JPS5928068B2 - 光導電薄膜の形成法 - Google Patents
光導電薄膜の形成法Info
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- JPS5928068B2 JPS5928068B2 JP55146659A JP14665980A JPS5928068B2 JP S5928068 B2 JPS5928068 B2 JP S5928068B2 JP 55146659 A JP55146659 A JP 55146659A JP 14665980 A JP14665980 A JP 14665980A JP S5928068 B2 JPS5928068 B2 JP S5928068B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 30
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 27
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 90
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 31
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 13
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 7
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 109
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010422 painting Methods 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YKYOUMDCQGMQQO-UHFFFAOYSA-L cadmium dichloride Chemical compound Cl[Cd]Cl YKYOUMDCQGMQQO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010828 elution Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- UOCLXMDMGBRAIB-UHFFFAOYSA-N 1,1,1-trichloroethane Chemical compound CC(Cl)(Cl)Cl UOCLXMDMGBRAIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 CdTe Chemical class 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、透光性基板上に、両端にそれぞれ金属電極を
附している光導電薄膜を形成する方法に関し、特に透光
性基板上に、それを通じて書画の画素の濃淡に対応して
いる光を受けて書画の画素の濃淡に対応している抵抗を
呈する光導電薄膜が配列されてなる構成を有し、書画の
画素の濃淡に対応している電気的信号を得るようになさ
れた光電変換装置を製造する場合に適用して好適なもの
である。
附している光導電薄膜を形成する方法に関し、特に透光
性基板上に、それを通じて書画の画素の濃淡に対応して
いる光を受けて書画の画素の濃淡に対応している抵抗を
呈する光導電薄膜が配列されてなる構成を有し、書画の
画素の濃淡に対応している電気的信号を得るようになさ
れた光電変換装置を製造する場合に適用して好適なもの
である。
以下、本発明を、上述した光電変換装置を製造する場合
に適用するものとして述べよう。
に適用するものとして述べよう。
従来、透光性基板上に、その全域に亘つて、例 こえば
CdSでなる第1の光導電材層と、例えばCdSeでな
る第2の光導電材層とを、それ等の順に順次積層形成し
、次にその積層体に対する所要のマスクパターンを有す
るマスクを用いたエツチング処理によつて、透光性基板
上に、第1及び 1第2の光導電材層からなる、所要の
パターンを有する光導電材でなる2層薄膜を形成し、次
