JPS61163761A - 変復調装置試験方式 - Google Patents
変復調装置試験方式Info
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- JPS61163761A JPS61163761A JP60003338A JP333885A JPS61163761A JP S61163761 A JPS61163761 A JP S61163761A JP 60003338 A JP60003338 A JP 60003338A JP 333885 A JP333885 A JP 333885A JP S61163761 A JPS61163761 A JP S61163761A
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- Japan
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- circuit
- modem
- test pattern
- main
- signal
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
- H04L1/242—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica
- H04L1/243—Testing correct operation by comparing a transmitted test signal with a locally generated replica at the transmitter, using a loop-back
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、変復調装置の試験方式に関する。
（従来技術とその問題点）
従来、２線式通信回線で半二重通信を行う変復調装置（
以下、モデムと略称する）を通信回線に接続した状態で
、モデム及び通信回線を含んだ伝送状態の試験を行う場
合、半二重通信方式であるために、全二重通信方式のよ
うなループバック試験を実施することができない。
以下、モデムと略称する）を通信回線に接続した状態で
、モデム及び通信回線を含んだ伝送状態の試験を行う場
合、半二重通信方式であるために、全二重通信方式のよ
うなループバック試験を実施することができない。
このため、対向するモデム双方でモデム外部からモデム
試験装置を用いるかあるいは、モデムの装置内部に組み
込まれた試験機能によって、一方のモデムから擬似ラン
ダムパターンを送出し、もう一方のモデムで受信したデ
ータを照合するいわゆるエラーチェック試験が行われて
いる。
試験装置を用いるかあるいは、モデムの装置内部に組み
込まれた試験機能によって、一方のモデムから擬似ラン
ダムパターンを送出し、もう一方のモデムで受信したデ
ータを照合するいわゆるエラーチェック試験が行われて
いる。
しかし、従来のエラーチェック試験方式では。
対向するモデム双方に操作者を配置する必要があり、ま
た、２線式通信回線を使用した半二重通信の使用形態に
則した試験ではなく、障害の探究が不十分となるという
欠点を有する。
た、２線式通信回線を使用した半二重通信の使用形態に
則した試験ではなく、障害の探究が不十分となるという
欠点を有する。
（目的）
本発明の目的は、上記の欠点を除去し、２線式通信回線
を使用した半二重通信のモデムの障害探究に有効なモデ
ム試験方式を提供することにある。
を使用した半二重通信のモデムの障害探究に有効なモデ
ム試験方式を提供することにある。
（実施例）
以下に本発明の実施例を示す。
第１図は本発明の一実施例をブロック図により示したも
のである。ここで変調回路７．復調回路８及び２線制御
回路９を備えた主モデム１と、前記と同様の回路を備え
た従モデム２とが２線式通信回線１５によって接続され
、２線式半二重通信のシステムが形成される。
のである。ここで変調回路７．復調回路８及び２線制御
回路９を備えた主モデム１と、前記と同様の回路を備え
た従モデム２とが２線式通信回線１５によって接続され
、２線式半二重通信のシステムが形成される。
このシステム構成で、主モデム】がテストパターン要求
信号発生回路４．テスト信号の誤りを検出する回路５．
送信データ切換回路６及び前記回路４〜６と２線制御回
路９を制御する主局シーケンス制御回路３とを備え、従
モデム２がテストパターン要求信号検出回路】１．テス
トパターン発生回路１０．送信データ切換回路６及び前
記６，１０．１１回路と２線制御回路９を制御する従局
シーケンス制御回路１２とを備えている。
信号発生回路４．テスト信号の誤りを検出する回路５．
送信データ切換回路６及び前記回路４〜６と２線制御回
路９を制御する主局シーケンス制御回路３とを備え、従
モデム２がテストパターン要求信号検出回路】１．テス
トパターン発生回路１０．送信データ切換回路６及び前
記６，１０．１１回路と２線制御回路９を制御する従局
シーケンス制御回路１２とを備えている。
通常のデータ伝送は、主モデムＩがデータを送信し、従
モデム２がデータを受信する場合、主モデム１において
送信データ切換回路６を主局シーケンス制御回路３で制
御し、外部から主モデム１忙入力される送信データ１０
１を変調回路７に入力する。変調回路７の出力変調波が
２線制御回路９によって ゛ ２
線式通信回路１５に送出され、従モデム２において、２
線式通信回線１５によって伝送されてきた変調波を２線
制御回路９によりて、復調回路８１Ｃ入力し、該回路に
よって復調され、受信データ１０６として得ることで行
