JPS59171195A - セラミツク多層配線基板の製造法 - Google Patents
セラミツク多層配線基板の製造法Info
- Publication number
- JPS59171195A JPS59171195A JP4427683A JP4427683A JPS59171195A JP S59171195 A JPS59171195 A JP S59171195A JP 4427683 A JP4427683 A JP 4427683A JP 4427683 A JP4427683 A JP 4427683A JP S59171195 A JPS59171195 A JP S59171195A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- ceramic
- conductor
- metal
- conductor layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Laminated Bodies (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は混成集積回路111)品に便用びれるセラミッ
ク多増配繰シル板の製造法に関する。
ク多増配繰シル板の製造法に関する。
従来、混成、貼槓回路基板の製り法として、第1図に示
すようにセラミッククリーンシート1」−にタングステ
ンあるいはモリブテン寺の高融点金属を主成分とする第
1の導体層2、その第1の導体層2上に導体層2に一部
を開[1する絢にイ層3を印Wll jビ成した後還元
界凹気で焼成し、次いで第1の心体層2の開口部および
絶縁層3上に帳等の厚膜なメ体ペーストを印刷し酸化雰
囲気で焼成して・1へ2の六メイ1\j曽4をjレバ見
してセラミック授j曽11已牟V−西板を得ることか知
られている。
すようにセラミッククリーンシート1」−にタングステ
ンあるいはモリブテン寺の高融点金属を主成分とする第
1の導体層2、その第1の導体層2上に導体層2に一部
を開[1する絢にイ層3を印Wll jビ成した後還元
界凹気で焼成し、次いで第1の心体層2の開口部および
絶縁層3上に帳等の厚膜なメ体ペーストを印刷し酸化雰
囲気で焼成して・1へ2の六メイ1\j曽4をjレバ見
してセラミック授j曽11已牟V−西板を得ることか知
られている。
ところか、第2の等体層4は醸化ネ゛rv+1気でi+
L成されるため第1の導体層2がm化されて1区気抵抗
がj−,6<なり、l昆成集槓1jil屑5基板として
は小1同のものになる。
L成されるため第1の導体層2がm化されて1区気抵抗
がj−,6<なり、l昆成集槓1jil屑5基板として
は小1同のものになる。
このため、第1の導体層2の開L1部に<IP、寺のI
’ll l眠化11−の貞玉り民のメッキを凪したり、
第1の)!41」−僧2の組成を剛ID化性にする試み
か(が案されている。ところか、メッキする方法では金
メッキ)−゛を2μにしてもjY膜ペーストの焼成温度
を700’C以上にすると、4第1の導体Wrが1我化
され、また、第1の導体層2に白金を添加した組成にし
ても、焼成温度を650″C以上にすると、第1の導体
j曽が酸化されて混成集積回路基板としては不遊、なも
のであった。
’ll l眠化11−の貞玉り民のメッキを凪したり、
第1の)!41」−僧2の組成を剛ID化性にする試み
か(が案されている。ところか、メッキする方法では金
メッキ)−゛を2μにしてもjY膜ペーストの焼成温度
を700’C以上にすると、4第1の導体Wrが1我化
され、また、第1の導体層2に白金を添加した組成にし
ても、焼成温度を650″C以上にすると、第1の導体
j曽が酸化されて混成集積回路基板としては不遊、なも
のであった。
従って、第2の導体197に(fJ川できる捏膜ベーイ
ト′−′選択4CtltlJ限があるものでありた・
:、。
ト′−′選択4CtltlJ限があるものでありた・
:、。
本発明はtiii記のような□欠点を11? <する及
”Qv 6を成されたもので、にIr 出!点金椙を主
成分とするうび体層が収りられたセラミック竺仮にJ!
