JPS60129039A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
- Publication number
- JPS60129039A JPS60129039A JP58238214A JP23821483A JPS60129039A JP S60129039 A JPS60129039 A JP S60129039A JP 58238214 A JP58238214 A JP 58238214A JP 23821483 A JP23821483 A JP 23821483A JP S60129039 A JPS60129039 A JP S60129039A
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- JP
- Japan
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- circuit
- delay
- channel
- control
- control circuit
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/52—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00
- G01S7/52017—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00 particularly adapted to short-range imaging
- G01S7/5205—Means for monitoring or calibrating
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、超音波診断装置の検査回路に関する。
マトリクススイッチは超音波診断装置の要部である。こ
のマトリクススイッチは、数千点にも及ぶスイッチを有
している。
のマトリクススイッチは、数千点にも及ぶスイッチを有
している。
従来、このマトリクススイッチの検査は、検査治具を使
用して行っていた。
用して行っていた。
この方法では、検査に要する時間が過大になる欠点があ
った。また、装置使用者が検査を行うのに不便であった
。
った。また、装置使用者が検査を行うのに不便であった
。
本発明は、前述の欠点を除去するもので、自己診断回路
を装備した超音波診断装置を提供することを目的とする
。
を装備した超音波診断装置を提供することを目的とする
。
本発明は、超音波診断装置のマトリクススイッチおよび
タップ付き遅延回路の検査を行う手段であって、多チャ
ンネルの超音波探触子を接続する接続端子と、この接続
端子に送波パルスを与える送信回路と、上記接続端子に
生じる受波パルスを増幅検波して時間軸上に画像表示す
る受信回路と、上記送信回路および上記受信回路を制御
する制御回路とを備え、上記送信回路には、トリガ信号
源と、このトリガ信号源の出力を起点にそれぞれ異なる
遅延時間のパルスを発生して上記超音波探触子の各チャ
ンネルに与える送波遅延制御回路とを備え、上記受信回
路には、タップ付き遅延回路と、上記接続端子の各チャ
ンネルが一辺に接続され、上記タップ付き遅延回路の各
タップが他の一辺に接続されたマトリクススイッチとを
備え、上記制御回路は、上記送波遅延選択回路の各チャ
ンネルの選択および与える遅延量の制御と、上記マトリ
クススイッチの開閉制御とを行うように構成された超音
波診断装置において、上記制御回路は操作によりその制
御モードを検査モードに設定することができるように構
成され、この検査モードでは、上記制御回路は、上記送
波遅延選択回路の各チャンネルを順次一つずつ選択する
とともに、選択されたチャンネルに所定の遅延量を与え
るように制御し、この選択されたチャンネルについて上
記マトリクススイッチを順次一つずつ開閉させるように
制御するように構成されたことを特徴とする。
タップ付き遅延回路の検査を行う手段であって、多チャ
ンネルの超音波探触子を接続する接続端子と、この接続
端子に送波パルスを与える送信回路と、上記接続端子に
生じる受波パルスを増幅検波して時間軸上に画像表示す
る受信回路と、上記送信回路および上記受信回路を制御
する制御回路とを備え、上記送信回路には、トリガ信号
源と、このトリガ信号源の出力を起点にそれぞれ異なる
遅延時間のパルスを発生して上記超音波探触子の各チャ
ンネルに与える送波遅延制御回路とを備え、上記受信回
