JPS5851651A - 遠隔診断方式 - Google Patents
遠隔診断方式Info
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- JPS5851651A JPS5851651A JP56150410A JP15041081A JPS5851651A JP S5851651 A JPS5851651 A JP S5851651A JP 56150410 A JP56150410 A JP 56150410A JP 15041081 A JP15041081 A JP 15041081A JP S5851651 A JPS5851651 A JP S5851651A
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- Japan
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- test
- station
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- pattern
- signal
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は遠隔診断方式、特に、電話線勢のｚＩＩ式回線
を用いてデータ伝送を行なう半２重データ回線の２局間
で、一方の局から例えば無人で運用されている相手局の
受信特性を診断する遠隔診断方式に関する。
を用いてデータ伝送を行なう半２重データ回線の２局間
で、一方の局から例えば無人で運用されている相手局の
受信特性を診断する遠隔診断方式に関する。
データ伝送装置を用いてデータ通信を行゛なう２局間に
おいて、特定の一局（以下試験局という）から相手側の
局（以下被試験局という）における受信の動作特性を遠
隔診断する場合、従来、２１１式伝送路を用い九半２重
データ回線では、以下に説明するように連続診断ができ
ず、且つ、診断手順が複雑となる欠点がある。
おいて、特定の一局（以下試験局という）から相手側の
局（以下被試験局という）における受信の動作特性を遠
隔診断する場合、従来、２１１式伝送路を用い九半２重
データ回線では、以下に説明するように連続診断ができ
ず、且つ、診断手順が複雑となる欠点がある。
第１図（ａ）は４１１式回線の接続を示すブロック図で
、１，３はデータ送信部、２．４はデータ受信部を示す
。この場合、試験開始に先立って試験局５″から被試験
局６＃の機器の接続をテスト状態にするための信号（以
下テストオンパターンという）を送出し、被試験局６１
でその信号を検出しその出力によって受信部４から送信
部３への折シ返し回路を形成する。この状態で試験局か
ら送信部ｌを通して試験信号（以下テストパターンとい
う）を送出すれば、受信部４．送信部３を通りて試験局
の受信部２へ折シ返ってくるため、受信したテストパタ
ーンの工２−をみれば被試験局の状態を試験局から遠隔
診断することができる。−一方、第１図（ｂ）の二線式
回線の場合、両局間が２−の伝送路７で接続されている
ため、同じ周波数帯域を双方向の伝送に共通に使用する
半２重方式のデータ回線では、互いの送信部から同時に
データを送出することはできない。すなわち、壺局の送
出する送信信号は纜輩同じであるが厳密には周波数も異
な〕又位相成分が異なるため、それらが２線上で混合し
たものに対しては、両局とも正常な受信を行なうことが
できない。従って、テストオンパターン勢の信号を両局
間でやシとシする際、試験局５′から被試験７１）６’
への伝送または被試験局６′から試験局５′への伝送を
相互に時間をずらせて行なう必要がある。
、１，３はデータ送信部、２．４はデータ受信部を示す
。この場合、試験開始に先立って試験局５″から被試験
局６＃の機器の接続をテスト状態にするための信号（以
下テストオンパターンという）を送出し、被試験局６１
でその信号を検出しその出力によって受信部４から送信
部３への折シ返し回路を形成する。この状態で試験局か
ら送信部ｌを通して試験信号（以下テストパターンとい