z−ll’s al:4体)!1を眠化巷囲気で幻’8
)況して得られるセラミック多j曽自じ梅^古板の製造
法において、篩融点金J((iを主成分とする導体)曽
にニッケルメッキし、次いでそのニッケルメッキ上に少
なくとも銀些るいは金を9も貝金民Wjを形成後熱処理
によりその貞金桓j曽を、)ti融し、その溶融(され
たC1金属ハリ上に147.族尋捧僧を印#1ilJ
L%爾化称し!」気で戊或するセラミック多jすl門已
線恭板の製造法である。
”Qv 6を成されたもので、にIr 出!点金椙を主
成分とするうび体層が収りられたセラミック竺仮にJ!
z−ll’s al:4体)!1を眠化巷囲気で幻’8
)況して得られるセラミック多j曽自じ梅^古板の製造
法において、篩融点金J((iを主成分とする導体)曽
にニッケルメッキし、次いでそのニッケルメッキ上に少
なくとも銀些るいは金を9も貝金民Wjを形成後熱処理
によりその貞金桓j曽を、)ti融し、その溶融(され
たC1金属ハリ上に147.族尋捧僧を印#1ilJ
L%爾化称し!」気で戊或するセラミック多jすl門已
線恭板の製造法である。
本失明の詳細を1.第2図にボずフローチャートおよび
第8図の侮戒1に従つ、て本釦1すjの方法を各工程ご
とに順次説明する。
第8図の侮戒1に従つ、て本釦1すjの方法を各工程ご
とに順次説明する。
まず、アルミナ、ベリリア等を主成分とするセラミック
グリーンシートを公知のドクターブレード法等によって
調整し、混成集積回路A(板として必要な寸法にしたセ
ラミックグリーンシートlを県” 1iifiするみ 竺1.ψ゛1・ 夕′グX f >・197′f′等0
尚)&Ii点−1すなわちセラミックグリーンシートの
焼成温度よりも融点が萬<かつ電気抵りしが小さい<1
≧杓工を主成分とする専真もペースト、を、呻整、’L
(1,1til記のセラミックグリーンシートl上にス
クリーン印刷あるいは転写印刷により所要の回路パター
ンとなる第1の導体層2を印刷する。
グリーンシートを公知のドクターブレード法等によって
調整し、混成集積回路A(板として必要な寸法にしたセ
ラミックグリーンシートlを県” 1iifiするみ 竺1.ψ゛1・ 夕′グX f >・197′f′等0
尚)&Ii点−1すなわちセラミックグリーンシートの
焼成温度よりも融点が萬<かつ電気抵りしが小さい<1
≧杓工を主成分とする専真もペースト、を、呻整、’L
(1,1til記のセラミックグリーンシートl上にス
クリーン印刷あるいは転写印刷により所要の回路パター
ンとなる第1の導体層2を印刷する。
次に、第1 (Q導体f@ F Mr 7部を開口する
ようにその導体層2上に絶縁ペーストをスクリーン印刷
あるいは転写印刷に、より絶縁層3を形成する。紬l隊
j曽8によつ、て開口さ、才し、た第1の導体J曽は、
候で凸;明するように第2の導体・増と電気的に接続す
るため、のものである。絶縁ペーストとしてはセラミッ
ク、・グリーンシー・トと同一成分のものが用いられる
。
ようにその導体層2上に絶縁ペーストをスクリーン印刷
あるいは転写印刷に、より絶縁層3を形成する。紬l隊
j曽8によつ、て開口さ、才し、た第1の導体J曽は、
候で凸;明するように第2の導体・増と電気的に接続す
るため、のものである。絶縁ペーストとしてはセラミッ
ク、・グリーンシー・トと同一成分のものが用いられる
。
第1の導体層および絶縁層はそれぞれ1層に限られるも
のではなく、例えは第41図に示すように導体層を俵数
層2,2、絶縁層を核数層8,8としてもよい。この場
合導体層間を′Ti、I+気的に接続する開口部は第1
の導体jダjと同一の成分を、以て形成される。
のではなく、例えは第41図に示すように導体層を俵数
層2,2、絶縁層を核数層8,8としてもよい。この場
合導体層間を′Ti、I+気的に接続する開口部は第1
の導体jダjと同一の成分を、以て形成される。
第1の−Vチ体j1すと絶縁層とか印刷されたセラミッ
クグリーンシートを爾うじイ)囲気ア、焼戒する0(C
成条件はセラミッククリーンシートの組IJ’lr l
、l i’+71 融点金属ペーストの成分により定め
られるが、14(10“C〜1800“′Cで5分〜1
.80り1である。
クグリーンシートを爾うじイ)囲気ア、焼戒する0(C
成条件はセラミッククリーンシートの組IJ’lr l
、l i’+71 融点金属ペーストの成分により定め