に、その2層薄膜に対する活性化処理を行なつて、透光
性基板上に、所要のパターンを有し且つ所要の光感度比
、分光感度特性及び、光応答特性を有する光導電薄膜を
形成する、という方法が提案されている。
CdSでなる第1の光導電材層と、例えばCdSeでな
る第2の光導電材層とを、それ等の順に順次積層形成し
、次にその積層体に対する所要のマスクパターンを有す
るマスクを用いたエツチング処理によつて、透光性基板
上に、第1及び 1第2の光導電材層からなる、所要の
パターンを有する光導電材でなる2層薄膜を形成し、次
に、その2層薄膜に対する活性化処理を行なつて、透光
性基板上に、所要のパターンを有し且つ所要の光感度比
、分光感度特性及び、光応答特性を有する光導電薄膜を
形成する、という方法が提案されている。
しかしながら、このような方法による場合、透光性基板
上に積層形成されている積層体を構成している第1及び
第2の光導電材層が、積層体に対 Sするエツチング処
理時に使用するエツチヤントに対するエツチング速度を
互に異にしているとき、第1及び第2の光導電材層から
なる所要のパターンを有する2層薄膜が、互に同一パタ
ーンに形成されず、このため、光導電薄膜が所期の特性
を有するものとして得られない、という欠点を有してい
た。
上に積層形成されている積層体を構成している第1及び
第2の光導電材層が、積層体に対 Sするエツチング処
理時に使用するエツチヤントに対するエツチング速度を
互に異にしているとき、第1及び第2の光導電材層から
なる所要のパターンを有する2層薄膜が、互に同一パタ
ーンに形成されず、このため、光導電薄膜が所期の特性
を有するものとして得られない、という欠点を有してい
た。
このため、本発明者などは、上述したと同様に、透光性
基板上に光導電薄膜を形成する方法として、第1図〜第
9図を伴なつて以下述べる方法を提案するに到つた。
基板上に光導電薄膜を形成する方法として、第1図〜第
9図を伴なつて以下述べる方法を提案するに到つた。
すなわち、第1図に示すような透光性基板1を予め用意
する。
する。
しかして、その主面2上に、第2図に示すように、所要
のパターンを有する例えばCdSでなる第1の光導電材
層3を形成する。
のパターンを有する例えばCdSでなる第1の光導電材
層3を形成する。
この第1の光導電材層3は、例えば透光性基板1の主面
2上に、その全域に亘つて第1の光導電材層3となる材
料層(例えばCdSでなる層)を、例えば化学析出法に
よつて、例えば0.5〜1μmの厚さに形成し、次に、
これに対する所要のマスクパターンを有するマスクを用
いたエツチング処理をなすことによつて形成し得る。次
に、第3図に示すように、透光性基板1の主面2上に、
第1の光導電材層3を埋設している状態にポジ型フオト
レジスト層4を、例えばスピンナを用いて、例えば2〜
3μmの厚さに塗布形成する。
2上に、その全域に亘つて第1の光導電材層3となる材
料層(例えばCdSでなる層)を、例えば化学析出法に
よつて、例えば0.5〜1μmの厚さに形成し、次に、
これに対する所要のマスクパターンを有するマスクを用
いたエツチング処理をなすことによつて形成し得る。次
に、第3図に示すように、透光性基板1の主面2上に、
第1の光導電材層3を埋設している状態にポジ型フオト
レジスト層4を、例えばスピンナを用いて、例えば2〜
3μmの厚さに塗布形成する。
次に、第4図に示すように、ポジ型フオトレジスト層4
に対する、透光性基板5に第1の光導電材層3に対応し
ているパターンを有する遮光部6を形成している構成の
マスク板7を用いた、例えば紫外線による露光処理、続
く現像処理を行なつて、透光性基板1の主面2上に、第
5図に示すように、第1の光導電材層3と並置している
ポジ型フオトレジスト層から形成された、第1の光導電
材層3のパターンの反転パターンでなる反転パターン層
8を形成する。
に対する、透光性基板5に第1の光導電材層3に対応し
ているパターンを有する遮光部6を形成している構成の
マスク板7を用いた、例えば紫外線による露光処理、続
く現像処理を行なつて、透光性基板1の主面2上に、第
5図に示すように、第1の光導電材層3と並置している
ポジ型フオトレジスト層から形成された、第1の光導電
材層3のパターンの反転パターンでなる反転パターン層
8を形成する。
次に、第1の光導電材層3及び反転パターン層8上に、
