JP3072788B2 - 印字評価方法及び印字評価装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、紙などの印字対象物を
媒体とする画像出力機器の出力画像品位を評価する印字
評価方法及び印字評価装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、インクジェットプリンタ、レーザ
ービームプリンタ等の画像出力機器の印字評価は、人手
による目視官能評価がほとんどであり、一部生産ライン
外の抜き取り評価あるいは製品開発時の性能評価等で
は、ＩＴＶ等のエリアセンサを用い、画像処理により印
字評価を行う方法がある。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記目視
検査では、その評価結果に個人差が生じ、また個々の評
価結果自体があいまいな値である。そして出力画と標準
チャートを正確に重ね合わせて測定するなど目を酷使す
るため、検査員の負荷が非常に大きいものであった。ま
たＩＴＶ等のエリアセンサを用いた評価方法では高精度
な測定、例えば測定分解能５０μｍとする場合その測定
範囲は５１２×５１２ｂｉｔのＩＴＶでは２５ｍｍ四方
しかとれず、例えば２１０ｍｍ×２９７ｍｍのＡ４サイ
ズ全面に対して印字評価を行う場合などは、数十回画像
取り込み及び処理を繰り返さなければならず、多大な時
間を要していた。

【０００４】本発明は上記点に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、高精度でしかも高速に印字品
位の評価を行うことが可能な印字評価方法及び印字評価
装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するために、本発明による印字評価方法は、印字対象物
上に印字された印字パターンを第１読取手段により第１
の測定分解能で読取るとともに、前記印字パターンを第
２読取手段により前記第１の測定分解能と異る第２の測
定分解能で読取り、前記第１読取手段により読取られた
前記印字パターンに応じた画像信号に基づいて第１の印
字評価を行い、前記第２読取手段により読取られた前記
印字パターンに応じた画像信号に基づいて前記第１の印
字評価とは異る第２の印字評価を行うことを特徴とす
る。又本発明による印字評価装置は、複数の受光素子が
配列され、印字対象物上印字されたパターンを読取る第
１読取手段、複数の受光素子は配列され、前記パターン
を読取る第２読取り手段、前記第１読取手段および第２
読取手段と前記印字対象物とを前記複数の受光素子の配
列方向と異なる方向に相対的に移動させる移動手段、前
記第１読取手段から出力される画像信号に基づいて第１
の印字評価を行なう第１処理手段、前記第２読取手段か
ら出力される画像信号に基づいて第２の印字評価を行う
第２処理手段、を有し、前記第１読取手段と第２読取手
段の測定分解能を異ならしめたことを特徴とする。

【０００６】これにより印字対象物上の第１のパターン
及び第２のパターンを測定分解能の異なる読取手段によ
り読取り、読み取った画像信号に基づいて異なる印字評
価を行う。

【０００７】

【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照して詳細に
説明する。

【０００８】図１は、本発明の印字評価装置の一実施例
を示すブロック図である。撮像装置１は１次元のＣＣＤ
ラインセンサ等の受光素子からなり、評価対象である検
査紙４を撮像し、一走査ごとに電気信号に変換する。照
明３は撮像素子１の撮像位置を照明するものであり、ス
テージ２は撮像装置１の受光素子の配列と直交する方向
に移動する様に配置され、撮像装置１とステージ２によ
り、２次元の画像として評価対象の像を読み込むことが
できる。撮像装置１にて得られた映像信号はＡ／Ｄ変換
部５〜７によってアナログデータからデジタルデータに
変換され、ダーク補正やシェーデイング補正等の処理を
行った後、画像処理部８〜１１に転送される。画像処理
部８〜１１は、取り込んだ画像データを複数の評価対象
エリアに分割格納が可能であり、また１つのＡ／Ｄ変換
部に対して、バス１５を介して複数の画像処理部を接続
することが可能で、この場合、複数の画像処理部はそれ
ぞれ並列に動作が可能な様になっている。また、画像処
理部９に示すように、画像バス１２を介してヒストグラ
ム演算部１３、ランコード演算部１４を接続することが
できる。ヒストグラム演算部１３およびランコード演算
部１４を接続した場合、Ａ／Ｄ変換部５より転送された
画像データは、画像処理部９の内にある画像メモリに格
納されると同時に、ヒストグラム演算部１３及びランコ
ード演算部１４にも転送され、それぞれの演算部の内に
あるメモリにそれぞれの演算結果が格納される。ここで
格納された演算結果は画像バス１２を介して画像処理部
９が読み出すことができる。

【０００９】コントロールＣＰＵ１６は、ホストコンピ
ュータ２１より来る動作命令に従ってＡ／Ｄ変換部５〜
７、画像処理部８〜１１，フロッピーディスクコントロ
ーラ（ＦＤＣ）１７，表示用画像メモリ１８を制御す
る。フロッピーディスク２０には、本システムのパラメ
ータが格納されており、例えば、Ａ／Ｄ変換部５〜７に
設定する２値化レベルや、ダーク補正、シェーデイング
補正のデータ，画像処理部８〜１１の画像取り込みエリ
ア数，各エリアの取込みエリアの範囲，評価項目ごとの
判定基準や、平滑化フィルタのウインドウサイズ等の画
像処理パラメータが格納されている。これらのパラメー
タはホストコンピュータ２１の命令により、内容の読み
出し、書き換えが可能となっている。表示用画像メモリ
１８には画像処理部８〜１１の画像メモリのデータをバ
ス１５を介して転送することが可能で、取込んだ画像デ
ータを表示用モニタ１９に表示する。

【００１０】ステージコントローラ２３は、ホストコン
ピュータ２１の動作命令に従ってステージ２の制御を行
う。シーケンサ２２は検査紙４の位置決め、脱着等の動
作制御を行うものである。

【００１１】図２は図１に示す撮像装置１，ステージ
２，照明３等の具体的構成を示す外観斜視図である。

【００１２】図において、撮像装置１はＣＣＤラインセ
ンサの受光素子を有する４つの撮像部１−１〜１−４か
ら構成され、得た映像信号をＡ／Ｄ変換部５〜７に出力
する。ここで、撮像部１−１，１−２と１−３，１−４
が対になっており、撮像部１−３，１−４はいずれもＡ
／Ｄ変換部６に映像信号を出力する。ステージ２はさら
に検査紙４をステージ２の面に吸着させるためのシリン
ダ部２−１を有しており、ステージ２と同様にステージ
コントローラ２３によってその制御が行われる。

【００１３】照明３はハロゲンランプで構成される２つ
の照明部３−１，３−２から構成され、夫々上記撮像部
１−１，１−２と１−３，１−４に対応して設けられて
いる。なお、照明３は光量が充分であれば蛍光灯の方が
発熱量等の面からは好ましい。

【００１４】図３は画像処理部８〜１１内の画像メモリ
制御部のブロック図である。エリア記憶回路２４には、
画像を取り込むエリアの開始Ｘ座標，終了Ｘ座標，開始
Ｙ座標，終了Ｙ座標の値が書き込まれている。複数エリ
アを取り込む場合はエリア記憶回路２４に、複数エリア
のそれぞれの開始、終了のＸＹ座標が書きこまれる。ま
た、複数エリア同志が重なって設定されていてもよい。
比較回路２５にて現在入力されている画像のＸ，Ｙ座標
と、エリア記憶回路２４に設定している値が比較され、
もし、現在入力されている画像のＸ，Ｙ座標がエリア記
憶回路２４に設定されているＸ，Ｙ座標の範囲内であれ
ば、制御信号２６を画像データ制御回路２７に送り、画
像データを画像メモリ２８に書きこむ。設定したエリア
の全データが画像メモリ２８に格納された後、ＣＰＵ２
９は画像データを読み出し、ＲＯＭ３０，ＲＡＭ３１で
設定された画像処理を行う。

【００１５】図４（Ａ）は検査対象３４に３５〜３８の
複数のエリアを設定した場合である。図４（Ｂ）は図３
で設定したエリアのデータを、１つの画像処理部の画像
メモリ２８に格納した場合を示す。

【００１６】３５〜３８のエリアのデータは画像処理部
の画像メモリ２８内に、４１〜４４のエリアデータとし
て、分割して格納される。この場合、前に説明した図２
のエリア記憶回路２４には、エリア１（３５）〜エリア
４（３８）のＸ，Ｙ座標の開始点と終了点を書きこむこ
とで実現される。

【００１７】次に、図４（ｃ）は、複数エリアの画像デ
ータを複数の画像処理部に分けて格納する場合の説明図
である。エリア１（３５）の開始，終了のＸ，Ｙ座標値
は画像処理部１のエリア記憶回路にのみ書きこまれてお
り、画像データは画像メモリ２８−１上にエリア１デー
タ（５３）のみが取り込まれる。以下同じ様に画像処理
部２がエリア２（３６）を担当し、画像処理部３がエリ
ア３（３７）を担当し、画像処理部４がエリア４（３
８）を担当することで複数エリアの画像データを複数の
画像処理部で、分割して処理を担当することが可能であ
る。こうしたエリアの取り込み方法を採用することで、
膨大な画像領域の内から必要な部分だけを分割して画像
メモリに効率よく格納することができ、また、複数の画
像処理部に分担することで、各画像処理部の並列動作が
可能となり処理の高速化が実現できる。

【００１８】次に図５〜図８により印字位置精度評価方
法について説明する。図５は検査対象が出力する評価用
パターンの一実施例、図６はそのパターンの測定ポイン
トエリア例、図７は印字位置精度評価方法の処理流れ
図、図８は二値化信号出力例である。以下図面を参照し
て印字位置精度評価の処理について説明する。

【００１９】画像入力により評価用パターンを画像処理
装置に取り込み（Ｓ₁）、二値化処理する（Ｓ₂）。そし
て図６に示す如き、事前にエリア記憶回路２４に設定さ
れた印字位置精度評価に必要な測定ポイントエリアにつ
いて順次紙端或いは印字線の座標値を算出して行く（Ｓ
₃）。まず設定された測定ポイトエリア内で紙端位置測
定か印字線位置測定か判断し（Ｓ₄）、それが印字線位
置の場合、二値化データより線エッジパターンを検索し
（Ｓ₅）、図８に示す立ち上がり位置及び立ち下がり位
置の座標を記憶し、その両値より印字線幅の中心値を算
出し、その中心値を印字線位置として記憶する。また測
定ポイントエリアが紙端の場合、二値化データよりエッ
ジパターンを探索して立ち下がり位置の座標を記憶する
（Ｓ₁₅〜Ｓ₁₇）。尚、図８に二値化信号出力と立ち下が
り位置及び立ち上がり位置の関係を示す。そして全ての
測定ポイントについて座標値を算出終了したらその各測
定ポイントの位置関係を演算し、印字位置精度の良否を
判定する（Ｓ１３）。

