JPS5913724B2 - 光制御回路 - Google Patents

光制御回路

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Publication number
JPS5913724B2
JPS5913724B2 JP14369277A JP14369277A JPS5913724B2 JP S5913724 B2 JPS5913724 B2 JP S5913724B2 JP 14369277 A JP14369277 A JP 14369277A JP 14369277 A JP14369277 A JP 14369277A JP S5913724 B2 JPS5913724 B2 JP S5913724B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical waveguide
resistance element
negative resistance
semiconductor layer
optical
Prior art date
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Expired
Application number
JP14369277A
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English (en)
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JPS5476248A (en
Inventor
進 秦
孝之 菅田
宜彦 水島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP14369277A priority Critical patent/JPS5913724B2/ja
Publication of JPS5476248A publication Critical patent/JPS5476248A/ja
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  • Optical Integrated Circuits (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光で光を制御する光制御回路に関するもので
ある。
従来のこの種の装置は、いずれも電気信号によつて光を
制御していたので、光−電気変換装置を必要とし、装置
が複雑になり、取り扱いが簡便でないなどの欠点があつ
た。
本発明は、上記従来例の欠点を解消するために、電気信
号での制御を廃し、光信号で直接光を制御することを目
的とした光制御回路を提供するものである。
以下、図面により実施例を詳細に説明する。第1図は、
本発明の実施例の原理を示したもので、シサコン、ガリ
ウムヒ素などの半導体層1の中に、特定の曲率半径を有
する曲がり光導波路2と、この曲がり光導波路2の一部
に隣接するかあるいはこの曲がり光導波路2の半導体層
の一部を共有する形で設けられた負性抵抗素子3が設け
られている。
またこの光導波路2ゆ手次元的な光導波路になつている
ので、この光導波路2の屈折率は負性抵抗素子3の直下
の領域を除くいずれの領域の屈折率よりも大きくなつて
いる。また負性抵抗素子3は電気信号あるいは光信号を
ゲート端子に加えることによりオフ状態とオン状態とを
得ることができる。次に、この実施例の動作を説明する
まず光導波路2の入射端面4から光波を入射すると、入
射光パワーはこの光導波路2の導波姿態で、この光導波
路2に沿つて伝搬する。負性抵抗素子3がオン状態にあ
るとき、光導波路2は全領域に渡つて完全な光導波路が
形成されるようにされているため、入射光パワーは光導
波路2の出射端面5へ導波される。なおこの負性抵抗素
子3は半導体PNPN素子などで構成することができる
。次に負性抵抗素子3がオフ状態にあるときは、光導波
路の端面4から入射された光波は、負性抵抗素子03と
光導波路2が隣接する領域に遅するまでは、この光導波
路2の導波姿態で伝搬する。この負性抵抗素子3がオフ
状態にあるときにli栽この負性抵抗素子3の直下の屈
折率は光導波路2と同値に近く設定されているため、光
導波路2と負性抵抗素子3が隣接する領域の導波姿態は
この部分に達するまでに存在した姿態とは著しく異なつ
ており、またその姿態数は相当少なくなつている。従つ
て、光導波路2と負性抵抗素子3が隣接する領域まで存
在した姿態によつて伝搬されてきた光パワーは光導波路
2が負性抵抗素子3と隣接する領域で、この負性抵抗素
子3を介して光導波路2の外部へ放射されるため、光導
波路の出射端面5へ伝搬される光パワーは無くなる。な
お負性抵抗素子3はゲート部にひとたび光信号を与える
と、オン状態を持続する。以上説明したように、本発明
によれば、光導波路2を伝搬して出射端面5へ送られる
光パワーを負性抵抗素子3に与える光信号により制御す
ることができるとともに、負性抵抗素子3の持続効果を
利用してメモリ機能を持たせることができる。
なお、負性抵抗素子3に加える光信号を電気信号に置き
換えることは勿論可能である。次に、第2図は、第1図
の実施例の具体的な構成例を示したもので、6はn+型
シリコン半導体基板、7はp一型シリコン半導体層、8
はp型シリコン半導体層、9はn一型シリコン半導体層
、10は絶縁膜、11,12は金属電極である。
またp一型シリコン半導体層7は曲がり光導波路であり
、半導体基板6、p型シリコン半導体層8、絶縁膜10
よりも常に屈折率は高くなつている。n一型シリコン半
導体層9は、p型シリコン半導体層8、n一型シリコン
半導体層9、p型シリコン半導体層8、n+型シリコン
半導体層6で構成されるPNPN負性抵抗素子の動作状
態によりその値が変化する。即ち、この負性抵抗素子が
オフ状態のときには、n一型シリコン半導体層9はそれ
