JPS5928269B2 - 集積回路高速処理装置 - Google Patents

集積回路高速処理装置

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JPS5928269B2
JPS5928269B2 JP53017480A JP1748078A JPS5928269B2 JP S5928269 B2 JPS5928269 B2 JP S5928269B2 JP 53017480 A JP53017480 A JP 53017480A JP 1748078 A JP1748078 A JP 1748078A JP S5928269 B2 JPS5928269 B2 JP S5928269B2
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wheel
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test
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horizontal
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ミロ・ウエイン・フリスビ−
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Motorola Inc
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/36—Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、一連の個々の部品を取扱う装置、特にパッケ
ージされた集積回路部品を高速処理するための装置に関
する。
その装置は、部品を個々に選別し、部品列から同時に１
個を取り出し、その部品を速やかに試験用の電気的接触
片に移動［、、その接触片からテストされた部品を分類
機構に移動し、次にその部品を適当な場所に置くであろ
う。
装置の改善された生産速度は、動作の１部分の速度を速
める素子数に起因する。
その装置は、基本的には２個の部分、即ち試験（テスト
）輪及び分類輪から成る。時間を最もよく利用するため
に、テスト車輪及び分類輪動作を協動して同時に多重動
作が行なわれる。
１個の部品がテストされている時、他の部品は、未だテ
ストされてない部品の貯蔵所から取り出され、更に他の
部品は、分類輪により移動され適当な場所に移動される
。
その方法は、部品が貯蔵室から１時に１個取り上げられ
、テストされ、分類輪に落下されることを継続して行な
う。テスト車輪、分類輪の何れも動作を完了した後、最
初の位置に戻らない。部品は、ゲート或いはシヤツタを
介することなく加速力により車輪内に保持される。重力
の影響のもとで給送され或いは移送される部品は、それ
ら自身の長さに等しい距離だけで保持力を失つてしまう
。可動子接触片（ＷｉｐｉｎｇｃＯｎｔａｃｔ）が、テ
スト装置において使用され、動作中は接触片の閉止（Ｃ
ＯｎｔａｃｔｃｌＯｓｕｒｅ）を必要としない。車輪の
速度及び位置を制御するのに機械的手段ではなく寧ろエ
レクトロニクス手段が使用される。動作と共に、装置の
全生産を改善するこれら及び他の要素は、更に、添付図
面を参照し、下記の詳細な説明から理解されよう。
装置の第１機能は、未だテストされない部品の貯蔵室か
ら単一の集積回路部品を取り上げ、それをテスト位置に
移動することである。
部品がテストされた後、その装置は、テストされた部品
を分類機構に移動する。これらの機能はテスト輪によつ
て達成される。第１図は、水平軸２１上に取付けられ、
その周辺のまわりの４５２増分位置に配置された８個の
スロツト２２〜２９を有する低質量の車輪であるテスト
車輪２０を示す。
テスト車輪２０は、例えば、直径約５．５インチ（２．
１ＣＴＩＬ）、厚さ０．１インチ（０．０３？）である
。それは、アルミニウム或いは他の重量の軽い金属でつ
くられる。更に、テスト車輪２０の質量は、車輪の内面
から不必要な材料を除去することによつて減少されるこ
とができる。テスト車輪２０のスロツト２２〜２９は、
スロツト及びテスト車輪２０に乗せて運ぶ集積回路部品
間で電気的分離を与えるようにプラスチツク挿入物によ
り並べられる。テスト車輪２０の上部にテストされない
部品３１の重力給送貯蔵室３０が与えられる。集積回路
部品３１は、半導体工業において通常使用されているプ
ラスチツク或いはセラミツクの何れかのＤＩＬパツケー
ジに包装されることができる。部品３１は、パツケージ
土にそこに含まれている集積回路に応じ、８個或いはそ
れ以上のリード線を有する。異なる集積回路は、異なる
大きさのパツケージを必要とするから、調節可能な止め
具がスロツト２２〜２９に与えられ、これらのスロツト
は、使用されるパツケージの長さに丁度等しい深さを有
するように調節されることができる。これは、同一処理
装置が異なる時間に異なる部品の処理に適応せしめるこ
とを許容する。第１図において、部品３２がスロツト２
２に降下したことを示している。スロツト２２は、部品
３２の長さと同一になるように深さが調節されているか
ら、貯蔵室３０内の他の部品は、スロツトのある車輪２
０の外側に保持される。部品３２のリード線は、スロツ
ト２２の縁にまたがり、プラスチツク挿入物により車輪