第6図に示すように、例えばCdSeでなる第2及び第
3の光導電材層9及び10を、同時に、例えば真空蒸着
法によつて、例えば数千人の厚さに形成する。
第6図に示すように、例えばCdSeでなる第2及び第
3の光導電材層9及び10を、同時に、例えば真空蒸着
法によつて、例えば数千人の厚さに形成する。
次に、例えば反転パターン層8に対するアセトンなどの
溶剤を用いた、溶去除去処理によつて、その反転パター
ン層8を、その上に形成されている第3の光導電材層1
0とともに除去することによつて、すなわち、所謂リフ
トオフ法を行うことによつて、反転パターン層8と、そ
の上の光導電材層10とを除去して、第7図に示すよう
に、第1の光導電材層3上の光導電材層9を、第1の光
導電材層3上の、それと同じパターンを有する第4の光
導電薄膜11として形成する。
溶剤を用いた、溶去除去処理によつて、その反転パター
ン層8を、その上に形成されている第3の光導電材層1
0とともに除去することによつて、すなわち、所謂リフ
トオフ法を行うことによつて、反転パターン層8と、そ
の上の光導電材層10とを除去して、第7図に示すよう
に、第1の光導電材層3上の光導電材層9を、第1の光
導電材層3上の、それと同じパターンを有する第4の光
導電薄膜11として形成する。
次に、例えばCdCl2,CUCl2などの不純物を含
んでいる例えば500〜600℃程度の温度を有する雰
囲気中での、活性化処理を行なつて、第8図に示すよう
に、第1の光導電材層3の材料と、第4の光導電材層1
1の材料との固溶体でなる光導電薄膜12を形成する。
んでいる例えば500〜600℃程度の温度を有する雰
囲気中での、活性化処理を行なつて、第8図に示すよう
に、第1の光導電材層3の材料と、第4の光導電材層1
1の材料との固溶体でなる光導電薄膜12を形成する。
次に、その光導電薄膜12の両端上に、それぞれ、第9
図に示すように、透光性基板1上に延長している第1及
び第2の金属電極13及び14を、例えばマスクを用い
た蒸着手段によつて附す。
図に示すように、透光性基板1上に延長している第1及
び第2の金属電極13及び14を、例えばマスクを用い
た蒸着手段によつて附す。
以上のようにして、透光性基板1上に、両端にそれぞれ
金属電極13及び14を附している、目的とする光導電
薄膜12を得る。以上が、本発明者などが提案するに到
つた光導電薄膜の形成法である。
金属電極13及び14を附している、目的とする光導電
薄膜12を得る。以上が、本発明者などが提案するに到
つた光導電薄膜の形成法である。
しかしながら、このような方法の場合、透光性基板1上
に形成しているポジ型フオトレジスト層4に対するマス
ク板7を用いた露光処理時(第4図)において、マスク
板7の遮光部6以外の領域を通つた光のパターンが、丁
度、第1の光導電材層3と一致している必要があり、も
し、そのパターンが第4図に対応している第10図に示
すように、図でみて左右にずれていれば、反転パターン
層8の形成時(第5図)において、第5図に対応してい
る第11図に示すように、反転パターン層8の一部が、
第1の光導電材層3上に延長し、また、透光性基板1の
主面2上に、第1の光導電材層3及び反転パターン層8
の何れもが形成されていない領域が生じた状態になる。
に形成しているポジ型フオトレジスト層4に対するマス
ク板7を用いた露光処理時(第4図)において、マスク
板7の遮光部6以外の領域を通つた光のパターンが、丁
度、第1の光導電材層3と一致している必要があり、も
し、そのパターンが第4図に対応している第10図に示
すように、図でみて左右にずれていれば、反転パターン
層8の形成時(第5図)において、第5図に対応してい
る第11図に示すように、反転パターン層8の一部が、
第1の光導電材層3上に延長し、また、透光性基板1の
主面2上に、第1の光導電材層3及び反転パターン層8
の何れもが形成されていない領域が生じた状態になる。
このため、第2の光導電材層9及び第3の光導電材層1
0の形成時(第6図)において、第6図に対応している
第12図に示すように、第2の光導電材層9が、第1の
光導電材層3と同一のパターンで得られず、且つ透光性
基板1に接触している第2及び第3の光導電材層9及び
10と同じ光導電材による光導電材層9′が形成される
。