られるが、14(10“C〜1800“′Cで5分〜1
.80り1である。
焼成後、絶縁層の開口1′11へ、にt1テtυ1づ”
、る第1の導体In Z上にニッケルメッキにより二・
ツケルメツキj曽5を形成する。ニッケルメッキする1
、’l! [tiはイ々で説明する直金属との6Mれ注
の同上をはかると共に第2の導体層を酸化券囲気中で焼
成°りるどきの第lの導体層の酸化Uj止、を図るため
で、ある。促って、ニッケルメッキの厚みは貴金属のイ
屯娘lとその熱処理温度、第2の得体J冑の焼成温度に
、よつ、て前足ずれはよいが、辿’R’S 175μで
ある。。ニッケルメッキは′曲解、無電解メッキ法のい
ずれかより、メッキ川屯極の安否により焙択される。。
、る第1の導体In Z上にニッケルメッキにより二・
ツケルメツキj曽5を形成する。ニッケルメッキする1
、’l! [tiはイ々で説明する直金属との6Mれ注
の同上をはかると共に第2の導体層を酸化券囲気中で焼
成°りるどきの第lの導体層の酸化Uj止、を図るため
で、ある。促って、ニッケルメッキの厚みは貴金属のイ
屯娘lとその熱処理温度、第2の得体J冑の焼成温度に
、よつ、て前足ずれはよいが、辿’R’S 175μで
ある。。ニッケルメッキは′曲解、無電解メッキ法のい
ずれかより、メッキ川屯極の安否により焙択される。。
ニッケルメッキ後、ニッケノビメッキjt)とr:14
1の導体層との密着強度を向上するため800〜12
、fJ (!“C,I’+〜80分還元雰W1気中で熱
処理をしてもよい。
1の導体層との密着強度を向上するため800〜12
、fJ (!“C,I’+〜80分還元雰W1気中で熱
処理をしてもよい。
次いで、少なくとも鏝、興を含む面金柑を主成分とする
貴金属1tQ 6をニッケルメッキ層5」−に形成層]
、る。その方法としては、金桝あるいは合金箔を単にニ
ッケルメッキ層上に、載置する方法、メッキによ、り形
成する方法、銀、金を含む責金粕を主(Jλ分とする日
」刷、ペーストを以て形成する方法が採られる。印刷の
場合はその厚みは30μ岬度か>11δ切である。
。
貴金属1tQ 6をニッケルメッキ層5」−に形成層]
、る。その方法としては、金桝あるいは合金箔を単にニ
ッケルメッキ層上に、載置する方法、メッキによ、り形
成する方法、銀、金を含む責金粕を主(Jλ分とする日
」刷、ペーストを以て形成する方法が採られる。印刷の
場合はその厚みは30μ岬度か>11δ切である。
。
次いで、田金属層、6が警戒されたセラミック端板をに
テ1処理、する。熱処理渦楓は、貴金属jνflの成分
によく)か、ニッケルの俗#l!l!l晶反である14
FU”C以上であって俊記する第2の、llメ捧)vI
の彎成rAi’を度に1心して爪択される。が、貴金属
、B!Iが浴を庇するIJ U o〜1400”C,5
〜80.分で行う。
テ1処理、する。熱処理渦楓は、貴金属jνflの成分
によく)か、ニッケルの俗#l!l!l晶反である14
FU”C以上であって俊記する第2の、llメ捧)vI
の彎成rAi’を度に1心して爪択される。が、貴金属
、B!Iが浴を庇するIJ U o〜1400”C,5
〜80.分で行う。
々′覧処理されたセラミック晶板1..の山笠h41冑
6および絶縁)Wj B上に、銀等を主成分とするj%
L農々q ′ILLペーストによりIr安の回路パター
ンとなる第2の導体層7を印刷−4る。1liN2の導
体k・’、+ TJ・1,1.′il+、ペーストに限
られるものではなく、抵抗−<−=ストAs心四”にI
心して“Itlいることができる。
6および絶縁)Wj B上に、銀等を主成分とするj%
L農々q ′ILLペーストによりIr安の回路パター
ンとなる第2の導体層7を印刷−4る。1liN2の導
体k・’、+ TJ・1,1.′il+、ペーストに限
られるものではなく、抵抗−<−=ストAs心四”にI
心して“Itlいることができる。
ン入いで、 ■j^IIIIきねた第 2 の尋1杢j
冑s: t(、什1春[Ll」気でl:l去成して、セ
ラミック操ハ・i目己橿ンIIl基市(をイuく)。夫
□1、・成条件は1テj俣ペーストの一/)f(、−よ
るん・’700−8fiO’C,fi〜2(1分である
。
冑s: t(、什1春[Ll」気でl:l去成して、セ
ラミック操ハ・i目己橿ンIIl基市(をイuく)。夫
□1、・成条件は1テj俣ペーストの一/)f(、−よ
