JPS59225348A - 磁気探傷装置 - Google Patents
磁気探傷装置Info
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- JPS59225348A JPS59225348A JP10016483A JP10016483A JPS59225348A JP S59225348 A JPS59225348 A JP S59225348A JP 10016483 A JP10016483 A JP 10016483A JP 10016483 A JP10016483 A JP 10016483A JP S59225348 A JPS59225348 A JP S59225348A
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- electromagnets
- pole
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/904—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents with two or more sensors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はｌｌ’Ｂ気探傷装当に関する。
一般に、磁気を利用して鋼管等の管状被検査材に存在す
る欠陥を検出する（ｉＰ＝気探傷装置においては、被検
査材を磁化し、その欠陥部に生ずる漏洩磁束を測定する
方法、もしくは磁化表面−ζ磁粉を散布してその磁粉模
様を観察する方法が採用されている。上記両方法のいず
れによる場合にも、被検査材の欠陥部を碍来が横切るよ
うに、被検査材を磁化することが必要である。
る欠陥を検出する（ｉＰ＝気探傷装置においては、被検
査材を磁化し、その欠陥部に生ずる漏洩磁束を測定する
方法、もしくは磁化表面−ζ磁粉を散布してその磁粉模
様を観察する方法が採用されている。上記両方法のいず
れによる場合にも、被検査材の欠陥部を碍来が横切るよ
うに、被検査材を磁化することが必要である。
従来、管状被検査材の内面もしくは外面の軸方向の欠陥
を検出する場合には、軸通電法、電流貫通法または極間
式の電磁石を用いた極間法等が採用されている。しかし
ながら、軸通電法は２，０ＯＯＡ〜１０，０ＯＯＡ程度
の大電流が必要であり、かつ電極の接触部にスパークを
生じて被検査材を損傷する可能性がある。また、電流貫
通法では被検査材の内部に／Ｔ−プル等を貫通すること
に困難をともなう。また、極間法では探傷範囲が狭いた
めに、非能率きなる。
を検出する場合には、軸通電法、電流貫通法または極間
式の電磁石を用いた極間法等が採用されている。しかし
ながら、軸通電法は２，０ＯＯＡ〜１０，０ＯＯＡ程度
の大電流が必要であり、かつ電極の接触部にスパークを
生じて被検査材を損傷する可能性がある。また、電流貫
通法では被検査材の内部に／Ｔ−プル等を貫通すること
に困難をともなう。また、極間法では探傷範囲が狭いた
めに、非能率きなる。
また、管状被検査材の内面もしくは外面の円周方向の欠
陥を検出する場合には、被検査材の内部にコイルを挿入
して磁化するコイル法、極間法等が採用されている。し
かしながら、コイル法では特に大径管の場合、大径のコ
イルが必要となり、またコイルが障害となって欠陥の目
視検査が困難となる。また、極間法では探傷範囲が狭い
ために非能率となる。
陥を検出する場合には、被検査材の内部にコイルを挿入
して磁化するコイル法、極間法等が採用されている。し
かしながら、コイル法では特に大径管の場合、大径のコ
イルが必要となり、またコイルが障害となって欠陥の目
視検査が困難となる。また、極間法では探傷範囲が狭い
ために非能率となる。
本発明は、簡単かつ能率的に、才た高精度で連続的に、
管状被検査材の内外面および端面の広い範囲で、あらゆ
る方向の欠陥を検出可能とする磁気探傷装置を提供する
ことを目的とする。
管状被検査材の内外面および端面の広い範囲で、あらゆ
る方向の欠陥を検出可能とする磁気探傷装置を提供する
ことを目的とする。
以下、上記目的を達成する本発明の実施例を図面を参照
して説明する。
して説明する。
第１図は本発明の一実施例に係る磁気探傷装置を示す斜
視図であり、１１は磁気探傷装置を示し、１２は鋼管等
の管状被検奔材を示す。磁気探傷装置１１は、コ字状に
形成された保持具１３を有し、保持具１３は被検査材１
２の端部から被検査材１２の内外面を挾む状態でその軸
方向に挿入可能とされ、保持具１３の被検有利；１２の
外面を臨む部分１３Ａには４個の３極刑電磁石１４が固
定され、保持具１３の被検査材１２の内面を臨む部分１
３Ｂには４個の３極型電磁石１５が固定されている。
視図であり、１１は磁気探傷装置を示し、１２は鋼管等
の管状被検奔材を示す。磁気探傷装置１１は、コ字状に
形成された保持具１３を有し、保持具１３は被検査材１
