JPS59176616A - 電磁超音波厚さ測定装置 - Google Patents
電磁超音波厚さ測定装置Info
- Publication number
- JPS59176616A JPS59176616A JP5050183A JP5050183A JPS59176616A JP S59176616 A JPS59176616 A JP S59176616A JP 5050183 A JP5050183 A JP 5050183A JP 5050183 A JP5050183 A JP 5050183A JP S59176616 A JPS59176616 A JP S59176616A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- output
- echo
- peak value
- coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
- G01B17/02—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness
- G01B17/025—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness for measuring thickness of coating
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（利用分野）
本発明は１０．砂原音波１１さく１１１定装置に関する
ものであり、特に金属被検材の肉厚およびその上の塗装
膜厚を１ｉｌｌｌ定することのできろ軌磁超音波厚さ測
定装置に１３■するものである。
ものであり、特に金属被検材の肉厚およびその上の塗装
膜厚を１ｉｌｌｌ定することのできろ軌磁超音波厚さ測
定装置に１３■するものである。
（背 景）
石油化学、原子カプラント等においては、ｌンク、７−
／ング、配管等の減肉や、その上の塗装膜厚の計測なま
、安全性の確保上、きわめて重快な項目となっており、
消防法等においても塗装膜厚さ、肉厚等の規制が行なわ
れている。
／ング、配管等の減肉や、その上の塗装膜厚の計測なま
、安全性の確保上、きわめて重快な項目となっており、
消防法等においても塗装膜厚さ、肉厚等の規制が行なわ
れている。
従来、この塗装膜厚ｏｊ定及び肉厚計測は各々別個の肢
仮により行なわれている。
仮により行なわれている。
鋼材上の塗装膜厚さを測定する装置としては、第１図に
示すものが知られている。
示すものが知られている。
すなわち、鋼材碌どの被検材５の上の塗装膜４上に、鉄
心２を有するコイル３を設置し、これを交流電源１で励
磁する。
心２を有するコイル３を設置し、これを交流電源１で励
磁する。
このとき、コイル３に流れる′１流をＩとすると、塗装
膜４の厚さＤにより、コイル３のインダクタンスが変化
する１、このため、塗装膜厚さＤと電流Ｉとの関係は第
２図のよう−になる。
膜４の厚さＤにより、コイル３のインダクタンスが変化
する１、このため、塗装膜厚さＤと電流Ｉとの関係は第
２図のよう−になる。
故に、屯流工の値に基づいて厚さＤを計測することが・
できる。これが従来の塗装膜計測器の原理である。
できる。これが従来の塗装膜計測器の原理である。
このような従来の塗装膜厚測定装置は、塗装膜厚さによ
るコイルインダクタンスの変化を計測の原理としている
ため、塗装膜下の金属は強磁性材でなければ使用できな
いといり大きな欠点がある。
るコイルインダクタンスの変化を計測の原理としている
ため、塗装膜下の金属は強磁性材でなければ使用できな
いといり大きな欠点がある。
一方、被検材の肉厚 を計測するには、圧電素子を用い
た葬音波厚さ計が広く用いられている。
た葬音波厚さ計が広く用いられている。
し刀・し、この場合には、金属狡面と厚さ肘用プローブ
との間に塗１１！□（、ｆｆ１Ｌスケール等の被Ｂへが