２０と電気的に分離される。同様な方法で先に貯蔵室３
０から降下した部品３３は、スロツト２９内に保持され
る。車輪２０は、矢印に示す方向４５に回転される。サ
ーボ駆動増幅器と共に使用される低イナーシヤ、高トル
クの直流モータ３４はスロツトのある車輪２０の速度及
び位置を制御する。車輪が回転するにつれてその加速度
は、部品３２，３３を止め具３５に対抗して外方に押し
つけるのに充分となる。これは、電気的テスト装置と部
品３３のアライメントを与え、その位置は点線３６によ
り示される。第２図により明確に示されるテスト用取付
具は、止め具板３５土に取付けられる。取付具３６は、
テスト車輪２０をまたぎ、テストされるべき部品とテス
ト装置との間で電気的インターフエイスを与えるスプリ
ング装着可動子接触片（ＷｉｐｉｎｇｃＯｎｔａｃｔ）
を使用する。スプリング装着可動子接触片は、接触片の
閉止を効果的になし時間をむだにしないように使用され
る。テスト車輪２０が４５し回転した後、スロツト２３
は垂直位置にあり、他の部品３１は貯蔵室３０からスロ
ツト２３中に落下する。部品３３は、テスト用取付具３
６と接触し、部品３２は、テスト用取付具３６と貯蔵室
３０との間の中間位置にあり、他の部品３１が車輪に落
下する。部品３３の試験が完了した後、車輪２０は再び
矢印方向に４５が回転する。
車輪２０が回転している間、すべての部品は、夫々のス
ロツト中に止め具３５により保持される。４５スの車輪
２０の回転は、試験装置から部品３３を移送し、部品３
２をテスト用の試験装置と接触せしめ、スロツト２３中
の部品を中間位置に移動し、貯蔵室３０からスロツト２
４中に他のナストされない部品３１を降下せしめる。
部品３２の試験が終了した後、テスト車輪２０は再び４
５の回転する。テスト車輪２０が４５２回転した後、部
品３３は、スロツト２９から分類輪３８のスロツト４０
に降下する。同時に、スロツト２３内の部品は、試験装
置に移動し、他のテストされない部品はスロツト２３中
に降下する。そのシーケンスは、貯蔵室から個々の部品
が取上げられ、試験され、分類輪に降下される方法を続
ける。この特定の実施例において、集積回路部品は、試
験手順により２乃至８種類に分類される。
実際の種類数は、テストされる部品の特定の型について
選別される。この実施例は、８個の種類に適合すること
ができるから、８個の分類トラツクが具えられる。これ
らの分類トラツクの１つは、第１図の５６に示される。
テストされた部品を適当な分類トラツクに移動せしめる
ことは分類輪３８の機能であり、それを介して部品は、
同様にテストされた部品の貯蔵室に移動されることがで
きる。分類輪３８は、垂直軸３９のまわりを回転する低
質量の車輪である。分類輪３８の速度と位置は、サーボ
駆動増幅器と共は使用される低イナーシヤ、高トルク直
流モータ５７により制御される。第３図において、分類
輪３８が、その円周上に具えられる１６個の一様に間隔
をあけた穴４０〜５５を有することを示している。これ
らの穴は、分類輪３８の厚さを完全に貫通している。分
類輪３８は、例えば、直径が約５〜６インチ（１．９〜
２．３ＣＴＬ）、厚さ０．１インチ（０．０３８ｃｍ）
である。
それは、アルミニウム或いは他の軽重量の金属でつくら
れる。間隔をあけた穴４０〜５５は、集積回路部品を殆
んど垂直な位置に保持する作用をする高さが約０．７５
インチ（０．２９ＣＴ！Ｌ）のプラスチツク挿入物を具
える。止め具板５８（第１図参照）は、分類輪３８の穴
４０の下方約１／１６インチ（０．０２ＣＴｒＬ）の位
置に固定される。
８個の分類トラツク５６は、分類輪の下方において穴４
１〜４４，５２〜５５の各々の直下に位置する１トラツ
ク毎に配列される。
テストされた部品３３が、穴４０に降下すると、止め具
板５８により停止される。この部品３３は、試験手順に
より８個の選別された種類の１つに分類される。分類輪
３８は、次に時計方向或いは反時計方向の何れかに回転
し、適当な分類トラツク５６上にとどまる。分類輪３８
が回転している間、部品３３は、加速力によつて穴４０
内に保持され、加速力は、部品を穴の縁端に無理に押し
つける。分類輪３８が停止すると、部品３３に作用する
力は重力のみであり、部品３３は、重力のもとで下方の
分類トラツクに落下する。分類輪３８は、他の部品をテ
スト車輪２０から受入れるように準備する。分類輪３８
は、１６個の穴４０〜５５のうち１個力哨動的にもう１
つの部品をテスト車輪から受入れる正しい位置になるよ
うにするから、その原の位置に戻らない。
分類輪により実行される分類手順は、他の集積回路部品
が試試験されていると同一時間間隔で達成され、従つて
、分類を行なうための付加的な時間は必要でない。本発
明装置の機能は、部品をテスト用テスト装置に提供し、
次いでそれらの部品を正しい分類トラツクに移動させる
ことである。
その装置は、２つの車輪の機能を一部重複させることに
よつて特に高速処理を達成し、他方、テスト車輪は、テ
スト装置に部品を移動している間に、分類輪は、正しい
出力の種類に分けて既に試験の終了ずみの部品を移動さ
せる。前述した分類する種類の数は、こ＼では説明上の
目的にのみ選ばれる。
本発明の処理装置を作動させることにより、テスター（
試験器）は、部品をテストし、試験結果に基いて、部品
が分類されるべき８種類を決定する。この分類情報は、