う）を送出すれば、受信部４．送信部３を通りて試験局
の受信部２へ折シ返ってくるため、受信したテストパタ
ーンの工２−をみれば被試験局の状態を試験局から遠隔
診断することができる。−一方、第１図（ｂ）の二線式
回線の場合、両局間が２−の伝送路７で接続されている
ため、同じ周波数帯域を双方向の伝送に共通に使用する
半２重方式のデータ回線では、互いの送信部から同時に
データを送出することはできない。すなわち、壺局の送
出する送信信号は纜輩同じであるが厳密には周波数も異
な〕又位相成分が異なるため、それらが２線上で混合し
たものに対しては、両局とも正常な受信を行なうことが
できない。従って、テストオンパターン勢の信号を両局
間でやシとシする際、試験局５′から被試験７１）６’
への伝送または被試験局６′から試験局５′への伝送を
相互に時間をずらせて行なう必要がある。
第２１ａ二線式半二重データ回ｌＩＫおける従来の遠隔
診断の手順を示す接続図で、９はテストオンパターン発
生Ｗａ、１ ｏａテストオンパターン検出器、１１は応
答信号発生器、１２は恭飴応答信号検出器、１３はテス
トパターン発生器％１４はエラーレート判定器、１５は
判定信号発生器、１６は判定信号検出器である。
診断の手順を示す接続図で、９はテストオンパターン発
生Ｗａ、１ ｏａテストオンパターン検出器、１１は応
答信号発生器、１２は恭飴応答信号検出器、１３はテス
トパターン発生器％１４はエラーレート判定器、１５は
判定信号発生器、１６は判定信号検出器である。
以下５手順に従って説明する。最初に第２Ｅ（ａ）のよ
うに試験局よ〕テストオンパターフ発生器９によって被
試験局をテスト状態にするためのテストオンパターンを
一定時間送出する。被試験局ではテストオンパターン検
出器１０がこのテストオンパターンを検出して制御信号
を出１被試験局の機器の接続をテスト状態とすると共に
応答信号検出器１１に情報を送る。試験局からの信号が
消失したのち、同図（ｂ）の如く応答信号発生器１１か
ら被試験局がテスト状態となうたことを知らせる応答信
号を一定時間送出する。試験局では応答信号検出器１２
がこの応答信号を検出して被試験局がテスト状態となっ
たことを確認する。次に応答信号が消失するのを待りて
、籐２図（Ｃ）の如く試験局のテストパターン発生器１
３から被試験局の受信特性を試験するためのテストパタ
ーンを通常前記テストオンパターンおよび応答信号の送
出時間よシ相蟲長い一定時間連続して送出する。仁の開
被試験局では判定器１４でテストパターンを検出判定し
、工２−ビット数をカウントしである決められた値に：
ＩＩｉシたかどうかを判定する。最後にテストパターン
が消失するのを待りて、第７図（ｄ）の如く被試験局の
判定信号発生器１５から前記判定１ｉ＋１４の結果を反
映した判定信号を一定時間送出し、試験局ではこの判定
信号を検出器１６にて検出する。
うに試験局よ〕テストオンパターフ発生器９によって被
試験局をテスト状態にするためのテストオンパターンを
一定時間送出する。被試験局ではテストオンパターン検
出器１０がこのテストオンパターンを検出して制御信号
を出１被試験局の機器の接続をテスト状態とすると共に
応答信号検出器１１に情報を送る。試験局からの信号が
消失したのち、同図（ｂ）の如く応答信号発生器１１か
ら被試験局がテスト状態となうたことを知らせる応答信
号を一定時間送出する。試験局では応答信号検出器１２
がこの応答信号を検出して被試験局がテスト状態となっ
たことを確認する。次に応答信号が消失するのを待りて
、籐２図（Ｃ）の如く試験局のテストパターン発生器１
３から被試験局の受信特性を試験するためのテストパタ
ーンを通常前記テストオンパターンおよび応答信号の送
出時間よシ相蟲長い一定時間連続して送出する。仁の開
被試験局では判定器１４でテストパターンを検出判定し
、工２−ビット数をカウントしである決められた値に：
ＩＩｉシたかどうかを判定する。最後にテストパターン
が消失するのを待りて、第７図（ｄ）の如く被試験局の
判定信号発生器１５から前記判定１ｉ＋１４の結果を反
映した判定信号を一定時間送出し、試験局ではこの判定
信号を検出器１６にて検出する。