0の形成時(第6図)において、第6図に対応している
第12図に示すように、第2の光導電材層9が、第1の
光導電材層3と同一のパターンで得られず、且つ透光性
基板1に接触している第2及び第3の光導電材層9及び
10と同じ光導電材による光導電材層9′が形成される
。
また、第4の光導電材層11の形成時(第7図)におい
て、その第4の光導電材層11が、第13図に示すよう
に、第1の光導電材層3と同一のパターンで得られず、
且つ透光性基板1上に、光導電材層9′が残る。従つて
、第8図に対応している第14図に示すように、光導電
薄膜12の側面に、光導電性層9′の第1の光導電材層
3と固溶している層11′が連結している構成となる。
さらに、電極13及び14の形成時(第9図)において
、その電極13及び14が、第9図に対応している第1
5図に示すように、層1Vにも連結している構成になる
。よつて、第1図〜第9図に示す上述した方法の場合、
最終的に得られる、光導電薄膜12が、電極13及び1
4間でみて、所期の特性よりずれたものとして得られる
、という欠点を有する。
て、その第4の光導電材層11が、第13図に示すよう
に、第1の光導電材層3と同一のパターンで得られず、
且つ透光性基板1上に、光導電材層9′が残る。従つて
、第8図に対応している第14図に示すように、光導電
薄膜12の側面に、光導電性層9′の第1の光導電材層
3と固溶している層11′が連結している構成となる。
さらに、電極13及び14の形成時(第9図)において
、その電極13及び14が、第9図に対応している第1
5図に示すように、層1Vにも連結している構成になる
。よつて、第1図〜第9図に示す上述した方法の場合、
最終的に得られる、光導電薄膜12が、電極13及び1
4間でみて、所期の特性よりずれたものとして得られる
、という欠点を有する。
また、このような欠点は、前述した露光処理時(第4図
)における光パターンが、図でみて左右方向にずれてい
る場合に限らず、紙面と垂直方向にずれていても、勿論
、左右方向及び紙面と垂直方向の双方にずれていても生
ずる。よつて、本発明は、これを前述した光電変換装置
を製造する場合に適用するものとして、第1図〜第9図
で上述した方法を基礎とするが、それに伴う上述した欠
点のない、新規な方法を提案せんとするもので、以下詳
述する所から明らかとなるであろう。
)における光パターンが、図でみて左右方向にずれてい
る場合に限らず、紙面と垂直方向にずれていても、勿論
、左右方向及び紙面と垂直方向の双方にずれていても生
ずる。よつて、本発明は、これを前述した光電変換装置
を製造する場合に適用するものとして、第1図〜第9図
で上述した方法を基礎とするが、それに伴う上述した欠
点のない、新規な方法を提案せんとするもので、以下詳
述する所から明らかとなるであろう。
第16図〜第24図は、本発明による光導電薄膜の形成
法の一例を示し、以下に述べるとおりである。
法の一例を示し、以下に述べるとおりである。
すなわち、第16図に示すような、第1図で上述したと
同様の透光性基板1を予め用意する。
同様の透光性基板1を予め用意する。
しかして、先ず、その主面2上に、第17図に示すよう
に、第2図で上述したと同様の所要のパターンを有する
第1の光導電材層3を、第2図で上述したと同様に、形
成する。次に、透光性基板1の主面2上に、第18図に
示すように、第1の光導電材層3を埋設している状態に
、ネガ型フオトレジスト層24を、例えばスピンナを用
いて、例えば2〜3μmの厚さに塗布形成する。
に、第2図で上述したと同様の所要のパターンを有する
第1の光導電材層3を、第2図で上述したと同様に、形
成する。次に、透光性基板1の主面2上に、第18図に
示すように、第1の光導電材層3を埋設している状態に
、ネガ型フオトレジスト層24を、例えばスピンナを用
いて、例えば2〜3μmの厚さに塗布形成する。
次に、ネガ型フオトレジスト層24に対する、透光性基
板1の主面2に対向している主面2′側よりの、第1の
光導電材層3をマスクとして用いた、例えば紫外線によ
る露光処理を、第19図に示すように行い、次で、それ
に続く現像処理を行なつて、透光性基板1の主面2上に
、第20図に示すように、第1の光導電材層3と並置し
ているネガ型フオトレジスト層24から形成された第1
の光導電材層3のパターンの反転パターンでなる反転パ
