JPS60131511A - 自動焦点検出装置 - Google Patents

自動焦点検出装置

Info

Publication number
JPS60131511A
JPS60131511A JP58240227A JP24022783A JPS60131511A JP S60131511 A JPS60131511 A JP S60131511A JP 58240227 A JP58240227 A JP 58240227A JP 24022783 A JP24022783 A JP 24022783A JP S60131511 A JPS60131511 A JP S60131511A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
distribution
image
video signal
difference
maximum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58240227A
Other languages
English (en)
Inventor
Zenichi Okabashi
岡橋 善一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58240227A priority Critical patent/JPS60131511A/ja
Publication of JPS60131511A publication Critical patent/JPS60131511A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、微細な磁気ヘッドの厚みや、トラック幅、さ
らにICパターンの線幅等の高精度自動測定における際
の自動焦点合せのための検出装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点 一般に、磁気ヘッドの厚みやトラック幅測定のような微
細な対象物の高精度測定では、光学倍率を高くして行う
必要があり、顕微鏡のような光学系を用いて高倍率を実
親している。しかし、このような高倍率時には、光学系
の焦点深度が極めて浅くなり、測定の都度、焦点を合せ
なおす作業が必要であるため、生産ラインのような大量
の対象を短時間に測定する上でのネックとなっていた。
また、焦点のあわせ方も、人間の感覚に依存するため、
測定値にばらつきが出るなどの問題があった。従来例で
は、自動焦点装置として、対象物の明暗変化部の傾斜が
最大となるよう制御するタイプのものが多いが、処理方
法が微分型であるだめに、ごみや傷、ノイズに弱いとい
う問題点を有していた。
発明の目的 本発明は、上記従来の問題点を解消するもので磁気ヘッ
ド厚みやトラック幅等のような、単純な線幅の対象を撮
像した映像信号を処理し、コントラストを積分型でデー
タ処理することにより、安定に自動的にその焦点位置を
検出できる装置を提供することを目的とする。
発明の構成 そして上記目的を達成するために、本発明はイメージセ
ンサ、TVカメラ等の撮像手段と、これらから得られる
被測定対象の映像信号のデータ処理装置とを備えた自動
焦点検出装置であり、映像信号中の明るさ頻度分布をめ
、一定範囲内の分布の最大値と最小値をめ、その差分が
最大となる位置を合焦位置として安定に検出するよう構
成するものである。
実施例の説明 本発明の一実施例として、磁気ヘッド等の厚みの自動測
定における、自動焦点検出装置について説明する。第1
図は、本実施例における、レンズ系2及びイメージセン
サ−3よりなる撮像部10とその信号処理部の構成を示
した説明図である。
撮像部10のイメージセンサ−3は、測定対象である磁
気ヘッド1七第2図のような位置関係で配置する。
第1図のレンズ系2は、磁気ヘッド1とイメージセンサ
−3との間におかれて、適当な倍率で結像されるための
ものである。イメージセンサ−3は、たとえば1024
ビツトの画素を有する一次元のセンサーであり、適当な
段階数(たとえば266段階)の分解能をもつアナログ
ディジタル変換部4(以下ムD変換部と略す)に接続さ
れている。kD変換部4の出力は、像の明暗分布を作成
する分布メモリー6及び加算回路6よシなる分布作成手
段11に接続され、分布メモリー6部出力は、その中の
最大値を判定保持する回路7と、最小値を判定保持する
回路8とに接続されている。
回路7及び8の出力は、合焦位置を検出する保持判定部
9[接続されている。
以上のように構成された自動焦点検出装置について、以
下にその動作を説明する。
レンズ系2によって、イメージセンサ−3上に結像され
た磁気へソド1の像は、明暗信号となって、イメージセ
ンサ−3の画素ごとに直列に取り出され、五り変換部4
に入る。ここで、たとえば、8ビツトのディジタル数値
に変換された明暗情報は、次の分布メモリー6部で、2
66段階の明るさの頻度分布データに変換する。第3図
は、イメージセンサ−3から得、られた明るさの信号−
映像信号12を明るさの頻度分布図13に変換する時の
概念を示す図であり、第3図の縦軸は、266段階の−
るさを示し、横軸は、各明るさ段階ごとのビット数の和
を示している。
このような分布メモリー6を作るために必要なメモリー
は、明るさ分解能266段階、イメージセンサ画素数1
024の場合、アドレス数266データ幅10ビットが
必要である。
ムD変換された明るさのデータは、分布メモリー6部の
アドレスデータとして入力され、読み出されたデータに
加算回路6′によって1を加算し、その加算結果を再度
、同一アドレスに書き込むようにする。ここで、分布メ
モリー6のデータは、各明るさ段階の頻度に対応してい
る。従って1.最初にメモリーの全アドレスに0を書き
込んだ上で、上記手順によって、明るさデータを分布メ
モリー6部に記録させそ4尭ば、センサーの一走査と同
時に分布メモリー6部に、頻度分布データが作成できる
また、この分布メモリー6へのデータ書込時に、あらか
じめ設定しておいた明るさレベル14の範□ 囲でのデータを対象1として、その中の最大値と最′J
7ft!E =それぞれ回路7・ 8″判定保持する・
第6図は1、その回路を示す。最大値、保持の動作は、
分布メモリーデータ17を、比較器18に入711、そ
の時点までに保持器19に保持されていた最大値、デー
タ20と比較し、1.7の方が大きければ、保、竺信号
21を保持、器19に送り、17のデータを保持させる
。このようなデータ更新動作を、14のレベル以上につ
いて行えば、その範囲内での最大値データが保持器19
に保持される。最小値保持の動作に、ついても同様で比
較器18a、保持器7.9af有する? この最大値、最小値を、保持判定部9に入力して、その
差をめ分布差分データとして保持しておく。
以上が1回の像の取り込みに際して行う処理であり、合
焦位置を含む所定の可動範囲内において、撮像部1Oと
磁気へラド1との距離を変えて前記動作を繰り返すこと
によって、各回の「分布差分値」と「撮像部10と磁気
ヘッド1との距離」との関係が、第4図の16のよう々
曲線として得られる。
これを、マイクロコンピュータのようなデータ処理装置
で構成される、保持判定部9で15の中の最大値16を
めることによって、合焦位置を検出する。
撮像部1o全体を動かすか又は、ズームレンズを回して
、合焦位置を探索するように構成し、可動範囲内で、−
周期移動の後16の位置で停止させるように制御すれば
、自動的に焦点を合わせることができる〇 発明の効果 本発明は、撮像素子から得られた対象表面像の明るさの
頻度分布をつくり、その所定レベル以上の分布の最大値
と最小値との差の変化をとらえることにより焦点位置を
検出できるものであり、縦来のコントラストを用いた方
式にくらべ、頻度分布という積算的な方式を用いている
ことで、ゴミや傷などによる焦点検出のずれなどの問題
がなく安定に焦点検出ができる優れた焦点検出装置を実
現できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の自動焦点検出装置の構成を
示す図、第2図は同イメージセンサと磁気ヘッドとの位
置関係を示す配置図、第3図神子−は映像信号(()と
その明るさ頻度分布(ロ)を示す特性図、第4図は同分
布差分最大値の変化を示す特性図、第6図は同最大値、
最小値を保持する回路図である。 10・・・・・・撮像部(撮像手段)、4・・・・・・
ムD変換部(ディジタル化手段)、11・・・・・・分
布作成手段、7・・・・・・最大値保持回路、8・・・
・・・最小値保持回路、9・・・・・・保持判定部(保
持判定手段)。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第 
21g′ 第3図 。、、 ’ (0) 第4図 Uシズーどンす一系ε夕寸1に物との石百都第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 対象物を撮像する撮像子一段と、それから得られる映像
    信号をディジタル化するディジタル化手段記頻度分布を
    解析し、最大値、最小値及び最大(1(’と最小値の差
    分を探索保持する保持判定手段とを有し、前記差分の、
    撮像部を対象物との距離に応じた変化の中の最大を示す
    位置をもって合焦位置とするように構成した自動焦点検
    出装置。
JP58240227A 1983-12-20 1983-12-20 自動焦点検出装置 Pending JPS60131511A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58240227A JPS60131511A (ja) 1983-12-20 1983-12-20 自動焦点検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58240227A JPS60131511A (ja) 1983-12-20 1983-12-20 自動焦点検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60131511A true JPS60131511A (ja) 1985-07-13