更に判定信号の消失を待ってテストパターンを再送し、
（Ｃ）および（ｄ）の手順に従って測定を必要な回数繰
返す。
（Ｃ）および（ｄ）の手順に従って測定を必要な回数繰
返す。
上述のように２１１式牛２重回線の場合、双方向のデー
タを同時に伝送することができないため、第２図の順序
に従って両局が交互にデータを送出できるよう両局にタ
イマを設けて煩雑に両局のデータ送出のタイきングをと
る必要がある。ｉた、無作為に発生するデータエ２−を
発生したビット毎に試験局に伝えることができず、ある
一定時間毎に見られる良・否判定結果を試験局へ伝える
にとどまシ、従りて正確な連続的遠隔診断ができないと
いう欠点を有する。一般に、データ通信回線のサービス
品質は長時間の平均値であるビット誤シ率だけでは代表
できず、その時間的発生状況を知ることも必要と云われ
ている。
タを同時に伝送することができないため、第２図の順序
に従って両局が交互にデータを送出できるよう両局にタ
イマを設けて煩雑に両局のデータ送出のタイきングをと
る必要がある。ｉた、無作為に発生するデータエ２−を
発生したビット毎に試験局に伝えることができず、ある
一定時間毎に見られる良・否判定結果を試験局へ伝える
にとどまシ、従りて正確な連続的遠隔診断ができないと
いう欠点を有する。一般に、データ通信回線のサービス
品質は長時間の平均値であるビット誤シ率だけでは代表
できず、その時間的発生状況を知ることも必要と云われ
ている。
本発明の目的は２１１式半２重のデータ伝送回線におい
て、両局間のデータ送出タインングを煩雑にとる必要が
なく、また、検出したエラービットを直ちに試験局へ伝
送することによりて正確な連続的遠隔診断ができる遠隔
診断方式を提供することである。
て、両局間のデータ送出タインングを煩雑にとる必要が
なく、また、検出したエラービットを直ちに試験局へ伝
送することによりて正確な連続的遠隔診断ができる遠隔
診断方式を提供することである。
本発明の遠隔診断方式は、二線式回線で結ばれデータ通
信を行なう２局間の一方の試験局には、信号を送出する
第１のデータ送信部の入力側に、被試験局をテスト状態
にするためのテストオンパターンを送出するテストオン
パターン発生器と、工２−ビットを測定するためのテス
トパターンを発生するテストパターン発生器とを備え、
信号を受信する第１のデー゛夕受信部の出力に前記テス
トオンパターンを検出して検出情報を出す第１のテスト
オンパターン検出器と、前記テストパターンを検出判定
しエラービット情報を出すエラービット判定器とを備え
、被試験局には、前記試験局からの信号を受信する第２
のデータ受信部の出力側に籐２のテストオンパターン検
出器と、第２の工２−ビ、ト判定器と前記［２のテスト
オンパターン検出器からの検出情報を奄らりて一定時間
幅の時刻情報を作シ出すタイマ回路とを備え、前記第２
のエラービット判定器のエラービット情報または前記タ
イマ回路の時刻情報によシ被試験局の第２のデータ送信
部を制御して前記情報が印加されている間中伝送路を経
て前記試験局に信号を送出するよ５接続し、更に、前記
エラービット情報によシ第２の送信部が信号を送出して
いる間は前記第２のエラービット判定器の機能を停止さ
せるよう接続す°ることによって構成される。
信を行なう２局間の一方の試験局には、信号を送出する
第１のデータ送信部の入力側に、被試験局をテスト状態
にするためのテストオンパターンを送出するテストオン
パターン発生器と、工２−ビットを測定するためのテス
トパターンを発生するテストパターン発生器とを備え、
信号を受信する第１のデー゛夕受信部の出力に前記テス
トオンパターンを検出して検出情報を出す第１のテスト
オンパターン検出器と、前記テストパターンを検出判定
しエラービット情報を出すエラービット判定器とを備え
、被試験局には、前記試験局からの信号を受信する第２
のデータ受信部の出力側に籐２のテストオンパターン検
出器と、第２の工２−ビ、ト判定器と前記［２のテスト
オンパターン検出器からの検出情報を奄らりて一定時間
幅の時刻情報を作シ出すタイマ回路とを備え、前記第２
