JPH0536742B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0536742B2
JPH0536742B2 JP59189749A JP18974984A JPH0536742B2 JP H0536742 B2 JPH0536742 B2 JP H0536742B2 JP 59189749 A JP59189749 A JP 59189749A JP 18974984 A JP18974984 A JP 18974984A JP H0536742 B2 JPH0536742 B2 JP H0536742B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
horizontal
video signal
measured
inspection method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59189749A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6168541A (ja
Inventor
Nobuo Nishikawa
Susumu Sano
Kazukuni Yoshida
Juji Matsuda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daiichi Pharmaceutical Co Ltd
Original Assignee
Daiichi Pharmaceutical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daiichi Pharmaceutical Co Ltd filed Critical Daiichi Pharmaceutical Co Ltd
Priority to JP18974984A priority Critical patent/JPS6168541A/ja
Publication of JPS6168541A publication Critical patent/JPS6168541A/ja
Publication of JPH0536742B2 publication Critical patent/JPH0536742B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94Investigating contamination, e.g. dust

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は工業用テレビカメラを用いたビデオ式
錠剤検査方法に関するものである。
(従来の技術) 工業用テレビカメラを用いた錠剤の検査方法に
おいて、従来ビデオ信号の処理は、時系列に微分
等の処理を行なう(アナログ処理)のが一般的で
あつた。一方特開昭58−63838号公報においては、
ビデオ信号を或る適当なしきい値レベルと比較す
ることにより2値化し、1水平走査期間分のデー
タシフト容量を持つ2つのシフトレジスタと比較
回路を用いて両シフトレジスタの対応するシフト
位置のデータを比較する方式の欠陥検出回路を提
案していて従来のアナログ処理技術とは異なる特
徴を有しているが、この方式のビデオ信号の2値
化におけるしきい値の設定は、被測定物の輪郭部
分のようにコントラストの差のつき易い部分の検
出を想定しているため、被測定物の輪郭部分の様
にコントラストの差が大きい異物には最初からビ
デオ信号を所定のしきい値と比較して2値化する
ことで充分であるが、被測定物表面における微小
欠点を検出するには被測定物表面の微妙な濃淡の
変化を検出する必要があり、微小欠点の検出精
度、特に検出用照明のバラツキによる良品錯誤を
考慮すると被測定物表面の微小欠点検出はかなり
難しいものとなつている。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、このように従来のものでは検出精度
上難点のあつた被測定物表面上の微小欠点に対し
ても、デジタルデータの差分情報により、毛状の
様に方向性のある異物にも正確な欠点情報が容易
に得られるビデオ検査方法を提供しようとするも
のである。
(問題点を解決するための手段) このため本発明は、近年大容量高速メモリが比
較的安価に入手できるようになつてきた事に着目
した方策で工業用ビデオカメラを用いた錠剤の検
査方法において、ビデオ信号をA/D変換し、各
水平走査分の個々の濃淡データをデジタル値とし
てフレームメモリに書き込み、この記憶した各番
地のデータを任意に読み出し、水平及び垂直方向
の隣合つた、或いは予め設定した離れた番地間の
データの差分を2値化することにより、しかもこ
れ等水平及び垂直の上記比較を互いに独立に行な
うことにより、方向性をもつた異物等の検出を可
能にしたことを特徴とするもので、これを問題点
解決のための手段とするものである。
(作 用) ビデオ信号をA/D変換し、各水平走査分の
個々の濃淡データを、例えば白黒の明度差を256
段階(例えば16進法では00〜FF)のステツプに
分けたデジタル値として記憶し、このデータを水
平及び垂直方向に比較(この場合隣合つたデータ
同志を比較するだけでなく、欠点の特性に合せ
て、例えば3つ離れたデータを比較する等、任意
の設定が可能)し、その差分を2値化することに
より安定な検査が可能となる。以上の機能を実現
するためには、A/D変換によるデジタルメモリ
化が絶対条件である。
(実施例) 以下本発明の実施例を図面について説明する
と、第1図〜第4図は本発明の実施例を示す。第
1図はフレームメモリ内の各番地を示しており、
被測定物である錠剤1の表面をビデオカメラにて
水平に走査して得られたビデオ信号をA/D変換
して得られた個々の濃淡データをデジタル値とし
て各番地11、12、13…の順に水平方向に書き込ま
れる。次いでこの記憶した各番地のデータを任意
に読み出し、水平及び垂直方向の隣合つた、或い
