JPS60102606U - 光点位置測定装置 - Google Patents

光点位置測定装置

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JPS60102606U
JPS60102606U JP19656283U JP19656283U JPS60102606U JP S60102606 U JPS60102606 U JP S60102606U JP 19656283 U JP19656283 U JP 19656283U JP 19656283 U JP19656283 U JP 19656283U JP S60102606 U JPS60102606 U JP S60102606U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
scanning mirror
measuring device
position measuring
slit
Prior art date
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Pending
Application number
JP19656283U
Other languages
English (en)
Inventor
伊丹 敏
文隆 安部
Original Assignee
富士通株式会社
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Filing date
Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
−第1図は三角測量法の原理を説明するための図、第2
図は従来の光点位置測定装置を説明するための図、第3
図は本考案による光点位置測定袋   −置の実施例を
説明するための図、第4図は同じく変形実施例を説明す
るための図である。 図において、1は光源、2は拡散光、3はレンズ、4は
走査鏡、5はスリット、6は光検知器、7は検知器の受
力面、8は参照光源、9は参照光゛集光レンズ、10轄
参照光、20はポリゴンミラー、30は拡散光;匂レス
、40は参照光パルス、50は計測制御部、100は物
体、Kは第1定    一点、0は第2定点、rは光点
、Lは結像位置、Yは基準−軸、Xは基準横軸、αは傾
斜角、θ2.。 1、 d、 aは光点Pを求めるパラメータをそれぞ゛
れ示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. スポット光線で形成された光点の拡散光を集束するレン
    ズと、集束された前記拡散光を反射する走査鏡と、該走
    査鏡によって反射された前記拡散光の入射位置を制御す
    るスリットの後方に配設された光検知器とで構成され、
    前記走査鏡が基準軸位置から前記拡散光を前記スリット
    に入射させる位置に到達するまでの所要時間で前記光点
    の座標を求める三角測量法応用の位置測定するものにお
    いて、前記走査鏡がポリゴンミラーで構成されたことを
    特徴とする光点位置測定装置。
JP19656283U 1983-12-20 1983-12-20 光点位置測定装置 Pending JPS60102606U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006132955A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd ポリゴンミラーモータのミラー偏心および面出入りを測定する装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006132955A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd ポリゴンミラーモータのミラー偏心および面出入りを測定する装置
JP4661167B2 (ja) * 2004-11-02 2011-03-30 パナソニック株式会社 ポリゴンミラーモータの測定装置

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