のエラービット判定器のエラービット情報または前記タ
イマ回路の時刻情報によシ被試験局の第２のデータ送信
部を制御して前記情報が印加されている間中伝送路を経
て前記試験局に信号を送出するよ５接続し、更に、前記
エラービット情報によシ第２の送信部が信号を送出して
いる間は前記第２のエラービット判定器の機能を停止さ
せるよう接続す°ることによって構成される。
前述したように、２線式牛２重回線では同時に双方向の
信号は伝送できず、もし二つの信号が同時に存在すると
両局とも正常受信をすることができない。本発明はこの
短所を逆に被試験局からの応答信号やエラービット信号
の代シに利用するものである。すなわち、試験局に設け
たテストオンパターン検出器は自局の信号によシ局内で
あらが験局からの信号が存在することを知ることができ
る◎また、テストパターンを送信して工ツービットを測
定する場合、被試験局で工２−ビ、トが発生したら、そ
の都度、回線にエラービット変調信号を重畳すれば、試
験局では同期が拡ずれることによシ、エラービットをほ
ぼビット対応で確認することができる。
信号は伝送できず、もし二つの信号が同時に存在すると
両局とも正常受信をすることができない。本発明はこの
短所を逆に被試験局からの応答信号やエラービット信号
の代シに利用するものである。すなわち、試験局に設け
たテストオンパターン検出器は自局の信号によシ局内で
あらが験局からの信号が存在することを知ることができ
る◎また、テストパターンを送信して工ツービットを測
定する場合、被試験局で工２−ビ、トが発生したら、そ
の都度、回線にエラービット変調信号を重畳すれば、試
験局では同期が拡ずれることによシ、エラービットをほ
ぼビット対応で確認することができる。
以下本発明の一実施例につき図面を参照して詳細に説明
する。
する。
第３図は本発明による遠隔診断方式の一実施例を示すブ
ロック図で、試験局５にはデータ入力で変調された信号
を伝送路７に送出するデータ送信部ｌの入力側に、被試
験局６をテスト状態にするためのテストオンパターンを
連続して繰返し発生するテストオンパターン発生器９と
、エラービットを測定するためのテストパターンを発生
するテストパターン発生器１３とを備え、被試験局６が
らの被変調信号を受信復調する受信部２の出方側に、テ
ストオンパターン発生器９がらのテストオンパターンを
検出して検出情報を出すテストオンパターン検出器１７
と、テストパターン発生器１３からのテストパターンを
検出判定してエラービ。
ロック図で、試験局５にはデータ入力で変調された信号
を伝送路７に送出するデータ送信部ｌの入力側に、被試
験局６をテスト状態にするためのテストオンパターンを
連続して繰返し発生するテストオンパターン発生器９と
、エラービットを測定するためのテストパターンを発生
するテストパターン発生器１３とを備え、被試験局６が
らの被変調信号を受信復調する受信部２の出方側に、テ
ストオンパターン発生器９がらのテストオンパターンを
検出して検出情報を出すテストオンパターン検出器１７
と、テストパターン発生器１３からのテストパターンを
検出判定してエラービ。
トが発生した都度エラービット情報を出す工２−ビット
判定器１８とを備え、試験局５と二線式伝送路７で結ば
れた被試験局６には、試験局５からの被変調信号を受信
するデータ受信部４の出力側に、検出器１７と同勢なテ
ストオンパターン検出器１０と、判定器１８と同等なエ
ラービット判定器１９と、テストオンパターン検出１Ｂ
１０からの検出情報をもらって一定時間幅の時刻信号を
作成するタイマ回路２０とを備え、エラービット判定器
１９またはタイマ回路２０の出力情報によシデータ送信
部３を制御して前記情報０印加中、伝送路７を経て試験
局５に信号を送出するよう接続されておシ、更にデータ
送信部３の送信中拡工２−ビ、ト判定器１９はその機能
を停止するよう構成されている。
判定器１８とを備え、試験局５と二線式伝送路７で結ば
れた被試験局６には、試験局５からの被変調信号を受信
するデータ受信部４の出力側に、検出器１７と同勢なテ
ストオンパターン検出器１０と、判定器１８と同等なエ
ラービット判定器１９と、テストオンパターン検出１Ｂ