るん・’700−8fiO’C,fi〜2(1分である
。
実施例
セラミック成分として7′ルミナil O小t+j%の
他、シリカ、マグオ・シj”省のl+i> IJI口・
、ソとホt)ヒC−ルフーfラール省の楢機バインダー
を71(台じ、ドクターブレードθくにより厚み0.8
1n、;・、のセラミックグリーンシー ト全作成イグ
、でのセラミッククリーンシー)Lにタングステン粉末
98虫爪%、シリカ211(1に%のメタライズ成分に
印刷助酌全加えたメタライズペーストを用いてスクリー
ン印刷によりii< 1の導体層を形成し、次いでセラ
ミックグリーンシートと同・の組成の絶縁ペーストを以
て目1]記の第1の導体層の俊記−イる一イ12の4≠
体層と電気的に接縁−するだめのI+′1径0.5mm
の開1−J 1fl−分を残してスクリーンl−11(
111Mより!(’t ’A Igi k形成1−、
krh、#’M +!”j fl !i℃の水%” ;
ly Uil K中で昇1品率3 (l fl ”C,
/ tL’rlfl 、15!i tl(、′、21L
’j 1iil I”fこ持後、降τif’l率++
Ll O’C/11.’+間で′焼結L2j’+’:(
1 ?入(、−1旭・紀、したセラミック基也の開[1都の
第1の/淳f本j曽上1J−1il朋化水累1合糸の)
(V′屯+1J”1メツA(、、二よりコノゲルl11
3μar出した。
他、シリカ、マグオ・シj”省のl+i> IJI口・
、ソとホt)ヒC−ルフーfラール省の楢機バインダー
を71(台じ、ドクターブレードθくにより厚み0.8
1n、;・、のセラミックグリーンシー ト全作成イグ
、でのセラミッククリーンシー)Lにタングステン粉末
98虫爪%、シリカ211(1に%のメタライズ成分に
印刷助酌全加えたメタライズペーストを用いてスクリー
ン印刷によりii< 1の導体層を形成し、次いでセラ
ミックグリーンシートと同・の組成の絶縁ペーストを以
て目1]記の第1の導体層の俊記−イる一イ12の4≠
体層と電気的に接縁−するだめのI+′1径0.5mm
の開1−J 1fl−分を残してスクリーンl−11(
111Mより!(’t ’A Igi k形成1−、
krh、#’M +!”j fl !i℃の水%” ;
ly Uil K中で昇1品率3 (l fl ”C,
/ tL’rlfl 、15!i tl(、′、21L
’j 1iil I”fこ持後、降τif’l率++
Ll O’C/11.’+間で′焼結L2j’+’:(
1 ?入(、−1旭・紀、したセラミック基也の開[1都の
第1の/淳f本j曽上1J−1il朋化水累1合糸の)
(V′屯+1J”1メツA(、、二よりコノゲルl11
3μar出した。
■’r’−、メッキしたセラミック基板を水素雰囲気中
(” 120 (1°CX3(1分熱処即後、第1表に
示ず1(金属組成のペーストを以て印刷)ψ、みが約3
(1μ(、−なるようG・−スクリーン印UilJし、
水素雰囲気中it 6 (1〜1400℃、i o〜3
0分それぞれの四金柁組成のぺ一=ストの融点にあわせ
て、貴金属を浴かした。
(” 120 (1°CX3(1分熱処即後、第1表に
示ず1(金属組成のペーストを以て印刷)ψ、みが約3
(1μ(、−なるようG・−スクリーン印UilJし、
水素雰囲気中it 6 (1〜1400℃、i o〜3
0分それぞれの四金柁組成のぺ一=ストの融点にあわせ
て、貴金属を浴かした。
仏に、j!膜導1毬ペーストである銀−白金4ミペース
ト(昭和化学製品番D −4021)および銀−パラジ
ウム糸ペースト(昭和化学製品番D−4・34・4・)
をそれぞれシルクスクリーン印刷した後、(i;M −
E、(金糸ベースl−(D −402L )を印刷した
ものは、空気中で700°C110分、銀−パラジウム
糸ペース) (D−4344)を印刷したものは、空気
中で850’C,1(1分焼成し、第5図C1丁円くす
ように第1の導体1・i・72 A−に各々第2の導体
層・t、4・がte数設けたセラミック多層配線基板を
得た。
ト(昭和化学製品番D −4021)および銀−パラジ
ウム糸ペースト(昭和化学製品番D−4・34・4・)
をそれぞれシルクスクリーン印刷した後、(i;M −
E、(金糸ベースl−(D −402L )を印刷した
ものは、空気中で700°C110分、銀−パラジウム
糸ペース) (D−4344)を印刷したものは、空気
中で850’C,1(1分焼成し、第5図C1丁円くす