あると、正確な測定が出来ない。、このために、肉厚測
定の１こびに該被膜を除去しなければならず、この被膜
除去作泉に多大の経費と時間を要している。
との間に塗１１！□（、ｆｆ１Ｌスケール等の被Ｂへが
あると、正確な測定が出来ない。、このために、肉厚測
定の１こびに該被膜を除去しなければならず、この被膜
除去作泉に多大の経費と時間を要している。
したがって、前記被検材表面の被膜を除去することなく
、正確に被検材の肉厚を測定出来る厚さ計の開発が強く
望′まれ又いる。
、正確に被検材の肉厚を測定出来る厚さ計の開発が強く
望′まれ又いる。
こり上うなニーズに応じるものとして１（Ｔ、磁超音波
ケ用いた厚さｈｌがある。以下その動作ＬＳ＜理を説明
する。
ケ用いた厚さｈｌがある。以下その動作ＬＳ＜理を説明
する。
第３図の１０は探触子またはグローブで、金６捷たけ被
検利５の表面に静磁界を発生させるコイル（励磁コイル
）１１と、超音波の送受信に用いルコイ／’ （ｒＡ受
（ｔ コイル）Ｉ２と〃・らイアを成される。
検利５の表面に静磁界を発生させるコイル（励磁コイル
）１１と、超音波の送受信に用いルコイ／’ （ｒＡ受
（ｔ コイル）Ｉ２と〃・らイアを成される。
励磁コイル１１により、被検材５０表面に垂１ａに磁束
密度Ｂなる静磁界を与え、送受信コイル１２に高周波パ
ルス電流Ｉｔを流すことにょシ被検材（金属）５０表面
に渦電流１ｅを発生させる。
密度Ｂなる静磁界を与え、送受信コイル１２に高周波パ
ルス電流Ｉｔを流すことにょシ被検材（金属）５０表面
に渦電流１ｅを発生させる。
この渦電流Ｉｅと前記磁界Ｂにより、フレミングの左手
の法則に基ずくローレンッカＦが被検材に働き、機械的
変位（超音波）が被検材５０表面に発生する。
の法則に基ずくローレンッカＦが被検材に働き、機械的
変位（超音波）が被検材５０表面に発生する。
該超音波は被検材５中を垂直に、厚さ方向に伝搬し、裏
面にて反射し、再び表面に戻ってぐる。
面にて反射し、再び表面に戻ってぐる。
戻って来た超音波は、静磁界Ｂとの相互作用により、フ
レミングの右手の法則に基づく起電力を生じ、被検材５
０表面に再び渦電流Ｉｅ’を発生させる。
レミングの右手の法則に基づく起電力を生じ、被検材５
０表面に再び渦電流Ｉｅ’を発生させる。
そして、さらに該渦電流Ｉｅ’の振動周波数に応じた磁
界を発生する。この磁界を送受信コイル１２によりＶｒ
なる１圧として受信する。
界を発生する。この磁界を送受信コイル１２によりＶｒ
なる１圧として受信する。
上記の説明から明ら矛・なように、電磁超音波による厚
み測定では、被検材５０表面に被Ｍ４があっても、超音
波は直接、成磁カにょシ被検材５の表面に発生するので
、被膜４は被検材１の肉厚を１Ｈ＋Ｊ定する障害となら
ない３、 しか１−１この様な電磁超音波を用いて肉厚〒７１１１
戻する１４合にも、以下に説明するような欠点がろつ
ブこ 。
み測定では、被検材５０表面に被Ｍ４があっても、超音
波は直接、成磁カにょシ被検材５の表面に発生するので
、被膜４は被検材１の肉厚を１Ｈ＋Ｊ定する障害となら
ない３、 しか１−１この様な電磁超音波を用いて肉厚〒７１１１
戻する１４合にも、以下に説明するような欠点がろつ
ブこ 。
ｔぞ来装置に訃いては、第４図に示した様に、送信時点
より、被塗材底面からの反射波（第１底面エコー）Ｂｌ
が設定値ｖｔｈと交わる点壕での時間ｔを計θ１１
シ、該時間ｔの歿に音速を掛けて肉厚Ｗをｒ出している
１、 なお、第４図において、横軸は時間、縦１１１＋＋はＧ
受（ＩＮコイル１２に受信ぜれる信号のエコー重圧であ
る。壕だ、Ｔは直接波による信号屯圧でめる。
より、被塗材底面からの反射波（第１底面エコー）Ｂｌ
が設定値ｖｔｈと交わる点壕での時間ｔを計θ１１
シ、該時間ｔの歿に音速を掛けて肉厚Ｗをｒ出している
１、 なお、第４図において、横軸は時間、縦１１１＋＋はＧ
受（ＩＮコイル１２に受信ぜれる信号のエコー重圧であ
る。壕だ、Ｔは直接波による信号屯圧でめる。