は予め設定した離れた番地間のデータの差分を2
値化することにより、しかもこれ等水平及び垂直
の上記比較を互いに独立に行なう。つまりこのフ
レームメモリ内に書き込まれたデータを11、21、
31…の順に垂直方向にも読み出すことによつて、
ビデオカメラ上で垂直方向に走査した場合のA/
D変換したビデオ信号と同じものが得られるので
ある。
第2図のように錠剤1に付着した線状の異物2
の濃淡が水平方向に緩やかに変化している場合、
異物2上を走査した結果得られるビデオ信号は、
第3図のように電圧変化が緩やかであり、これを
微分等の処理をしても、検出が困難である。
この場合前記の方法で垂直走査すると、ビデオ
信号は第4図のように電圧の変化が急激になり、
微分処理等により検出が容易になる。
(発明の効果) このように本発明では、被測定物である錠剤1
の表面を水平に走査してビデオ信号の個々のデー
タを被測定物の濃淡のデータとしてA/D変換し
てデジタル値とするので、被測定物表面の微妙な
濃淡の変化を正確に検出することができ、更に記
憶した各番地のデータを水平及び垂直方向の隣合
つた、或いは予め設定した離れた番地間のデータ
の差分を2値化するので、被測定物表面の微妙な
濃淡の変化も見逃さずに微小な異物の検出を正確
に、しかも容易にできることとなつた。
またデータを水平及び垂直方向に比較する際、
隣合つたデータ同志を比較するだけでなく、欠点
の特性に合せて、例えば3つ離れたデータを比較
する等、任意の設定が可能で、その差分を2値化
することにより安定な検査が可能となつた。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例を示し、第1図はフレー
ムメモリ内の各番地を示す説明図、第2図は錠剤
の異物の状態を示す平面図、第3図は水平走査時
の信号波形線図、第4図は垂直走査時の信号波形
線図である。 図の主要部分の説明 1…錠剤、2…異物。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 工業用テレビカメラを用いた錠剤の検査方法
    において、ビデオ信号をA/D変換し、各水平走
    査分の個々の濃淡データをデジタル値としてフレ
    ームメモリに書き込み、この記憶した各番地のデ
    ータを任意に読み出し、水平及び垂直方向の隣合
    つた、或いは予め設定した離れた番地間のデータ
    の差分を2値化することにより、しかもこれ等水
    平及び垂直の上記比較を互いに独立に行なうこと
    により、方向性をもつた異物等の検出を可能にし
    たことを特徴とするビデオ式錠剤検査方法。
JP18974984A 1984-09-12 1984-09-12 ビデオ式錠剤検査方法 Granted JPS6168541A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18974984A JPS6168541A (ja) 1984-09-12 1984-09-12 ビデオ式錠剤検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18974984A JPS6168541A (ja) 1984-09-12 1984-09-12 ビデオ式錠剤検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6168541A JPS6168541A (ja) 1986-04-08
JPH0536742B2 true JPH0536742B2 (ja) 1993-05-31

Family

ID=16246534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18974984A Granted JPS6168541A (ja) 1984-09-12 1984-09-12 ビデオ式錠剤検査方法

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JP (1) JPS6168541A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0745222A (ja) * 1993-07-29 1995-02-14 Nec Corp 蛍光表示管

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54133186A (en) * 1978-04-06 1979-10-16 Ishikawajima Harima Heavy Ind Method of detecting flaws of hot piece
JPS5863838A (ja) * 1981-10-14 1983-04-15 Fuji Electric Co Ltd 欠陥検出回路

Patent Citations (2)

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JPS54133186A (en) * 1978-04-06 1979-10-16 Ishikawajima Harima Heavy Ind Method of detecting flaws of hot piece
JPS5863838A (ja) * 1981-10-14 1983-04-15 Fuji Electric Co Ltd 欠陥検出回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0745222A (ja) * 1993-07-29 1995-02-14 Nec Corp 蛍光表示管

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Publication number Publication date
JPS6168541A (ja) 1986-04-08

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