ように第1の導体1・i・72 A−に各々第2の導体
層・t、4・がte数設けたセラミック多層配線基板を
得た。
本元明ど比較−4るため、−1−記のセラミック多層配
相1 )+1−板とは別G、六第1の8メ体層2のhを
jヒ成したものと第1の導体)廖42J:6.に′ン〃
ルメ′ンキへした後熱処理したものとをそれぞれ一1―
記のセラミック多層配杓!基板と同じ厚膜、+4’p宙
、ペー ストを以て第2の導体層を形成したものを作I
J児した。
相1 )+1−板とは別G、六第1の8メ体層2のhを
jヒ成したものと第1の導体)廖42J:6.に′ン〃
ルメ′ンキへした後熱処理したものとをそれぞれ一1―
記のセラミック多層配杓!基板と同じ厚膜、+4’p宙
、ペー ストを以て第2の導体層を形成したものを作I
J児した。
このようにして−イ;Jられたーヒラミ゛ンク多j曽自
己線基板の第2(ハ導体層間のT狂気抵抗を1.1il
l定した。その結果を第1表に13e i’ 。
己線基板の第2(ハ導体層間のT狂気抵抗を1.1il
l定した。その結果を第1表に13e i’ 。
\
\、
\
\\、
\8、
\
第 1 表
第1表から明らかなように、本つ1;明によって得られ
るセラミック多M配線基扱は第2の導体層、すなわち厚
膜ペーストを以てII &1ilj 、 l+ン化ざy
囲気中で焼成形成される回路パターンは、fIL気抵わ
しが小さく、シかも方法が従来セラミック多j冒配線基
板の製造に使用されている設備で容易に実Mt+、でき
る方法であって、電子工業の発展に1t↑与する1す[
大なるものである。
るセラミック多M配線基扱は第2の導体層、すなわち厚
膜ペーストを以てII &1ilj 、 l+ン化ざy
囲気中で焼成形成される回路パターンは、fIL気抵わ
しが小さく、シかも方法が従来セラミック多j冒配線基
板の製造に使用されている設備で容易に実Mt+、でき
る方法であって、電子工業の発展に1t↑与する1す[
大なるものである。
第1図は従来のセラミック多j胃配稈基板の擬部断面図
、第2図は本発明をd(8明゛4るための工桿フローチ
ャート、第3図ないし第5図はそれぞれ本軸明によって
得られるセラミックψIv+ rat々d〆、M&の一
実施例を不ず要部断+m図である。 1・・・セラミック基板、2・・・弔l (1) 41
体1vI。 3・・・絶縁Jtrls4.7・・第2のid、 r*
I曽、5・・・ニッケルメッキ1曽、6・・・v1金
属1曽。 第1図 第2図
、第2図は本発明をd(8明゛4るための工桿フローチ
ャート、第3図ないし第5図はそれぞれ本軸明によって
得られるセラミックψIv+ rat々d〆、M&の一
実施例を不ず要部断+m図である。 1・・・セラミック基板、2・・・弔l (1) 41
体1vI。 3・・・絶縁Jtrls4.7・・第2のid、 r*
I曽、5・・・ニッケルメッキ1曽、6・・・v1金
属1曽。 第1図 第2図
Claims (1)
- L 高融点金属を主成分とする得体j冑か設けられたセ
ラミック基板に厚膜、+fiL体層をfix化丞凹夕い
にハム成してイ静られるセラミック多j冑1)己浪−基
板の製償法において、尚i#ij点釜(・14を主成分
とする導イ本J曽にニッケルメッキし、〆入いてそのニ
ツケルメツギ上に少なくとも銀あるいは独を含む責金属
層をノヒ成後熱処理によりそのL′イ金属層を浴融し、
その浴出2されたkj <+2民層上にjV展導体層を
印jlill L、眠化亦囲九てに1.成Jること全1
1丁仏8するセラミックー?71胃V犯拍(左上にの製
造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4427683A JPS59171195A (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | セラミツク多層配線基板の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4427683A JPS59171195A (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | セラミツク多層配線基板の製造法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59171195A true JPS59171195A (ja) | 1984-09-27 |