路には、タップ付き遅延回路と、上記接続端子の各チャ
ンネルが一辺に接続され、上記タップ付き遅延回路の各
タップが他の一辺に接続されたマトリクススイッチとを
備え、上記制御回路は、上記送波遅延選択回路の各チャ
ンネルの選択および与える遅延量の制御と、上記マトリ
クススイッチの開閉制御とを行うように構成された超音
波診断装置において、上記制御回路は操作によりその制
御モードを検査モードに設定することができるように構
成され、この検査モードでは、上記制御回路は、上記送
波遅延選択回路の各チャンネルを順次一つずつ選択する
とともに、選択されたチャンネルに所定の遅延量を与え
るように制御し、この選択されたチャンネルについて上
記マトリクススイッチを順次一つずつ開閉させるように
制御するように構成されたことを特徴とする。
また、所定の遅延量は、マトリクススイッチの開閉にし
たがって変化するように構成されてもよい。
たがって変化するように構成されてもよい。
また、制御回路は、マトリクススイッチの開閉のタイミ
ングを送波パルスがそのマトリクススイッチに直接入力
するタイミングで行うように構成されてもよい。
ングを送波パルスがそのマトリクススイッチに直接入力
するタイミングで行うように構成されてもよい。
さらに、制御回路は、検査モードでは送信回路を制御し
て、送波パルスの電力を小さくするように構成されるこ
とが望ましい。
て、送波パルスの電力を小さくするように構成されるこ
とが望ましい。
以下、本発明実施例装置を図面に用いて説明する。
第1図は、この実施例装置の要部の構成を示すブロック
構成図である。
構成図である。
まず、この実施例装置の構成と接続を説明する。
この実施例装置は、第1図に示すように、送波ディレィ
およびチャンネル選択回路1と、送波アンプ2と、ピエ
ゾ超音波探触子3と、受波アンプ4と、マトリクススイ
ッチ(以下、タップ・セレクタという。)5と、タップ
付き遅延回路(以下、ディレィ・ラインという。)6と
、増幅検波回路7と、アナログ・デジタル・コンバータ
(以下、A−Dコンバークという。)8と、画像メモリ
9と、デジタル・アナログ・コンバータ(以下、D・A
コンバータという。)10と、画像表示管(以下、CR
Tという。)11と、トリガ発生回路12と、マイクロ
・プロセッサ13と、スキャン・コントローラ14と、
スイッチ回路15と、アドレス・コントローラ16とで
構成される。
およびチャンネル選択回路1と、送波アンプ2と、ピエ
ゾ超音波探触子3と、受波アンプ4と、マトリクススイ
ッチ(以下、タップ・セレクタという。)5と、タップ
付き遅延回路(以下、ディレィ・ラインという。)6と
、増幅検波回路7と、アナログ・デジタル・コンバータ
(以下、A−Dコンバークという。)8と、画像メモリ
9と、デジタル・アナログ・コンバータ(以下、D・A
コンバータという。)10と、画像表示管(以下、CR
Tという。)11と、トリガ発生回路12と、マイクロ
・プロセッサ13と、スキャン・コントローラ14と、
スイッチ回路15と、アドレス・コントローラ16とで
構成される。
送波ディレィおよびチャンネル制御回路1の一方の入力
は、トリガ発生回路12の出力に接続され、送波ディレ
ィおよびチャンネル選択回路1の他方の入力は、スイッ
チ回路15の切換出力に接続される。送波ディレィおよ
びチャンネル選択回路1のn個の出力のそれぞれは、n
個の送波アンプ2のそれぞれの入力に接続され、また、
n個の送波アンプ2のそれぞれの出力は、n個のピエゾ
超音波探触子3のそれぞれおよびnl[の受波アンプ4
のそれぞれの入力に接続される。n個の受波アンプ4の
出力のそれぞれは、タップ・セレクタ5のn個の受波信
号入力のそれぞれに接続され、タップ・セレクタ5のn
個の出力のそれぞれは、ディレィ・ライン6のn個の入
力のそれぞれに接続される。
は、トリガ発生回路12の出力に接続され、送波ディレ
ィおよびチャンネル選択回路1の他方の入力は、スイッ
チ回路15の切換出力に接続される。送波ディレィおよ
びチャンネル選択回路1のn個の出力のそれぞれは、n
個の送波アンプ2のそれぞれの入力に接続され、また、
n個の送波アンプ2のそれぞれの出力は、n個のピエゾ
超音波探触子3のそれぞれおよびnl[の受波アンプ4
のそれぞれの入力に接続される。n個の受波アンプ4の
出力のそれぞれは、タップ・セレクタ5のn個の受波信
号入力のそれぞれに接続され、タップ・セレクタ5のn
個の出力のそれぞれは、ディレィ・ライン6のn個の入
力のそれぞれに接続される。
ディレィ・ライン6の出力は、増幅検波回路7の入力に