ターン層28を形成する。
板1の主面2に対向している主面2′側よりの、第1の
光導電材層3をマスクとして用いた、例えば紫外線によ
る露光処理を、第19図に示すように行い、次で、それ
に続く現像処理を行なつて、透光性基板1の主面2上に
、第20図に示すように、第1の光導電材層3と並置し
ているネガ型フオトレジスト層24から形成された第1
の光導電材層3のパターンの反転パターンでなる反転パ
ターン層28を形成する。
次に、第1の光導電材層3及び反転パターン層28上に
、第21図に示すように、第6図で上述したと同様の第
2及び第3の光導電材層9及び10を、同時に、第6図
で上述したと同様に、形成する。
、第21図に示すように、第6図で上述したと同様の第
2及び第3の光導電材層9及び10を、同時に、第6図
で上述したと同様に、形成する。
次に、第7図で上述したと同様の、ただし、例えばフエ
ノール及びトリクロルエタンの混液を用いた反転パター
ン層28に対する溶去除去処理によつて、その反転パタ
ーン層28を、その上に形成されている第3の光導電材
層10とともに除去して、すなわち、所謂リフトオフ法
を行うことによつて、反転パターン層28と、その上の
第3の光導電材層10とを除去して、第22図に示すよ
うに、第7図で上述したと同様に、第1の光導電材層3
上の第2の光導電材層9を、第1の光導電材層3上の、
それと同じパターンを有する第4の光導電材層11とし
て形成する。
ノール及びトリクロルエタンの混液を用いた反転パター
ン層28に対する溶去除去処理によつて、その反転パタ
ーン層28を、その上に形成されている第3の光導電材
層10とともに除去して、すなわち、所謂リフトオフ法
を行うことによつて、反転パターン層28と、その上の
第3の光導電材層10とを除去して、第22図に示すよ
うに、第7図で上述したと同様に、第1の光導電材層3
上の第2の光導電材層9を、第1の光導電材層3上の、
それと同じパターンを有する第4の光導電材層11とし
て形成する。
次に、第1の光導電材層3及び第4の光導電材層11に
対する、第8図で上述したと同様の活性化処理を行なつ
て、第23図に示すように、第1の光導電材層3の材料
と、第4の光導電材層11の材料との固溶体でなる光導
電薄膜12を形成する。次に、その光導電薄膜12の両
端上に、それぞれ、第24図に示すように、第9図で上
述したと同様に、透光性基板1上に延長している第1及
び第2の金属電極13及び14を附す。
対する、第8図で上述したと同様の活性化処理を行なつ
て、第23図に示すように、第1の光導電材層3の材料
と、第4の光導電材層11の材料との固溶体でなる光導
電薄膜12を形成する。次に、その光導電薄膜12の両
端上に、それぞれ、第24図に示すように、第9図で上
述したと同様に、透光性基板1上に延長している第1及
び第2の金属電極13及び14を附す。
以上のようにして、透光性基板1上に、両端にそれぞれ
金属電極13及び14を附している、目的の光導電薄膜
12を得る。
金属電極13及び14を附している、目的の光導電薄膜
12を得る。
以上が、本発明を、冒頭で前述した光導変換装置を製造
する場合に適用するものとした場合の、光導電薄膜を形
成する方法の一例である。
する場合に適用するものとした場合の、光導電薄膜を形
成する方法の一例である。
このような本発明の方法によれば、透光性基板1上に、
第1の光導電材層3を埋設した状態に形成しているネガ
型フオトレジスト層24に対する、露光処理を含んで、
第1の光導電材層3と並置している反転パターン28を
形成するにつき、その露光処理を、第1図〜第9図で前
述した方法の場合のように、マスク板を用いて行うので
はなく、第1の光導電材層3をマスクとして用いて行う
ので、第1図〜第9図で前述した方法の場合のように、
別途、マスク板を用意する必要がない。
第1の光導電材層3を埋設した状態に形成しているネガ
型フオトレジスト層24に対する、露光処理を含んで、
第1の光導電材層3と並置している反転パターン28を
形成するにつき、その露光処理を、第1図〜第9図で前
述した方法の場合のように、マスク板を用いて行うので
はなく、第1の光導電材層3をマスクとして用いて行う
ので、第1図〜第9図で前述した方法の場合のように、
別途、マスク板を用意する必要がない。