この様なρｂ作原理のべ磁超音波厚さ計を用いて、塗装
膜上より肉厚計測を行なう場合、塗装膜の厚さによって
」り定誤差が生じるという欠点がある。
膜上より肉厚計測を行なう場合、塗装膜の厚さによって
」り定誤差が生じるという欠点がある。
これは第５図の塗装膜厚さＤ （１Ｍ軸）とエコー内、
圧（＃？ｉ軸）どの関係ｎ０Ｌ１ がら分る様に、塗
装膜の厚さＤ（即ちギャップ）が厚くなると、第４図拠
点線で示したように、底面エコーが小さくなり、これに
伴って、計測時間がΔｔ だけ変化することによるもの
である。
圧（＃？ｉ軸）どの関係ｎ０Ｌ１ がら分る様に、塗
装膜の厚さＤ（即ちギャップ）が厚くなると、第４図拠
点線で示したように、底面エコーが小さくなり、これに
伴って、計測時間がΔｔ だけ変化することによるもの
である。
（目 的）
本発明は、上記のような従来技術のもつ欠点を除去し、
塗装膜下の被検材が導電性であれば、塗装膜及び被検材
の厚さを共に計ｆｉｌ＋することのできる紙磁超音波厚
さ計を提供するものである。
塗装膜下の被検材が導電性であれば、塗装膜及び被検材
の厚さを共に計ｆｉｌ＋することのできる紙磁超音波厚
さ計を提供するものである。
（概 要）
本発明の特長とするところは、電磁超音波の受信（エコ
ー）信号の大きさくレベル）が、塗装膜厚さによって一
義的に決まることを利用して塗装膜厚さを計測し、また
、被検材上に電磁超音波が直接発生することを利用して
被検材厚さを計測するようにした点にある。
ー）信号の大きさくレベル）が、塗装膜厚さによって一
義的に決まることを利用して塗装膜厚さを計測し、また
、被検材上に電磁超音波が直接発生することを利用して
被検材厚さを計測するようにした点にある。
（実施例）
以下、本発明の具体的実施例について説明する。
第６図はその実施例のブロック図で、同図中、第３図と
同一の符号は、同−凍だは同等部分をあられしている１
、 励磁コイル１１は励磁電源１３に、また、送受信コイル
１２はパルス発生器１４及びアンプ１５に接続されてい
る１、アンプ１５の出力は検波器１６に接続され、検波
器１６の出力は、ピークホールド器１７及びエコ一時間
−厚さ変換器１９へ接続されている。
同一の符号は、同−凍だは同等部分をあられしている１
、 励磁コイル１１は励磁電源１３に、また、送受信コイル
１２はパルス発生器１４及びアンプ１５に接続されてい
る１、アンプ１５の出力は検波器１６に接続され、検波
器１６の出力は、ピークホールド器１７及びエコ一時間
−厚さ変換器１９へ接続されている。
ピークホールド器１７の出力は、スイッチ２３及びエコ
ー［ζ圧−膜厚変換器１８に接続されている４、エコ一
時同一厚さ変換器１９及びエコー「ＩＬ圧＝ｉｆ％厚変
換器１８の各出力は、切替スイッチ２２を介して、我示
器２０に接続されている。
ー［ζ圧−膜厚変換器１８に接続されている４、エコ一
時同一厚さ変換器１９及びエコー「ＩＬ圧＝ｉｆ％厚変
換器１８の各出力は、切替スイッチ２２を介して、我示
器２０に接続されている。
スイッチ２３は差動アンプ２１の−っの入力端に接続さ
れ、差動アンプ２１の他の入力端には設定電圧ｖｇｏが
入力されている。差動アンプ２１の出力は、アンプ１５
ヘフイードバツクされ、差動アンプの出力に応じてアン
プ１５のゲインが変化し、検波器１６のピーク値が一定
に保持されるようになっている。
れ、差動アンプ２１の他の入力端には設定電圧ｖｇｏが
入力されている。差動アンプ２１の出力は、アンプ１５
ヘフイードバツクされ、差動アンプの出力に応じてアン
プ１５のゲインが変化し、検波器１６のピーク値が一定
に保持されるようになっている。
なお、前記の２つのスイッチ２２．２３は連動しておシ
、図示のように、スイッチ２２がエコ一時間−厚さ変換
器１９に切替えられているとき、切替スイッチ２３は閉
成される、１ このような構成をもつ装置の動作を、以下に説明する。
、図示のように、スイッチ２２がエコ一時間−厚さ変換
