JPS61202103A - 磁気ヘツドのヘツドギヤツプ検出方法 - Google Patents

磁気ヘツドのヘツドギヤツプ検出方法

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JPS61202103A
JPS61202103A JP4260685A JP4260685A JPS61202103A JP S61202103 A JPS61202103 A JP S61202103A JP 4260685 A JP4260685 A JP 4260685A JP 4260685 A JP4260685 A JP 4260685A JP S61202103 A JPS61202103 A JP S61202103A
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head gap
image
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magnetic head
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JP4260685A
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Seiichiro Terajima
寺島 精一郎
Toshio Akatsu
赤津 利雄
Kazuto Kinoshita
和人 木下
Shigeyuki Watabiki
綿引 重幸
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、磁気ヘッドのヘッドギャップ検出方法に係り
、特に磁気ヘッドの輪郭検出およびヘッドギャップ位置
と、その高さ、幅を高精度かつ高速に検出するのに好適
な、磁気ヘッドのヘッドギャップ検出方法に関するもの
である。
〔発明の背景〕
磁気ヘッドの一例であるVTRビデオヘッドの磁気テー
プ走行面のヘッドギャップ検出方法としては、光学的に
拡大した像をTVカメラで撮像して目視により判断して
いる例が多く、自動化が遅れている分野である。
またン特開昭58−139326号公報に記載されてい
る例では、TVカメラによる目視観察にかえて光電子増
倍管を使用し、その前にスリットを置いてヘッドギャッ
プの光学像を上下左右に振って、光学像の明るさを電気
信号に変換してギャップ位置を検出している。
この方法では、ヘッド表面の塵埃の付着の有無や欠陥の
有無には無関係に位置検出をすることになって微細な高
精度検出には不利であり、この点については開示されて
いなかった。
そこで、塵埃や汚れには無関係ではあるが、ヘッドギャ
ップ位置やトラック幅、ギャップ幅の検出精度は十分保
証して、しかも高速で検出を行うことが重要な課題とな
っていた。
[発明の目的] 本発明は、上述の従来技術の問題点を解決するためにな
されたもので、磁気ヘッドの輪郭検出およびヘッドギャ
ップの位置検出を、ヘッド表面に付着している塵埃や汚
れなどの影響を受けることなく、自動的に高速かつ高精
度に実施することにより、磁気ヘッドの高品質化を図る
ことを可能にする磁気ヘッドのヘッドギャップの検出方
法の提供を、その目的としている。
〔発明の概要〕
本発明に係る磁気ヘッドのヘッドギャップ検出方法は、
磁気ヘッドの表面およびヘッドギャップを光学的に拡大
し、その光学像を光電変換手段を用いて電気信号に変換
し、この電気信号を2値化像に変換して画像メモリに記
憶し、この画像メモリ内のデータを画像処理してヘッド
ギャップ位置を検出する磁気ヘッドのヘッドギャップ検
出方法であって、前記画像メモリに記憶させた前記2値
化像と、あらかじめ基準として設定した。ヘッドギャッ
プを規定すべき照合パターンとを照合させながら走査し
てディスプレス上に出力し、前記2値化像が前記照合パ
ターンと合致する点の分布をヒストグラム表示すること
によって、ヘッドギャップ位置を検出する方法である。
なお付記すると、本発明は、光学的に結像された磁気ヘ
ッドに対して、ヘッド表面に塵埃や汚れなどがあっても
、まず所定方向にヒストグラムをとることにより光電変
換面上の磁気ヘッド位置およびヘッドギャップ位置を検
出して塵埃や汚れの影響を除去する。
次にさらに、高精度化を実現し、かつ高速化を実現する
ために、詳細に画像処理する領域を制限してヘッドギャ
ップおよび輪郭検出を行う段階に領域を設定する方式を