JPS6346595B2 JPS6346595B2 (ja) | 1988-09-16 |
Family
ID=12686981
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4427683A Granted JPS59171195A (ja) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | セラミツク多層配線基板の製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59171195A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02252290A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Ngk Insulators Ltd | 多層配線基板の製造方法 |
JPH02292896A (ja) * | 1989-05-01 | 1990-12-04 | Ngk Insulators Ltd | セラミック多層配線基板 |
JPH0327590A (ja) * | 1989-06-23 | 1991-02-05 | Ngk Insulators Ltd | セラミック回路基板 |
JPH03218693A (ja) * | 1988-12-23 | 1991-09-26 | Narumi China Corp | セラミック多層配線基板およびその製造方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4954859A (ja) * | 1972-09-27 | 1974-05-28 | ||
JPS5053863A (ja) * | 1973-09-12 | 1975-05-13 | ||
JPS51133766A (en) * | 1975-05-14 | 1976-11-19 | Ngk Spark Plug Co | Method of forming thick film circuit components on ceramic substrate |
JPS5651899A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-09 | Nippon Electric Co | Method of manufacturing high density multilayer circuit board |
JPS56130992A (en) * | 1980-03-18 | 1981-10-14 | Hitachi Ltd | Method of producing thick film board |
JPS5712600A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-22 | Hitachi Ltd | Method of producing thick film multilayer circuit board |
JPS5830194A (ja) * | 1981-08-14 | 1983-02-22 | 日本碍子株式会社 | セラミック多層配線基板の製造法 |
-
1983
- 1983-03-18 JP JP4427683A patent/JPS59171195A/ja active Granted
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4954859A (ja) * | 1972-09-27 | 1974-05-28 | ||
JPS5053863A (ja) * | 1973-09-12 | 1975-05-13 | ||
JPS51133766A (en) * | 1975-05-14 | 1976-11-19 | Ngk Spark Plug Co | Method of forming thick film circuit components on ceramic substrate |
JPS5651899A (en) * | 1979-10-05 | 1981-05-09 | Nippon Electric Co | Method of manufacturing high density multilayer circuit board |