器１９に切替えられているとき、切替スイッチ２３は閉
成される、１ このような構成をもつ装置の動作を、以下に説明する。
励磁電源１３により励磁コイル１１を励磁した状態で、
送受信コイル１２をパルス発生器１４によりパルス励磁
すると、第３図に関して前述したように、電磁超音波が
被検材５の表向に発生する。。
送受信コイル１２をパルス発生器１４によりパルス励磁
すると、第３図に関して前述したように、電磁超音波が
被検材５の表向に発生する。。
この場合の受信波形、すなわち、検波器１６の出力波形
は、前記した第４図のようになる。ここで、エコー信号
Ｂｌ（第１底面エコー）のピーク値とｉ′ｒＬ装膜厚さ
Ｄとの間には、前述したように、第５図に示したような
関係がちる。すなわち、エコｆｉｊ号のピーク値１．３
かわかれば、塗装膜厚さＤり知ることがてきるー ・Ｌれ故に、第６図の装置にお−いて、スイッチ２２を
エコーＩル圧−膜厚変換器１８のザ１１へ切替え、スイ
ソブー２３ ’；ｉ：オフにしておけば、ピークホール
ド器１７の出力は、エコーｉｌｌ圧−膜厚変換？、″！
１１８（＋１一体的には、例えは、第５図にボしたグラ
フを記１、へしたメ七す回路よりなることができる）を
へて、表示器２０へ伝送され、塗装膜４の厚さＤが表示
される。
は、前記した第４図のようになる。ここで、エコー信号
Ｂｌ（第１底面エコー）のピーク値とｉ′ｒＬ装膜厚さ
Ｄとの間には、前述したように、第５図に示したような
関係がちる。すなわち、エコｆｉｊ号のピーク値１．３
かわかれば、塗装膜厚さＤり知ることがてきるー ・Ｌれ故に、第６図の装置にお−いて、スイッチ２２を
エコーＩル圧−膜厚変換器１８のザ１１へ切替え、スイ
ソブー２３ ’；ｉ：オフにしておけば、ピークホール
ド器１７の出力は、エコーｉｌｌ圧−膜厚変換？、″！
１１８（＋１一体的には、例えは、第５図にボしたグラ
フを記１、へしたメ七す回路よりなることができる）を
へて、表示器２０へ伝送され、塗装膜４の厚さＤが表示
される。
このようにして塗装膜４の厚さを計測した後１、スイッ
チ２２を時間−厚さ変換器１９の側へ切替え、スイッチ
２３をオンとし、ピークホールド器１７の出力を差動ア
ンプ１５にフィードバックする。ｌ このようにすると、差動アンプ１５は、ピークホールド
器１７の出力が設定値ｖｇｏと一致するように作動する
。すなわち、検波器１６の出力であるエコー信号の大き
さは一定となる。
チ２２を時間−厚さ変換器１９の側へ切替え、スイッチ
２３をオンとし、ピークホールド器１７の出力を差動ア
ンプ１５にフィードバックする。ｌ このようにすると、差動アンプ１５は、ピークホールド
器１７の出力が設定値ｖｇｏと一致するように作動する
。すなわち、検波器１６の出力であるエコー信号の大き
さは一定となる。
この状態で、検波器１６の出力をエコ一時間−厚さ変換
器１９（第４図の時間ｔを計測し、これを長さまたは厚
さに変換する回路で、具体的には、例えば、クロックカ
ウンターと、カウント数を長さに変換するメモリ回路と
よりなることができる）に供給し、被検材５の厚さを検
出する。厚さを表わす信号は、スイッチ２２を介して表
示器２０へ伝送されるので、表示器２０には被検材５の
厚さＷが表示される４、 こ＼で、エコー信号の大きさまたはレベルを一定にする
のは、第４図に関して前述したよりに、エコー信号の大
きさによって、エコ一時間ｔがΔｔだけ変化し、厚さ計
測上の誤差となることを防止するためである。） なお、以上においては、ピークホールド器１７の出力レ
ベルを一定にするために、増幅器１５の利得を変化させ
たが、底面エコーのレベル制卸の他の方法として、プロ
ーブ内の励磁コイルの励磁ｆ’ｃ ′ｆ！：制御したり
、あるいは、送受信コイルの励磁分を制御したりしても
、同様の目的を達することができるのは訂うまでもない
。
器１９（第４図の時間ｔを計測し、これを長さまたは厚
さに変換する回路で、具体的には、例えば、クロックカ
ウンターと、カウント数を長さに変換するメモリ回路と