採用している。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の各実施例を第1図ないし第16図を参照
して説明する。
まず、第1図は、本発明の一実施例に係る磁気ヘッドの
ヘッドギャップ検出方法に用いられる検出装置の全体構
成図、第2図は、第1図の装置の画像処理装置部の詳細
を示すブロック図であり、これらを参照して検出装置の
構成を説明する。
第1図において、1は、磁気ヘッドの一例に係るVTR
ビデオヘッドを示し、2はヘッドチップを示す。
3は、ヘッドチップ2の先端を光学的に拡大する拡大光
学系を示し、その主な構成は、対物レンズ4、ハーフミ
ラ−5および光源6で構成されている。
7は、ヘッドチップ2の先端の光学的拡大像を結像し電
気信号に変換する手段に係る光電変換部で、ITVカメ
ラ、固体カメラ、プランビコンカメラ等を適用すること
が可能である。
8は、光電変換部7の映像の電気信号を、例えばダイナ
ミミツクスライス法などにより2値化像に変換するビデ
オ信号変換器、9は、変換した信号を記憶する画像メモ
リ、10は、画像メモリ9内のデータを画像処理してヘ
ッドギャップを検出する画像処理装置を示している。
なお、ここで、拡大光学系3においては、リレーレンズ
11を用いて倍率を変換する場合があり、また光源6に
はフィルタを用いて波長制限する場合がある。
また、ビデオ信号変換器8は、2値化像を得る目的で構
成するが、加工しないでそのままのビデオ信号を出力す
ることも可能であり、この場合には画像メモリ内階調を
多値にして記憶する。このときは照合パターンも多値に
なるが一致点検出後は同じになる。したがって2値化像
ないし多値像いずれの場合についても以下に述べる方法
は原理的に同じになる。2値化手法にはダイナミックス
ライス法による他にいったん別のフレーム単位の両画像
メモリに入力し、メモリ内でスライスレベルを設定して
2値化することも可能であるが、ここではそれらについ
て省略する。
第2図は、画像処理装置10の構成をさらに細く示して
ものである。
11は、画像メモリ9のアドレスを任意に制御するアド
レスコントロール回路、12は、アドレスコントロール
回路11により制御されて出力した画像メモリ信号に対
して一定のパターンマツチングをするための照合パター
ン発生回路、13は、その照合パターンとの一致点を検
出するヒスト検出回路、14は、画像メモリ9内の画像
の表示および演算結果をTVモニタに出力するディスプ
レイ制御回路、15は、画像処理装置10の制御と演算
を実施するCPU、16は、ディスプレイに係るTVモ
ニタを示す。
CPU15内には、内蔵メモリ17を具備している。
次に、これら第1.2図のばか第3図ないし第12図を
参照してヘッドギャップ検出方法の基本的な例を説明す
る。
ここに第3図、第5図は、ヘッドチップの説明図で、第
3図は平面図、第4図は先端の正面図、第5図は第4図
の丸印′部の光学的拡大像を示す拡大図、第6図ないし
第12図は、本発明の一実施例に係る磁気ヘッドのヘッ
ドギャップ検出方法の説明図で、第6図は、画像メモリ
に入力した2値化像の説明図、第7図は2値化像とX方
向の照合パターンとの一致点の分布を示す説明図、第8
図(a)、(b)、(c)は、そのヒストグラム検出結
果を示す説明図、第9図は、回転ヒストグラム検出の説
明図、第10図は、2値化像とY方向照合パターンとの
一致点の分布を示す説明図、第11図(a)、(b)は
、そのヒストグラム検出結果を示す説明図、第12図は
、ヘッドギャップ位置の判定を示す説明図である。
第3図〜第5図に示すように、ヘッドチップ2の先端中
央部は、トラック幅T、に加工され、その中央にW。=
0.3〜0.5μmのヘッドギャツプ2aが設けられて
いる。
ヘッドギャップ2aのギヤツブ幅W0部と、トラック幅
T、の両側の部分は、ハツチングで示すようにガラス剤
が充填されている。このため、拡大光学像は、トラック
幅T、の部分が明るくなり、他はガラス剤のため反射し
ないで暗くうつる。
第5図は、光電変換部7に結像された拡大像である。こ
の画像に対して光電変換面の中心に基準位置を設定して
、ヘッドギャップが画面上のどこにあるかを高速かつ高
精度で、以下に説明する方法によって認識し、第5図の
ヘッドギャップ下端の座標(x、 、 y、 ) 、 
)−ラック幅Tw、ヘッドギャップ幅W、などの情報を
検出する。