１０からの検出情報をもらって一定時間幅の時刻信号を
作成するタイマ回路２０とを備え、エラービット判定器
１９またはタイマ回路２０の出力情報によシデータ送信
部３を制御して前記情報０印加中、伝送路７を経て試験
局５に信号を送出するよう接続されておシ、更にデータ
送信部３の送信中拡工２−ビ、ト判定器１９はその機能
を停止するよう構成されている。
先ず試験局でテストオンパターン発生器９を働かせると
データ送信部１を通じてテストオンノくターンが送出さ
れる。この信号は自局のデータ受信部２を経てテストオ
ンパターン検出器１７によりて検出される。被試験局で
はデータ受信部４に接続されたテストオンパターン検出
器１０がこれを検出すると被試験局の装置の接続をテス
ト状態としく判定器１９を動作状態とする）同時にタイ
マ回路２０にトリガを与える（第４図（ａ）参照）。タ
イマ回路２０はトリガを入力されると一定時間の開信号
を出力し、送信部３を動作させて回線に破線の矢印で示
す如く送信信号を伝送路に重畳して送出する。この丸め
試験局では、テストオンパターン検出器１７の同期がは
ずれるので検出信号が消え、これによシ被試験局がテス
ト状態になったことを確認することがで拳る（第４図（
ｂ）参照）。
データ送信部１を通じてテストオンノくターンが送出さ
れる。この信号は自局のデータ受信部２を経てテストオ
ンパターン検出器１７によりて検出される。被試験局で
はデータ受信部４に接続されたテストオンパターン検出
器１０がこれを検出すると被試験局の装置の接続をテス
ト状態としく判定器１９を動作状態とする）同時にタイ
マ回路２０にトリガを与える（第４図（ａ）参照）。タ
イマ回路２０はトリガを入力されると一定時間の開信号
を出力し、送信部３を動作させて回線に破線の矢印で示
す如く送信信号を伝送路に重畳して送出する。この丸め
試験局では、テストオンパターン検出器１７の同期がは
ずれるので検出信号が消え、これによシ被試験局がテス
ト状態になったことを確認することがで拳る（第４図（
ｂ）参照）。
タイマ回路２０で設定された一定時間が経過すると重畳
信号が消失することによシテストオンパターン検出器１
７の同期が再び行なわれ検出信号がジ壊れるのではれを
確認の後、テストオンパターン発生器９の出力を停めテ
ストパターン発生器１３を動作させてテストパターンを
送出する。このテストパターンは被試験局の判定器１９
で検出され工２−ビ、トの監視が行なわれる。同時に試
験局でも同じ判定器１８で検出されエラービット監視が
行なわれる（第４図（Ｃ）参照）。エラービットが発生
し、判定器１９で検出されると、その度び毎にエラービ
ット変調信号を送信部３よシ送出して回１１に重畳する
。試験局の判定器１８は正常時には自局受信のため受信
レベルも高く安定していて工２−を発生しないのでエラ
ービット情１１を発生しないが、被試験局からの重畳信
号がわると回線の同期が外れるので、これｋよシェラ−
ビットを検出することができる（第４図（ｄ）参照）。
信号が消失することによシテストオンパターン検出器１
７の同期が再び行なわれ検出信号がジ壊れるのではれを
確認の後、テストオンパターン発生器９の出力を停めテ
ストパターン発生器１３を動作させてテストパターンを
送出する。このテストパターンは被試験局の判定器１９
で検出され工２−ビ、トの監視が行なわれる。同時に試
験局でも同じ判定器１８で検出されエラービット監視が
行なわれる（第４図（Ｃ）参照）。エラービットが発生
し、判定器１９で検出されると、その度び毎にエラービ
ット変調信号を送信部３よシ送出して回１１に重畳する
。試験局の判定器１８は正常時には自局受信のため受信
レベルも高く安定していて工２−を発生しないのでエラ
ービット情１１を発生しないが、被試験局からの重畳信
号がわると回線の同期が外れるので、これｋよシェラ−
ビットを検出することができる（第４図（ｄ）参照）。
ただしこのとき被試験局の判定器１９％信号重畳によシ
同期外れをおこし正しい動作をしなくなる九め、送信部
３が信号を送出している時は、判定器１９０機能を停止
させる必要がある。また、テスト終了については、試験