【００２０】例えば、先端マージン＝ａｙ−ｉｙ及びｂ
ｙ−ｊｙ、 直角性＝｜（ａｙ−ｂｙ）／（ａｘ−ｂｘ）＋（ｃｘ−
ｄｘ）／（ｃｙ−ｄｙ）｜×１００％、 斜行性＝｜（ａｙ−ｉｙ）−（ｂｙ−ｊｙ）／（ａｘ−
ｂｘ）｜×１００％、 平行性＝｜（ａｙ−ｅｙ）−（ｂｙ−ｆｙ）／（ａｘ−
ｂｘ）｜×１００％、 等の計算結果と規格値の比較により判定する。ここでａ
〜ｆ，ｉ，ｊは図６における各測定ポイントを示し、
Ｘ，Ｙは各測定ポイントのＸ座標値及びＹ座標値を表
す。また、評価用パターンの枠線は、画像形成可能領域
枠に限らず、ある一定の規則、例えば紙上端より５ｍｍ
位置に出力した横線、左端より４ｍｍ位置に出力した縱
線等によって出力された線の組み合わせでも良い。

【００２１】図９は印字された線の直線性の評価のしか
たである。この評価は画像処理部９が担当する。

【００２２】Ｓ４０において入力された画像（線パター
ン）は２値化され（Ｓ４１）、線パターンはエッジ位置
と線幅としてランコード演算部１４内のランコードメモ
リ７７に格納される（Ｓ４２）。この時、線幅のリミッ
トを指定することで、リミットの線幅より大きいものや
小さいものなどのノイズ成分は排除するとが可能で線パ
ターンのデータのみが格納される。次にエッジの細かい
凹凸を排除するために各ブロック内で平滑化を行う（Ｓ
４３）。この時使うデータは、Ｓ４２にて検出したエッ
ジの位置座標を用いる。次に平滑化したエッジ座標を用
いて直線近似を行い（Ｓ４４）、この直線を直線性評価
の基準直線とする。そして平滑化したエッジ座標のピー
ク位置を検出する（Ｓ４５）。

【００２３】この場合ピーク位置とはエッジのうねりの
山あるいは谷の位置を言う。ピークの検出方法として、
隣接刷するエッジ座標の差分とり、その差分値の符号が
正であるか負であるかを調べる。この時、符号が正から
負へ、あるいは負から正へ変化する点をピーク位置とす
る。また、差分がゼロの時は、ゼロの区間の中点をピー
ク位置とする。そして、求めたピーク位置と基準直線の
差を算出し（Ｓ４６）、ピーク位置と基準直線の差の最
大値を求め（Ｓ４７）、Ｓ４７にて求められた最大値
が、良品の範囲にあるか、不良品であるかの評価を行い
終了する（Ｓ４８）。

【００２４】図１２は、直線性を評価する際に用いるラ
ンコードデータについて説明する図である。

【００２５】５７は線パターン、５８はランコードデー
タを得る走査位置であり、２値画像の開始点を幅を順次
ランコードメモリに格納していく。５９はランコードメ
モリ７７に格納されるパターンの始点座標、６０は同じ
くランコードメモリ７７に格納されるパターン幅であ
る。画像を入力し２値化した時点で、ランコードデータ
としてランコードメモリ７７に格納されるので２次元の
画像をそのままメモリに格納するよりも、効率よくデー
タの保存が可能である。また、ランコードデータとして
画像を取り込む際に、パターンの最大幅リミット値６３
と、最小幅リミット値６２を設定しておくことで、ノイ
ズ成分６１の様なパターンはサンプリングされず、線パ
ターンのみのデータを取り込むことが可能である。

【００２６】次に、ピッチムラの評価について図１０を
用いて説明する。

【００２７】Ｓ２０において入力された画像は、多階調
の濃度値を持つ多値データとして取り込まれ（Ｓ２
１）、ヒストグラム演算部１３で射影演算を行いヒスト
ラグラムメモリ７８に格納される（Ｓ２２）。ここで射
影とは、印字された線パターンの線長さを方向に多値デ
ータを加算することをいう。Ｓ２３で得られた１次元の
データを平滑化し、ノイズ成分を除去する（Ｓ２４）。
次に平滑化した射影データのピーク位置を検出する（Ｓ
２５）。ここでピーク位置とは射影データの山あるいは
谷の位置をいう。ピークの検出方法として、隣接する射
影データの差分をとり、その差分値の符号が正である
か、負であるか調べる。この時、符号が正から負へ、あ
るいは負から正へ変化する点をピーク位置とする。差分
がゼロの時はゼロの区間の中点をピーク位置とする。ま
た、ピークの検出方法として、山、あるいは谷の存在を
区間の重心を求め、その値をピーク位置としてもよい。

【００２８】次に、Ｓ２５で求めたピーク位置の隣に合
ったピークの間隔を算出し、ピッチ間隔とする（Ｓ２
６）。そしてピッチ間隔の良否判定を行う（Ｓ２７）。
判定の方法としてピッチ間隔の最大値，最小値で評価す
る。あるいは、全ピッチの分散を求め、ピッチのバラツ
キ具合で評価してもよい。また、ピッチの間隔が、周期
的に変化する場合、たとえば、偶数番目と奇数番目のピ
ッチが交互に変わる場合などでは偶数番目のピッチの平
均値と奇数番目のピッチの平均値との差を求め、その差
が基準値を越えているか否かで評価してもよい。Ｓ２７
で不良と判定されれば、そのまま評価を終了する。Ｓ２
７で良品と判定された時は、さらに次の評価に進む。即
ちピッチ間隔が良品でも、印字された線と背景部分のコ
ントラストにバラツキがある場合は、画像全体の濃度ム
ラとしてあらわれ、印字品位が低下する。この場合の評
価を行うために、白・黒のピーク差、つまり、隣り合っ
た谷と山の高さを算出する（Ｓ２８）。

【００２９】次に、Ｓ２８で求めたピーク差の頻度分布
を計算する（Ｓ２９）。コントラストが一定の場合は、
あるピーク差の位置に高い頻度分布があらわれ、頻度分
布のバラツキも少ない。逆に、コントラストにムラがあ
る場合は、頻度分布の高さは低く、バラツキも多い結果
となる。そこで、評価関数として頻度分布の高さｈ、底
辺幅ｗとして、ｈ／ｗを計算し、コントラストの状態値
とする（Ｓ３０）。そしてＳ３０で求めた評価関数の値
をもとに良，不良の判定を行い評価を終了する（Ｓ３
１）。

【００３０】図１１（Ａ）は、コントラストが一定の場
合のピーク差頻度分布をあらわす図、図１１（Ｂ）はコ
ントラストにムラがある場合のピーク差頻度分布をあら
わす図である。ｈ₁，ｈ₂は、それぞれの頻度分布の最大
値ｗ₁，ｗ₂は頻度分布の底辺幅である。

【００３１】図１３は、線パターンの射影を説明する図
である。６４は印字された線パターン、６５は線パター
ンの間に存在するノイズ成分である。６６は線長さ方向
を示し、この方向に多値データを加算した結果が６７射
影データである。射影データのうち、線パターンの部分
は６８ピークの山としてあらわれ、線パターンと線パタ
ーンの間の背景部は６９、ピークの谷としてあらわれ
る。この射影データを取ることで線パターンの間にある
ノイズ成分や、線パターンのエッジ部の凹凸は除去で
き、７０線のピッチを正確に抽出することが可能とな
る。

【００３２】また図１４は、線パターンを印字した時の
不良状態、つまり、ピッチムラを説明する図である。７
１は印字された線パターン、７２は射影データであり、
７３は正常部ピッチに対して、７４不良部ピッチはその
間隔が狭くなっており、また、正常部の隣接する山と谷
のピーク差７５に較べ、不良部のピーク差７６は小さく
なっている。

【００３３】（第２実施例）次に複合パターンを用いて
上述の如き複数の評価項目について並列に処理を行う実
施例について説明する。図１５は本発明の第２の実施例
による印字評価装置を示す図である。撮像装置１０１は
一次元のＣＣＤラインセンサ等の４本の受光素子からな
り、評価対象である検査紙１０５を撮像し電気信号に変
換する。照明１０２は、撮像装置１０１の撮像位置をラ
イン状に照明するものでる。ステージ１０３は、撮像装
置１０１の受光素子の配列方向と直交する方向に移動す
る様に配置され、撮像装置１０１とステージ１０３とに
より二次元の画像として評価対象である検査紙１０５の
像を読み込むことができる。１０８はステージ制御部で
あり、ホストコンピュータ１０９の命令にしたがってス
テージ１０３を駆動する。ステージ１０３には、リニア
エンコーダ１０４及びステージセンサ１１２〜１１５が
取り付けられており、リニアエンコーダ１０４の出力は
ステージ１０３の速度ムラを補正する際に使用される。
またステージセンサ１１２〜１１５の出力はステージ駆
動及び画像取り込みのトリガ信号として使用される。ス
テージ１０３上には、補正チャート１０６があり、撮影
装置１０１の感度ムラやシェーディング状態の補正を行
う際に使用される。

【００３４】撮像装置１０１から得られた映像信号は、
画像処理部１０７に送られ、評価する項目毎の画像処理
を行い、結果をホストコンピュータ１０９に転送する。
画像処理部１０７は、複数の撮像装置からの入力が可能
になっている。１１０は表示用モニタであり、画像処理
部１０７に取り込まれた画像データを表示することがで
きる。外部記憶手段１１１には画像処理部１０７を制御
するプログラムや画像処理に必要なパラメータが記憶さ
れており、ホストコンピュータ１０９より内容の読みだ
し、書き換えが可能な様になっている。１１８は結果表
示用モニタ、１１９はプリンタで共にホストコンピュー
タからの評価結果を出力する。またステージ１０３上の
検査紙セット領域には検査紙のサイズに合わせて複数の
吸着穴１１７が設けられており、検査紙セット後、バキ
ューム装置１１６により吸引し検査紙をステージ上に固
定する。

【００３５】本実施例の評価装置では、複数の測定分解
能の違うセンサで同一スキャン時に同じステージスピー
ドで画像を取り込み、評価を行うことができる。例えば
図１６に示す５０００ｂｉｔのラインセンサ８０１は１
／７倍光学系により測定幅２５０ｍｍ、測定分解能５０
μｍでＡ４紙全面を走査している。１０００ｂｉｔのラ
インセンサ８０２は１／３．５７倍光学系により測定幅
１０ｍｍ、測定分解能１０μｍで後述する如き図２２
（ｄ）に示すピッチムラ測定エリア５０９を走査してい
る。この構成で両センサとも周波数８ＭＨｚで駆動する
ことにより１回のステージ移動で同時に測定分解能５０
μｍと１０μｍの異なる測定が可能である。つまり測定
分解能５０μｍでＡ４紙の横幅をカバーするためセンサ
ｂｉｔ数としては５０００ｂｉｔが必要であり、センサ
スキャンと直交する方向＝ステージの移動方向にも５０
μｍ分解能を得るためにセンサ駆動周波数８ＭＨｚでは
ステージの移動スピードＳは、Ｓ＝５０μｍ×８ＭＨｚ
÷５０００ｂｉｔ＝８０ｍｍ／ｓｅｃであり、Ａ４紙縦
長の１スキャン＝３．７５ｓｅｃと高速化が可能とな
る。この同じステージスピードで測定分解能１０μｍを
得るには、センサｂｉｔ数＝１０μｍ×８ＭＨｚ÷（８
０ｍｍ／ｓｅｃ）＝１０００ｂｉｔ（測定エリア１０ｍ
ｍ）となる。そして図１６に示すようにステージが５０
μｍ移動する間に５０００ｂｉｔセンサでは１回、１０
００ｂｉｔセンサでは５回のスキャンが行われる。

