JPS59181575U - 電子線装置における分析又は観察位置表示装置 - Google Patents

電子線装置における分析又は観察位置表示装置

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JPS59181575U
JPS59181575U JP7588783U JP7588783U JPS59181575U JP S59181575 U JPS59181575 U JP S59181575U JP 7588783 U JP7588783 U JP 7588783U JP 7588783 U JP7588783 U JP 7588783U JP S59181575 U JPS59181575 U JP S59181575U
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JP
Japan
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electron beam
sample
display device
analysis
position display
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Pending
Application number
JP7588783U
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English (en)
Inventor
小野 芳章
Original Assignee
日本電子株式会社
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Publication date
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の全体を示すための図、第2
図は陰極線管の全面に取り付けられたガイドを説明する
ための図、第3図は試料のインスタントカメラによる写
真撮影を説明するための図、第4図は分析すべき試料を
説明するための図、第5図は輝点の重畳された写真を例
示するための図である。 1・・・・・・電子銃、2・・・・・・電子線、3・・
・・・・集束レンズ、4・・・・・・対物レンズ、5・
・・・・・試料、6・・・・・・試料ステージ、7x、
  7y・・・・・・パルスモータ、8・・・・・・駆
動回路、9・・・・・・演算制御回路、10・・・・・
・入力袋   −置、11・・・・・・分光結晶、12
・・・・・・X線検出器、13.20.22X、22Y
・・・・・・増幅器、14・・・・・・計数回路、15
・・・・・・表示装置、16・・・・・・偏向コイル、
17・・・・・・走査信号発生回路、18.23・・・
・・・陰極線管、19・・・・・・二次電子検出器、2
1x。 21Y・・・・・・DA変換器、24・・・・・・定電
圧源、25・・・・・・ガイド、K・・・・・・インス
タントカメラ、F・・・・・・写真。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 細く絞られた電子線を試料に照射する手段と、該電子線
    の試料への照射によって試料より得られる荷電粒子又は
    放射線を検出する手段と、電子線の試料面上における照
    射位置又は領域を相対的に移動させるための試料移動手
    段とを備えた装置において、陰極線管と、該陰極線管の
    画面内の該電子線の試料面上における照射位置又は領域
    に応じた位置にマークを表示するための手段と、該陰極
    線管画面に試料表面の写真を取り付ける手段とを具備す
    ることを特徴とする電子線装置における分析又は観察位
    置表示装置。
JP7588783U 1983-05-20 1983-05-20 電子線装置における分析又は観察位置表示装置 Pending JPS59181575U (ja)

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