局からテストオフパターンを送出するか、又は、長時間
のキャリアオフ等によシ容易に被試験局を制御できるの
で説明を省略する。
同期外れをおこし正しい動作をしなくなる九め、送信部
３が信号を送出している時は、判定器１９０機能を停止
させる必要がある。また、テスト終了については、試験
局からテストオフパターンを送出するか、又は、長時間
のキャリアオフ等によシ容易に被試験局を制御できるの
で説明を省略する。
以上の説明において被試験局のタイｆｆ２０の設定時間
やタイミングには特に厳しい制約はなく、試験局のテス
トオンパターン検出器１７によりて同期外れが確認でき
る時間があればよい。また、エラービット変調信号の送
出タイミングや送出時間にも特定の規定はないが、との
送出時間中は被試験局の有効テスト時間から除かれるこ
ととなるので試験局の判定器１８で同期外れが判定でき
る範囲即ち、エラービットが検出できる範囲で短かい方
が望ましい。
やタイミングには特に厳しい制約はなく、試験局のテス
トオンパターン検出器１７によりて同期外れが確認でき
る時間があればよい。また、エラービット変調信号の送
出タイミングや送出時間にも特定の規定はないが、との
送出時間中は被試験局の有効テスト時間から除かれるこ
ととなるので試験局の判定器１８で同期外れが判定でき
る範囲即ち、エラービットが検出できる範囲で短かい方
が望ましい。
以上説明した如く、本発明の遠隔診断方式によれば２ｍ
！式回線を用いた両局間の遠隔診断を行なうに際し、両
局の送信タイさングを煩雑にとる必要がなく、従って必
要な回路機能数を減じ％また、ビット対応でエラー′の
発生を殆ど連続的に遠隔診断できる効果がある。
！式回線を用いた両局間の遠隔診断を行なうに際し、両
局の送信タイさングを煩雑にとる必要がなく、従って必
要な回路機能数を減じ％また、ビット対応でエラー′の
発生を殆ど連続的に遠隔診断できる効果がある。
第１図（ａＪは４線式データ回線の接続を示すプロ、り
図、第４図（ｂ）は２１１式データ回曽（Ｃ）１１貌を
示すブ四、り図、第２図（１）〜（ｄ）は２線式半二重
データ回線における従来の遠隔診断の手順を示すプｐ、
り図、第３図は本発明の遠隔診断方式の一実施例を示す
プ四ツク図、第４図は菖３図の実施例における遠隔診断
方式の手順を示すプロ、り図である。 １．３・・・・・・データ送信部、２．４・・・・・・
データ受信部、５ｔ５’ｔ５’・・・・・・試験局、６
、６’ 、 ６’・・・・・・被試験局、７・・・・
・・伝送路、８．８’・・・・・・４線式伝送路。 ９．１３・・・・・・テストオンパターン発生器、１ｏ
。 １７・・・・・・テストオンパターン検出器、１１・・
・・・・応答信号発生器、１２・・・・・・応答信号検
出器、１４・・・・・・エラーレート判定器、１５・・
・・・・判定信号発生器、１６・・・・・・判定信号検
出器、１８・・・・・・二↓↓＝与二ユーラービット 判定器、１９・・・・・・稔ヂ≠＃手＝判定器、 ２０
、−１．・タイマ回路。
図、第４図（ｂ）は２１１式データ回曽（Ｃ）１１貌を
示すブ四、り図、第２図（１）〜（ｄ）は２線式半二重
データ回線における従来の遠隔診断の手順を示すプｐ、
り図、第３図は本発明の遠隔診断方式の一実施例を示す
プ四ツク図、第４図は菖３図の実施例における遠隔診断
方式の手順を示すプロ、り図である。 １．３・・・・・・データ送信部、２．４・・・・・・
データ受信部、５ｔ５’ｔ５’・・・・・・試験局、６
、６’ 、 ６’・・・・・・被試験局、７・・・・
・・伝送路、８．８’・・・・・・４線式伝送路。 ９．１３・・・・・・テストオンパターン発生器、１ｏ
。 １７・・・・・・テストオンパターン検出器、１１・・
・・・・応答信号発生器、１２・・・・・・応答信号検
出器、１４・・・・・・エラーレート判定器、１５・・
・・・・判定信号発生器、１６・・・・・・判定信号検
出器、１８・・・・・・二↓↓＝与二ユーラービット 判定器、１９・・・・・・稔ヂ≠＃手＝判定器、 ２０
、−１．・タイマ回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 試験局に、データ入力で変調された信号を送出する第１
