JPS59256A - 変復調装置試験方式 - Google Patents
変復調装置試験方式Info
- Publication number
- JPS59256A JPS59256A JP57109303A JP10930382A JPS59256A JP S59256 A JPS59256 A JP S59256A JP 57109303 A JP57109303 A JP 57109303A JP 10930382 A JP10930382 A JP 10930382A JP S59256 A JPS59256 A JP S59256A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- modem
- test
- test code
- signal
- relay
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
- H04L1/242—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica
- H04L1/243—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica at the transmitter, using a loop-back
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は変復調装置の試験方式に関する。
従来、変復調装置（以下モデムと略称する）を遠隔操作
により試験する方式としてはモデムの受信データから試
験符号を検出し、該モデムを試験状態に設定する方式が
採られていた。
により試験する方式としてはモデムの受信データから試
験符号を検出し、該モデムを試験状態に設定する方式が
採られていた。
第１図は従来の方式を示す。１１．１２，１３゜１４は
モデム、１５〜１８は伝送路、１９，１１０はモデム１
２とモデム１３を接続するだめの信号線、１１１．１１
２は復調回路、１１３，１１４は変調回路、１１５．１
１６は試験符号検出回路、１１７ ．１１８はモデムに
おいて変調回路出力を復調回路入力へ折返すためのリレ
ーである。第１図によれば、モデム１１から伝送路１５
を介してモデム１２に試験符号を送信し、復調回路１１
１で復調したデータから試験符号検出回路１１５で試験
符号を検出し、その検出結果によってリレー１１７を駆
動し、モデム１２を折返し状態に設定した後、モデム１
１からテストパターン等を送信してモデム１２から折返
されて来るデータをチェックすることによシモデム１２
を試験することが可能である。またモデム１４からモデ
ム１３の試験も同様にして行なうことができる。しかし
ながら第１図からも明らかなように、従来の方式ではモ
デムの受信データのみから試験符号を検出していたので
、モデム１１からモデム１３の試験は行なえず１ケ所の
モデムからすべてのモデム管試験することが不可能なた
め、モデムの保守を行なうに際し作業効率が低下する欠
点があった。
モデム、１５〜１８は伝送路、１９，１１０はモデム１
２とモデム１３を接続するだめの信号線、１１１．１１
２は復調回路、１１３，１１４は変調回路、１１５．１
１６は試験符号検出回路、１１７ ．１１８はモデムに
おいて変調回路出力を復調回路入力へ折返すためのリレ
ーである。第１図によれば、モデム１１から伝送路１５
を介してモデム１２に試験符号を送信し、復調回路１１
１で復調したデータから試験符号検出回路１１５で試験
符号を検出し、その検出結果によってリレー１１７を駆
動し、モデム１２を折返し状態に設定した後、モデム１
１からテストパターン等を送信してモデム１２から折返
されて来るデータをチェックすることによシモデム１２
を試験することが可能である。またモデム１４からモデ
ム１３の試験も同様にして行なうことができる。しかし
ながら第１図からも明らかなように、従来の方式ではモ
デムの受信データのみから試験符号を検出していたので
、モデム１１からモデム１３の試験は行なえず１ケ所の
モデムからすべてのモデム管試験することが不可能なた
め、モデムの保守を行なうに際し作業効率が低下する欠
点があった。
この発明の目的は、モデムが縦続接続された回線におい
ても１ケ所のモデムから回線上のすべてのモデムを遠隔
で試験できる変復調装置試験方式を提供することにある
。
ても１ケ所のモデムから回線上のすべてのモデムを遠隔
で試験できる変復調装置試験方式を提供することにある
。
この発明によれば、モデムに入力される送信データから
試験符号を検出する第１の試験符号検出手段と、モデム
で復調された受信データから試験符号を検出する第２の
試験符号検出手段と、第１および第２の試験符号検出手
段の出力信号によυモデムを試験状態に設定する手段を
備えること（よシ、前記目的を達成することができる。
試験符号を検出する第１の試験符号検出手段と、モデム
で復調された受信データから試験符号を検出する第２の
試験符号検出手段と、第１および第２の試験符号検出手
段の出力信号によυモデムを試験状態に設定する手段を
備えること（よシ、前記目的を達成することができる。
以下、本発明の方式を図面を参照してさらに詳細に説明
する。
する。
第２図は本発明による変復調装置試験方式の一実施例を
示す。第２図において２１，２２．２３゜２４はモデム
、１５〜１８は伝送路、１９．ｉｌ。
示す。第２図において２１，２２．２３゜２４はモデム
、１５〜１８は伝送路、１９．ｉｌ。
はモデム２２とモデム２３を接続するための信号線、１
１１ ．１１２は復調回路、１１３．１１４は変調回路
、２１５は第１の試験符号検出回路、１１６は第２の試
験符号検出回路である。
１１ ．１１２は復調回路、１１３．１１４は変調回路
、２１５は第１の試験符号検出回路、１１６は第２の試