接続され、増幅検波回路7の出力は、A・Dコンバータ
8の入力に接続される。A−Dコンバータ8の出力は、
画像メモリ9の画像信′号入力に接続され、画像メモリ
9の出力は、D−・Aコンバータ10の入力に接続され
、D−Aコンバータ10の出力は、CRTIIの入力に
接続される。
接続され、増幅検波回路7の出力は、A・Dコンバータ
8の入力に接続される。A−Dコンバータ8の出力は、
画像メモリ9の画像信′号入力に接続され、画像メモリ
9の出力は、D−・Aコンバータ10の入力に接続され
、D−Aコンバータ10の出力は、CRTIIの入力に
接続される。
また、トリガ発生回路12の出力は、マイクロ・プロセ
ッサ13の入力およびアドレス・コントローラ16の一
方の入力のそれぞれに接続され、マイクロ・プロセッサ
13の第一の出力はアドレス・コントローラ16の他方
の入力に接続され、アドレス・コントローラ16の出力
は、画像メモリ9のアドレス入力に接続される。
ッサ13の入力およびアドレス・コントローラ16の一
方の入力のそれぞれに接続され、マイクロ・プロセッサ
13の第一の出力はアドレス・コントローラ16の他方
の入力に接続され、アドレス・コントローラ16の出力
は、画像メモリ9のアドレス入力に接続される。
また、マイクロ・プロセッサ13の第二の出力は、スキ
ャン・コントローラ14の入力に接続毛れ、マイクロ・
プロセッサ13の第主の出力は、スイ・ノチ回路15の
第一の入力に接続され、マイクロ・プロセッサ13の第
四の出力は、スイッチ回路15の第二の入力に接続され
る。また、スキャン・コントローラ14の出力は、スイ
ッチ回路15の第三の入力に接続される。スイッチ回路
15の出力は、送波ディレィおよびチャンネル選択回路
1の他方の入力およびタップ・セレクタ5のコントロー
ル信号入力に接続される。
ャン・コントローラ14の入力に接続毛れ、マイクロ・
プロセッサ13の第主の出力は、スイ・ノチ回路15の
第一の入力に接続され、マイクロ・プロセッサ13の第
四の出力は、スイッチ回路15の第二の入力に接続され
る。また、スキャン・コントローラ14の出力は、スイ
ッチ回路15の第三の入力に接続される。スイッチ回路
15の出力は、送波ディレィおよびチャンネル選択回路
1の他方の入力およびタップ・セレクタ5のコントロー
ル信号入力に接続される。
本発明の特徴とするところは、スイッチ回路15が付加
され、これに伴って、マイクロ・プロセツサ13との間
に接続が付加され、また、マイクロ・プロセッサ13の
出力がスイッチ回路15を経由して、送波ディレィおよ
びチャンネル選択回路lおよびタップ・セレクタ5に接
続されていることにある。
され、これに伴って、マイクロ・プロセツサ13との間
に接続が付加され、また、マイクロ・プロセッサ13の
出力がスイッチ回路15を経由して、送波ディレィおよ
びチャンネル選択回路lおよびタップ・セレクタ5に接
続されていることにある。
また、このような構成を利用して、次のような動作が行
われることに本発明の特徴がある。
われることに本発明の特徴がある。
次に、この実施例装置につき本発明にかかわる検査モー
ド時の動作について説明する。
ド時の動作について説明する。
すなわち、スイッチ回路15の操作により、スイッチ回
路15の切換出力がスキャン・コントローラ14の出力
に接続されているときは、この超音波診断装置の通常動
作が行われ、スイッチ回路15の切換出力がマイクロ・
プロセッサ13の第四の出力に接続されているときは、
この超音波給断装置は、検査モードになる。
路15の切換出力がスキャン・コントローラ14の出力
に接続されているときは、この超音波診断装置の通常動
作が行われ、スイッチ回路15の切換出力がマイクロ・
プロセッサ13の第四の出力に接続されているときは、
この超音波給断装置は、検査モードになる。
ここで、第2図のA、B、C,D、には、第1図に×印
を付したA、B、C,D、にの各部の信号波形図である
。
を付したA、B、C,D、にの各部の信号波形図である
。
まず、スイッチ回路15の切換は、マイクロ・プロセラ
−9−13からのコントロール信号Iにより行われ、検
査モードに対応する接続が構成されると、マイクロ・プ
ロセッサ13からのコントロール信号NおよびOのそれ
ぞれにより、送波ディレィおよびチャンネル選択回路1
およびタップ・セレクタ5のそれぞれが制御される。
−9−13からのコントロール信号Iにより行われ、検
査モードに対応する接続が構成されると、マイクロ・プ
ロセッサ13からのコントロール信号NおよびOのそれ
ぞれにより、送波ディレィおよびチャンネル選択回路1