JPS56130992A (en) * | 1980-03-18 | 1981-10-14 | Hitachi Ltd | Method of producing thick film board |
JPS5712600A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-22 | Hitachi Ltd | Method of producing thick film multilayer circuit board |
JPS5830194A (ja) * | 1981-08-14 | 1983-02-22 | 日本碍子株式会社 | セラミック多層配線基板の製造法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03218693A (ja) * | 1988-12-23 | 1991-09-26 | Narumi China Corp | セラミック多層配線基板およびその製造方法 |
JPH02252290A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-11 | Ngk Insulators Ltd | 多層配線基板の製造方法 |
JPH02292896A (ja) * | 1989-05-01 | 1990-12-04 | Ngk Insulators Ltd | セラミック多層配線基板 |
JPH0327590A (ja) * | 1989-06-23 | 1991-02-05 | Ngk Insulators Ltd | セラミック回路基板 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6346595B2 (ja) | 1988-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100473258C (zh) | 电子零部件及其制造方法 | |
JPS5852900A (ja) | セラミツク多層配線板の製造方法 | |
TW304267B (ja) | ||
JPS60230946A (ja) | 多層セラミック電気回路基板の製造方法 | |
JPS59171195A (ja) | セラミツク多層配線基板の製造法 | |
JPS5830194A (ja) | セラミック多層配線基板の製造法 | |
JPS617697A (ja) | 多層配線基板及びその製造方法 | |
KR101116134B1 (ko) | 엘이디 패키지용 기판 및 그의 제조 방법 | |
JP2009158668A (ja) | セラミック多層配線基板及びその製造方法 | |
JPH06103811A (ja) | 導体ペースト組成物 | |
JP4787462B2 (ja) | 絶縁性下地上の導電性被覆物の製造法およびこの種の被覆された下地 | |
JP2734404B2 (ja) | セラミック配線基板およびその製造方法 | |
JPS62254492A (ja) | プリント配線板用ほうろう基板とその製造方法 | |
JPS6077492A (ja) | セラミック多層配線基板の製造法 | |
JPS6059764A (ja) | 混成集積回路基板の製造方法 | |
JPS62254491A (ja) | プリント配線板用ほうろう基板とその製造方法 | |
JPS6029240B2 (ja) | セラミック回路基板の製法 | |
JPS5873195A (ja) | セラミツク多層配線基板 | |
JPH0362033B2 (ja) | ||
JPH05314810A (ja) | 導体ペースト組成物 | |
GB2238666A (en) | Hybrid circuit having thick film resistors. | |
JPS5810886A (ja) | 絶縁基板に導体回路を作成する方法 | |
JPS6159798A (ja) | セラミツク多層配線基板の製造法 | |
JPH03218693A (ja) | セラミック多層配線基板およびその製造方法 | |
JPS6263488A (ja) | 厚膜基板の製造方法 |