２の端部から被検査材１２の内外面を挾む状態でその軸
方向に挿入可能とされ、保持具１３の被検有利；１２の
外面を臨む部分１３Ａには４個の３極刑電磁石１４が固
定され、保持具１３の被検査材１２の内面を臨む部分１
３Ｂには４個の３極型電磁石１５が固定されている。
すなわち、各３離型電磁石１４．１５は、被検査材１２
の内面もしくは外面を臨む、被検有利１２の端部を含む
軸方向の４位置のそれぞれに配置されている。
の内面もしくは外面を臨む、被検有利１２の端部を含む
軸方向の４位置のそれぞれに配置されている。
ここで、各３離型電磁石１４．１５ｆｔ、第２図に示す
ように、鉄心１６八およびコイル１７Ａから１．（る電
磁石１８Ａ、鉄心１６Ｂおよびコイル１７Ｂからなる電
磁石１８Ｂ、鉄心１６Ｃおよびコイル１７Ｃからなる電
磁石１８Ｃから構成されている。
ように、鉄心１６八およびコイル１７Ａから１．（る電
磁石１８Ａ、鉄心１６Ｂおよびコイル１７Ｂからなる電
磁石１８Ｂ、鉄心１６Ｃおよびコイル１７Ｃからなる電
磁石１８Ｃから構成されている。
上記３極型電磁石１４．１５の各コイル１７Ａないし１
７Ｃは、それぞれ、第３図および第４図（こ示すように
結線されている。この第３図および第４図において％Ｊ
Ｓ、Ｔは３相交流の位相を表わし、各コイル１７Ａない
し１７Ｃは３極のスター結線で結線されている。なお、
各コイル１７Ａないし１７Ｃはデルタ結線で結線される
ものであってもよい。
７Ｃは、それぞれ、第３図および第４図（こ示すように
結線されている。この第３図および第４図において％Ｊ
Ｓ、Ｔは３相交流の位相を表わし、各コイル１７Ａない
し１７Ｃは３極のスター結線で結線されている。なお、
各コイル１７Ａないし１７Ｃはデルタ結線で結線される
ものであってもよい。
第５図は３相交流の位相電流がそれぞれのコイル１７Ａ
ないし１７Ｃに流れている波形を示す。
ないし１７Ｃに流れている波形を示す。
第６図は磁極に生ずる回転磁界を示し、それぞれＲ−８
、Ｓ−Ｔ 、 Ｔ−１％と１２０度ずれた磁界で回転す
る合成磁界を示している。各磁束のある時点におけるベ
クトルｈ１． ｈ２． ｈ、Ｌｊ下記（１）式ないしく
３）式に示す通りである。
、Ｓ−Ｔ 、 Ｔ−１％と１２０度ずれた磁界で回転す
る合成磁界を示している。各磁束のある時点におけるベ
クトルｈ１． ｈ２． ｈ、Ｌｊ下記（１）式ないしく
３）式に示す通りである。
ｈ、 ＝： Ｈｍ！＋、ｎωｔ（１）
ｈ’２ ＝ Ｈｍｓｉｎ （ωｔ−２π／３） −
（２）ｂ３ ＝ Ｈ，ｎ’ｓｉｎ （ωｔ−４π／３）
−（３１また、第６図における０点の合成ベクト
ルは下記（４）式の通りてあり、３相交流と同一角速度
で回転する円形磁界を生ずる。
（２）ｂ３ ＝ Ｈ，ｎ’ｓｉｎ （ωｔ−４π／３）
−（３１また、第６図における０点の合成ベクト
ルは下記（４）式の通りてあり、３相交流と同一角速度
で回転する円形磁界を生ずる。
Ｈ−−Ｈ，ｎｅ −ｊ（ωＬ−π／２１
（４）上記回転磁界を強磁性拐料からなる被検有利１
２に加えた場合、その被検査材１２には上記回転磁界と
同様の回転θｊ界が生ずる。１なわち、この被検査材゛
１２に生じる回転磁界は、第７図に示すように、被検査
材１２の各方向に存在すると思われるわれ２１Ａないし
２１Ｃを横切る方向の磁界であり、したかつで、上記３
離型電磁石１４．１５によれは同時に多方向の欠陥（わ
れ）を検出可能となることが認められる。なお、第７図
において２２は磁束のｂｌすれづ〔示す〇 次に、」二記実施例の作用をとついて説明する。まず、
破憶査材１２の端部から軸方向に、磁気探傷装置１１を
挿入する。磁気探傷装置１１の各３離型電磁石１４を被
検有利１２の外面を臨む位置（こ配置し、各３離型電磁
石１５を被検査材１２の内面を臨む位置に配置した後、
被検査材１２を回転させ、几、Ｓ、Ｔに電圧を加えると
、各３離型電磁石１４．１５に磁界を生じ、その磁界の
影響によって被検査材１２の内外面および端面にも磁界
を生ずる。
（４）上記回転磁界を強磁性拐料からなる被検有利１
２に加えた場合、その被検査材１２には上記回転磁界と
同様の回転θｊ界が生ずる。１なわち、この被検査材゛
１２に生じる回転磁界は、第７図に示すように、被検査
材１２の各方向に存在すると思われるわれ２１Ａないし
２１Ｃを横切る方向の磁界であり、したかつで、上記３
離型電磁石１４．１５によれは同時に多方向の欠陥（わ
れ）を検出可能となることが認められる。なお、第７図
において２２は磁束のｂｌすれづ〔示す〇 次に、」二記実施例の作用をとついて説明する。まず、
破憶査材１２の端部から軸方向に、磁気探傷装置１１を
挿入する。磁気探傷装置１１の各３離型電磁石１４を被
検有利１２の外面を臨む位置（こ配置し、各３離型電磁
石１５を被検査材１２の内面を臨む位置に配置した後、
被検査材１２を回転させ、几、Ｓ、Ｔに電圧を加えると
、各３離型電磁石１４．１５に磁界を生じ、その磁界の
影響によって被検査材１２の内外面および端面にも磁界
