JPS61163761A - 変復調装置試験方式 - Google Patents
変復調装置試験方式Info
- Publication number
- JPS61163761A JPS61163761A JP60003338A JP333885A JPS61163761A JP S61163761 A JPS61163761 A JP S61163761A JP 60003338 A JP60003338 A JP 60003338A JP 333885 A JP333885 A JP 333885A JP S61163761 A JPS61163761 A JP S61163761A
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- JP
- Japan
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- circuit
- modem
- test pattern
- main
- signal
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
- H04L1/242—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica
- H04L1/243—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica at the transmitter, using a loop-back
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、変復調装置の試験方式に関する。
(従来技術とその問題点)
従来、2線式通信回線で半二重通信を行う変復調装置(
以下、モデムと略称する)を通信回線に接続した状態で
、モデム及び通信回線を含んだ伝送状態の試験を行う場
合、半二重通信方式であるために、全二重通信方式のよ
うなループバック試験を実施することができない。
以下、モデムと略称する)を通信回線に接続した状態で
、モデム及び通信回線を含んだ伝送状態の試験を行う場
合、半二重通信方式であるために、全二重通信方式のよ
うなループバック試験を実施することができない。
このため、対向するモデム双方でモデム外部からモデム
試験装置を用いるかあるいは、モデムの装置内部に組み
込まれた試験機能によって、一方のモデムから擬似ラン
ダムパターンを送出し、もう一方のモデムで受信したデ
ータを照合するいわゆるエラーチェック試験が行われて
いる。
試験装置を用いるかあるいは、モデムの装置内部に組み
込まれた試験機能によって、一方のモデムから擬似ラン
ダムパターンを送出し、もう一方のモデムで受信したデ
ータを照合するいわゆるエラーチェック試験が行われて
いる。
しかし、従来のエラーチェック試験方式では。
対向するモデム双方に操作者を配置する必要があり、ま
た、2線式通信回線を使用した半二重通信の使用形態に
則した試験ではなく、障害の探究が不十分となるという
欠点を有する。
た、2線式通信回線を使用した半二重通信の使用形態に
則した試験ではなく、障害の探究が不十分となるという
欠点を有する。
(目的)
本発明の目的は、上記の欠点を除去し、2線式通信回線
を使用した半二重通信のモデムの障害探究に有効なモデ
ム試験方式を提供することにある。
を使用した半二重通信のモデムの障害探究に有効なモデ
ム試験方式を提供することにある。
(実施例)
以下に本発明の実施例を示す。
第1図は本発明の一実施例をブロック図により示したも
のである。ここで変調回路7.復調回路8及び2線制御
回路9を備えた主モデム1と、前記と同様の回路を備え
た従モデム2とが2線式通信回線15によって接続され
、2線式半二重通信のシステムが形成される。
のである。ここで変調回路7.復調回路8及び2線制御
回路9を備えた主モデム1と、前記と同様の回路を備え
た従モデム2とが2線式通信回線15によって接続され
、2線式半二重通信のシステムが形成される。
このシステム構成で、主モデム】がテストパターン要求
信号発生回路4.テスト信号の誤りを検出する回路5.
送信データ切換回路6及び前記回路4〜6と2線制御回
路9を制御する主局シーケンス制御回路3とを備え、従
モデム2がテストパターン要求信号検出回路】1.テス
トパターン発生回路10.送信データ切換回路6及び前
記6,10.11回路と2線制御回路9を制御する従局
シーケンス制御回路12とを備えている。
信号発生回路4.テスト信号の誤りを検出する回路5.