よりなることができる）に供給し、被検材５の厚さを検
出する。厚さを表わす信号は、スイッチ２２を介して表
示器２０へ伝送されるので、表示器２０には被検材５の
厚さＷが表示される４、 こ＼で、エコー信号の大きさまたはレベルを一定にする
のは、第４図に関して前述したよりに、エコー信号の大
きさによって、エコ一時間ｔがΔｔだけ変化し、厚さ計
測上の誤差となることを防止するためである。） なお、以上においては、ピークホールド器１７の出力レ
ベルを一定にするために、増幅器１５の利得を変化させ
たが、底面エコーのレベル制卸の他の方法として、プロ
ーブ内の励磁コイルの励磁ｆ’ｃ ′ｆ！：制御したり
、あるいは、送受信コイルの励磁分を制御したりしても
、同様の目的を達することができるのは訂うまでもない
。
（効 果）
以上の説明から明らかなように、本発明によれに１１次
のような効果が達成される。
のような効果が達成される。
（１） ただ−個の装置で、スイッチを切替えるたけ
で、被検金属材の肉厚と、その上に設けられた塗装膜厚
の両者を、それぞれ独立に測定することができる１゜ （２）被検材の厚さ測定誤差を低減することができる。
で、被検金属材の肉厚と、その上に設けられた塗装膜厚
の両者を、それぞれ独立に測定することができる１゜ （２）被検材の厚さ測定誤差を低減することができる。
第１図は従来の塗装膜厚さ測定装置の原理的構成図、第
２図は第１図におけるコイル亀流Ｉと膜厚りとの関係を
示す図、第３図は亀磁超自邊厚み計の原理的構成図、第
４図は受信エコー・１圧レベルとエコー受信時間との関
係を示す図、第５図は醜磁超音波厚み計における受信エ
コー亀圧レベルと塗装膜厚りとの関係を示す図、第６図
は本発明の一実施例のブロック図である。 ４・・・塗装膜、５・・・被検材（会＾）、１０・・・
探触子、１１・・・励磁コイル、１２・・・送受信コイ
ル、１３・・・励磁電源、１４・・・パルス発生器、１
５・・・アンプ、１６・・・検波器、１７・・・ピーク
ホールド器、１８・・・エコー電圧−膜厚変換器、１９
・・・エコ一時間−厚さ夏換器、２０・・・表示器、２
１・・・差動アンプ 代理人弁理士 平 木 道 人 オ １ Ｎ 才３図 第２図 ■ 第５図 １ す共成ルさ ２４ 悶 ２６図
２図は第１図におけるコイル亀流Ｉと膜厚りとの関係を
示す図、第３図は亀磁超自邊厚み計の原理的構成図、第
４図は受信エコー・１圧レベルとエコー受信時間との関
係を示す図、第５図は醜磁超音波厚み計における受信エ
コー亀圧レベルと塗装膜厚りとの関係を示す図、第６図
は本発明の一実施例のブロック図である。 ４・・・塗装膜、５・・・被検材（会＾）、１０・・・
探触子、１１・・・励磁コイル、１２・・・送受信コイ
ル、１３・・・励磁電源、１４・・・パルス発生器、１
５・・・アンプ、１６・・・検波器、１７・・・ピーク
ホールド器、１８・・・エコー電圧−膜厚変換器、１９
・・・エコ一時間−厚さ夏換器、２０・・・表示器、２
１・・・差動アンプ 代理人弁理士 平 木 道 人 オ １ Ｎ 才３図 第２図 ■ 第５図 １ す共成ルさ ２４ 悶 ２６図
Claims (4)
- （１）被検材に静磁界を与える′電磁石、および前記被
検材にＮ！’ｈ ′ｌｉ流を発生させる送受信コイルを
内蔵する１１磁超音波探触子と、前記送受（Ｊコイルに
受信ぼれたエコー電圧を増幅検波する増幅検波器と、そ
の検波出力のピーク値を保持するピークホールド器と、
エコー電圧のピーク値および被検材表面の塗装膜厚さ間
の関係を記憶し、前記エコー電圧ピーク値の人力に応じ
て前記塗装膜厚さケ表わす信号を出力するエコー区圧−
膜厚変換器とを具備したことを特徴とする電磁超音波厚
さ測定装置。 - （２）被検材に靜磁界を与える電磁石、および前記被検
材に渦電流を発生させる送受信コイルを内蔵する電磁超
音波探触子と、前記送受信コイルに受信されたエコー電
圧を増幅検波する増幅検波器と、その検波出力のピーク
値を保持するピークホールド器と、前記ピーク値を基準