およびタップ・セレクタ5のそれぞれが制御される。
まず、はじめのコントロール信号NおよびOにより、送
波ディレィおよびチャンネル選択回路1およびタップ・
セレクタ5のそれぞれは、第「0」番のピエゾ超音波探
触子3にかかわる第「0」番チャンネルに接続されるよ
うに、また、送波デイレイit t TDは最大値をと
るように、がっ、受波ディレィ量tRDは最小値をとる
ように制御される。
波ディレィおよびチャンネル選択回路1およびタップ・
セレクタ5のそれぞれは、第「0」番のピエゾ超音波探
触子3にかかわる第「0」番チャンネルに接続されるよ
うに、また、送波デイレイit t TDは最大値をと
るように、がっ、受波ディレィ量tRDは最小値をとる
ように制御される。
送波]・リガパルスAは、送波ディレィおよびチャンネ
ル選択回路1によりディレィnlt t TDのディレ
ィを受けた送波トリガパルスBを出力し、この送波1〜
リガバルスBにより、ピエゾ超音波探触子3が駆動され
る。このとき、送波トリガパルスBは、受波アンプ4に
も入力し、飽和した出力Cが出力される。この出力Cば
、クソブ・セレクタ5の最小の受波ディレィ量tRDを
与える位置にある接点を経由してディレィ・ライン6に
入力され、ディレィ・ライン6より飽和した受波信号り
が出力される。この飽和した受信信号りは、増@検波回
路7にて検波され、またA−Dコンバーク8にてデジタ
ル信号Eに変換されて、画像メモリ9に入力する。
ル選択回路1によりディレィnlt t TDのディレ
ィを受けた送波トリガパルスBを出力し、この送波1〜
リガバルスBにより、ピエゾ超音波探触子3が駆動され
る。このとき、送波トリガパルスBは、受波アンプ4に
も入力し、飽和した出力Cが出力される。この出力Cば
、クソブ・セレクタ5の最小の受波ディレィ量tRDを
与える位置にある接点を経由してディレィ・ライン6に
入力され、ディレィ・ライン6より飽和した受波信号り
が出力される。この飽和した受信信号りは、増@検波回
路7にて検波され、またA−Dコンバーク8にてデジタ
ル信号Eに変換されて、画像メモリ9に入力する。
次に、第「0」番チャンネルで、送波ディレィit t
TDが一段減らされ、がっ、受波ディレィ量tRDが
一段増されて前述と同様の動作が行われる。この場合に
、送波ディレィ量tTDと受波ディレィ量taDとの和
である総ディレィ量TDは一定に保たれる。この動作が
、第「0」チャンネルで、受波ディレィ量tRoが最大
値になるまで繰返し行われる。また、このような第「0
」番チャンネルでの動作が、第rnJ番チャンネルまで
のすべてのチャンネルに対し繰り返し実行される。この
一連の動作により、タップ・セレクタ5のすべてのスイ
ッチが順次1度ずつ閉ざされる。
TDが一段減らされ、がっ、受波ディレィ量tRDが
一段増されて前述と同様の動作が行われる。この場合に
、送波ディレィ量tTDと受波ディレィ量taDとの和
である総ディレィ量TDは一定に保たれる。この動作が
、第「0」チャンネルで、受波ディレィ量tRoが最大
値になるまで繰返し行われる。また、このような第「0
」番チャンネルでの動作が、第rnJ番チャンネルまで
のすべてのチャンネルに対し繰り返し実行される。この
一連の動作により、タップ・セレクタ5のすべてのスイ
ッチが順次1度ずつ閉ざされる。
さて、アドレス・コントローラ16からのアドレス信号
Kにより、はじめの送波トリガパルスAに対しては、こ
のパルスが出力された時刻より時間twだけ経由した後
に、画像メモリ9の時刻TDに対応したY軸上にデジタ
ル信号Eが書き込まれる。次のトリガパルスAに対して
は、画像メモリ9のX座標を1つずらして同様の書き込
みがなされる。
Kにより、はじめの送波トリガパルスAに対しては、こ
のパルスが出力された時刻より時間twだけ経由した後
に、画像メモリ9の時刻TDに対応したY軸上にデジタ
ル信号Eが書き込まれる。次のトリガパルスAに対して
は、画像メモリ9のX座標を1つずらして同様の書き込
みがなされる。
したがって、全ての回路が正常であれば、CRTllの
画面上には、第3図に示すように、飽和した受信信号り
によりX軸と平行の方向に、連続した帯状の輝度表示が
行われる。
画面上には、第3図に示すように、飽和した受信信号り
によりX軸と平行の方向に、連続した帯状の輝度表示が
行われる。
また、タップ・セレクタ5の1つのスイッチが閉になら
ない故障があると、受波アンプ4の出力Cは、この故障
したスイッチを経由してディレィ・ライン6に出力され
ないので、この受波アンプ4の出力Cは、CRTIIの