これらの情報を得るためには、ヘッドギャップ2aその
ものを高精度に測定することが必要となる。
一般に、本実施例の検出対象であるVTRビデオヘッド
等のヘッドギャップは、映像信号を磁気テープに重ねる
ときに影響がない角度に、ギャップ方向が傾いており、
この角度θをアジマス角度と称している。このアジマス
角度に着目してヒストグラム検出をきめ細く行うことに
より、塵埃、汚れなどの外乱を受けることなく高精度高
速にヘッドギャップを検出することができるのである。
第6図の2値化像を例にとって説明する。
第6図に示す図は、VTRビデオヘッド1のヘッドチッ
プ2を拡大光学系3で光学的に拡大し、その光学像を光
電変換部7で電気信号に変換し、この電気信号をビデオ
信号変換器8で黒と白の2値化像に変換して画像メモリ
6に記憶したものを画像処理するため1画像処理装置1
0のTVモニタ16に撮し出したものである。
画像メモリ9は、直交するX、Y2軸座標の、X方向5
12画素、Y方向480画素のアドレスをもつものとす
る。
画像メモリ9に入力し記憶させた2値化像の原画像に対
して画像処理装置10で次のように画像処理を行う。
まず、アドレスコントロール回路11のアドレス制御に
よりX方向に順次Oから512画素まで(I2) 走査して画像を読み出し、次にY方向に順次0から48
0画素までずらしながら、照合パターン発生回路12に
よりX方向用の一次元の照合パターンPKを発生させ、
2値化像とのマツチング処理、すなわち2値化像と照合
パターンとの合致する点(以下−数点という)を検出す
る。
本実施例の照合パターンPKは、(lx XoOX x
i)を用いる。この照合パターンで、1は白、0は黒、
×は白黒どちらでも可で無視するものとし、前記照合パ
ターンは、白−黒一白の、ヘッドギャップを規定するた
めのパターンである。
照合パターンは、l、O,Xの組合わせにより、さまざ
まの形式をとれるもので、ビット表も8ビツトにとどま
らない。パターンマツチング処理で検出した点数点は、
アドレス情報とともにCPU15の内部メモリ17にス
トアさせる。
第7図に、2値化像と照合パターンとの一致点が分布し
ている例を示す。ノイズとともにヘッドギャップ部が有
効に現われているのがわかる。
次に、この画像に対して、照合パターンとの−数点の分
布をY方向に積算するヒストグラム検出を行う。これは
、Y方向の各アドレスを固定してX方向のアドレスをシ
フトし、照合パターンとの一致点を計数するものである
ここで、ヒストグラム検出を、第7図に示す■。
■、■の方向に角度を変えて比較する。■は単純にY軸
方向にヒストグラム検出を行うもので、■はアジマス角
度に合わせた方向にヒストグラム検出を行うもの、■は
、Y軸に対し■と反対の角度の方向にヒストグラム検出
を行うものである。第7図に示す検出方向■、■、■に
対応したそれぞれのヒストグラム検出結果を第8図(a
)、(b)。
(c)に符号を合わせて示している。
図から明らかなように、ヒストグラム検出方向が単純に
Y軸方向に一致した場合と、アジマス角度に一致した場
合とで、検出結果に大きな差が発生する。第8図(Q)
に示すように、アジマス角度に一致してヒストグラム検
出を行うと、ピークが現われ、ヘッドギャップの中心を
示すアドレスxAが正確に決定できることが明らかであ
る。
なお、アジマス角度方向に一致してヒスl−グラムを検
出する方法は、第9図に示すように、Y方向に2値化像
と照合パターンとの一致点を数えてゆき、10画素進む
ごとにX方向にアドレスを必要画素台シフトして順次一
致点を計数すればよい。
このように2値化像と照合パターンとの一致点のヒスト
グラム検出を角度を変えながら順次行う検出を回転ヒス
トグラム検出という。
以上でヘッドギャップのX方向xAが決定できた。
次に、同様のことをY方向に対しても実施する。
Y方向の、ヘッドチップ上、下端(以下エツジ端という
)を検出するためには、第10図に示すY方向−次元照
合パターンPvを照合パターン発生回路12に発生させ
一致点の検出を行う。
照合パターンPvは、(11xxxO00)と(OOO
xxxll)を使用する。前者は白→黒の一致点を検出
し、後者は黒→白の一致点を検出する。すなわち、エツ
ジ下端かエツジ上端を強調する照合パターンである。
エツジ上端検出もエツジ下端検出も全く同じであるので
、エツジ下端を検出する場合についてのみ述べる。
先の第6図の2値化像の画像データに対して、画像メモ