われる。
モデム２がデータを受信する場合、主モデム１において
送信データ切換回路６を主局シーケンス制御回路３で制
御し、外部から主モデム１忙入力される送信データ１０
１を変調回路７に入力する。変調回路７の出力変調波が
２線制御回路９によって ゛ ２
線式通信回路１５に送出され、従モデム２において、２
線式通信回線１５によって伝送されてきた変調波を２線
制御回路９によりて、復調回路８１Ｃ入力し、該回路に
よって復調され、受信データ１０６として得ることで行
われる。
上記の構成で１本試験方式の動作を第２図に示すタイミ
ングチャートを参照しながら説明する。
ングチャートを参照しながら説明する。
本試験は、主モデム】の主局シーケンス制御回路３に入
力されるテスト制御信号１０２がＯＮとなり。
力されるテスト制御信号１０２がＯＮとなり。
主局シーケンス制御回路３によって、送信データ切換回
路６をモデム内部から発生するデータを変調回路７に入
力する状態に切換え、かつ主モデム１を送信状態にする
ため、２線制御回路９によって変調回路７の出力を２線
式通信回路１５に接続する。
路６をモデム内部から発生するデータを変調回路７に入
力する状態に切換え、かつ主モデム１を送信状態にする
ため、２線制御回路９によって変調回路７の出力を２線
式通信回路１５に接続する。
次忙、テストパターン要求信号発生回路４でテストパタ
ーン要求信号２０２を発生させ、該信号を変調回路７で
変調し、２線式通信回線】５に送出する。該信号送出完
了後、主モデム】は、２線制御回路９によって、受信可
能な状態（変調回路７と２線式通信回線１５との接続を
切り離し、復調回路８と２線式通信回線１５とを接続す
る）とする。
ーン要求信号２０２を発生させ、該信号を変調回路７で
変調し、２線式通信回線】５に送出する。該信号送出完
了後、主モデム】は、２線制御回路９によって、受信可
能な状態（変調回路７と２線式通信回線１５との接続を
切り離し、復調回路８と２線式通信回線１５とを接続す
る）とする。
一方従モデム２は、主モデム１からの前記テストパター
ン要求信号２０２を復調回路８で復調し。
ン要求信号２０２を復調回路８で復調し。
テストパターン要求信号検出回路１】で検出する。
該信号検出後、主モデム１からの変調波の受信が終わる
（キャリアＯＦＦ ）を持って、２線制御回路９によっ
て復調回路８と２線式通信回線１５との接続を切り離し
、変調回路７と２線式通信回線１５の接続を行う、次忙
送信データ切換回路６をモデム内部から発生するデータ
を変調回路７に入力する状態に切換え、テストパターン
発生回路１０によって、テストパターン２０４（例えば
、５１１ ビットの擬似ランダム信号）を発生する。
（キャリアＯＦＦ ）を持って、２線制御回路９によっ
て復調回路８と２線式通信回線１５との接続を切り離し
、変調回路７と２線式通信回線１５の接続を行う、次忙
送信データ切換回路６をモデム内部から発生するデータ
を変調回路７に入力する状態に切換え、テストパターン
発生回路１０によって、テストパターン２０４（例えば
、５１１ ビットの擬似ランダム信号）を発生する。
該テスト信号２０４は、送信データ切換回路６．変調回
路７を介して、２線式通信回線１５に送出され、主モデ
ム１忙入力される。従モデム２は、一定ビット長のテス
トパターンを送出した後、テストパターン発生回路１０
での信号の発生を停止し、２線制御回路９によって受信
可能状態（変調回路７と２線式通信回線］５の接続を断
、復調回路８と２線式通信回線１５とを接続）とする。
路７を介して、２線式通信回線１５に送出され、主モデ
ム１忙入力される。従モデム２は、一定ビット長のテス
トパターンを送出した後、テストパターン発生回路１０
での信号の発生を停止し、２線制御回路９によって受信
可能状態（変調回路７と２線式通信回線］５の接続を断
、復調回路８と２線式通信回線１５とを接続）とする。
尚２本試験は、２線式通信回線を使用した半二重通信の
システムで行われるため、第２図和水す通り、主モデム
ｌからテストパターン要求信号２０２及び従モデム２か
らテストパターン２０４を送出する際には、該信号の前
にトレーニング信号２０１ 、２０３を送出しなければ
ならない。
システムで行われるため、第２図和水す通り、主モデム
ｌからテストパターン要求信号２０２及び従モデム２か
らテストパターン２０４を送出する際には、該信号の前
にトレーニング信号２０１ 、２０３を送出しなければ
ならない。
次に従毎デム２から送出されたテストパターン２０４は
、主モデム１の復調回路８で復調した後。
、主モデム１の復調回路８で復調した後。
該テストパターンの誤りビットを検出する回路５で誤り
ビットを検出し、計数する。該計数値は。
ビットを検出し、計数する。該計数値は。
誤りビット数出力１０３として外部和出力される。
この動作の後主モデム１は、キャリアＯＦＦを待って９
次のテストパターン要求信号送出シーケンスに移る。
次のテストパターン要求信号送出シーケンスに移る。
本試験は、主モデム１忙入力されるテスト制御信号】０
２がＯＮの間、上記動作を繰り返し、主モデム１のテス
ト制御信号１０２がＯＦＦ となることで、主モデム
１が、従モデム２に対してテストパターン要求信号の送
出を停止し、終了する。
２がＯＮの間、上記動作を繰り返し、主モデム１のテス
ト制御信号１０２がＯＦＦ となることで、主モデム
１が、従モデム２に対してテストパターン要求信号の送
出を停止し、終了する。
（効果）
以上説明したように本発明によれば、２線式通信回線を
用いた半二重通信システムの実際の使用形態に則した状
態の試験が可能である。また９本試験を行うためのモデ