【００３６】本実施例では、後述のラインセンサ２０５
及び２０６（図１８）を５０００ｂｉｔセンサで、又ラ
インセンサ２０７及び２０８（図１８）を１０００ｂｉ
ｔセンサで構成する。

【００３７】次に画像処理部１０７及びステージ制御部
１０８により実行される装置の動作の制御について図１
７を参照して説明する。まずＲ２にて評価対象となる検
査紙１０５が装置のステージ１０３上に操作員あるいは
図示しない紙供給機構によりセットされ、そしてＲ３に
て装置のスタートＳＷが操作員にオンされて、あるいは
紙供給機構からのトリガ信号によりオンされると、Ｒ４
にてバキューム装置１１６が作動し、検査紙１０５を吸
着し、ステージ１０３上に固定する。吸着完了後Ｒ５に
てステージ１０３の移動を開始し、画像処理部１０７は
Ｒ６にて画像入力待ち状態となる。

【００３８】ステージ１０３の移動中にステージセンサ
１がオンすると（Ｒ７）、画像処理部１０７はＲ８にて
画像データの取り込みを開始し、あらかじめ画像処理部
１０７内に設定されたステージ往路での画像取り込みエ
リア分の画像データの取り込みが終了すると、Ｒ９にて
画像データの入力を終了する。そして画像処理部１０７
内で取り込まれた画像データを各評価項目毎にＲ１０〜
Ｒ１７にて処理し、Ｒ３１にて処理結果をホストコンピ
ュータ１０９へ転送する。又ステージ１０３は画像デー
タの入力終了後、ステージ１０３が移動終端まできてス
テージセンサ２がオンすると（Ｒ１８）、Ｒ１９にてス
テージ１０３の移動を停止する。そしてすぐにステージ
１０３の逆方向への移動を開始する（Ｒ２６）。画像処
理部１０７はステージ移動復路で取り込む画像エリアの
画像データの入力待ち状態となる（Ｒ２１）。そして、
ステージセンサ３がオンされると（Ｒ２２）、復路での
画像データの取り込みを開始する（Ｒ２３）。往路同様
画像処理部１０７内に設定されたステージ復路での画像
取り込みエリア分の画像データの取り込みが終了すると
（Ｒ２４）、画像データの入力を終了し、取り込まれた
画像データを各評価項目毎にＲ２５〜Ｒ３０にて処理
し、Ｒ３１にて処理結果をホストコンピュータ１０９へ
転送する。そしてホストコンピュータ１０９内では往路
分で取り込んだ項目の評価・判定を復路での画像データ
の取り込み及び処理と並行して行い、その後復路分の項
目の評価・判定を行って評価結果をまとめて結果表示モ
ニタ１１８及びプリンタ１１９へ出力する。

【００３９】また、ステージ１０３は、復路分の画像デ
ータの入力終了後、更に復路を移動し、ステージ原点位
置まできたことをステージセンサ４が検知するとステー
ジ１０３の移動を停止する（Ｒ３３，Ｒ３４）。そして
Ｒ３５にてバキューム装置１１６を停止させ、検査紙１
０５の吸着を解除する。最後に検査紙１０５が移動ステ
ージ１０３上から操作員あるいは図示しない紙排出機構
により排出されて一連の動作が終了となる。

【００４０】本実施例において、ステージ１０３の往路
で行われる検査項目としては、後述する印字位置精度測
定、直線性測定（低周波成分及び高周波成分）、部分倍
率測定を含む。又ステージ１０３の復路で行われる検査
項目としては、ピッチムラ測定及び濃度測定を含む。

【００４１】図１８は、図１５に示す画像処理部１０７
の構成を示すブロック図である。２００は画像処理部全
体を制御するコントロールＣＰＵ、２０１〜２０４はＡ
／Ｄ処理部で、撮像装置１０１内のラインセンサ２０５
〜２０８へのコントロール信号出力及びＭＰＵ処理部２
０９〜２１４に画像データ、タイミング信号及び２次元
座標データを出力する。２０９〜２１４はＭＰＵ処理部
２０９〜２１４は後述する如く画像メモリを持ち、Ａ／
Ｄ処理部からの画像データをもとに所定の演算処理を施
し、演算結果をコントロールＣＰＵ２００に送る。２１
５はランコード処理部で画像バスから入力した２値画像
からランコードを演算し、自分の持つメモリに２値画像
の変化点の位置座標データと幅データを記憶する。２１
６は射影（ヒストグラム）処理部で、画像バスから入力
した多値画像または２値画像のＸＹ座標軸への射影デー
タを演算し、自分の持つメモリに記憶する。ラインセン
サ２０５〜２０８はＡ／Ｄ処理部２０１〜２０４から出
力されるコントロール信号によって駆動し、その映像出
力をＡ／Ｄ処理部２０１〜２０４に送る。２１８〜２２
１は画像バスで、Ａ／Ｄ処理部２０１〜２０４から出力
される２次元ＸＹ座標データ、デジタル化された２値・
多値の画像データ、エリア有効信号及びクロック信号を
接続されたＭＰＵ処理部２０９〜２１４、ランコード処
理部２１５及びヒストグラム処理部２１６へ転送する。
２２２，２２３はＭＰＵバスで、ＭＰＵ処理２１２，２
１３から射影処理部２１６やランコード処理部２１５へ
部分エリア情報を転送する。２１７はシステムで、コン
トロールＣＰＵ２００が各処理部（２０１〜２０４，２
０９〜２１４）との情報伝達を行う。２２４はＡ／Ｄ処
理部２０１〜２０４がタイミング信号、画像データ及び
２次元座標データを画像バス（２１８〜２２２）へ出力
すべきタイミングを入力するための入力スタートトリガ
信号線で、ここではステージ１０３のスタート信号が接
続されている。

【００４２】図１９はＡ／Ｄ処理部２０１〜２０４の構
成を示すブロック図で、３０２は前述の画像入力スター
トトリガ信号入力、３０３はステージ１０３の移動に応
じてエンコーダ１０４から出力されるエンコーダパルス
信号入力、３０４はラインセンサ２０５〜２０８を駆動
するためのスキャンスタートパルス出力、３０５は同様
にラインセンサ２０５〜２０８を駆動するためのクロッ
クパルス出力、３０６は前記Ａ／Ｄ処理部によって駆動
されたラインセンサ２０５〜２０８から出力されるアナ
ログ画像信号、３０７は同様に前記Ａ／Ｄ処理部によっ
て駆動されたラインセンサ２０５〜２０８から出力され
るデジタル画像信号、３１５はタイミングパルス発生器
で、基準クロックの発生及び必要な分周クロック信号を
出力する。３１４はＸ座標カウンタで、タイミングパル
ス発生器３１５によって発生されたクロックを所定のク
ロック数分カウントし、接続されたラインセンサを駆動
するためのスキャンスタートパルスを生成出力するとと
もに、Ｙ座標カウンタ３１３へカウントアップパルスを
出力し、画像バス３００へＸ座標データを出力する。３
１３はＹ座標カウンタで、入力スタートトリガ信号３０
２によってスタートしＸ座標カウンタ３１４からのカウ
ントアップパルスによって所定のパルス数分カウント動
作を実行し、画像バス３００へＹ座標データ３０８を出
力する。またＹ座標カウンタはステージ１０３の移動に
応じて発生するエンコーダパルス３０３によってＹ座標
のカウントもすることができる様になっている。これに
より後述する如くステージ１０３の移動時の速度ムラ補
正が可能となる。３１６はＡ／Ｄ変換器で、Ａ／Ｄ処理
部に接続されたラインセンサからのアナログ画像信号を
デジタル値に変換する。３１７は入力信号セレクタでラ
インセンサからの画像信号がアナログ３０６かデジタル
３０７かでいずれか一方を選択する。３１８はダーク補
正用のメモリで、校正チャート等で予めラインセンサの
映像信号から作成した補正データを入力しておく記憶手
段である。３２０はシェーディング補正用のメモリで、
これも校正チャート等で予めラインセンサの映像信号か
ら作成した補正データを入力しておく記憶手段である。
３１９は減算器でラインセンサからの映像信号のデジタ
ル値（セレクタ３１７の出力）と予め記憶されているダ
ーク補正用メモリ内のデータとの減算を行う。３２１は
除算器で減算器３１９から出力された信号をシェーディ
ング補正用メモリ３２１からのデータによって除算を行
う。３２３は２値化レベル保持部、３２２は比較器で除
算器３２１から出力された信号と２値化レベル保持部３
２３で設定されている２値化レベルとを比較して２値デ
ータを出力する。３２４はシステムバス３０１とのイン
ターフェイスでシステムバス３０１を介してシステム制
御用のコントロールＣＰＵ２００とつながっている。又
３００は、各ＭＰＵ処理部や射影処理部、ランコード処
理部に、Ｘ座標データ３０８、Ｙ座標３０９データ、エ
リア有効信号・クロック３１０、多値画像データ３１
１、２値画像データ３１２等を出力するための画像バス
である。

