JPH04332122A - 減圧cvd装置 - Google Patents

減圧cvd装置

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Publication number
JPH04332122A
JPH04332122A JP10137291A JP10137291A JPH04332122A JP H04332122 A JPH04332122 A JP H04332122A JP 10137291 A JP10137291 A JP 10137291A JP 10137291 A JP10137291 A JP 10137291A JP H04332122 A JPH04332122 A JP H04332122A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
tube
furnace core
core tube
gas introduction
Prior art date
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Pending
Application number
JP10137291A
Other languages
English (en)
Inventor
Masami Kayama
将巳 香山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の製造装置に
関し、特に減圧CVD装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の減圧CVD装置は、炉芯管内に、
ウェハーを保持するボートと、成長ガスを導入するガス
導入口及びガス導入管とを有し、該炉芯管内を高温加熱
及び真空排気した後、該ガス導入口及びガス導入管から
成長ガスを導入し化学反応させ、該ウェハー上に所要の
膜を形成させている。
【0003】したがって、該ウェハー上に成膜させる時
、同時に炉芯管の内壁にも膜が形成されることになって
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来の減圧CVD
装置は、ウェハー上に所要の膜を形成させる時、同時に
炉芯管の内壁にも成膜される。特に、炉芯管上部の球面
部が著しく、このため、球面部に蓄積された膜と炉芯管
との熱膨脹率の違い、あるいは、蓄積させた膜のストレ
スにより炉芯管上部の球面部にクラックが生じ、ここか
らのリークの懸念から同一炉芯管の使用は極めて短期間
となり、従って多大な費用を要する結果を招いていた。
【0005】また、炉芯管上部の球面部に蓄積された膜
は、炉芯管内の圧力の変化等の影響で剥れ落ち、該炉芯
管下方に位置するウェハー表面に付着するため、パーテ
ィクルとなり、歩留りの低下を招いていた。
【0006】本発明の目的は、炉芯管上部の球面部に成
膜されることを防止した減圧CVD装置を提供すること
にある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
、本発明に係る減圧CVD装置においては、炉芯管内に
、ウェハーを保持するボートと、成長ガスを導入するガ
ス導入口及びガス導入管とを有し、該炉芯管内を高温加
熱及び真空排気した後、該ガス導入口及びガス導入管か
ら成長ガスを導入し、化学反応させ、該ウェハー上に所
要の膜を形成させる減圧CVD装置であって、前記成長
ガス導入管の他に、1本または複数の不活性ガス導入管
を有するものである。
【0008】
【作用】本発明の減圧CVD装置は、成長ガス導入管の
他に別に不活性ガス導入管を有しているため、成膜中、
つまり成長ガス導入管から成長ガスを炉芯管内に導入中
、同時に不活性ガス導入管から不活性ガスを該炉芯管内
上部の球面部付近のみに導入することにより、炉芯管内
上部の球面部での成長ガスの残留の反応を抑制すること
ができ、該球面部内壁への成膜を低減することができる
【0009】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0010】(実施例1)図1は、本発明の実施例1に
係る減圧CVD装置を示す断面図である。
【0011】図において、本実施例に係る減圧CVD装
置は、炉芯管1及び2内に、ウェハー3を保持するボー
ト4と、成長ガスを導入するためのガス導入口5及びガ
ス導入管6とを有し、該炉芯管1及び2内を、ヒーター
7により高温加熱、及び真空ポンプ8により真空排気し
た後、該ガス導入口5及びガス導入管6から成長ガスを
導入し、化学反応により該ウェハー3上に所要の膜を形
成させる減圧CVD装置を対象とするものである。
【0012】さらに本実施例は、成膜中、つまり成長ガ
スを該炉芯管1及び2内に導入中、同時に炉芯管1上部
の球面部9まで延びた筒状の不活性ガス導入管10から
不活性ガスを炉芯管上部の球面部9付近にのみ導入し、
炉芯管上部球面部9での成長ガスの残留の反応を抑制し
、球面部9内壁への成膜を低減する。
【0013】(実施例2)図2は、本発明の実施例2を
示す断面図である。
【0014】本実施例は、実施例1(図1)と同一の構
成を持つ減圧CVD装置において、不活性ガス導入管1
0の代わりに、炉芯管1上部の球面部9に不活性ガス導
入管11を加えた形状の炉芯管1を持つことで、不活性
ガス導入管11より、成膜中に不活性ガスを導入し、実
施例1と同様の作用を施す。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、成膜中に
炉芯管上部球面部付近に不活性ガスを導入することがで
きるため、成長ガスの残留ガスが炉芯管上部球面部で反
応し、該球面部に成膜するという現象を抑制することが
でき、該球面部でのクラックの発生を低減することが可
能となり、同一炉芯管の使用回数を大幅に向上させるこ
とができる。
【0016】また、該球面部への膜の蓄積を抑制できる
ため、炉芯管内の圧力の変化等の影響による蓄積膜の剥
れ落ちを低減でき、ひいては剥れ落ちた膜片のウェハー
表面への付着を低減することになり、歩留りの向上につ
ながる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1を示す断面図である。
【図2】本発明の実施例2を示す断面図である。
【符号の説明】
1,2  炉芯管 3  ウェハー 4  ボート 5  成長ガス導入口 6  成長ガス導入管 7  ヒーター 8  真空ポンプ 9  炉芯管1上部の球面部 10  不活性ガス導入管 11  不活性ガス導入管

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  炉芯管内に、ウェハーを保持するボー
    トと、成長ガスを導入するガス導入口及びガス導入管と
    を有し、該炉芯管内を高温加熱及び真空排気した後、該
    ガス導入口及びガス導入管から成長ガスを導入し、化学
    反応させ、該ウェハー上に所要の膜を形成させる減圧C
    VD装置であって、前記成長ガス導入管の他に、1本ま
    たは複数の不活性ガス導入管を有することを特徴とする
    減圧CVD装置。
JP10137291A 1991-05-07 1991-05-07 減圧cvd装置 Pending JPH04332122A (ja)

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JP10137291A JPH04332122A (ja) 1991-05-07 1991-05-07 減圧cvd装置

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JPH04332122A true JPH04332122A (ja) 1992-11-19

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JP (1) JPH04332122A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5503678A (en) * 1993-11-04 1996-04-02 Nec Corporation Vertical low pressure CVD apparatus with an adjustable nozzle

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5503678A (en) * 1993-11-04 1996-04-02 Nec Corporation Vertical low pressure CVD apparatus with an adjustable nozzle

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