ムの操作は、システムの片側のモデムだけで済むため、
特に２線式公衆通信回線を使用するシステムの場合は発
呼局圧のみ操作者を置き、不特定多数の被呼局との試験
が可能となる。
用いた半二重通信システムの実際の使用形態に則した状
態の試験が可能である。また９本試験を行うためのモデ
ムの操作は、システムの片側のモデムだけで済むため、
特に２線式公衆通信回線を使用するシステムの場合は発
呼局圧のみ操作者を置き、不特定多数の被呼局との試験
が可能となる。
第１図は９本発明の実施例のブロック図、第２図は９本
発明の信号タイミングチャートである。 １：主モデム、２：従モデム、３：主局シーケンス制御
回路、４：テストパターン要求信号発生回路、５：テス
トパターン誤りビット検出回路。 ６：送信データ切換回路、７：変調回路、８：復調回路
、９：２線制御回路、１０：テストパターン発生回路、
１１：テストパターン要求信号検出回路。
発明の信号タイミングチャートである。 １：主モデム、２：従モデム、３：主局シーケンス制御
回路、４：テストパターン要求信号発生回路、５：テス
トパターン誤りビット検出回路。 ６：送信データ切換回路、７：変調回路、８：復調回路
、９：２線制御回路、１０：テストパターン発生回路、
１１：テストパターン要求信号検出回路。
Claims (1)
- ２線式通信回線で変復調装置を使用して半二重通信でデ
ータ伝送を行うシステム構成において、試験の実施を操
作する主変復調装置に、テストパターンを要求する信号
を発生する手段と、テストパターンを受信し、該テスト
パターンの誤りピットを検出する手段とを備え、もう一
方従変復調装置にテストパターン要求信号を検出する手
段と、テストパターンを発生する手段とを備えたことを
特徴とする変復調装置試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60003338A JPS61163761A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | 変復調装置試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60003338A JPS61163761A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | 変復調装置試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61163761A true JPS61163761A (ja) | 1986-07-24 |
Family
ID=11554568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60003338A Pending JPS61163761A (ja) | 1985-01-14 | 1985-01-14 | 変復調装置試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61163761A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5175633A (en) * | 1990-10-10 | 1992-12-29 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Method of diagnosing operating conditions of an image processor |
| WO1995015630A1 (en) * | 1993-11-30 | 1995-06-08 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5761369A (en) * | 1980-09-30 | 1982-04-13 | Fujitsu Ltd | Automatic test system of terminal equipment |
-
1985
- 1985-01-14 JP JP60003338A patent/JPS61163761A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5761369A (en) * | 1980-09-30 | 1982-04-13 | Fujitsu Ltd | Automatic test system of terminal equipment |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5175633A (en) * | 1990-10-10 | 1992-12-29 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Method of diagnosing operating conditions of an image processor |
| US5553059A (en) * | 1993-03-11 | 1996-09-03 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
| WO1995015630A1 (en) * | 1993-11-30 | 1995-06-08 | Integrated Network Corporation | Network interface unit remote test pattern generation |
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