【００４３】図２０はＭＰＵ処理部２０９〜２１４の構
成を示すブロック図である。４００は画像バスで前述の
Ａ／Ｄ処理部とつながっている。４０２はエリア有効信
号・クロック等のタイミング信号入力、４０３はＸ座標
データ入力、４０４はＹ座標データ入力、４０５は２値
画像データ入力、４０６は多値画像データ入力である。
４０９はタイミング発生部で、ＭＰＵ処理部で使用され
るタイミング信号を発生する。４１０はエリア記憶・検
出部でＭＰＵ処理部が使用する各エリア情報を記憶し、
入力するＸ座標データ４０３及びＹ座標データ４０４に
基づいて各エリアを検出する。即ち予めＭＰＵ処理部上
のＭＰＵ４１７によって指示されたＸ，Ｙの全体座標に
対してＭＰＵ処理部が必要な複数の切り出し位置に対応
したＸ，Ｙ座標情報を記憶させておき、動作時にはその
切り出し位置情報によって間引き検出部４１２に有効信
号を出力する。間引き記憶検出部４１２は、予め複数の
エリアに対応するＸ，Ｙそれぞれの間引き量をＭＰＵ処
理部上のＭＰＵ４１７の指示により記憶しておく記憶部
であり、動作時には対応するエリア内の画像データを間
引くためのタイミング信号を発生し、画像メモリアドレ
スカウンタ４１４及びＭＰＵバス４０１へ出力する。４
１４は画像メモリアドレスカウンタで、間引き記憶検出
部４１２からの複数エリアに対応する有効エリア情報に
よって画像メモリ４１５に画像入力指示があった場合、
画像メモリ４１５のアドレスカウンタをインクリメント
し、画像メモリ４１５に対し書き込みアドレス及び書き
込み信号を出力する。画像メモリ４１５は入力する複数
の処理エリアの画像データを記憶することが可能であ
る。４１１はシリアル・パラレル変換部で、２値画像デ
ータ４０５を入力信号として画像メモリ４１５へ記憶す
る為の変換部、４１３は画像メモリ４１５に入力する画
像データの選択部で２値画像データか多値画像データか
を選択する。４１６はＭＰＵの制御プログラム及びデー
タを記憶するメモリである。又ＭＰＵ４１７はＭＰＵ処
理部での動作設定及び画像処理を行う。又４１８はシス
テムバス４２０とのインターフェイス部、４１９はＩ／
Ｏポートで、ＭＰＵ４１７とコントロールＣＰＵ２００
との情報伝達部である。４０１はＭＰＵバスでＭＰＵ処
理部から接続されている、ランコード処理部、射影処理
部にＭＰＵの制御信号４０８と複数の有効処理エリア情
報４０７を出力する。

【００４４】図２１は射影処理部２１６の構成を示すブ
ロック図である。４２０は画像バスでありＡ／Ｄ処理部
２０３から画像バス２２０を介して出力されるエリア有
効信号及びクロック信号４２２及び多値画像データ４２
３が入力される。４２６はタイミング発生部で射影処理
部で必要なタインミング信号を生成し出力する。４２７
はアドレスカウンタで、タイミング発生部４２６からの
タイミング信号に基づき射影メモリ４３１のアドレス信
号を生成する。４２８はメモリクリア回路で、射影メモ
リ４３１の内容をクリアする為の信号を生成し出力す
る。４２９は射影メモリ４３１のアドレス選択部でクリ
ア動作、射影生成動作及びＭＰＵ読みだし動作に従って
アドレスを選択する。選択指示はＭＰＵバス４２１を通
して、ＭＰＵ処理部のＭＰＵ４１７によって選択され
る。同様に４３０は射影メモリの入力データ選択部、４
３２は射影メモリ４３１のデータ出力バッファ、４３３
は射影演算部で、データ出力バッファ４３２に格納され
た射影メモリデータと画像バス４２０からの多値画像デ
ータ４２３を加算して再び射影メモリ４３１へ書き込む
ためのデータ演算部、４３４はコントロール回路でＭＰ
Ｕバス４２１からの有効エリア情報４２４とＭＰＵバス
４２５から、射影処理部の動作に必要なタイミング信号
を生成する条件信号をタイミング発生部４２６に出力す
る。

【００４５】図２２はランコード処理部の構成を示すブ
ロック図である。４４０は画像バスで、Ａ／Ｄ処理部２
０２から画像バス２２０を介して出力されるエリア有効
信号及びクロック信号４４２、Ｘ座標データ４４４、Ｙ
座標データ４４３、２値画像データ４４５を入力する。
４４８はタイミング発生部でランコード処理部のランコ
ード生成に必要なタイミング信号を発生出力する。４４
９はアドレスカウンタでランコードメモリ４５２，４５
３，４５４のランコードデータ作成動作時のメモリアド
レスを生成する。４５１はランコードメモリ４５２，４
５３，４５４のアドレスをＭＰＵ処理部２１２のＭＰＵ
からの読みだし動作及びランコード生成動作のいずれか
によって選択する。４５２はＹ座標メモリで１つのラン
コードのＹ座標データを記憶する。４５３はＸ座標メモ
リで１つのランコードの開始位置または終了位置のＸ座
標データを記憶する。４５４は幅メモリで１つのランコ
ードのＸ方向の画素数を記憶する。メモリ４５２，４５
３，４５４は１つのランコードに対してＹ座標データ、
Ｘ座標データ及びＸ方向幅データの３つのそれぞれのメ
モリの同一のオフセット値に記憶する。４５５はＹ座標
メモリの入力データの選択部、４５７はＸ座標メモリの
入力データの選択部、４５９はＸ方向幅メモリの入力デ
ータの選択部であり、選択部４５５，４５７，４５９は
ランコード処理部の動作によってＭＰＵ処理部２１２か
らの指示にしたがって選択される。４５６はＹ座標メモ
リデータのＭＰＵ処理部２１２からの読みだし用バッフ
ァ、４５８はＸ座標メモリデータのＭＰＵ処理部２１２
からの読みだし用バッファ、４６０はＸ方向幅メモリデ
ータのＭＰＵ処理部２１２からの読みだし用バッファで
ある。又４５０は有効幅検出部で、ＭＰＵ処理部２１２
からの設定によって、Ｘ方向幅の上限，下限などが設定
されたその設定値に従って有効なランコードデータのみ
をランコードメモリ４５２，４５３，４５４へ書き込む
様に、指示信号と各書き込みデータを出力する。４６１
はコントロール部で、ＭＰＵ処理部２１２からの指示に
したがってランコード処理部の動作に必要な設定値等を
コントロールする。４４１はＭＰＵバスでＭＰＵ処理部
２１２のＭＰＵからの制御信号４４７や、ランコード処
理有効エリア信号４４６をランコード処理部２１５に転
送する。

【００４６】次に図２３により本実施例における印字評
価用複合パターンについて説明する。図２３（ａ）は紙
送り系に複数のローラを使用する印字機器を評価するた
めの印字パターンの一実施例であり、図２３（ｂ）〜
（ｆ）はそのパターンでの各評価項目に対する測定エリ
アを示したものである。このように一枚の検査紙５０１
のなかに印字可能領域粋５０２、濃度評価用パターン５
０３、部分倍率用パターン５０４、紙送り評価用定ピッ
チ横線５０５を印字出力し、この印字評価装置により各
測定エリア５０６〜５１１を取り込んで、先端レジス
ト、左端レジスト、直角度、斜行度、曲り、紙送りピッ
チムラ、ジッター、全体倍率、部分倍率、濃度等の複数
項目を評価する。

【００４７】次に図２３（ａ）〜図２３（ｆ）を参照し
て、画像切り出し処理の実施例を説明する。図２３
（ａ）は上記検査を行うための、検査紙１０５に記録さ
れた複合パターン図である。５０２は印字可能エリア粋
で、この中に濃度用パターン５０３、部分倍率用パター
ン５０４、定ピッチ横線５０５が印字されている。図２
２（ｂ）は図２２（ａ）中の複合パターンのうち印字位
置精度測定対象パターンと画像処理切り出しエリア５０
６を示した図である。又図２３（ｃ）は図２３（ａ）の
複合パターンのうち直線性測定の測定対象パターンと画
像処理切り出しエリア５０７，５０８を示した図であ
る。又図２３（ｄ）は図２２（ａ）中の複合パターンの
うちピッチむら測定の測定対象パターンと画像処理切り
出しエリア５０９を示した図である。又図２３（ｅ）は
図２３（ａ）中の複合パターンのうち部分倍率測定の測
定対象パターンと画像処理切り出しエリア５１０を示し
た図である。又図２３（ｆ）は図２３（ａ）中の複合パ
ターンのうち部分倍率測定の測定対象パターンと画像処
理切り出しエリア５１１を示した図である。そして上記
それぞれの測定項目に対し、図１８に示す各画像処理部
が対応して処理を行う。

【００４８】即ち、ＭＰＵ処理部２０９はステージ１０
３の往路においてラインセンサ２０５により読取られＡ
／Ｄ処理部２０１を介して出力される画像データから画
像処理切り出しエリア５０６（図２３（ｂ））に相当す
る画像データを取り出して後述する如き印字位置精度測
定を行う。又ＭＰＵ処理部２１０はステージ１０３の往
路においてＡ／Ｄ処理部２０１から出力される画像デー
タから画像処理切り出しエリア５０７（図２３（ｃ））
に相当する画像データを取り出して直線性低周波測定を
行う。又、ＭＰＵ処理部２１０はステージ１０３の復路
においてＡ／Ｄ処理部２０１から出力される画像データ
から画像処理切り出しエリア５１１（図２３（ｆ））に
相当する画像データを取り出して濃度測定を行う。又、
ＭＰＵ処理部２１１はステージ１０３の往路においてＡ
／Ｄ処理部２０１から出力される画像データから画像処
理切り出しエリア５１０（図２３（ｅ））に相当する画
像データを取り出して部分倍率測定を行う。又、ＭＰＵ
処理部２１２は、ラインセンサ２０６により読取られ、
Ａ／Ｄ処理部２０２を介して出力される画像データか
ら、画像処理切り出しエリア５０８（図２３（ｃ））に
相当する画像データを取り出し、ＭＰＵバス２２２を介
してＭＰＵ処理部２１２に接続されるランコード処理部
２１５が、この取り出された画像データから前述の如く
ランコードデータを生成して記憶し、ＭＰＵ処理部２１
２はこのランコードデータを基に後述する如く直性線高
周波成分測定を行う。又、ＭＰＵ処理部２１３及び２１
４はステージ１０３の復路においてラインセンサ２０７
及び２０８により読み取られＡ／Ｄ処理部２０３及び２
０４を介して出力される画像データから、画像処理切り
出しエリア５０９（図２３（ｄ））の各々のエリアに相
当する画像データを取り出し、ＭＰＵバス２２３及び２
２６を介してＭＰＵ処理部２１３及び２１４に接続され
る射影処理部２１６及び２２５が前述の如く射影データ
を生成して記憶し、ＭＰＵ処理部２１３及び２１４はこ
の射影データを基に後述する如くピッチムラ測定を行
う。

【００４９】このように各ＭＰＵ処理部が必要な画像の
切り出しエリア位置、エリア数、間引き間隔に関する情
報をコントロールＣＰＵ２００から受け取り、画像デー
タ入力、ランコード処理、射影処理等を行って必要な画
像情報を入手し、予め指定されている画像処理を行い画
像位置、線幅等の処理結果をコントロールＣＰＵ２００
へ転送する。

【００５０】次に本実施例において画像データサンプリ
ング時における間引き機能について説明する。図２４は
間引き機能を説明するための図であり、低周波成分直線
性測定の場合を示すものである。図中６０１は検査紙１
０５上の画像処理切り出しエリア５０７内に描画された
線像、６０２は画像処理切り出しエリア５０７のＸ方向
エリア幅（Ｘｗ）、６０３は画像処理切り出しエリア５
０７のＹ方向エリア幅（Ｙｗ）である。