また、ネガ型フオトレジスト層24を照射する光のパタ
ーンが、ネガ型フオトレジスト層24の第1の光導電材
層3以外の領域と全く一致し、そこに第10図で前述し
た場合のような、光のパターンのずれを生ずることがな
い。よつて、第11図〜第15図で前述した場合のよう
に、反転パターン層28の一部が、第1の光導電材層3
上に延長し、また、透光性基板1の主面2上に、第1の
光導電材層3及び反転パターン層28のいずれもが形成
されていない領域が生じたり、第2及び第3の光導電材
層9及び10の形成時、透光性基板1土に接触している
光導電材層が形成されたり、第4の光導電材層11が第
1の光導電材層3と同一パターンで得られなかつたり、
透光性基板1上に所望としない光導電材層が残つたり、
光導電薄膜12の側面に他の層が連結している構成にな
つたりすることがない。
ーンが、ネガ型フオトレジスト層24の第1の光導電材
層3以外の領域と全く一致し、そこに第10図で前述し
た場合のような、光のパターンのずれを生ずることがな
い。よつて、第11図〜第15図で前述した場合のよう
に、反転パターン層28の一部が、第1の光導電材層3
上に延長し、また、透光性基板1の主面2上に、第1の
光導電材層3及び反転パターン層28のいずれもが形成
されていない領域が生じたり、第2及び第3の光導電材
層9及び10の形成時、透光性基板1土に接触している
光導電材層が形成されたり、第4の光導電材層11が第
1の光導電材層3と同一パターンで得られなかつたり、
透光性基板1上に所望としない光導電材層が残つたり、
光導電薄膜12の側面に他の層が連結している構成にな
つたりすることがない。
従つて、光導電薄膜12が、電極13及び14間でみて
、所期の特性を有するものとして容易に得られる、とい
う大なる特徴を有する。
、所期の特性を有するものとして容易に得られる、とい
う大なる特徴を有する。
なお、上述においては、第4の光導電材層11が単層で
ある場合につき述べた。
ある場合につき述べた。
しかしながら、第21図で上述した工程において、第1
の光導電材層3及び反転パターン層28上に、2層以上
の光導電材層を形成する(例えば、上述した第1及び第
2の光導電材層9及び10上に、CdTeなどの化合物
、Te,Seなどの単体でなる層を、任意所要数、積層
形成する)ことによつて、第4の光導電材層11を2層
以上の多層とすることも出来、その他、本発明の精神を
脱することなしに、種々の変型、変更をなし得るであろ
う。
の光導電材層3及び反転パターン層28上に、2層以上
の光導電材層を形成する(例えば、上述した第1及び第
2の光導電材層9及び10上に、CdTeなどの化合物
、Te,Seなどの単体でなる層を、任意所要数、積層
形成する)ことによつて、第4の光導電材層11を2層
以上の多層とすることも出来、その他、本発明の精神を
脱することなしに、種々の変型、変更をなし得るであろ
う。
第1図〜第15図は、本発明の基礎となる光導電薄膜の
形成法を示す順次の工程に於ける路線図である。 ただし第1図、第3図〜第6図、第8図、第10図〜第
14図は断面図、第2図及び第7図においてAは断面図
、Bはその平面図、第9図においてAは平面図、Bはそ
のB−B線上の断面図、第15図は平面図をそれぞれ示
す。第16図〜第24図は、本発明による光導電薄膜の
形成法を示す順次の工程に於ける路線図である。ただし
、第16図〜第21図及び23図は断面図、第22図に
おいてAは断面図、Bはその平面図、第24図において
Aは平面図、BはそのB−B線上の断面図をそれぞれ示
す。1・・・・・・透光性基板、2,2′−・・・・・
主面、3・・・・・・第1の光導電材層、24・・・・
・・ネガ型フオトレジスト層、28・・・・・・反転パ
ターン層、9,10・・・・・・第2及び第3の光導電
材層、11・・・・・・第4の光導電材層、12・・・
・・・光導電薄膜、13,14・・・・・・金属電極。
形成法を示す順次の工程に於ける路線図である。 ただし第1図、第3図〜第6図、第8図、第10図〜第
14図は断面図、第2図及び第7図においてAは断面図
、Bはその平面図、第9図においてAは平面図、Bはそ
のB−B線上の断面図、第15図は平面図をそれぞれ示
す。第16図〜第24図は、本発明による光導電薄膜の
形成法を示す順次の工程に於ける路線図である。ただし