送信データ切換回路6及び前記回路4〜6と2線制御回
路9を制御する主局シーケンス制御回路3とを備え、従
モデム2がテストパターン要求信号検出回路】1.テス
トパターン発生回路10.送信データ切換回路6及び前
記6,10.11回路と2線制御回路9を制御する従局
シーケンス制御回路12とを備えている。
通常のデータ伝送は、主モデムIがデータを送信し、従
モデム2がデータを受信する場合、主モデム1において
送信データ切換回路6を主局シーケンス制御回路3で制
御し、外部から主モデム1忙入力される送信データ10
1を変調回路7に入力する。変調回路7の出力変調波が
2線制御回路9によって ゛ 2
線式通信回路15に送出され、従モデム2において、2
線式通信回線15によって伝送されてきた変調波を2線
制御回路9によりて、復調回路81C入力し、該回路に
よって復調され、受信データ106として得ることで行
われる。
モデム2がデータを受信する場合、主モデム1において
送信データ切換回路6を主局シーケンス制御回路3で制
御し、外部から主モデム1忙入力される送信データ10
1を変調回路7に入力する。変調回路7の出力変調波が
2線制御回路9によって ゛ 2
線式通信回路15に送出され、従モデム2において、2
線式通信回線15によって伝送されてきた変調波を2線
制御回路9によりて、復調回路81C入力し、該回路に
よって復調され、受信データ106として得ることで行
われる。
上記の構成で1本試験方式の動作を第2図に示すタイミ
ングチャートを参照しながら説明する。
ングチャートを参照しながら説明する。
本試験は、主モデム】の主局シーケンス制御回路3に入
力されるテスト制御信号102がONとなり。
力されるテスト制御信号102がONとなり。
主局シーケンス制御回路3によって、送信データ切換回
路6をモデム内部から発生するデータを変調回路7に入
力する状態に切換え、かつ主モデム1を送信状態にする
ため、2線制御回路9によって変調回路7の出力を2線
式通信回路15に接続する。
路6をモデム内部から発生するデータを変調回路7に入
力する状態に切換え、かつ主モデム1を送信状態にする
ため、2線制御回路9によって変調回路7の出力を2線
式通信回路15に接続する。
次忙、テストパターン要求信号発生回路4でテストパタ
ーン要求信号202を発生させ、該信号を変調回路7で
変調し、2線式通信回線】5に送出する。該信号送出完
了後、主モデム】は、2線制御回路9によって、受信可
能な状態(変調回路7と2線式通信回線15との接続を
切り離し、復調回路8と2線式通信回線15とを接続す
る)とする。
ーン要求信号202を発生させ、該信号を変調回路7で
変調し、2線式通信回線】5に送出する。該信号送出完
了後、主モデム】は、2線制御回路9によって、受信可
能な状態(変調回路7と2線式通信回線15との接続を
切り離し、復調回路8と2線式通信回線15とを接続す
る)とする。
一方従モデム2は、主モデム1からの前記テストパター
ン要求信号202を復調回路8で復調し。
ン要求信号202を復調回路8で復調し。
テストパターン要求信号検出回路1】で検出する。
該信号検出後、主モデム1からの変調波の受信が終わる
(キャリアOFF )を持って、2線制御回路9によっ
て復調回路8と2線式通信回線15との接続を切り離し
、変調回路7と2線式通信回線15の接続を行う、次忙
送信データ切換回路6をモデム内部から発生するデータ
を変調回路7に入力する状態に切換え、テストパターン
発生回路10によって、テストパターン204(例えば
、511 ビットの擬似ランダム信号)を発生する。
(キャリアOFF )を持って、2線制御回路9によっ
て復調回路8と2線式通信回線15との接続を切り離し
、変調回路7と2線式通信回線15の接続を行う、次忙
送信データ切換回路6をモデム内部から発生するデータ
を変調回路7に入力する状態に切換え、テストパターン
発生回路10によって、テストパターン204(例えば
、511 ビットの擬似ランダム信号)を発生する。
該テスト信号204は、送信データ切換回路6.変調回
路7を介して、2線式通信回線15に送出され、主モデ
ム1忙入力される。従モデム2は、一定ビット長のテス
トパターンを送出した後、テストパターン発生回路10
での信号の発生を停止し、2線制御回路9によって受信
可能状態(変調回路7と2線式通信回線]5の接続を断
、復調回路8と2線式通信回線15とを接続)とする。
路7を介して、2線式通信回線15に送出され、主モデ
ム1忙入力される。従モデム2は、一定ビット長のテス
トパターンを送出した後、テストパターン発生回路10
での信号の発生を停止し、2線制御回路9によって受信
可能状態(変調回路7と2線式通信回線]5の接続を断
、復調回路8と2線式通信回線15とを接続)とする。
尚2本試験は、2線式通信回線を使用した半二重通信の
システムで行われるため、第2図和水す通り、主モデム
lからテストパターン要求信号202及び従モデム2か
らテストパターン204を送出する際には、該信号の前
にトレーニング信号201 、203を送出しなければ
ならない。
システムで行われるため、第2図和水す通り、主モデム
lからテストパターン要求信号202及び従モデム2か
らテストパターン204を送出する際には、該信号の前
にトレーニング信号201 、203を送出しなければ
ならない。
次に従毎デム2から送出されたテストパターン204は
、主モデム1の復調回路8で復調した後。
、主モデム1の復調回路8で復調した後。
該テストパターンの誤りビットを検出する回路5で誤り
ビットを検出し、計数する。該計数値は。
ビットを検出し、計数する。該計数値は。
誤りビット数出力103として外部和出力される。
この動作の後主モデム1は、キャリアOFFを待って9
次のテストパターン要求信号送出シーケンスに移る。
次のテストパターン要求信号送出シーケンスに移る。
本試験は、主モデム1忙入力されるテスト制御信号】0
2がONの間、上記動作を繰り返し、主モデム1のテス
ト制御信号102がOFF となることで、主モデム
1が、従モデム2に対してテストパターン要求信号の送