記憶され、次いで分類輪を制御するのに使用される。記
憶された情報に基いて分類輪は、部品を正しい分類トラ
ツクに移動する。分類輪は、テスト車輪から落下される
部品を正しい分類トラツクに移動させる。
部品は穴４０〜５５の１つに落下し、分類輪は、正しい
分類トラツク上の１つの穴の位置まで回転させる。その
ように位置を定めると、部品は穴から落下して分類トラ
ツクに入りこむ。その１つの穴が正しい分類トラツク上
に位置を決めると、穴４０〜５５のうちの１つは、テス
ト車輪の下方に位置を定め、もう１つの部品を受け入れ
る準備をする。１６個の穴のうちのどれもが、８個の分
類トラツクのうちの１つに部品を移動させることができ
る。
分類輪は、最初の位置（ＳｔａｒｔｉｎｇｐＯｓｉｔｉ
Ｏｎ）まで逆回転してはならないし、テスト車輪の下の
位置まで特定の穴を戻してはならない。全テスト機能は
、処理装置（テスト車輪及び分類輪を含む）及び外部の
コンピユータ化したテスターを必要とする。
処理装置及びテスターの相関関係は、マイクロプロセツ
サにより制御される。この制御技術の当業技術者により
種々の方法で実行できる。本発明においてテスト車輪と
分類輪の相関関係が重要である。テスト車輪、外部電算
機テスター、及び分類輪の機能間の相関関係は、前述の
如くマイクロプロセツサ・ユニツトにより制御され得る
。
テスターによつて与えられる終了信号（ＡｎｄＯｆｔｅ
ｓｔｓｉｇｎａｌ）は、テスト車輪サーボ駆動増幅器に
供給され、テスト車輪を回転せしめる。同様に、テスト
された部品の種類に関する情報は、分類輪サーボ駆動増
幅器に中継され、分類輪を正しい分類トラツク位置に回
転せしめる。アナログ・タコメータは、テスト車輪及び
分類輪の両者と共に２個の車輪の位置の変化速度を監視
するように使用され、ディジタル・タコメータは、２個
の車輪の位置を監視するように使用される。
【図面の簡単な説明】
第１図は装置の側面図を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 水平軸のまわりで個別にかつ部分的に回転し、その
    周辺のまわりに配置された複数のスロットを具える第１
    垂直車輪、第１垂直車輪の下方に配置され、貫通孔を具
    える第２水平車輪、前記第２水平車輪の下方に配置され
    た複数の分類貯蔵箱、前記第２水平車輪の下方に配置さ
    れる単一の止め具板を具備し、前記第１垂直車輪は、試
    験位置まで回転されるスロットに一連の個々の部品の各
    々を直列に降下させることを可能にするように適合し、
    前記スロツトは、重力のもとで前記個々の部品が前記第
    １垂直車輪から降下できる位置まで回転されるものであ
    り、前記第１、第２車輪は、前記第１垂直車輪から降下
    した前記部品を前記止め具板上の前記孔の１つに降下さ
    せ一時的に留めることを可能にするように配置され、前
    記第２水平車輪は、前記分類貯蔵箱の選択された１つの
    上で、前記部品を保持する前記孔を位置せしめるように
    垂直軸のまわりを回転するのに適合し、前記部品は、前
    記第２水平車輪の加速力により回転中孔の中に保持され
    、前記第２水平車輪が回転を停止した時に前記部品は、
    前記選択された分類貯蔵箱中に降下することを可能にす
    ることを特徴とする一連の個々の部品を試験、分類する
    ための処理装置。
JP53017480A 1977-02-28 1978-02-17 集積回路高速処理装置 Expired JPS5928269B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US000000772696 1977-02-28
US05/772,696 US4128174A (en) 1977-02-28 1977-02-28 High-speed integrated circuit handler

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS53107277A JPS53107277A (en) 1978-09-19
JPS5928269B2 true JPS5928269B2 (ja) 1984-07-11

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ID=25095904

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53017480A Expired JPS5928269B2 (ja) 1977-02-28 1978-02-17 集積回路高速処理装置

Country Status (7)

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US (1) US4128174A (ja)
JP (1) JPS5928269B2 (ja)
DE (1) DE2803427C2 (ja)
FR (1) FR2381571A1 (ja)
GB (1) GB1585331A (ja)
HK (1) HK51083A (ja)
SG (1) SG35383G (ja)

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