画面上に輝度表示されない。すなわち、連続した帯状の
輝度表示に輝度表示されない欠落部(alが発生する。
ない故障があると、受波アンプ4の出力Cは、この故障
したスイッチを経由してディレィ・ライン6に出力され
ないので、この受波アンプ4の出力Cは、CRTIIの
画面上に輝度表示されない。すなわち、連続した帯状の
輝度表示に輝度表示されない欠落部(alが発生する。
この状態を第4図に示す。
また、ディレィ・ライン6に断線があると、第5図に示
すように、輝度表示が途中で中断されて、輝度表示され
ている帯状のパターンの長さが短くなる。
すように、輝度表示が途中で中断されて、輝度表示され
ている帯状のパターンの長さが短くなる。
また、第7図に示すように、タップ・セレクタ5の1つ
のスイッチCC)が閉になりつづける故障があると、デ
ィレィ・ライン6からは2個の飽和した受渡信号りが出
力される。故障したスイッチ(C)に対応した飽和した
受波信号りの送波ディレィ量および受波ディレィ量は固
定されているので、正常なスイッチ(dlの輝度表示の
ほかに、この輝度表示に対して斜方向の輝度表示1b)
が故障スイッチ(C)からの飽和した受波信号りにより
行われる。この状態を第6図に示す。すなわち、第8図
に示すように、受渡ディレィ量tRDを最小値から最大
値に増加させたときに1.故障スイッチ(C)を経由す
る受波ディレィを受けたパルス、すなわち図で斜線を施
したパルスは、ピエゾ超音波探触子3の受波タイミング
toに対し、常に一定値の時間遅れで出力され、一方正
常動作のスイッチtel、 +d)、 −−−−−−を
経由する受波ディレィを受けたパルス、すなわち図で斜
線の施されていないパルスは、タイミングtoに対し順
次増大する時間遅れで出力される。
のスイッチCC)が閉になりつづける故障があると、デ
ィレィ・ライン6からは2個の飽和した受渡信号りが出
力される。故障したスイッチ(C)に対応した飽和した
受波信号りの送波ディレィ量および受波ディレィ量は固
定されているので、正常なスイッチ(dlの輝度表示の
ほかに、この輝度表示に対して斜方向の輝度表示1b)
が故障スイッチ(C)からの飽和した受波信号りにより
行われる。この状態を第6図に示す。すなわち、第8図
に示すように、受渡ディレィ量tRDを最小値から最大
値に増加させたときに1.故障スイッチ(C)を経由す
る受波ディレィを受けたパルス、すなわち図で斜線を施
したパルスは、ピエゾ超音波探触子3の受波タイミング
toに対し、常に一定値の時間遅れで出力され、一方正
常動作のスイッチtel、 +d)、 −−−−−−を
経由する受波ディレィを受けたパルス、すなわち図で斜
線の施されていないパルスは、タイミングtoに対し順
次増大する時間遅れで出力される。
したがって、故障スイッチからの受波ディレィを受けた
パルスによるCRTII上の表示は、正常スイッチから
受波ディレィを受けたパルスによるCRTII上の表示
に対し、Y軸方向すなわち遅延時間方向に対し斜めに交
差して表示される。
パルスによるCRTII上の表示は、正常スイッチから
受波ディレィを受けたパルスによるCRTII上の表示
に対し、Y軸方向すなわち遅延時間方向に対し斜めに交
差して表示される。
この実施例装置では、送波ディレィ量を変化し、かつ、
送波ディレィ量を受波ディレィ量との総和を一定に保つ
ように制御されているが、この総和が可変であっても本
発明は実施できる。たとえば、総和が一次関数的に変化
するものとすれば、帯状の輝度表示はX軸に対し傾斜す
る。
送波ディレィ量を受波ディレィ量との総和を一定に保つ
ように制御されているが、この総和が可変であっても本
発明は実施できる。たとえば、総和が一次関数的に変化
するものとすれば、帯状の輝度表示はX軸に対し傾斜す
る。
また、この実施例装置では、はじめに送波ディレィ量t
Toを最大値にとっているが、この値を最小値にとって
も本発明は実施できる。
Toを最大値にとっているが、この値を最小値にとって
も本発明は実施できる。
また、本発明では送波アンプ2を制御して、送波パルス
の電力を小さくして、受波アンプ4が過渡に飽和しない
ようにすることが望ましい。
の電力を小さくして、受波アンプ4が過渡に飽和しない
ようにすることが望ましい。
本発明は、前述のように、CRT上に現われる輝度表示
された帯状の形および位置より、超音波診断装置のマト
リクススイッチおよびタップ付き遅延回路の不良個所を
特定できる。したがって、数千点のスイッチを有するマ
トリクススイッチの検査が、自己診断回路により短時間
