JPS6367064A - コンピユ−タ制御試験機による試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、コンピュータ制御の試験機を用いた試験方法
に関し、特に、電子交換機を構成する各種ディジタル装
置を被試験装置とし、この被試験装置の不良箇所を検出
するための試験機操作方法に関する。

（従来技術） 従来、コンピュータ制御の試験機は、被試験装置の良否
を判定するために、テストプログラムを実行することに
より試験を行うが、一旦不良が検出された場合はその不
良箇所をテストプログラムで自動的に指摘するのではな
く、検査員が実際に試験機を操作して不良箇所の検出を
行っている。

即ちテストプログラムは被試験装置全体の良、不良を判
別するのみで、どの箇所がどのように不良なのかは、実
際に被試験装置のインタフェースを試験機に引き込み、
キー、ランプで制御または表示する操作盤を用いて検出
していた。

（発明が解決しようとする問題点） 上述した従来の被試験装置の試験方法は、被試験装置の
不良箇ｐｆｒを試験機を操作して検出するために、被試
験装置と試験機とのインタフェースの信号線を操作盤に
集めており、信号線が長くかつ東線となるため雑音が乗
り易く、試験機が誤動作する危険があり、またコンピュ
ータと操作盤を切り換えるための回路および操作盤など
のハードウェアが増えるのでコストアップになり、さら
に検査員がコンピュータの操作方法と操作盤の操゛作方
法の両方を理解しなければならないなどの欠点があった
。

（問題点を解決するための手段） 本発明の試験方法は、被試験装置の良否を判定するテス
トプログラムとは別に、不良診断のために試験機を動作
させたり、被試験装置のインタフェースの状態を表示す
る不良診断プログラムを検査員が試験機のコンピュータ
のキーボード、ＣＲＴディスプレイを使用して実行する
ようにしたものであり、これによってコンピュータと会
話形式で不良診断を行うことができ、操作ミスを防■−
するとともに、品質の高い不良診断が可能となる。

（実施例） 次に１本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の１実施例に係る試験システムのブロッ
ク図、第２図は第１図における実施例の操作手順の１例
によるフローチャートを示す図である。まず、第１図に
おいて試験機１ｏＶｉ制御用コンピユータ２０とデータ
の授受を走査回路（以下ＳＣＮという）１０１および信
号分配回路（以下ＳＤという）１０２を介して行い、被
試験装置３０とは受信回路（以下ＲＥＣという）１ｏ３
および送信回路（以下ＳＮＤという）１ｏ４を介して行
う。通常のテストプログラムは、制御用コンピュータ２
０の外部メモリ２０３よりメモリ２０２にロードされＣ
ＲＴディスプレイ２０５Ｖｃ実行開始指示を受けるため
の表示を行う。

検査員がキーボード２０４より実行開始指示を入力する
ことにより、メモリ２０２にロードされたテストプログ
ラムは中央制御装置（以下ＣＰＵという）２０１により
順次実行され、制御用コンピュータ２０より試験機１０
の前記ＳＤ　１０２にテストデータを順次設定し、制御
回路１０５Ｅで被試験装［３０を動作させる信号に変換
され、前記ＳＮＤ　１０４を介して被試験装置３ｏに送
られる。

テストデータを受信した被試験装置３０は、応答信号を
前記ＲＥＣ１０３に送る。試験機１ｏは制御回路１０５
Ｖｃより応答信号を制御用コンピュータ２０が受信でき
るデータに変換して前記５ＣＮ１０１に設定する。制御
用コンピュータ２ｏの前記ＣＰＵ　２０１けＳＣＮ　１
０１より応答情報を受は取り、メモリ２０２のテストプ
ログラムにより正解値と照合して良否を判定する。ここ
で不良が発見されると、ＣＰＵ　２０１は実行中のテス
トプログラムを中止し、ＣＲＴディスプレイ２０５１：
に不良発生を表示し不良診断プログラムに移るか否かの
判断を検査員に知らせる。

第１図、第２図を参照して試験手順を説明す！Ｌば、検
査員がこの不良発生表示をみて不良診断プログラムを実
行すると判断（−た場合、その指示をキーボード２０４
Ｖｃより入力する。この指示に基いてＣＰＵ２０１Ｖｉ
不良診断プログラムを外部メモリ２０３からメモリ２０
２ヘロードし、実行可能であること′！１−ｃＲＴディ
スプレイ２０５に表示する。不良診断プログラムの実行
開始用〕Ｊ＜を検査員がキーボード２０４ＶＣより入力
するとＣＰ　Ｕ２Ｏ５はＣＲＴディスプレイ２０５１に
、不良となった試験項目、試験機１０が被試験装置３ｏ
へ送ったテストデータ、被試験装置ｔ３０がらの応答情
報、良品として期待している応答情報および被試験装置
インタフェース４ｏへ送出するデータと制御用コンピュ
ータ２０のキーボード２０４のキー配列との対応を表示
する。検査員は、このＣＲＴディスプレイ２０５に表示
された情報により、診断に必要なテストデータをキーボ
ード２０４のキーより入力し、テストデータの送出全指
示する。

以下、通常のテストプログラムの実行と同じ方法で被試
験装置３０ヘテストデータの送出、応答信号の受信を行
う。このようにして検査負け、制御用コンピュータ２０
のキーボード２０４とＣＲＴディスプレイ２０５を使用
して不良診断プログラムと会話形式で不良診断を逐行し
不良箇所の検出を行う。

（発明の効果） 以上説明したように本発明の試験方法によれば、試験機
の操作を試験機のコンピュータのキーボードとＣＲＴデ
ィスプレイのみで行うため、従来の操作盤が不要となり
、ハードウェアコストを抑える効果があるとともに、通
常のテストプログラムと全く同一のハードウェアおよび
信号ルートで試験が可能となり、試験品質の向上が図れ
る効果が得られる。また、検査員が不良診断プログラム
と会話形式で指示をして試験を実行するため、操作ミス
がなくなり操作性も向上するという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例に係る試験システムのブロック
図、第２図は第１図における実施例のフローチャートラ
示す図である。 １０・・・試験機、　　　２０・・・制御用コンピュー
タ、３０・・・被試験装置、 ４０・・・被試験装置インタフェース、１０１・・・走
査回路（ＳＣＮ）。 １０２・・・信号分配回路（Ｓｌ））、１０３・・・受
信回路（ＲＦＣ）、 １０４・・・送信回路（ＳＮＤ）。 １０５・・・制御回路、 ２０１・・・中央制御装置（ＣＰ　Ｕ　）、２０２・・
・メモリ、　　　　２０３・・・外部メモリ、２０４・
・・キーボード、 ２０５・・・ＣＲＴディスプレイ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 電子交換機を構成する各種ディジタル装置をコンピュー
   タ制御試験機を用いて試験する方法において、前記コン
   ピュータ制御試験機に付属したコンピュータのキーボー
   ド、ＣＲＴディスプレイを使用して被試験装置の良否判
   定用テストプログラムの他に不良診断プログラムを実行
   することを特徴とする試験方法。