験符号検出回路である。
第２図においてモデム２１からモデム２３の試験を行な
う方式管以下に示す。試験はモデム２１から伝送路２５
に変調された試験符号を送出することにより開始される
。この信号は復調回路１１１で復調され信号線１９を介
してモデム２２に縦続接続されたモデム２３の送信デー
タとなる。モデム２３の内部では第１の試験符号検出回
路２１５が送信データをモニタしているので、試験符号
は該回路によって検出され、この出力信号によりリレー
２１８を動作させモデム２３を折返し状態に設定するこ
とが可能となる。この状態でモデム２１からテストパタ
ーン等を送出すれは該信号はモデム２２で復調されモデ
ム２３へ入力される。モデム２３の内部では変調回路１
１４で変調された後、リレー２１８を介して復調回路１
１２に折返され、さらにモデム２２を介してモデム２１
に戻って来る。したがってモデム２１において送信した
テストパターンと受信したテストパターンを照合すれば
モデム２３の障害探求を行なうことができる。
う方式管以下に示す。試験はモデム２１から伝送路２５
に変調された試験符号を送出することにより開始される
。この信号は復調回路１１１で復調され信号線１９を介
してモデム２２に縦続接続されたモデム２３の送信デー
タとなる。モデム２３の内部では第１の試験符号検出回
路２１５が送信データをモニタしているので、試験符号
は該回路によって検出され、この出力信号によりリレー
２１８を動作させモデム２３を折返し状態に設定するこ
とが可能となる。この状態でモデム２１からテストパタ
ーン等を送出すれは該信号はモデム２２で復調されモデ
ム２３へ入力される。モデム２３の内部では変調回路１
１４で変調された後、リレー２１８を介して復調回路１
１２に折返され、さらにモデム２２を介してモデム２１
に戻って来る。したがってモデム２１において送信した
テストパターンと受信したテストパターンを照合すれば
モデム２３の障害探求を行なうことができる。
一方モデム２４からモデム２３を試験する場合は第２の
試験符号検出回路の出力によりリレー２１７を動作させ
モデム２３を試験することができる。
試験符号検出回路の出力によりリレー２１７を動作させ
モデム２３を試験することができる。
またモデム２１からモデム２２又はモデム２４を折返し
ての試験は第１図で示した方式で可能であることは明ら
かである。
ての試験は第１図で示した方式で可能であることは明ら
かである。
以上説明したように本発明によれば、モデムを使用した
データ伝送回線において１ケ所のモデムから他のモデム
をすべて試験することが可能となるので、モデムを保守
するに際し作業効率を改善できる効果がある。
データ伝送回線において１ケ所のモデムから他のモデム
をすべて試験することが可能となるので、モデムを保守
するに際し作業効率を改善できる効果がある。
第１図は従来例を示すブロック図、第２図は本発明の実
施例を示すブロック図である。 １１〜１４・・・・・・変復調装置、１５〜１Ｂ・・・
・・・伝送路、１９，１１０・・ 信号線、１１１，１
１２・・・・・・復調回路、１１３，１１４・・・変調
回路、１１５゜１１６・・・・・・試験符号検出回路、
１１７，１１８・・・・・・リレー□、２１〜２４・・
・ 変復調装置、２１５・・・・・・試験符号検出回路
、２１８・・・・・リレー。
施例を示すブロック図である。 １１〜１４・・・・・・変復調装置、１５〜１Ｂ・・・
・・・伝送路、１９，１１０・・ 信号線、１１１，１
１２・・・・・・復調回路、１１３，１１４・・・変調
回路、１１５゜１１６・・・・・・試験符号検出回路、
１１７，１１８・・・・・・リレー□、２１〜２４・・
・ 変復調装置、２１５・・・・・・試験符号検出回路
、２１８・・・・・リレー。
Claims (1)
- 変復調装置を縦続接続して使用するデータ伝送構成にお
いて、縦続接続されている変復調装置に入力される送信
データから試験符号を検出する第１の試験符号検出手段
と、該変復調装置で復調された受信データから試験符号
を検出する第２の試験符号検出手段と、第１および第２
の試験符号検出手段の出力信号により該変復調装置をル
ープバック状態に設定する手段とを備えたことを特徴と
する変復調装置試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57109303A JPS59256A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 変復調装置試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57109303A JPS59256A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 変復調装置試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59256A true JPS59256A (ja) | 1984-01-05 |
Family
ID=14506766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57109303A Pending JPS59256A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 変復調装置試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59256A (ja) |
-
1982
- 1982-06-25 JP JP57109303A patent/JPS59256A/ja active Pending
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