【００５１】図２５（ａ）は図２４に示す画像処理切り
出しエリア５０７の画像データを間引き処理を行うこと
なく画像メモリに格納した場合のメモリ内容を模式的に
示した図である。６１１は画像メモリ内の線像を示し、
６１２は線像６１１を直線近似した時の仮想線、６１３
は６０５と同様にＸ方向エリア幅、６１４は６０６と同
様にＹ方向エリア幅である。

【００５２】又図２５（ｂ）は図２４に示す画像処理切
り出しエリア５０７の画像データを間引き処理を行って
画像メモリに格納した場合の内容を模式的に示した図で
ある。６２１は画像メモリ内の線像を示し、６２２は線
像６２１を直線近似した時の仮想線、６２３は６０５と
同様のＸ方向エリア幅、６２４は６０６と同様にＹ方向
エリア幅である。ここで図２５（ａ）と図２５（ｂ）で
Ｙ方向に間引きした時には必要となる画像メモリの量
は、間引き量を２のｎ乗としたとき、１／２ⁿとなり、
画像メモリの節約、情報圧縮がされ処理が容易になる。
本実施例では、線像６１１，６２１から仮想直線６１
２，６２２を想定し、仮想直線と線乗のＸ方向の位置の
差から直線性を求めるのでＹ方向変化に対してＸ方向変
化が小さい場合に特に有効な機能となる。

【００５３】次に本実施例における複数の評価項目に対
する並列処理動作について説明する。ここでは図１８中
Ａ／Ｄ処理部２０１，２０２，２０３、ＭＰＵ処理部２
０９，２１２，２１３、ラインセンサ２０５，２０６，
２０７により行われる並列処理を例にとって説明する。

【００５４】図２６は並列処理の実施例を測定対象画像
として説明した図である。７０１は図１５の撮像装置
（ラインセンサ）１０１の走査方向（Ｘ方向）である。
７０２はステージ１０３の移動方向（Ｙ方向）である。
７０３はＡ／Ｄ処理部２０１〜２０４に生成する絶対座
標が占めるエリアで、ここではＸ方向に座標値０〜４９
９９、Ｙ方向に座標値０〜６９９９としたときの例を示
している。７０４は測定対象である複合パターン（図２
３）となる検査紙上のパターン像、７０５はラインセン
サの画像有効エリア（Ｘ方向）、７０６はステージ移動
エリア（Ｙ方向）、７１１，７１２，７１３及び７１４
はＭＰＵ処理部２０９が画像を切り出して処理するエリ
アであり、図２３（ｂ）に示すエリア５０６に対応する
ものである。７１２及び７２２はＭＰＵ処理部２１３が
画像を切り出して処理するエリアであり、図２３（ｄ）
に示すエリア５０９に対応するものである。７３１はＭ
ＰＵ２１２が画像を切り出して処理するエリアであり、
図２２（ｃ）に示すエリア５０８に対応するものであ
る。又７０４は各ＭＰＵ処理部が処理するエリアのＸ方
向の座標値、７４１は同様に各ＭＰＵ処理部が処理する
エリアのＹ方向の座標値である。ここで、例えばＭＰＵ
２０９が切り出すべき矩形エリアの一つ７１１では、Ｘ
方向にはＸ１〜Ｘ２、Ｙ方向にはＹ１〜Ｙ２の示す範囲
内であることを示している。同様にエリア７１２ではＸ
７〜Ｘ８及びＹ１〜Ｙ２、エリア７１３ではＸ１〜Ｘ２
及びＹ５〜Ｙ６、エリア７１４ではＸ７〜Ｘ８及びＹ５
〜Ｙ６、エリア７２１ではＸ３〜Ｘ４及びＹ２〜Ｙ５、
エリア７２２ではＸ５〜Ｘ６及びＹ２〜Ｙ５、エリア７
３１ではＸ７〜Ｘ８及びＹ２〜Ｙ５である。

【００５５】図２７はそれぞれのＭＰＵ処理部が分担す
る処理エリアを対応づけて説明する図で、図２７（ａ）
はＭＰＵ処理部２０９が、図２７（ｂ）はＭＰＵ処理部
２１３が、図２７（ｃ）はＭＰＵ処理部２１２が処理す
るエリアを示している。

【００５６】図２８は前述の並列処理時に於ける各エリ
ア切り出しのためのＸ方向に於けるタイミング図であ
る。ここではアクティブローの論理で示している。
（ａ）はラインセンサ２０５，２０６，２０７の有効エ
リアを示し、ロー期間中Ａ／Ｄ処理部２０１，２０２，
２０３はＸ座標データ３０９を画像バス３００を介して
画像バス２１８に出力する。（ｂ）はＭＰＵ処理部２０
９の処理エリアのうち図２６のエリア７１１を切り出す
ためのＸ方向のエリア有効信号で、Ｘ１からＸ２までの
期間有効となる。（ｃ）はＭＰＵ処理部２０９の処理エ
リアのうち図２６のエリア７１２を切り出すためのＸ方
向のエリア有効信号で、Ｘ８からＸ９までの期間有効と
なる。（ｄ）はＭＰＵ処理部２０９の処理エリアのうち
図２６のエリア７１３を切り出すためのＸ方向のエリア
有効信号で、Ｘ１からＸ２までの期間有効となる。
（ｅ）はＭＰＵ処理部２０９の処理エリアのうち図２６
のエリア７１４を切り出すためのＸ方向のエリア有効信
号で、Ｘ８からＸ９までの期間有効となる。（ｆ）はＭ
ＰＵ処理部２１３の処理エリアのうち図２６のエリア７
２１を切り出すためのＸ方向のエリア有効信号で、Ｘ３
からＸ４までの期間有効となる。（ｇ）はＭＰＵ処理部
２１３の処理エリアのうち図２６のエリア７２２を切り
出すためのＸ方向のエリア有効信号で、Ｘ５からＸ６ま
での期間有効となる。（ｈ）はＭＰＵ処理部２１２の処
理部エリアのうち図２６のエリア７３１を切り出すため
のＸ方向のエリア有効信号で、Ｘ７からＸ８までの期間
有効となる。

【００５７】又、図２９は前述の並列処理時における各
エリア切り出しのためのＹ方向におけるタイミング図で
ある。ここでは同様にアクティブロー論理で示してい
る。（ａ）はステージ移動時の有効エリアを示し、ロー
期間中Ａ／Ｄ処理部２０１，２０２，２０３はＹ座標を
データ３０８を画像バス３００を介して画像バス２１８
に出力する。（ｂ）はＭＰＵ処理部２０９の処理エリア
のうち図２６のエリア７１１を切り出すためのＹ方向の
エリア有効信号で、Ｙ１からＹ２までの期間有効とな
る。（ｃ）はＭＰＵ処理部２０９の処理エリアのうち図
２６のエリア７１２を切り出すためのＹ方向のエリア有
効信号で、Ｘ１からＸ２までの期間有効となる。（ｄ）
はＭＰＵ処理部２０９の処理エリアのうち図２６のエリ
ア７１３を切り出すためのＹ方向のエリア有効信号で、
Ｙ５からＹ６までの期間有効となる。（ｅ）はＭＰＵ処
理部２０９の処理エリアのうち図２６のエリア７１４を
切り出すためのＹ方向のエリア有効信号で、Ｙ５からＹ
６までの期間有効となる。（ｆ）はＭＰＵ処理部２１３
の処理エリアのうち図２６のエリア７２１を切り出すた
めのＹ方向のエリア有効信号で、Ｙ２からＹ５までの期
間有効となる。（ｇ）はＭＰＵ処理部２１３の処理エリ
アのうち図２６のエリア７２２を切り出すためのＹ方向
のエリア有効信号で、Ｙ２からＹ５までの期間有効とな
る。（ｈ）はＭＰＵ処理部２１２の処理エリアのうち図
２６のエリア７３１を切り出すためのＹ方向の有効信号
で、Ｙ２からＹ５までの期間有効となる。

【００５８】ここで図２６、図２７において、エリアの
切り出し位置が、例えば７１１と７１２のＹ方向の始点
Ｙ１、終点Ｙ２が同一座標となっているが、それぞれが
別々な切り出しエリア設定値であっても構わないことは
言うまでもない。Ｘ方向も同様である。またＭＰＵ処理
部間で同一エリアを入力画像として入力しても構わず、
同一ＭＰＵ処理部内で複数の切り出しエリアが重なり合
っても構わない。

【００５９】いま図１５のような全体構成で図１８のよ
うな画像処理部の構成になっているときの動作について
説明する。ステージが原点位置から移動を始め所定位置
で入力スタートトリガ信号２２４（３０２）がＡ／Ｄ処
理部２０１に入力される。するとＡ／Ｄ処理部２０１は
図２６に示すエリア７０３の絶対座標データを出力す
る。即ち、Ｘ方向には０〜４９９９、Ｙ方向には０〜６
９９９までの間座標データを画像バス２１８に出力す
る。この時ＭＰＵ処理部２０９〜２１１には、予めコン
トロールＣＰＵ２００からそれぞれのＭＰＵ処理部が絶
対座標に対して切り出すべき画像エリアが指示されてい
る。また入力した画像に対する処理方法、処理結果の求
め方に応じたプログラムは各ＭＰＵ処理部が個々に持っ
ている。ラインセンサ２０５はＡ／Ｄ処理部２０１によ
って駆動され、映像信号を生成しＡ／Ｄ処理部２０１に
出力する。この時、ラインセンサの１走査に応じてＸ座
標カウンタ３１３がカウントアップしてゆき、絶対座標
データ（Ｘ方向０〜４９９９）がＡ／Ｄ処理部２０１か
ら画像バス２１８に出力される。また同様にＹ方向絶対
座標データはステージスタート信号２２４がＡ／Ｄ処理
部２０１に入力されてからＹ座標データの生成が始ま
り、ラインセンサ２０５が１走査する毎にＹ座標カウン
タ３１３がカウントアップしてゆきＡ／Ｄ処理部２０１
から画像バスへ出力され、所定の座標値になるまで続け
る。図２５では座標値が０から６９９９になるまで続け
られる。この時各ＭＰＵ処理部２０９〜２１１はそれぞ
れが担当するエリアに相当する絶対座標値が当てはまっ
た時に画像の入力、画像メモリへの書き込み等を行う。
この時各ＭＰＵ処理部はそれぞれ独立に動作するため複
数の処理が画像処理システムとしてみた場合並列動作を
していることになる。図２６ではまずＸ方向に０〜４９
９９の１走査が終了しＹ座標が１つずつカウントアップ
してゆく動作をしてゆく。この時Ｙ座標がＹ１になって
Ｘ座標値がＸ１になった時、まず最初に画像切り出しエ
リアにあたり、ＭＰＵ処理部２０９のエリアである７１
１のエリアで７１１のＸ方向に最初の１ライン分Ｘ２ま
でをＭＰＵ処理部２０９上にある画像メモリ４１５に入
力し、終わると次は再びＭＰＵ処理部２０９のエリアで
ある７１２の最初の１ライン分入力（Ｘ７からＸ８ま
で）となる。こうしてＹ座標値がＹ２になるまで７１
１、７１２のエリアではＭＰＵ処理部２０９が画像の入
力を行う。このようにＹ座標値がＹ２になりＸ座標値が
Ｘ３になったとき今度はＭＰＵ処理部２１３のエリアで
ある７２１にあたるので、ＭＰＵ処理部２１３は自身の
持つ画像メモリ４１５に該当する画像情報を入力する。
ステージが移動を続けＹ座標がＹ６，Ｘ座標がＸ８を終
わるとＭＰＵ処理部２０９、２１３、２１１の３つのＭ
ＰＵ処理部すべてに、必要な画像情報が入力し終わる。
各ＭＰＵ処理部は自身の画像メモリ内の画像入力エリア
に各画像データを入力し終わるとそれぞれが個別な処理
（同一処理でも構わない）を行い、各々の画像処理結果
を演算し終えたらコントロールＣＰＵ２００からの要求
に従って、処理結果をコントロールＣＰＵ２００に転送
し、一連の動作が終了する。

