JPS59141077A - 集積回路測定装置 - Google Patents
集積回路測定装置Info
- Publication number
- JPS59141077A JPS59141077A JP58014326A JP1432683A JPS59141077A JP S59141077 A JPS59141077 A JP S59141077A JP 58014326 A JP58014326 A JP 58014326A JP 1432683 A JP1432683 A JP 1432683A JP S59141077 A JPS59141077 A JP S59141077A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- program
- editing
- test pattern
- section
- integrated circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/316—Testing of analog circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
この発明は、完成した集積回路単体の試験をする場合、
集積回路の中に異なる品種がある場合でも、これらの単
体に対応する測定プログラムとテストパターンを転送す
ることかできる集積回路測定装置についてのものである
。
集積回路の中に異なる品種がある場合でも、これらの単
体に対応する測定プログラムとテストパターンを転送す
ることかできる集積回路測定装置についてのものである
。
（ｂ） 発明の目的
集積回路単体を試験する場合は、通常同じ品種のものを
まとめて試験し、品種の異なる他の集積回路を試験する
ときは別のプログラムに変えて試験する。
まとめて試験し、品種の異なる他の集積回路を試験する
ときは別のプログラムに変えて試験する。
しかし、最近では多品種少量生産のケースが多くなって
おり、品種の異なるごとにプログラムを変えるのでは、
測定能率が下がるという問題がある。
おり、品種の異なるごとにプログラムを変えるのでは、
測定能率が下がるという問題がある。
この発明は、多種類の集積回路を測定する場合に、その
集積回路の特性を知るために予備試験を行ない、予備試
験の結果に対応して測定プログラムを編集し、集積回路
の品種に応じた試験をすることかできる測定装置を提供
するものである。
集積回路の特性を知るために予備試験を行ない、予備試
験の結果に対応して測定プログラムを編集し、集積回路
の品種に応じた試験をすることかできる測定装置を提供
するものである。
（ｃ） 発明の実施例
この発明による実施例の構成図を第１図に示す。
第１図では、品種選択のためのテストパターンをテスト
パターン発生部２で用意する。例えば、品種が３つの場
合にはＡ＝ １００、Ｂ＝０１０１Ｃ＝００１などのテ
ストパターンを使用する。このテストパターンを使って
測定しようとする集積回路１の予備試験を予備試験測定
部３で行ない、テストパターンに対する応答により集積
回路１の品種を選別する。
パターン発生部２で用意する。例えば、品種が３つの場
合にはＡ＝ １００、Ｂ＝０１０１Ｃ＝００１などのテ
ストパターンを使用する。このテストパターンを使って
測定しようとする集積回路１の予備試験を予備試験測定
部３で行ない、テストパターンに対する応答により集積
回路１の品種を選別する。
予備試験測定部３で集積回路１の品種を選別すると、そ
の品種に対応する符号を品種選別対応表４から選び出す
。
の品種に対応する符号を品種選別対応表４から選び出す
。
次に、集積回路１の品種と品種選別対応表４、編集部５
の一例を第２図と第３図に示す。
の一例を第２図と第３図に示す。
第２図は品種選別対応表であり、品種がＡのときはＨＧ
になる。
になる。
第３図は編集部５のうちＨＧの部分の測定プログラム壷
テストバター７名Ｐ〜Ｔを示したものである。
テストバター７名Ｐ〜Ｔを示したものである。
編集部５から測定プログラム・テストバターノ名Ｐ’−
Ｔを選び出すと、高速処理格納部６・７に第３固有辺の
名前があるかどうかをサーチする。
Ｔを選び出すと、高速処理格納部６・７に第３固有辺の
名前があるかどうかをサーチする。
ある場合は測定プログラム・テストパターン編集部１１
から測定開始指示部１２を介して測定部１３にテスト信
号を転送する。ない場合は大容量格納部８から高速処理
格納部６・７へ転送する。
から測定開始指示部１２を介して測定部１３にテスト信
号を転送する。ない場合は大容量格納部８から高速処理
格納部６・７へ転送する。
この場合、高速処理格納部６・７に空き領域があれば、
この空き領域に大容量格納部８から転送処理部９の指令
により転送するが、空き領域がない場合は編集部５で使
用しないプログラムを不要プログラム処理部１０の指令
により消去し、空き領域をつくる。
この空き領域に大容量格納部８から転送処理部９の指令
により転送するが、空き領域がない場合は編集部５で使
用しないプログラムを不要プログラム処理部１０の指令
により消去し、空き領域をつくる。
測定が終ると、測定部１３は測定結果と測定終了信号を
制御部１４へ送る。
制御部１４へ送る。
制御部１４は測定結果を記録し、次に測定する集積回路
を測定部１３に接続する。
を測定部１３に接続する。
制御部１４によって次に測定する集積回路を測定部１３
に接続すると、この集積回路にテストパターンを送って
品種を選別する。
に接続すると、この集積回路にテストパターンを送って
品種を選別する。
このようにして、集積回路の品種が異なる場合でも、各
集積回路への測定プログラムを編集しながら測定を続け
ていく。
集積回路への測定プログラムを編集しながら測定を続け
ていく。
これらの関係をフローチャートで示すと、第４図のよう
になる。
になる。
第１図〜第４図に示すように、テストパターンによる予
備試験で測定しようとする集積回路の品種を選別し、こ
の選別内容に対応して編集部５から測定プログラム−テ
ストパターンを選び出して編集し、測定部１３で集積回
路単体の測定をする。
備試験で測定しようとする集積回路の品種を選別し、こ
の選別内容に対応して編集部５から測定プログラム−テ
ストパターンを選び出して編集し、測定部１３で集積回
路単体の測定をする。
（ｄ＞ 発明の効果
この発明によれば、測定しようとする集積回路の品種を
予備試験で選別し、品種に対応した測定プログラムとテ
ストパターンを編集するので、品種の異なる集積回路が
混在していても各集積回路に合った測定プログラムとテ
ストバター／を供給することができ、多品種の集積回路
を高速で測定することができる。
