151300A true JPS60151300A (ja) | 1985-08-09 |
Family
ID=16949819
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23310384A Pending JPS60151300A (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 | 減圧デポジシヨン用不純物源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60151300A (ja) |
-
1984
- 1984-11-07 JP JP23310384A patent/JPS60151300A/ja active Pending
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