【００６０】次に図３１により印字位置精度の評価方法
について説明する。この処理はＭＰＵ処理部２０９が担
当する。Ｓ１にてＭＰＵ処理部２０９内のエリア記憶検
出部４１０（図２０）に画像入力エリアを設定する。こ
の部分の設定エリアは、図２３（ｂ）のエリア５０６の
様になっている。エリア５０６の中の黒丸（ａ〜ｂ）は
紙端、あるいは印字線の測定ポイントを示している。Ｓ
１にて画像入力エリアの設定が終了したら、Ｓ２にて画
像入力のトリガ信号である入力スタートトリガ信号３０
２がＯＮになるまで待つ。入力スタートトリガ信号３０
２がＯＮになった時点で画像入力を開始しＳ３にて入力
されている画像データのＸ、Ｙ座標が設定しているエリ
ア５０６の範囲か否かを調べもし範囲内であればＳ４に
て所定の二値化レベルで二値化された画像データとし
て、画像メモリ４１５に格納する。もし入力されている
画像データが設定範囲外であれば、設定しているエリア
の範囲の画像データが入力されるまで待つ。Ｓ５では入
力エリアが終了したか否かを調べる。入力されている画
像データのＸ、Ｙ座標が、まだ設定しているエリアの範
囲内にあればＳ４に戻り、所定の二値化レベルで二値化
された画像データとして、画像メモリ４１５に格納を続
ける。もし、入力されている画像データのＸ、Ｙ座標が
設定しているエリア５０６の終わりに達したら、その時
点で画像データを画像メモリ４１５に格納することを終
了し、Ｓ６に分岐する。次にＳ６にて測定ポイントのエ
リア番号を指定する。図２３（ｂ）の例では、測定ポイ
ントａ、ｃ、ｋ、ｉについての測定であれば、エリア番
号を１番と指定する。次にＳ７において、測定するポイ
ントが紙端なのか線中心なのかを選択する。図２３
（ｂ）の例においては、測定ポイントｉ、ｊ、ｋ、１は
紙端、ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆ、ｇ、ｈは線中心であ
る。Ｓ７において、測定ポイントが線中心であると選択
した場合、Ｓ８に分岐し、画像メモリ４１５に格納され
た画像データのうち、指定されたエリア番号に相当する
部分の画像データを読み出す。ここで読み出す画像デー
タは、紙の部分が０、印字線と紙がセットされているス
テージ１０３の上面が１になる様に二値化されている。
Ｓ９では、二値化された印字線のエッジパターンを検索
する。印字線部分のデータは、紙の部分のデータ０が連
続した後、１が複数個続き、その後紙の部分の０が再び
続くといった構成となる。そこで、Ｓ１０にて前記のパ
ターンのうち、０から１に変化する点、すなわち、エッ
ジの立ち上がりパターンの出現を繰り返し確認する。も
し、立ち上がりパターンが確認されたならば、Ｓ１１に
て０から１に変化したポイントの座標を記憶したのち、
Ｓ１２により、再び画像データの読み出しを行う。Ｓ１
３、Ｓ１４では、Ｓ９、Ｓ１０と同様の処理を行う。た
だしＳ１４では、二値化されたデータが１から０に変化
する点、すなわちエッジの立ち下がりパターンの出現を
確認する。もし立ち下がりパターンが確認されたなら
ば、Ｓ１５にて１から０に変化したポイントの座標値を
記憶する。次にＳ１６にて、Ｓ１１で記憶したエッジの
立ち上がりポイントとＳ１５で記憶した立ち下がりポイ
ントの中点を算出し、Ｓ１７にて印字線の中心点として
座標値を記憶する。

【００６１】次に、紙端が測定ポイントである場合は、
Ｓ７からＳ１８に分岐し、画像メモリ４１５に格納され
た画像データのうち、指定されたエリア番号に相当する
部分の画像データを読み出す。Ｓ１９では、二値化され
た画像データのうち、紙とステージ上面で形成される境
界のエッジパターンの検索を行う。ステージ上面部分の
データである１が連続した後、紙の部分のデータである
１が連続して出現する。そこで、Ｓ２０にて前記パター
ンのうちデータが１から０に変化する点、すなわちエッ
ジの立ち下がりパターンの出現を繰り返し確認する。も
し立ち下がりパターンが確認されたならば、Ｓ２１にて
１から０に変化したポイント座標値を紙端の位置として
結果を記憶する。次にＳ２２にて測定するポイントがす
べて終了したか否かを調べる。まだ測定ポイントが残っ
ている場合は、Ｓ６からの処理を繰り返す。もし測定ポ
イントがすべて終了した場合は、Ｓ２３に分岐し、各ポ
イントの相互の位置関係を演算する。ここで相互の位置
関係の演算方法は、例えば先端レジスト＝ａｙ−ｉｙ及
びｂｙ−ｊｙ 直角性＝｜（ａｙ−ｂｙ）／（ａｘ−ｂｘ）＋（ｃｘ−
ｄｘ）／（ｃｙ−ｄｙ）｜×１００％ 斜行性＝｜（（ａｙ−ｉｙ）−（ｂｙ−ｊｙ））／（ａ
ｘ−ｂｘ）｜×１００％ 平行性＝｜（（ａｙ−ｅｙ）−（ｂｙ−ｆｙ））／（ａ
ｘ−ｂｘ）｜×１００％等の演算を行う。

【００６２】次にＳ２４にて各評価項目の演算結果と、
各評価項目の限度最小値、限度最大値との比較を行い、
もし演算結果が限度最小値と限度最大値の間に入ってい
れば、Ｓ２５にて良品と判定し、評価を終了する。もし
演算結果が限度最小値と限度最大値の間に入っていなけ
ればＳ２６にて不良品と判定し評価を終了する。

【００６３】次にピッチムラの評価について説明する。
図３２（ａ）は、線パターンの射影を説明する図であ
る。１２０１は印字された線パターン、１２０２は線パ
ターンの間に存在するノイズ成分である。１２００は線
長さ方向を示し、この方向に多値データを加算した結果
が射影データ１２０６である。射影データ１２０６のう
ち、線パターン１２０１の位置に相当する部分は、ピー
クの山１２０５としてあらわれ、線パターンの線パター
ンの間の背景部は、ピークの谷１２０４としてあらわれ
る。この射影データを取ることで、線パターンの間にあ
るノイズ成分や、線パターンのエッジ部分の凹凸による
影響が除去でき、線パターンと線パターンのピッチ１２
０３を正確に抽出することが可能となる。

【００６４】図３２（ｂ）は、線パターンを印字した時
の不良状態を説明する図である。１２０７は印字された
線パターン、１２１２は射影データであり、ピークの位
置に注目すると、正常部ピッチ１２１１に対して、不良
部ピッチ１２０８は間隔が狭くなっている。また、射影
データ１２１２において、隣接する山と谷のピーク差に
注目すると、正常部のピーク差１２１０に比べ、不良部
のピーク差１２０９は小さくなっている。これらのこと
から射影データのピッチあるいはピーク差を演算するこ
とで、不良部分と正常部分の分離が可能となる。

【００６５】次にピッチムラの評価の具体的方法につい
て図３３を用いて更に説明する。この処理はＭＰＵ処理
部２１３が担当する。Ｓ３０にて、ＭＰＵ処理部２１３
のエリア記憶検出部４１０に画像入力エリアを設定す
る。この場合の設定エリアは、図２２（ｄ）のエリア５
０９の様になっている。画像入力エリアの設定が終了し
たらＳ３１にて画像入力のトリガ信号である入力スター
トトリガ信号３０２がＯＮになるまで待つ。入力スター
トトリガ信号３０２がＯＮになった時点で画像入力を開
始し、Ｓ３２にて入力されている画像データのＸ、Ｙ座
標が設定しているエリア５０９の範囲か否かを調べ、も
し範囲内であればＳ３３にて射影データを射影処理部２
１６内の射影メモリ４３１に格納し、範囲外であれば、
設定しているエリアの範囲がくるまで画像入力を続け
る。Ｓ３４では、設定したエリアの終了を調べる。まだ
設定範囲内であればＳ３３にて射影データを射影メモリ
に格納しつづけ、もし入力エリアが終了したらＳ３５に
分岐する。

【００６６】Ｓ３５では、入力した射影データを読み出
し、Ｓ３６で平滑化を行う。ここで平滑化を行う理由
は、射影データ中のスパイク状ノイズを除去し、ピーク
位置を判別しやすくするためである。

【００６７】次にＳ３７にて、白すなわち背景部と、黒
すなわち線パターン部のピーク位置を検出する。ピーク
の検出方法として、隣接する射影データの差分を取り、
その差分値の符号が正であるか負であるかを調べる。こ
の時、符号が正から負へ、あるいは負から正へ変化する
点をピーク位置とする。差分がゼロの時はゼロの区間の
中点をピーク位置とする。また、ピーク位置の検出方法
として、山あるいは谷の存在する区間の重心位置を求
め、その値をピーク位置としてもよい。次にＳ３８に
て、Ｓ３７で求めたピーク位置のうち隣合った線パター
ン部のピークの間隔を算出し、ピッチ間隔とする。

【００６８】次にＳ３９で、Ｓ３８にて求めたピッチの
分散を求め、またＳ４０で、Ｓ３８にて求めたピッチの
うち、最大のものと最小のものを求める。Ｓ４１にて、
Ｓ４０で求めた最大値と、良品として認められるピッチ
の最大限度値と比較を行い、もし最大値が限度値より小
さいか、または等しい場合は、Ｓ４２に分岐する。最大
値が限度値より大きい場合は、Ｓ５０に分岐し、この時
点で不良と判定される。次にＳ４２にてＳ４０で求めた
最小値と、良品として認められるピッチの最小限度値と
比較を行い、もし最小値が限度値より大きいかまたは等
しい場合はＳ４３に分岐する。最小値が限度値より小さ
い場合は、Ｓ５０に分岐し、この時点で不良と判定され
る。次にＳ４３にてＳ３９で求めた分散と、良品として
認められるピッチの分散の限度値と比較を行い、もし分
散の値が、限度値より小さいか、または等しい場合はＳ
４４に分岐する。分散の値が限度値より大きい場合は、
Ｓ５０に分岐し、この時点で不良と判定される。