を生ずる。
第８図に、被検有利１２の外面’Ｉｌｌ！ｌ ｌこ生ず
る磁束の流れ３１、および内面側に生ずる磁束の流れ３
２を示すＱこれらの磁束の流れ３１．３２の確認は、Ｊ
ＩＳ ＧＯ５６５−８２に係る円形のＡ型試験片を用い
て行われた。この確認の結果、３０／１ｏｏの円形標準
試験片に加工された人工欠陥の全体が被検査材１２の外
面および内面に明瞭に検出された。
る磁束の流れ３１、および内面側に生ずる磁束の流れ３
２を示すＱこれらの磁束の流れ３１．３２の確認は、Ｊ
ＩＳ ＧＯ５６５−８２に係る円形のＡ型試験片を用い
て行われた。この確認の結果、３０／１ｏｏの円形標準
試験片に加工された人工欠陥の全体が被検査材１２の外
面および内面に明瞭に検出された。
また、第９図に被検査材１２の端部に発生する磁束の流
れ３３を示す。この磁束の流れ３３の確認はＪＩＳ Ｇ
Ｏ５６５−８２の円形のＡ型試験片を用いて行われた。
れ３３を示す。この磁束の流れ３３の確認はＪＩＳ Ｇ
Ｏ５６５−８２の円形のＡ型試験片を用いて行われた。
その確認の結果、被検査材１２の端部に貼付した３０／
１ｏｏの円形標準試験片に加工された人工欠陥の全体が
明瞭に検出された。なお、第９南に示すように、被検査
材１２の端部近傍の内面と外面のそれぞれを臨む位置に
配置される各３離型電磁石１４．１５を、相互に対向配
置することにより、′＄検査材１２の端面に強い磁束の
流れ３３を発生させることが可能となる。
１ｏｏの円形標準試験片に加工された人工欠陥の全体が
明瞭に検出された。なお、第９南に示すように、被検査
材１２の端部近傍の内面と外面のそれぞれを臨む位置に
配置される各３離型電磁石１４．１５を、相互に対向配
置することにより、′＄検査材１２の端面に強い磁束の
流れ３３を発生させることが可能となる。
上記実施例に係るイ１θ気探傷装置１１によれば、被検
査材１２の内外面および端面の探傷を１台の装置によっ
て同時に行うことが可能となり、かつすべての方向の欠
陥を明瞭に検出することが可能となり、検査時間の大巾
短縮、操作の簡易化を達成することが可−能となる。
査材１２の内外面および端面の探傷を１台の装置によっ
て同時に行うことが可能となり、かつすべての方向の欠
陥を明瞭に検出することが可能となり、検査時間の大巾
短縮、操作の簡易化を達成することが可−能となる。
なお、本発明における複数極型電磁石は、上記実施例ζ
こおけるような３極型電磁石に限定されるものでない。
こおけるような３極型電磁石に限定されるものでない。
また、本発明は複数極型電磁石を被検査材１２の内外面
のそれぞれ複数位置に配置することにより、被検査材１
２に対する探傷領域を拡張可能とするものであり、複数
極型電磁石を」二記実施例におけるような内外面の各４
位置に配置する場合に限定するものではない。
のそれぞれ複数位置に配置することにより、被検査材１
２に対する探傷領域を拡張可能とするものであり、複数
極型電磁石を」二記実施例におけるような内外面の各４
位置に配置する場合に限定するものではない。
以上のように、本発明に係る磁気探傷装置によれは、簡
単かつ能率的に、また高精度で連続的に、管状被検査材
の内外面および端面の広い範囲で、あらゆる方向の欠陥
を検出することが可能となる。
単かつ能率的に、また高精度で連続的に、管状被検査材
の内外面および端面の広い範囲で、あらゆる方向の欠陥
を検出することが可能となる。
第１図は本発明の一実施例に係る磁気探傷装置を示す斜
視図、第２図は第１図の複数極型電磁石を示す斜視図、
第３図および第４図は複数極型電磁石の結線図、第５図
は３相交流の波形を示す線図、第６図は複数極型電磁石
に回転磁界を示すベクトル図、第７図は磁束の流れと欠
陥との関係を示す説明図、第８図は被検査材の内外面に
生ずる磁束の流れを示す説明図、第９図は被検査材の端
面に生ずる磁束の流れを示す説明図である。 １１ 磁気探傷装置、１２ 被検査材、１４゜１５３極
型電磁石。 代理人 弁理士 塩 川 修 治 第５図 第７図 第８図 第９図 １８Ｃ１１３Ａ １８Ｂ ２９２−
視図、第２図は第１図の複数極型電磁石を示す斜視図、
第３図および第４図は複数極型電磁石の結線図、第５図
は３相交流の波形を示す線図、第６図は複数極型電磁石
に回転磁界を示すベクトル図、第７図は磁束の流れと欠
陥との関係を示す説明図、第８図は被検査材の内外面に
生ずる磁束の流れを示す説明図、第９図は被検査材の端
面に生ずる磁束の流れを示す説明図である。 １１ 磁気探傷装置、１２ 被検査材、１４゜１５３極
型電磁石。 代理人 弁理士 塩 川 修 治 第５図 第７図 第８図 第９図 １８Ｃ１１３Ａ １８Ｂ ２９２−
Claims (1)
- （１）管状被検査材の内外面を、端面より長さ方向に渡
って複数位置に各々多極電磁石を対向して配置し、被検