にドープされている自由キヤリア濃度によつて決まる屈
折率を有する。このときの自由キャリア濃度は光導波路
7のそれとほとんど同じになるので、半導体層9の屈折
率は光導波路7のそれと殆んど等しくなり、このためこ
の光導波路7は半導体層9との隣接部において導波姿態
がくずれる。また負性抵抗素子の動作は、よく知られて
いるように、第3図に示したような電圧一電流特性を有
している。第3図において、PGは電極11にあけられ
た窓から入射する制御用光パワーの大きさを示したもの
で、この制御用光信号の波長が光導波路7を伝搬する光
波と同一かあるいは波長側にある場合には、この光信号
を有効に吸収するための感光層を必要とする。即ち、半
導体層9は半導体層7よりも短かいバンドギャツブを有
する半)導体で構成するかあるいは半導体層9と電気的
に接続された感光層を別途設ける。
一方、制御用光信号の波長が光導波路7の伝搬光よりも
短波長側にあり、負性抵抗素子を動作させるのに十分な
光電キヤリアの発生が得られるときには、半導体層9は
光導波路7と同一半導体物質で構成すればよい。ところ
で、金属電極11と12との間に順方向バイアスを印加
して、動作点が第3図B点の状態にあるとき、POの光
パワーを負性抵抗素子に入射すれば、この動作点はB″
に移り、負性抵抗素子はオン状態に移行する。B′,へ
での電流値はPN接合順方向バイアス時に流れるもので
あり、バイアス回路に挿入する負荷抵抗値で決定される
。このようにして電流がほとんど流れないオフ状態から
任意の電流値を選定できるオン状態への移行は光信号に
よつておこなうことができる。また、ひとたびB″点へ
移行すれば、外部印加バイアス電圧を下げない限り定電
流状態を保持するので、入射する制御用光信号PGは必
要としない。半導体層9に電流が注入されると、自由キ
ヤリア濃度が増加し、この半導体層9の屈折率が低下し
て半導体層7と9との間に屈折率差が形成されるため、
光導波路7の導波姿態が生ずる。従つて、この導波光は
半導体層9との境界で放射損失を受けることなく伝搬し
、出射端面5に達する。以上の説明では、半導体基板6
がn型について説明したが、各半導体層の導電型を他方
の導電型にすれば、この半導体基板6をp型にすること
ができることは言うまでもない。
また、負性抵抗素子の設置位置を曲がり光導波路7の曲
がりの内側に設けることも可能である。これらは負性抵
抗素子がオフ状態からオン状態への移行に伴なつて光導
波路7もオフからオンへと移行する光制御回路に対応す
るが、負性抵抗素子のゲート部分を光導波路7の一部分
と共有させれば、負性抵抗素子が波路7の一部分と共有
させれば、負性抵抗素子がオフ、オンのとき、光導波路
7がそれぞれオン、オフ状態に移行するように構成でき
る。以上説明したように、本発明によれば、光で導波路
姿態を制御することにより導波光の切替えをおこなうも
のであるから、光で光を制御でき、さらに曲がり光導波
路は多姿態であつてもよいので、取り扱いが簡便である
ことなどの利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例の原理図であり、第2図は
、第1図のAA部分の断面の立体図であり、第3図は、
第1図、第2図の構成要素のひとつである負性抵抗素子
の電圧一電流特性を示した図である。 1・・・・・・半導体層、2・・・・・・曲がり光導波
路、3・・・・・・負性抵抗素子、4・・・・・・光導
波路入射端面、5・・・・・・光導波路出射端面、6,
7,8,9・・・・・・半導体層、10・・・・・・絶
縁膜、11,12・・・・・・金属電極。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 半導体表面に沿つて、定められた屈折率差と曲率半
    径とを有するように配置された光導波路の定められた点
    に接して負性抵抗素子が設置されていることを特徴とす
    る光制御回路。 2 前記負性抵抗素子を動作させるに必要な光電キャリ
    アを発生するため、制御用光波を有効に吸収する物質に
    よる感光層を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の光制御回路。
JP14369277A 1977-11-30 1977-11-30 光制御回路 Expired JPS5913724B2 (ja)

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JP14369277A JPS5913724B2 (ja) 1977-11-30 1977-11-30 光制御回路

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JPS5476248A JPS5476248A (en) 1979-06-18
JPS5913724B2 true JPS5913724B2 (ja) 1984-03-31

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ID=15344731

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JPH01117149A (ja) * 1987-10-27 1989-05-10 Canon Inc 弾牲ローラ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56108261A (en) * 1980-02-01 1981-08-27 Nec Corp Optical integrated circuit
JPS56108260A (en) * 1980-02-01 1981-08-27 Nec Corp Optical integrated circuit

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