に実施できる優れた効果がある。
された帯状の形および位置より、超音波診断装置のマト
リクススイッチおよびタップ付き遅延回路の不良個所を
特定できる。したがって、数千点のスイッチを有するマ
トリクススイッチの検査が、自己診断回路により短時間
に実施できる優れた効果がある。
また、この装置の使用者が、容易に検査を行うことがで
きるので、装置の保守が確実に行える効果がある。
きるので、装置の保守が確実に行える効果がある。
第1図は本発明実施例装置の要部の構成を示すブロック
構成図。 第2図は第1図の要所における信号波形を示す波形図。 第3図〜第6図は検査結果を示すCRT上の表示画面の
実例を示す図。 第7図はタップ・セレクタのスイッチが閉になりつづけ
る故障を示す回路図。 第8図はタップ・セレクタのスイッチが閉になりつづけ
る故障時のパルス波形を示す波形図。 1・・・送波ディレィおよびチャンネル選択回路、2・
・・送波アンプ、3・・・ピエゾ超音波探触子、4・・
・受波アンプ、5・・・タップ・セレクタ、6・・・デ
ィレィ・ライン、7・・・増幅検波回路、8・・・A−
Dコンハ゛−タ、9・・・画(象メモリ、10・・・D
−Aコンバーク、11・・・CRT、12・・・トリガ
発生回路、13・・・マイクロ・プロセッサ、14・・
・スキャン・コントローラ、15・・・スイッチ回路、
16・・・アドレス・コントローラ。 蔦 2 閏 第 5図 M6 図
構成図。 第2図は第1図の要所における信号波形を示す波形図。 第3図〜第6図は検査結果を示すCRT上の表示画面の
実例を示す図。 第7図はタップ・セレクタのスイッチが閉になりつづけ
る故障を示す回路図。 第8図はタップ・セレクタのスイッチが閉になりつづけ
る故障時のパルス波形を示す波形図。 1・・・送波ディレィおよびチャンネル選択回路、2・
・・送波アンプ、3・・・ピエゾ超音波探触子、4・・
・受波アンプ、5・・・タップ・セレクタ、6・・・デ
ィレィ・ライン、7・・・増幅検波回路、8・・・A−
Dコンハ゛−タ、9・・・画(象メモリ、10・・・D
−Aコンバーク、11・・・CRT、12・・・トリガ
発生回路、13・・・マイクロ・プロセッサ、14・・
・スキャン・コントローラ、15・・・スイッチ回路、
16・・・アドレス・コントローラ。 蔦 2 閏 第 5図 M6 図
Claims (4)
- (1)多チャンネルの超音波探触子を接続する接続端子
と、 この接続端子に送波パルスを与える送信回路と、上記接
続端子に生じる受波パルスを増幅検波して時間軸上に画
像表示する受信回路と、上記送信回路および上記受信回
路を制御する制御回路と を備え、 上記送信回路には、 トリガ信号源と、 このトリガ信号源の出力を起点にそれぞれ異なる遅延時
間のパルスを発生して上記超音波探触子の各チャンネル
に与える送波遅延制御回路とを備え、 上記受信回路には、 タップ付き遅延回路と、 上記接続端子の各チャンネルが一辺に接続され、上記タ
ップ付き遅延回路の各タップが他の一辺に接続されたマ
トリクススイッチと を備え、 上記制御回路は、 上記送波遅延選択回路の各チャンネルの選択および与え
る遅延量の制御と、上記マトリクススイッチの開閉制御
とを行うように構成された超音波診断装置において、。 上記制御回路は操作によりその制御モードを検査モード
に設定することができるように構成され、この検査モー
ドでは、 上記制御回路は、 上記送波遅延選択回路の各チャンネルを順次一つずつ選
択するとともに、選択されたチャンネルに所定の遅延量
を与えるように制御し、この選択されたチャンネルにつ
いて上記マトリクススイッチを順次一つずつ開閉させる
ように制御するように構成されたことを特徴とする超音
波診断装置。 - (2)所定の遅延量は、マトリクススイッチの開閉にし
たがって変化するように構成された特許請求の範囲第(
11項に記載の超音波診断装置。 - (3)制御回路は、マトリクススイッチの開閉のタイミ
ングを送波パルスがそのマトリクススイッチに直接入力
するタイミングで行うように構成された特許請求の範囲
第(11項に記載の超音波診断装置。 - (4) 制御回路は、検査モードでは送信回路を制御し
て、送波パルスの電力を小さくするように構成された特
許請求の範囲第(3)項に記載の超音波診断〜装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58238214A JPS60129039A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 超音波診断装置 |
