JPS5978551A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置Info
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- JPS5978551A JPS5978551A JP57188721A JP18872182A JPS5978551A JP S5978551 A JPS5978551 A JP S5978551A JP 57188721 A JP57188721 A JP 57188721A JP 18872182 A JP18872182 A JP 18872182A JP S5978551 A JPS5978551 A JP S5978551A
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- lead frame
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- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
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- H01L23/49579—Lead-frames or other flat leads characterised by the materials of the lead frames or layers thereon
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
樹脂封止型半導体装置に用いられるリードフレームの索
胴は一般にはCuやFeであるが、これらは酸化しやす
く、この酸化膜が半導体素子を固定するためのろう材と
リードフレーム素材間、あるいけ金属細線とリードフレ
ーム素材間に介在すると、各々の金属間の合金層の形成
を邦害し十分な結合強度を得ることが出来なし・。この
ため従来はリードフレーム表面には熱ンZどのエネルギ
ーを与えることにより他の金属に拡散しやすく、かつ酸
化しにく(・金E↓例えばAg−、 A uなどのメッ
キ層を形成しメツ■され1こ金属とろう材あるいは金属
細線との間に合金層を成形し結合させていた。
胴は一般にはCuやFeであるが、これらは酸化しやす
く、この酸化膜が半導体素子を固定するためのろう材と
リードフレーム素材間、あるいけ金属細線とリードフレ
ーム素材間に介在すると、各々の金属間の合金層の形成
を邦害し十分な結合強度を得ることが出来なし・。この
ため従来はリードフレーム表面には熱ンZどのエネルギ
ーを与えることにより他の金属に拡散しやすく、かつ酸
化しにく(・金E↓例えばAg−、 A uなどのメッ
キ層を形成しメツ■され1こ金属とろう材あるいは金属
細線との間に合金層を成形し結合させていた。
この方法ではリードフレームにメッキするためのコスト
が高くつき、又A7をメッキした場合、A.7がマイグ
レーションを起し、半導体素子まで到達し半導体素子を
劣化させる等の欠点があった。
が高くつき、又A7をメッキした場合、A.7がマイグ
レーションを起し、半導体素子まで到達し半導体素子を
劣化させる等の欠点があった。
本発明はかかる欠点を解消し安価にかつ信頼性の高(・
半導体装置と提供するものである。本発明で用(・られ
るリードフレーム素材の主成分は一般的なCuやFe等
でも良くその表面には一切のメッキを施こして(・ない
が次に述べる方法で、ろう材や金属細線との合金層を形
成し、高い信頼性を維持するに充分な結合強度を得るこ
とが出来る。
半導体装置と提供するものである。本発明で用(・られ
るリードフレーム素材の主成分は一般的なCuやFe等
でも良くその表面には一切のメッキを施こして(・ない
が次に述べる方法で、ろう材や金属細線との合金層を形
成し、高い信頼性を維持するに充分な結合強度を得るこ
とが出来る。
まず、リードフレーム素材表面の酸化膜をユッザング等
の方法で除去した後、完全な不活性ガス内にて、リード
フレームに半導体素子をろうゼにより固定し、半導体素
子とリードフレームとを金属細線で熱圧着等の方法によ
り接続する。高温で行なわれるリードフレームへの半導
体素子の固定及び金属細線の接続は、不活性ガス内で行
なわれるため、リードフレーム上に酸化膜は生成されず
リードフレーム・素材とろう材及び金属細線との間に合
金属を形成することが出来る。
の方法で除去した後、完全な不活性ガス内にて、リード
フレームに半導体素子をろうゼにより固定し、半導体素
子とリードフレームとを金属細線で熱圧着等の方法によ
り接続する。高温で行なわれるリードフレームへの半導
体素子の固定及び金属細線の接続は、不活性ガス内で行
なわれるため、リードフレーム上に酸化膜は生成されず
リードフレーム・素材とろう材及び金属細線との間に合
金属を形成することが出来る。
次に本発明の一実施例を示す。
Cuを主成分とする素材からなりメッキを施こさな(・
リードフレームの表面の酸化膜を酸によるエツチングで
除去した後、純水及び有機容剤により洗浄する。洗浄さ
れたリードフレームは次工程に入るまでN2などの不活
性ガス中又は真空中に保管される。
リードフレームの表面の酸化膜を酸によるエツチングで
除去した後、純水及び有機容剤により洗浄する。洗浄さ
れたリードフレームは次工程に入るまでN2などの不活
性ガス中又は真空中に保管される。
次にこのリードフレームにN2又はアルゴン等の不活性
ガス中にてPbを主成分とするろう材により半導体素子
を固定する。次に同じく不活性ガス内にて半導体素子と
リードフレームにAuを主成分とする細線を熱圧着の方
法で接続する。前記不活性ガス中に0.が混入してしま
う湯治は不活性ガス中にN7を混合し、水素還元によっ
てCuの酸化膜を除去しても良(・。この様に本発明に
よれば、リードフレームにメッキを施こさなくともその
表面に酸化膜を生成しない様にすることで充分な信頼性
をもった半導体装置を製造出来、その結果半導体装置の
コストを大幅に低減することができる。
ガス中にてPbを主成分とするろう材により半導体素子
を固定する。次に同じく不活性ガス内にて半導体素子と
リードフレームにAuを主成分とする細線を熱圧着の方
法で接続する。前記不活性ガス中に0.が混入してしま
う湯治は不活性ガス中にN7を混合し、水素還元によっ
てCuの酸化膜を除去しても良(・。この様に本発明に
よれば、リードフレームにメッキを施こさなくともその
表面に酸化膜を生成しない様にすることで充分な信頼性
をもった半導体装置を製造出来、その結果半導体装置の
コストを大幅に低減することができる。
Claims (1)
- リードフレームに半導体素子を固定し、半導体素子とリ
ードフレームとを金属細線によって接続した後、前記半
導体素子を含む主要部分を樹脂により封止してなる半導
体装置にお(・て、前記リードフレームに一切のメッキ
を施こさな(・ものを用(・ることを特徴とする半導体
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57188721A JPS5978551A (ja) | 1982-10-27 | 1982-10-27 | 樹脂封止型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57188721A JPS5978551A (ja) | 1982-10-27 | 1982-10-27 | 樹脂封止型半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5978551A true JPS5978551A (ja) | 1984-05-07 |
Family
ID=16228615
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57188721A Pending JPS5978551A (ja) | 1982-10-27 | 1982-10-27 | 樹脂封止型半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5978551A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59195853A (ja) * | 1983-04-21 | 1984-11-07 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH04162555A (ja) * | 1990-10-25 | 1992-06-08 | Mitsubishi Materials Corp | リードフレームとその製造方法及び半導体装置 |
-
1982
- 1982-10-27 JP JP57188721A patent/JPS5978551A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59195853A (ja) * | 1983-04-21 | 1984-11-07 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPS6349381B2 (ja) * | 1983-04-21 | 1988-10-04 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
JPH04162555A (ja) * | 1990-10-25 | 1992-06-08 | Mitsubishi Materials Corp | リードフレームとその製造方法及び半導体装置 |
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