のデータ送信部と、被変調信号を受信復調する第１のデ
ータ受信部と、前記第１のデータ送信部の入力側に接続
され被試験局をテスト状態にするためのテストオンパタ
ーンを連続して繰返し発生するテストオンパターン発生
器と、前記第１のデータ送信部の入力側に接続されエラ
ービ。 トを測定するためのテストパターンを発生するテストパ
ターン発生器と、前記第１のデータ受信部の出力側に接
続され前記テストオンパターンを検出して検出情報を出
す第１のテストオンパターン検出器と、前記第１のデー
タ受信部の出力側に接続されテストパターンを検出判定
しエラービットが発生した都度エラーピット情報を出す
第１のエラーピット判定器とを備え、前記試験局と二線
式伝送路で結ばれた被試験局に、前記第１のデータ送信
部と同様な第２のデータ送信部と、前記第１のデータ受
信部と同様な第２のデータ受信部と、前記第２のデータ
受信部の出力側に接続され前記第１のテストオンパター
ン検出器と同じ第２のテストオンパターン検出器と、前
記第２のデータ受信部の出力側に接続され前記第１のエ
ラーピット判定器と同じ第２の工２−ビット判定器と、
前記第２のテストパターン検出器からの検出情報を受け
て一定時間幅の時刻情報を作成するタイマ回路とを備え
、前記第２の工２−ビット判定器のエラービット情報ま
たは前記タイマ回路の時刻情報によシ前記第２のデータ
送信部を制御し、前記情報の印加されている間前記二線
式伝送路を経て前記試験局に送信信号を送出するよう接
続し、更に前記エラービット情報によりて前記第２のデ
ータ送信部が前記送信信号を送出している間は前記第２
のエラーピット判定器の機能を停止させるようＫしたヒ
とを特徴とする遠隔診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56150410A JPS5851651A (ja) | 1981-09-22 | 1981-09-22 | 遠隔診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56150410A JPS5851651A (ja) | 1981-09-22 | 1981-09-22 | 遠隔診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5851651A true JPS5851651A (ja) | 1983-03-26 |
Family
ID=15496340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56150410A Pending JPS5851651A (ja) | 1981-09-22 | 1981-09-22 | 遠隔診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5851651A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6187434U (ja) * | 1984-11-14 | 1986-06-07 | ||
| JPS62241452A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-22 | Oki Electric Ind Co Ltd | 回線試験方式 |
-
1981
- 1981-09-22 JP JP56150410A patent/JPS5851651A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6187434U (ja) * | 1984-11-14 | 1986-06-07 | ||
| JPS62241452A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-22 | Oki Electric Ind Co Ltd | 回線試験方式 |
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