リ9からTVモニタ16に読み出す方向を最初Y方向の
1〜480画素とし、X方向に順次ずらして2値化像と
照合パターンPyとの一致点を検出する。読み出すアド
レスの制御はアドレスコントロール回路11で行う。一
致点のアドレス情報をCPU15の内部メモリ17にス
トアする。 その処理結果を第10図に示す。
第10図において、今度はY方向のアドレスごとに一致
点のヒストグラム検出を行う。
このとき、単純にY軸方向(矢印■′力方向にヒストグ
ラム検出をしても十分良好な結果が得られるが、エツジ
の傾きはアジマス角度に対して直角であるため、アジマ
ス角度と直角をなす方向(矢印■′力方向に着目してヒ
ストグラムを検出すると第11図(b)に示すようにエ
ツジ下端位置に鋭いヒストグラムのピークが現われる。
ピーりが現われたY方向のアドレスをYlとする。
全く同様な方法で、図示しないがエツジ上端のアドレス
Y、′ も検出できる。
このようにしてアジマス角度の情報からヘッドギャップ
位置(XA、Y、)が正確に検出できる。
第12図にこの検出結果を示す。XA、Y、の結果から
求められる交点の座標(X、 、 Y、 )がヘッドギ
ャップの下端となる。
これまでのヘッドギャップ検出方法の流れを第13図に
示す。すなわち、第13図は、前記のヘッドギャップ検
出方法のフローチャートである。
ビデオ信号を入力し、必要に応じて2値化処理すなわち
2値化像に変換し、任意の照合パターンを設定してパタ
ーンマツチングすなわち2値化像と照合パターンとの一
致点を検出し、その結果に対してアジマス角度に着目し
たヒストグラム検出を行う。同様な処理をヘッドチップ
2のエツジ上下端に対して繰り返す。
上述した方法で求めたエツジ下端の座標(Xo。
Y、)と全く同じ方法で、エツジ上端の座標(X、’ 
、Y、’ )を求めることができる。
ここで、要求される検出精度に対応して、アジマス角度
に着目した回転ヒストグラム検出を省略して、単純な水
平(X軸)、垂直(Y軸)方向の2次元ヒストグラム検
出でヘッドギャップの粗位置検出を行うこともある。粗
位置に対して、さらに画像処理を実施して細密な検出を
抑うこともできる。この場合も、特にアジマス角度に着
目する回転ヒストグラム検出を採用すれば、塵埃、汚れ
などの影響を除いて、高精度検出ができるという効果が
現われる。
第13図のフローチャートに示す高精度化のステップの
実施例を第14図ないし第16図を参照して説明する。
第14図ないし第16図は、本発明の他の実施例ないし
さらに他の実施例に係る磁気ヘッドのヘッドギャップ検
出方法の説明図で、第14図は、ヘッドギャップの左右
に画像処理領域を設定した高精度化検出方法の説明図、
第15図は、へ□ラドギャップ下端を中心として画像処
理領域を設定しく18) た高精度化検出方法の説明図、第16図は、ヘッドギャ
ップ部をすべて含んだ画像処理領域を設定した高精度化
検出方法の説明図である。
第14図に示すように、ヘッドギャップ下端(上端も同
じ)のギャップを挾んだ両側は一直線上にあることは少
なく、どちらかが上下にくい違いをもっている。また、
エツジ下端のギャップ近傍では、アジマス角度と直角の
方向に傾いているとは限らず多少の誤差がある。これら
を正確に検出する他の実施例について以下に述べる。
第14図において、X、、Y、を中心にして左右に必要
画素量Nの画像処理領域に係るエリアAL、ARを設定
する。本実施例ではN−64画素に設定している。
このエリアAL、ARにおいて、先の第10図に示した
照合パターンRvを用いて2値化像と照合パターンとの
一致点を見出し、そのアドレスを(:PU15のメモリ
17内に記憶させる。
−散点に対して前述した回転ヒストグラム検出を行う。
すなわち、エリアAL、AR内においてヒストグラム検
出方向を順次変えながら一致点を計数する。
一致点の数が最も大きい傾き方向を正確なエツジ下端の
代表直線と決定し、これをり、、L、とする。ヘッドギ
ャップ中心線L0は既に求められているので、L、、L
L、Lllの交点の上側をヘッドギャップ下端として正
確に決定する。
次に、本発明のさらに他の実施例に係るヘッドギャップ
の高精度検出について第15図を参照して説明する。
第15図に示すように、ヘッドギャップ下端の座l1l
l (X、 、 y、 )を中心として画像処理領域に
係るエリアACを設定して、これを画像メモリ9に格納
し、画像メモリ9内部のアドレス変換により画像を拡大