予備試験で選別し、品種に対応した測定プログラムとテ
ストパターンを編集するので、品種の異なる集積回路が
混在していても各集積回路に合った測定プログラムとテ
ストバター／を供給することができ、多品種の集積回路
を高速で測定することができる。
第１図はこの発明による実施例の構成図、第２図は品種
選別対応表の一例、 第３図は編集部５の測定プログラム・テストバター７名
の一例、 第４図は第１図〜第３図のフローチャート。 １・・・・・集積回路単体、２・・・・テストバター／
発生部、３・・・・・・予備試験測定部、４・・・・・
・品種選別対応表、５・・・・・・編集部、６・７・・
・・・高速処理格納部、８・・・・大容量格納部、９・
・・・・・転送処理部、１０・・・・・・不要プログラ
ム処理部、１１・・・・・・測定プログラムｅテストパ
ターン編集部、１２・・・・・ｆｌｔｌ 定開始指示部
、１３・・・・・測定部、１４・・・・・制御部。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第１図 第２図 第３図
選別対応表の一例、 第３図は編集部５の測定プログラム・テストバター７名
の一例、 第４図は第１図〜第３図のフローチャート。 １・・・・・集積回路単体、２・・・・テストバター／
発生部、３・・・・・・予備試験測定部、４・・・・・
・品種選別対応表、５・・・・・・編集部、６・７・・
・・・高速処理格納部、８・・・・大容量格納部、９・
・・・・・転送処理部、１０・・・・・・不要プログラ
ム処理部、１１・・・・・・測定プログラムｅテストパ
ターン編集部、１２・・・・・ｆｌｔｌ 定開始指示部
、１３・・・・・測定部、１４・・・・・制御部。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 品種の異なる集積回路単体の試験をする場合にお
いて、 前記集積回路の品種を選別するためのテストパターン発
生部と、 前記テストパターン信号による予備試験測定部と、 前記予備試験測定部による前記集積回路の品種との関係
を表示する品種選別対応表と、前記品種選別対応表から
測定プログラム・テストパターン名を選出する編集表と
、 前記編集表で選出したプログラムを格納する高速処理格
納部と、 前記高速処理格納部に前記プログラムがないときは前記
高速処理格納部に前記プログラムを転送する大容量格納
部とを備え、 前記集積回路の品種を選別し、前記集積回路の品種に対
応して前記編集表から測定プログラム・テストバター７
名を選び出して編集し、前記編集で選び出したプログラ
ムを高速処理格納部から取り出して前記集積回路を試験
することを特徴とする集積回路測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58014326A JPS59141077A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | 集積回路測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58014326A JPS59141077A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | 集積回路測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59141077A true JPS59141077A (ja) | 1984-08-13 |
| JPH0450536B2 JPH0450536B2 (ja) | 1992-08-14 |
Family
ID=11857944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58014326A Granted JPS59141077A (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | 集積回路測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59141077A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147372A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Nec Corp | ダイナミツクエ−ジング装置 |
| JPS62247275A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-28 | Ando Electric Co Ltd | インサ−キツトエミユレ−タのｃｐｕ識別回路 |
| JPS6326580A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-04 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Ｌｓｉ試験装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5709398B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2015-04-30 | ユニ・チャーム株式会社 | 吸収性物品 |
-
1983
- 1983-01-31 JP JP58014326A patent/JPS59141077A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147372A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Nec Corp | ダイナミツクエ−ジング装置 |
| JPS62247275A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-28 | Ando Electric Co Ltd | インサ−キツトエミユレ−タのｃｐｕ識別回路 |
| JPS6326580A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-04 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Ｌｓｉ試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0450536B2 (ja) | 1992-08-14 |
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