【００６９】ここでピッチ間隔が周期的に変化する場
合、例えば偶数番目と奇数番目のピッチが交互に変わる
場合などでは、最大値、最小値の比較のかわりに偶数番
目のピッチ平均値と奇数番目のピッチの平均値との差を
求め、その差が基準値を越えているか否かで評価しても
良い。

【００７０】Ｓ４４では、今まで、Ｓ４１〜Ｓ４３の条
件を満たすものについて良品と仮判定する。ここで、仮
判定にとどめておくのは、ピッチが良品でも印字された
線パターンと背景部分のコントラストにバラツキがある
場合は、印字された画像全体の濃度ムラとしてあらわ
れ、印字品位が低下することがあるからである。この場
合の評価を行うために、Ｓ４５にて、白、黒のピーク
差、つまり隣合った谷と山の高さを算出する。次にＳ４
６にて、Ｓ４５で求めたピーク差の頻度分布を計算す
る。コントラストが一定の場合は、あるピーク差の位置
に高い頻度分布が現れ、頻度分布のバラツキも小さい。
逆に、コントラストにムラがある場合は、頻度分布の高
さは低く、頻度分布のバラツキも大きい結果となる。そ
こで、Ｓ４７にて評価関数として頻度分布の高さをｈ、
底辺幅をｗとしてｈ／ｗを計算し、コントラストの状態
値とする。Ｓ４８にて、Ｓ４７で求めたコントラストの
状態値と、良品として認められるコントラストの状態の
限度値の比較を行い、もしコントラストの状態値が限度
値より大きいかまたは等しい場合は、Ｓ４９に分岐し良
品と最終判定を行い、ピッチムラの評価を終了する。ま
た、コントラストの状態値が、後値より小さい場合は、
Ｓ５０に分岐し、不良品と判定したのち、ピッチムラの
評価を終了する。

【００７１】図３４（ａ）は、コントラストが一定で、
良品の場合のピーク差頻度分布をあらわす図であり、図
３４（ｂ）は、コントラストにバラツキがあり不良品の
場合のピーク差頻度分布をあらわす図である。ｈ１、ｈ
２はそれぞれの頻度分布の最大値ｗ１、ｗ２は頻度分布
の底辺幅である。

【００７２】次に印字された線の直線性の評価について
説明する。図３５（ａ）は、印字パターンの直線性の高
周波成分を評価する際に用いるランコードデータについ
て説明する図である。１３００は印字された線パターン
であり、１３０１はランコードデータを得る走査位置で
ある。走査位置上に存在する二値図形の開始点と幅を順
次格納していくもので１３００のような線パターンを走
査した場合、線パターンの始点１３０１のＸ座標をラン
コード処理部２１５内のＸメモリ４５２に格納し、Ｙ座
標をランコード処理部２１５内のＹメモリ４５３に格納
し、パターン幅１３０３をランコード処理部２１５内の
幅メモリ４５４に格納する。また線パターン１３００の
周辺には、ノイズ成分１３０４が存在するので、ランコ
ードデータを取り込む際にパターンの最大幅リミット値
１３０６（ΔＷ₂）、最小幅リミット値１３０５（Δ
Ｗ₁）を設定しておくことで、ノイズ成分１３０４の様
なパターンはサンプリングされず、線パターンのみのデ
ータを取り込むことが可能である。

【００７３】図３３（ｂ）は、直線性評価の原理を説明
する図である。１３１０は印字された線パターン、１３
１２は印字された線パターンの中心線を平滑化した時に
得られる平滑化曲線、１３１３は平滑化曲線を直線近似
した場合に得られる近似直線、１３１１は近似直線と平
滑化曲線との差の最大値をあらわす最大振幅である。こ
の最大振幅を所定の限度値と比較することにより直線性
の評価を行う。

【００７４】この直線性の評価の具体的方法について図
３６を用いて更に説明する。尚、この処理はＭＰＵ処理
部２１２が担当する。

【００７５】まず、Ｓ６０にてＭＰＵ処理部２１２内の
エリア記憶検出部４１０に、画像入力エリアを設定す
る。この場合の設定エリアは、図２２（ｃ）のエリア５
０８の様になっている。画像入力エリアの設定が終了し
たら、Ｓ６０にて、画像入力のトリガ信号である入力ス
タートトリガ信号３０２がＯＮになるまで待つ。入力ス
タートトリガ信号３０２がＯＮになった時点で画像入力
を開始し、Ｓ６２にて入力されている画像データのＸ、
Ｙ座標が設定しているエリアの範囲か否かを調べ、もし
設定したエリアの範囲外であれば、設定しているエリア
の範囲が入力されるまで待つ。もし設定したエリアの範
囲内であれば、Ｓ６３にて入力される画像データを所定
の二値化レベルでデータを二値化し、Ｓ６４以降で出現
する二値化パターンを調べる。Ｓ６４では、出現する二
値化のパターンを調べる。Ｓ６４では、出現する二値の
パターン幅と、最小値リミット値ΔＷ₁（１３０５）と
の比較を行い、パターン幅が最小値リミット値ΔＷ₁よ
り大きいか、等しい場合はＳ６５に進み、小さい時はＳ
６７でエリアの終了を調べる。現在入力されている画像
データがまだエリアの範囲内であれば、Ｓ６３に戻る。
Ｓ６５では、出現する二値のパターン幅と最大幅リミッ
ト値ΔＷ₂（１３０６）との比較を行い、パターン幅が
最大幅リミット値ΔＷ₂よりも小さければ、Ｓ６６にて
そのパターンの始点の座標をＸメモリ４５３にＹ座標を
Ｙメモリ４５２に、パターン幅を幅メモリ４５４に書き
込む。パターン幅が最大幅リミット値よりも大きけれ
ば、Ｓ６７のエリア終了か否かを調べる。Ｓ６６にて、
パターンのデータを格納した後、Ｓ６７で入力エリアの
終了を調べる。現在入力されている画像データが、設定
したエリアの範囲内であれば、Ｓ６３〜Ｓ６６を繰り返
す。もし入力されている画像データが設定したエリアの
範囲を越えた場合は、その時点で二値データの入力を終
了し、Ｓ６８に分岐する。

【００７６】Ｓ６８では、格納されたランコードデー
タ、具体的には、Ｘメモリ４５３、Ｙメモリ４５２、幅
メモリ４５４の内容を読み出す。Ｓ６８で読み出したデ
ータをもとに、Ｓ６９で線パターンの中心線を算出す
る。中心線を算出することで、線パターン自身の太りや
細りによるパターン位置のズレの影響を除去することが
出来る。中心線の位置座標は、パターンの始点とパター
ン幅から容易に求めることができる。次にＳ７０にて、
Ｓ６９で求めた中心線を平滑化する。ここで中心線を図
３２（ｂ）の点線で示す如く更に平滑化することで、パ
ターンのエッジ部分に見られる凹凸の影響を除去するこ
とが出来る。次にＳ７１で、平滑化したデータを、適当
なブロックに分割し、Ｓ７２にて分割したブロック内の
平滑化データを用いて、直線近似を行う。Ｓ７３では分
割したブロック内の平滑化データから、ピーク位置を検
出する。ここで、ピーク位置とは、平滑化したうねりの
山あるいは谷の位置を言う。ピークの検出方法として隣
接する平滑化データの差分をとり、その差分値の符号が
正であるか負であるかを調べる。この時、符号が正から
負へ、あるいは負から正へ変化する点をピーク位置とす
る。また差分がゼロの時は、ゼロの区間の中点をピーク
位置とする。

【００７７】次にＳ７４にて、Ｓ７３で求めたピーク位
置がＳ７２で求めた近似直線１３１３（図１３（ｃ））
からどれだけ離れているかを計算し、Ｓ７５でＳ７４で
求めた値の絶対値の最大値（最大振幅１３１１）を求め
る。次にＳ７６にて、全ブロックについて前記Ｓ７２〜
Ｓ７５が終了したか否かを調べ、全ブロックが終了して
いなければ、Ｓ７２〜Ｓ７５の動作を繰り返す。もし、
全ブロックについてＳ７２〜Ｓ７５の動作が終了してい
れば、Ｓ７７に分岐する。

【００７８】Ｓ７７では、各ブロックでの近似直線から
のピーク位置の差を絶対値の最大値のうち、もっとも大
きい値を抽出し、Ｓ７８において、限度値との比較を行
う。最大値が限度値よりも小さいか、または等しい場合
は、Ｓ７９に分岐し、良品と判定したのち、直線性の評
価を終了する。また、最大値が限度値よりも大きい場合
には、Ｓ８０に分岐し、不良品と判定したのち、直線性
の評価を終了する。

【００７９】ここでステージ速度ムラの補正方法につい
て図３０を用いて説明する。本実施例評価装置では検査
対象の紙を移動ステージ１０３の上に位置決めし、セン
サの下を走査させることにより画像を取り込んでいる。
したがって紙をのせて移動するステージの移動速度にバ
ラツキを生じると測定画像が移動方向に伸縮することに
なり、真値が測定できなくなる。このバラツキを補正す
るために本実施例では、Ａ／Ｄ処理部内のＹ座標カウン
タ３１３でラインセンサのスキャンスタートパルスとリ
ニアエンコーダ１０４の出力の両方をカウントしてい
る。即ち、ラインセンサの出力をＡ／Ｄ処理部２０１〜
２０４に取り込んでＡ／Ｄ変換して画像データを取り込
むが、その時スキャンスタートパルス３０４のタイミン
グ毎（サンプルホールド信号毎）にＹ座標カウンタ３１
３でカウントされたステージ１０３に取り付けられたリ
ニアエンコーダ１０４の値をホストコンピュータ１０９
内のメモリに書き込んでいく。つまり、図３０（ａ）に
示すようにセンサスキャン回数（順位）とエンコーダ値
を対応づけてセンサ１スキャンで実際にどれだけステー
ジが移動したかを記憶しておく。そして画像データより
評価すべき線を検出した時にこのメモリの値から測定値
を計算していく。

【００８０】例えば紙送りピッチムラ評価の場合、図３
０（ｂ）に示すように、まず取り込んだ画像データをス
キャン主方向に射影し、その値から評価すべき線を検出
する。更にその線の重心位置９０７を算出し、その重心
位置が図３０（ａ）のセンサスキャン回数でどこに対応
するかを検索する。図３０（ｂ）の例の場合、線重心位
置９０７はスキャン（Ｎ＋３．１）回目となっており、
この場合の測定値としてはスキャン（Ｎ＋３）回目のエ
ンコーダ値をＥ＋３、（Ｎ＋４）回目のエンコーダ値を
Ｅ＋４とすると、（Ｅ＋３）＋（（Ｅ＋４）−（Ｅ＋
３））×０．１で計算できる。