してTVモニタ16に表示する。拡大画像はそのまま画
像処理することによりヘッドギャップ下端(X、、Y、
)の微細認識が可能である。
また、拡大光学系3の光学倍率および画像メモリ9内部
の拡大率からヘッドギャップ幅W0も高い分解能で検出
することができる。
次に、本発明のさらに他の実施例に係るヘッドギャップ
の高精度検出について第16図を参照して説明する。
第16図(a)に示す原画像である2値化像に対して、
ヘッドギャップ部すべてを含む画像処理領域に係るエリ
アAdを設定する。
−次元照合パターンをP、、(Oxxxllll)、P
OL (1i i I XXX0)とした例を説明する
なお、パターンの配列は前記の例に限らず、1゜0、×
の組合せにより他の形式もとれる。例えば冗長度を低く
した場合、(OOOXIIII)、(1111X000
)または(00001111)、(11110000)
等の例も適用可能であり、ビット長方8ビットに限らな
い。
エリアAd内の2値化像に対して、X方向に一次元照合
パターンP0.との照合を行いTVモニタ16上に表示
すると第16図(b)に示すようにヘッドギャップの右
側が強調される6 同様に、エリアAd内の2値化像に対して、X方向に照
合パターンP OLとの照合を行いTVモニタ16上に
表示すると第16@(c)に示すようにヘッドギャップ
の左側が強調される。
そこで、第16図(b)、(Q)を重ねて表示すると第
16図(d)に示すようにヘッドギャップが強調される
。この強調された線は、ヘッドギャップ幅を示す線分を
意味している。
さらに、アジマス角度の方向に着目して照合パターンと
の一致点の回転ヒストグラム検出を行えば平均ギャップ
幅を検出できる。ヒストグラム検出のピーク位置のX方
向のアドレスをXWL、x、lIlとすれば、平均ギャ
ップ幅はX、I、l−X1lLで与えられる。
なお、第16図の実施例で説明した画像処理は、右、左
のヘッドギャップ部のエツジ端をそれぞれ独立に行って
いる。これを例えば、Pat(llxooXII)のよ
うな照合パターンを用いても、ヘッドギャップのギャッ
プ幅を決定することが可能である。この場合は、左、右
独立に行う必要がなく1回のパターンマツチング処理で
よい。
〔発明の効果〕
以上述べたように、本発明によれば、磁気ヘッドの輪郭
検出およびヘッドギャップの位置検出を、ヘッド表面に
付着している塵埃や汚れなどの影響を受けることなく、
自動的に高速かつ高精度に実施することができ、磁気ヘ
ッドの高品質化を図ることを可能にする磁気ヘッドのヘ
ッドギャップの検出方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係る磁気ヘッドのヘッド
ギャップ検出方法に用いられる検出装置の全体構成図、
第2図は、第1図の装置の画像処理装置部の詳細を示す
ブロック図、第3図ないし第5図は、ヘッドチップの説
明図で、第3図は平面図、第4図は先端の正面図、第5
図は、第4図の丸印部の光学的拡大像を示す拡大図、第
6図ないし第12図は、本発明の一実施例に係る磁気ヘ
ッドのヘッドギャップ検出方法の説明図で、第6図は、
画像メモリに入力した2値化像の説明図、第7図は2値
化像とX方向照合パターンとの一致点の分布を示す説明
図、第8図(a)、(b)=(Q)は、そのヒストグラ
ム検出結果を示す説明図、第9図は、回転ヒストグラム
検出の説明図、第10図は、2値化像とY方向照合パタ
ーンとの一致点の分布を示す説明図、第11図(a)。 (b)子4;扛は、そのヒストグラム検出結果を示す説
明図、第12図は、ベッドギャップ位置の判定を示す説
明図、第13図は、前記のヘッドギャップ検出方法のフ
ローチャート、第14図ないし第16図は、本発明の他
の実施例ないしさらに他の実施例に係る磁気ヘッドのヘ
ッドギャップの検出方法の説明図で、第14図は、ヘッ
ドギャップの左右に画像処理領域を設定した高精度化検
出方法の説明図、第15図 は、ヘッドギャップ下端を中心として画像処理領域を設
定した高精度化検出方法の説明図、第16図(a)、(
b)、(c)、(d)は、ヘッドギャップ部をすべて含
んだ画像処理領域を設定した高精度化検出方法の説明図
である。 ■・・・VTRビデオヘッド、2・・・ヘッドチップ、
2a・・・ヘッドギャップ、3・・・拡大光学系、7・
・・光電変換部、8・・・ビデオ信号変換器、9・・・
画像メモリ、10・・・画像処理装置、11・・・アド