出を停止し、終了する。
2がONの間、上記動作を繰り返し、主モデム1のテス
ト制御信号102がOFF となることで、主モデム
1が、従モデム2に対してテストパターン要求信号の送
出を停止し、終了する。
(効果)
以上説明したように本発明によれば、2線式通信回線を
用いた半二重通信システムの実際の使用形態に則した状
態の試験が可能である。また9本試験を行うためのモデ
ムの操作は、システムの片側のモデムだけで済むため、
特に2線式公衆通信回線を使用するシステムの場合は発
呼局圧のみ操作者を置き、不特定多数の被呼局との試験
が可能となる。
用いた半二重通信システムの実際の使用形態に則した状
態の試験が可能である。また9本試験を行うためのモデ
ムの操作は、システムの片側のモデムだけで済むため、
特に2線式公衆通信回線を使用するシステムの場合は発
呼局圧のみ操作者を置き、不特定多数の被呼局との試験
が可能となる。
第1図は9本発明の実施例のブロック図、第2図は9本
発明の信号タイミングチャートである。 1:主モデム、2:従モデム、3:主局シーケンス制御
回路、4:テストパターン要求信号発生回路、5:テス
トパターン誤りビット検出回路。 6:送信データ切換回路、7:変調回路、8:復調回路
、9:2線制御回路、10:テストパターン発生回路、
11:テストパターン要求信号検出回路。
発明の信号タイミングチャートである。 1:主モデム、2:従モデム、3:主局シーケンス制御
回路、4:テストパターン要求信号発生回路、5:テス
トパターン誤りビット検出回路。 6:送信データ切換回路、7:変調回路、8:復調回路
、9:2線制御回路、10:テストパターン発生回路、
11:テストパターン要求信号検出回路。
Claims (1)
- 2線式通信回線で変復調装置を使用して半二重通信でデ
ータ伝送を行うシステム構成において、試験の実施を操
作する主変復調装置に、テストパターンを要求する信号
を発生する手段と、テストパターンを受信し、該テスト
パターンの誤りピットを検出する手段とを備え、もう一
方従変復調装置にテストパターン要求信号を検出する手
段と、テストパターンを発生する手段とを備えたことを
特徴とする変復調装置試験方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60003338A JPS61163761A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | 変復調装置試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60003338A JPS61163761A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | 変復調装置試験方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61163761A true JPS61163761A (ja) | 1986-07-24 |
Family
ID=11554568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60003338A Pending JPS61163761A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | 変復調装置試験方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61163761A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5175633A (en) * | 1990-10-10 | 1992-12-29 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Method of diagnosing operating conditions of an image processor |
WO1995015630A1 (en) * | 1993-11-30 | 1995-06-08 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5761369A (en) * | 1980-09-30 | 1982-04-13 | Fujitsu Ltd | Automatic test system of terminal equipment |
-
1985
- 1985-01-14 JP JP60003338A patent/JPS61163761A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5761369A (en) * | 1980-09-30 | 1982-04-13 | Fujitsu Ltd | Automatic test system of terminal equipment |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5175633A (en) * | 1990-10-10 | 1992-12-29 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Method of diagnosing operating conditions of an image processor |
US5553059A (en) * | 1993-03-11 | 1996-09-03 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
WO1995015630A1 (en) * | 1993-11-30 | 1995-06-08 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
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