【００８１】このようにしてそれぞれ評価する線と線の
エンコーダ値を算出し、このエンコーダ値の差分をとる
ことでピッチ間隔を求め、紙送りピッチムラをステージ
の移動速度バラツキの影響なく評価することが可能であ
る。

【００８２】前記実施例では、紙送り系に複数のローラ
を使用する印字機器を評価するパターンを用いた例につ
いて説明したが、複合パターンとしてはこれに限るもの
ではない。

【００８３】図３７は１本の駆動ローラ及びそれに従動
するローラにより紙送りを行う印字機器を評価するため
の複合パターンの一実施例である。図２３の複合パター
ンと同様に複数の測定エリアを取り込んで同様の項目を
評価するが、紙送りピッチムラの評価については、製品
構造上ローラ１回転分でよく、評価パターンもその分の
定ピッチ横線パターンにより行う。そのため評価パター
ンも紙縦全長にわたって印字する必要がなく印字時間が
短縮でき、同時に評価時間も短縮することができる。

【００８４】測定位置としてはａ〜ｌの１２ポイント
で、用紙上でそれぞれ次のような位置にあり、各ポイン
トのＸ座標、Ｙ座標をそれぞれ測定する。

【００８５】〔測定位置〕 ｉ、ａ、ｅ：５桁目（左端より１４．８３ｍｍ） ｊ、ｂ、ｆ：７６桁目（左端より１９５．１７ｍｍ） ｋ、ｃ、ｇ：３行目（上端より１３．５８ｍｍ） ｌ、ｄ、ｈ：３１行目（上端より１３２．１ｍｍ） １行＝４．２３３ｍｍ １桁＝２．５４ｍｍ 尚、各ポイントにおけるＸ座標、Ｙ座標を（ａ_x、
ａ_y），（ｂ_x、ｂ_y）、…（ｌ_x、ｌ_y）と表わす。

【００８６】次に検査項目と評価項目について説明す
る。

【００８７】１．先端レジスト：ａ_y−ｉ_y、ｂ_y−ｊ_y ２．左端レジスト：ｃ_x−ｋｘ

【００８８】

【外１】

【００８９】上記各演算を行い、各演算結果と各規格値
とを比較して良否の判断を行い、不良と判断した場合警
告表示する。

【００９０】

【外２】 主方向に対し、上記演算を行い、その結果が−１ｍ〜＋
１ｍｍの範囲内にあるか否かを判断し、ない場合警告表
示を行う。

【００９１】

【外３】 副方向に対し上記演算を行い、その結果が−１．７％〜
＋０．３％の範囲内にあるか否かを判断し、ない場合警
告表示を行う。

【００９２】７．キャリッジピッチムラ：１０行目の１
ドット縦線を副走査方向に濃度ヒストグラム値を算出
し、その中心値ピッチをだす。この中心値ピッチを規格
値と比較して良否の判断を行い不良の場合警告表示す
る。

【００９３】８．片方向印字ムラ：１０、１１行目の１
ドット縦線を副走査方向に濃度ヒストグラム値を算出
し、同桁の位置ズレをだす。この位置ズレ量が許容範囲
内にあるか否かを判断し、許容範囲内にない場合警告表
示する。

【００９４】９．両方向印字ムラ：１１、１２行目の１
ドット縦線を副走査方向に濃度ヒストグラム値を算出
し、同桁の位置ズレをだす。この位置ズレ量が許容範囲
内にあるか否かを判断し、許容範囲内にない場合警告表
示する。

【００９５】１０．紙送りピッチムラ：１４〜３３行目
の１ドット横線を主走査方向に濃度ヒストグラム値を算
出し、 その中心値ピッチをだす。この中心値ピッチを規格値と
比較して良否の判断を行い、不良の場合警告表示する。

【００９６】

【発明の効果】以上の様に本発明によれば、印字対象物
上の第１のパターン及び第２のパターンを測定分解能の
異なる読取手段により読取り、読取った画像信号に基づ
いて異なる印字評価を行うので、複数の項目について異
なる精度で評価を行う場合であっても、高速且つ高精度
に印字評価を行うことが可能となり、検査時間短縮によ
り生産コストダウンが図れ、品質保証信頼性を向上させ
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の印字評価装置の第１実施例を示すブロ
ック図である。

【図２】図１（Ａ）に示す印字評価装置の一部の詳細を
示す外観斜視図である。

【図３】画像メモリ制御部を示すブロック図である。

【図４】検査対象の複数エリアのデータを画像メモリに
格納した場合を説明する図である。

【図５】評価用パターンの一例を示す図である。

【図６】評価用パターンの測定ポイントエリアを示す図
である。

【図７】印字位置精度評価方法を示すフローチャートで
ある。

【図８】二値化信号出力を示す図である。

【図９】印字直線性評価方法を示すフローチャートであ
る。

【図１０】ピッチムラ評価方法を示すフローチャートで
ある。

【図１１】ピーク差頻度分布を示す図である。

【図１２】ランコードデータを説明する図である。

【図１３】線パターンの射影を説明する図である。

【図１４】ピッチムラを説明する図である。

【図１５】本発明の第２の実施例である印字評価装置を
示す図である。

【図１６】図１５に示す印字評価装置のラインセンサを
説明する図である。

【図１７】第２の実施例における印字評価方法を示すフ
ローチャートである。

【図１８】画像処理部の詳細を示すブロック図である。

【図１９】Ａ／Ｄ処理部の詳細を示すブロック図であ
る。

【図２０】ＭＰＵ処理部の詳細を示すブロック図であ
る。

【図２１】射影処理部の詳細を示すブロック図である。

【図２２】ランコード処理部の詳細を示すブロック図で
ある。

【図２３】第２実施例における印字評価用の複合パター
ンを示す図である。

【図２４】複合パターンの一部測定エリアを示す図であ
る。

【図２５】図２４に示す測定エリアの画像データをメモ
リに記憶した内容を説明する図である。

【図２６】ステージ上の絶対座標と、複合パターン上の
各エリアの関係を示す図である。

【図２７】各ＭＰＵ処理部が担当する処理エリアを対応
づけて説明する図である。

【図２８】各エリアに対するＸ方向の切り出しタイミン
グを示すタイミングチャートである。

【図２９】各エリアに対するＹ方向の切り出しタイミン
グを示すタイミングチャートである。

【図３０】ステージの速度ムラ補正を説明する図であ
る。

【図３１】第２実施例における印字位置精度評価方法を
示すフローチャートである。

【図３２】ピッチムラ評価方法の原理を説明する図であ
る。

【図３３】ピッチムラ評価方法を示すフローチャートで
ある。

【図３４】ピーク差頻度分布を示す図である。

【図３５】直線性評価の原理を説明する図である。

【図３６】直線性評価方法を示すフローチャートであ
る。

【図３７】複合パターンの別の例を示す図である。

【符号の説明】

１ 撮像装置 ２ ステージ ４ 検査紙 ５〜７ Ａ／Ｄ変換部 ８〜１１ 画像処理部 １３ ヒストグラム演算部 １４ ランコード演算部 １６ コントロールＣＰＵ ２１ ホストコンピュータ １０１ 撮像装置 １０３ ステージ １０４ リニアエンコーダ １０５ 検査紙 １０７ 画像処理部 １０９ ホストコンピュータ ２０１〜２０４ Ａ／Ｄ処理部 ２０５〜２０８ ラインセンサ ２０９〜２１４ ＭＰＵ処理部 ２１５ ランコード処理部 ２１６，２２５ 射影処理部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−19084（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−49897（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−15644（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−78550（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G06T 7/00 G06T 7/60 G01N 21/84 G01N 21/88 H04N 1/00

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 印字対象物上に印字された印字パターン
   を第１読取手段により第１の測定分解能で読取るととも
   に、 前記印字パターンを第２読取手段により前記第１の測定
   分解能と異る第２の測定分解能で読取り、 前記第１読取手段により読取られた前記印字パターンに
   応じた画像信号に基づいて第１の印字評価を行い、 前記第２読取手段により読取られた前記印字パターンに
   応じた画像信号に基づいて前記第１の印字評価とは異る
   第２の印字評価を行うことを特徴とする印字評価方法。
2. 【請求項２】 前記第１読取手段及び前記第２読取手段
   を前記印字パターンに対し相対的に移動させて前記印字
   パターンを読取ることを特徴とする請求項１に記載の印
   字評価方法。
3. 【請求項３】 同一の相対移動中に前記第１読取手段及
   び前記第２読取手段から出力される画像信号に応じて前
   記第１の印字評価及び前記第２の印字評価を行うことを
   特徴とする請求項１に記載の印字評価方法。
4. 【請求項４】 前記第１読取手段及び前記第２読取手段
   により読取る印字パターン上の領域が異ることを特徴と
   する請求項１に記載の印字評価方法。
5. 【請求項５】 前記画像信号をＡ／Ｄ変換し、このＡ／
   Ｄ変換により得られるデジタル信号に対し演算処理を行
   うことにより前記第１の印字評価及び前記第２の印字評
   価を行うことを特徴とする請求項１に記載の印字評価方
   法。
6. 【請求項６】 複数の受光素子が配列され、印字対象物
   上印字されたパターンを読取る第１読取手段、 複数の受光素子は配列され、前記パターンを読取る第２
   読取り手段、 前記第１読取手段および第２読取手段と前記印字対象物
   とを前記複数の受光素子の配列方向と異なる方向に相対
   的に移動させる移動手段、 前記第１読取手段から出力される画像信号に基づいて第
   １の印字評価を行なう第１処理手段、 前記第２読取手段から出力される画像信号に基づいて第
   ２の印字評価を行う第２処理手段、 を有し、 前記第１読取手段と第２読取手段の測定分解能を異なら
   しめたことを特徴とする印字評価装置。
7. 【請求項７】 前記第１処理手段及び第２処理手段は、
   前記移動手段による同一の相対移動中に前記第１読取手
   段及び第２読取手段から出力される画像信号に基づいて
   前記第１及び第２の印字評価を行うことを特徴とする請
   求項６に記載の印字評価装置。
8. 【請求項８】 前記第１読取手段と第２読取手段とで、
   前記パターンのうちの読取領域の異なることを特徴とす
   る請求項６に記載の印字評価装置。
9. 【請求項９】 前記第１及び第２処理手段は、前記読取
   手段から出力される画像信号をＡ／Ｄ変換し、前記Ａ／
   Ｄ変換することにより行われるデジタル信号に対し所定
   の演算処理を行うことにより前記第１及び第２の印字評
   価を行うことを特徴とする請求項６乃至８のいずれか１
   項に記載の印字評価装置。