レスコントロール回路、12・・・照合パターン発生回
路、13・・・ヒスト検出回路、14・・・ディスプレ
イ制御回路、15・・・CPU、16・・・TVモニタ
、17・・・メモリ。 f 1  団 第3図  第46 猪5図 第 6  図 第 ’V   図 第 S 図 (C) A 第 13  図 第 14  図 猶 15  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、磁気ヘッドの表面およびヘッドギャップを光学的に
    拡大し、その光学像を光電変換手段を用いて電気信号に
    変換し、この電気信号を2値化像に変換して画像メモリ
    に記憶し、この画像メモリ内のデータを画像処理してヘ
    ッドギャップ位置を検出する磁気ヘッドのヘッドギャッ
    プ検出方法であつて、前記画像メモリに記憶させた前記
    2値化像と、あらかじめ基準として設定した、ヘッドギ
    ャップを規定すべき照合パターンとを照合させながら走
    査してディスプレス上に出力し、前記2値化像が前記照
    合パターンと合致する点の分布をヒストグラム表示する
    ことによつて、ヘッドギャップ位置を検出することを特
    徴とする磁気ヘッドのヘッドギャップ検出方法。 2、特許請求の範囲第1項記載の方法において、2値化
    像と照合パターンの合致する点の分布を表示したヘッド
    ギャップ位置検出結果を用いて、その位置を基準にして
    所定の画像処理領域を設定し、この領域の範囲で、直交
    する2軸方向に、前記2値化像と照合パターンとの合致
    点の分布をヒストグラム表示する2次元ヒストグラム検
    出によつて、ヘッドギャップの検出精度をたかめるよう
    にした磁気ヘッドのヘッドギャップ検出方法。 3、特許請求の範囲第2項記載の方法において、照合パ
    ターンを、直交する2軸の各軸方向ごとに白、黒で配列
    された任意長さの一次元の照合パターンとし、2値化像
    と照合パターンとの合致点の分布表示を直交する2軸方
    向に行う2次元ヒストグラム検出によつて、ヘッドギャ
    ップの強調ないし磁気ヘッドの上、下端の強調を行うよ
    うにした磁気ヘッドのヘッドギャップ検出方法。 4、特許請求の範囲第2項または第3項記載の方法のい
    ずれかにおいて、直交する2軸方向のうちの一方向に2
    値化像と照合パターンとの合致点の分布を求め、他の一
    方向に合致点のヒストグラム検出を角度を変えながら順
    次行う回転ヒストグラム検出によつて、2次元ヒストグ
    ラム検出を磁気ヘッドのギャップ方向に係るアジマス角
    度に一致させるようにした磁気ヘッドのヘッドギャップ
    検出方法。 5、特許請求の範囲第2項ないし第4項記載の方法のい
    ずれかにおいて、2次元ヒストグラム検出により決定し
    たヘッドギャップ位置情報をもとにして設定した画像処
    理領域に対して回転ヒストグラム検出を行い、その結果
    、最大値が発生する角度方向をヘッドギャップないし磁
    気ヘッド上、下端と判定する磁気ヘッドのヘッドギャッ
    プ検出方法。 6、特許請求の範囲第5項記載の方法において、ヘッド
    ギャップ強調および磁気ヘッド上、下端強調のための任
    意長さの照合パターンを用いて合致点検出を行い、その
    結果に対して回転ヒストグラム検出を適用して、磁気ヘ
    ッドのヘッドギャップないし磁気ヘッド上、下端を判定
    する磁気ヘッドのヘッドギャップ検出方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01282405A (ja) * 1988-05-06 1989-11-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 幅測定装置
JPH03160306A (ja) * 1989-11-17 1991-07-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 幅測定装置
CN111145197A (zh) * 2019-12-10 2020-05-12 电子科技大学 一种精确的基于直方图和局部梯度的道岔转辙机缺口边缘定位方法

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