値と比較する手段と、前記比較手段の差出力に応じて、
増幅検波器の出力を制御し、前記差出力を零にする手段
と、前記送受信コイルに送信信号が供給されて刀・らエ
コー電圧が受信される址でのエコ一時１ｆｊ＋を計測す
る手段と、前記エコ一時間および仮構材厚さ間の関係を
記憶し、前記エコ一時間の入力に応じてＦ４１ｊ記被検
材厚さを表わす記号を出力するエコ一時間−厚さ変換器
とを具備したｌｌ！磁超音波厚さ測定装置。 - （３）検波器の出力を制御する手段は、比較手段の差出
力に応じて、受信エコー電圧の増幅度を制御するもので
あることを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の電磁
超音波厚さ測定装置。 - （４）検波器の出力を制御する手段は、比較手段の差出
力に応じて、送受信コイルへの送信信号電流を制御する
ものであることを特徴とする特許Ｃｒｔ求のり・１ｊ、
間第２項記載の屯磁超音波厚さ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5050183A JPS59176616A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 電磁超音波厚さ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5050183A JPS59176616A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 電磁超音波厚さ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59176616A true JPS59176616A (ja) | 1984-10-06 |
Family
ID=12860693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5050183A Pending JPS59176616A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 電磁超音波厚さ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59176616A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0196020A2 (de) * | 1985-03-27 | 1986-10-01 | Pipetronix GmbH | Molch für elektromagnetische Prüfungen an Rohrleitungswandlungen aus Stahl sowie Verfahren hierzu |
| KR20150080029A (ko) * | 2013-01-22 | 2015-07-08 | 신닛테츠스미킨 카부시키카이샤 | 결함 위치 보정 방법 |
-
1983
- 1983-03-28 JP JP5050183A patent/JPS59176616A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0196020A2 (de) * | 1985-03-27 | 1986-10-01 | Pipetronix GmbH | Molch für elektromagnetische Prüfungen an Rohrleitungswandlungen aus Stahl sowie Verfahren hierzu |
| KR20150080029A (ko) * | 2013-01-22 | 2015-07-08 | 신닛테츠스미킨 카부시키카이샤 | 결함 위치 보정 방법 |
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