US06/767,270 US4674516A (en) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultrasonic delay line matrix switch check system |
DE8585900177T DE3482438D1 (de) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultraschall-diagnose-anordnung. |
EP85900177A EP0198923B1 (en) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
DE1985900177 DE198923T1 (de) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultraschall-diagnose-anordnung. |
PCT/JP1984/000579 WO1985002531A1 (en) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58238214A JPS60129039A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60129039A true JPS60129039A (ja) | 1985-07-10 |
JPH0147181B2 JPH0147181B2 (ja) | 1989-10-12 |
Family
ID=17026839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58238214A Granted JPS60129039A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 超音波診断装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4674516A (ja) |
EP (1) | EP0198923B1 (ja) |
JP (1) | JPS60129039A (ja) |
DE (1) | DE3482438D1 (ja) |
WO (1) | WO1985002531A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS60138483A (ja) * | 1983-12-27 | 1985-07-23 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 超音波診断装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1983
- 1983-12-16 JP JP58238214A patent/JPS60129039A/ja active Granted
-
1984
- 1984-12-06 DE DE8585900177T patent/DE3482438D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-06 WO PCT/JP1984/000579 patent/WO1985002531A1/ja active IP Right Grant
- 1984-12-06 EP EP85900177A patent/EP0198923B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-06 US US06/767,270 patent/US4674516A/en not_active Expired - Fee Related
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US4674516A (en) | 1987-06-23 |
DE3482438D1 (de) | 1990-07-19 |
JPH0147181B2 (ja) | 1989-10-12 |
WO1985002531A1 (en) | 1985-06-20 |
EP0198923B1 (en) | 1990-06-13 |
EP0198923A4 (en) | 1987-07-09 |
EP0198923A1 (en) | 1986-10-29 |
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