、第16図〜第21図及び23図は断面図、第22図に
おいてAは断面図、Bはその平面図、第24図において
Aは平面図、BはそのB−B線上の断面図をそれぞれ示
す。1・・・・・・透光性基板、2,2′−・・・・・
主面、3・・・・・・第1の光導電材層、24・・・・
・・ネガ型フオトレジスト層、28・・・・・・反転パ
ターン層、9,10・・・・・・第2及び第3の光導電
材層、11・・・・・・第4の光導電材層、12・・・
・・・光導電薄膜、13,14・・・・・・金属電極。
Claims (1)
- 1 透光性基板の第1の主面上に、所要のパターンを有
する第1の光導電材層を形成する工程と、上記透光性基
板の第1の主面上に、上記第1の光導電材層を埋設して
いる状態にネガ型フォトレジスト層を形成する工程と、
上記ネガ型フォトレジスト層に対する、上記透光性基板
の第1の主面と対向している第2の主面側からの、上記
第1の光導電材層をマスクとして用いた露光処理、それ
に続く現像処理を含んで、上記透光性基板の第1の主面
上に、上記第1の光導電材層と並置している、上記ネガ
型フォトレジスト層から形成された上記第1の光導電材
層のパターンの反転パターンでなる反転パターン層を形
成する工程と、上記第1の光導電材層及び上記反転パタ
ーン層上に、第2及び第3の光導電材層を同時に形成す
る工程と、上記反転パターン層に対する除去処理によつ
て、当該反転パターン層を、その上に形成されている上
記第3の光導電材層とともに除去して、上記第2の光導
電材層を、上記第1の光導電材層上の、それと同じパタ
ーンを有する第4の光導電材層として得る工程と、上記
第1及び第4の光導電材層に対する活性化処理によつて
、上記第1及び第4の光導電材層の材料の固溶体でなる
光導電薄膜を形成する工程と、上記光導電薄膜の両端上
に、上記透光性基板上に延長している第1及び第2の金
属電極をそれぞれ附す工程とを含むことを特徴とする光
導電薄膜の形成法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55146659A JPS5928068B2 (ja) | 1980-10-20 | 1980-10-20 | 光導電薄膜の形成法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55146659A JPS5928068B2 (ja) | 1980-10-20 | 1980-10-20 | 光導電薄膜の形成法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5769783A JPS5769783A (en) | 1982-04-28 |
JPS5928068B2 true JPS5928068B2 (ja) | 1984-07-10 |
Family
ID=15412714
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55146659A Expired JPS5928068B2 (ja) | 1980-10-20 | 1980-10-20 | 光導電薄膜の形成法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5928068B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59231855A (ja) * | 1983-06-14 | 1984-12-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光電変換装置の製造方法 |
GB2430797A (en) * | 2005-09-28 | 2007-04-04 | Macron Internat Group Ltd | A method of making a photoresistor |
-
1980
- 1980-10-20 JP JP55146659A patent/JPS5928068B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5769783A (en) | 1982-04-28 |
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