Family

ID=17056336

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58240227A Pending JPS60131511A (ja) 1983-12-20 1983-12-20 自動焦点検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60131511A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62289703A (ja) * 1986-04-11 1987-12-16 サイスキヤン・システムズ・インク 表面プロフィール測定装置および方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5033653A (ja) * 1973-07-31 1975-03-31
JPS5767902A (en) * 1980-10-14 1982-04-24 Toshihiro Kondo Focus detecting method

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5033653A (ja) * 1973-07-31 1975-03-31
JPS5767902A (en) * 1980-10-14 1982-04-24 Toshihiro Kondo Focus detecting method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62289703A (ja) * 1986-04-11 1987-12-16 サイスキヤン・システムズ・インク 表面プロフィール測定装置および方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2696044B2 (ja) 合焦検出方法、これを用いた非接触変位測定方法及び装置
US4660969A (en) Device for searching objects within wide visual field
JPH0357402B2 (ja)
JPH08211281A (ja) 自動焦点検出方法
KR100350091B1 (ko) 현미경 초점맞춤 검출방법 및 장치
JPS63502777A (ja) 光ファイバ等の移動する長尺物品の直径を測定する方法および装置
JPS60131511A (ja) 自動焦点検出装置
JPS6068308A (ja) 自動焦点検出装置
JP3518925B2 (ja) 走査型顕微鏡の自動画像形成装置
JP4629259B2 (ja) 自動焦点制御装置
JP2740630B2 (ja) 非接触測定装置
JPS59184840A (ja) 液体中のダスト測定法及びその装置
JPH08226805A (ja) 撮像装置の合焦方式及びこれを用いた非接触測定装置
JPS6026973B2 (ja) 物体の表面検査方法及びその装置
JP2720935B2 (ja) 検査装置及び検査方法
JPS6336035B2 (ja)
JPH11185037A (ja) 欠陥情報処理装置及び方法
JPS61202103A (ja) 磁気ヘツドのヘツドギヤツプ検出方法
JPS58129888A (ja) 円形端面の位置検出装置
CN1322735C (zh) 光学机构调校图形接口及其运作方法
JPS624851B2 (ja)
JPH04323611A (ja) 合焦状態検出方法
JPH0536742B2 (ja)
JPH0128994B2 (ja)
JPH03138504A (ja) スポット位置及びスリット位置の検出方法