査材を自軸まわりに回転して検査する磁気探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10016483A JPS59225348A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 磁気探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10016483A JPS59225348A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 磁気探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59225348A true JPS59225348A (ja) | 1984-12-18 |
Family
ID=14266672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10016483A Pending JPS59225348A (ja) | 1983-06-07 | 1983-06-07 | 磁気探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59225348A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002016923A1 (en) * | 2000-08-24 | 2002-02-28 | Shell Internationale Research Maatschappij B.V. | Detecting an anomaly in an object of electrically conductive material |
| JP2012198087A (ja) * | 2011-03-22 | 2012-10-18 | Denshi Jiki Kogyo Kk | 被検査体の磁化装置、磁粉探傷装置、被検査体の磁化装置の調整方法 |
| JP2013178280A (ja) * | 2013-06-18 | 2013-09-09 | Denshi Jiki Kogyo Kk | 被検査体の磁化装置の調整方法 |
| JP2016133345A (ja) * | 2015-01-16 | 2016-07-25 | 電子磁気工業株式会社 | 鋼管用磁化装置、磁粉探傷装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5667747A (en) * | 1979-11-08 | 1981-06-08 | Denshi Jiki Kogyo Kk | Magnetic powder flaw detector for steel pipe |
-
1983
- 1983-06-07 JP JP10016483A patent/JPS59225348A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5667747A (en) * | 1979-11-08 | 1981-06-08 | Denshi Jiki Kogyo Kk | Magnetic powder flaw detector for steel pipe |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002016923A1 (en) * | 2000-08-24 | 2002-02-28 | Shell Internationale Research Maatschappij B.V. | Detecting an anomaly in an object of electrically conductive material |
| US6538435B2 (en) | 2000-08-24 | 2003-03-25 | Shell Oil Company | Method for detecting an anomaly in an object of electrically conductive material along first and second direction at inspection points |
| JP2012198087A (ja) * | 2011-03-22 | 2012-10-18 | Denshi Jiki Kogyo Kk | 被検査体の磁化装置、磁粉探傷装置、被検査体の磁化装置の調整方法 |
| JP2013178280A (ja) * | 2013-06-18 | 2013-09-09 | Denshi Jiki Kogyo Kk | 被検査体の磁化装置の調整方法 |
| JP2016133345A (ja) * | 2015-01-16 | 2016-07-25 | 電子磁気工業株式会社 | 鋼管用磁化装置、磁粉探傷装置 |
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