JPS59135597A - テストシステム - Google Patents
テストシステムInfo
- Publication number
- JPS59135597A JPS59135597A JP58010264A JP1026483A JPS59135597A JP S59135597 A JPS59135597 A JP S59135597A JP 58010264 A JP58010264 A JP 58010264A JP 1026483 A JP1026483 A JP 1026483A JP S59135597 A JPS59135597 A JP S59135597A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- module
- memory
- operating conditions
- predetermined
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、テストシステムに関するものであって、詳し
くは、所定のテスト機能を有する複数のテストモジュー
ルを用いてテスト対象物に対するテストを行うように構
成されたテストシステムに関する、ものであり、各モジ
ュールの動作条件の設定が共通の条件設定手段を用いる
ことにより簡単に行え、テスト対象物の変更や追加に対
して容易に対応でき、さらに、比較的短時間で所定のテ
ストが実行できる新しいテストシステムを提供するもの
である。
くは、所定のテスト機能を有する複数のテストモジュー
ルを用いてテスト対象物に対するテストを行うように構
成されたテストシステムに関する、ものであり、各モジ
ュールの動作条件の設定が共通の条件設定手段を用いる
ことにより簡単に行え、テスト対象物の変更や追加に対
して容易に対応でき、さらに、比較的短時間で所定のテ
ストが実行できる新しいテストシステムを提供するもの
である。
テストシステムの一種に、アナログＬＳＩテストシステ
ムがある。一般に、このようなシステムでは、テストず
べきＬＳＩに応じて各テストモジュールの動作条件が設
定され、所定のテスト動作−が実行される。ところで、
従来のシステムにお（プる動作条件の設定は、各モジュ
ールの機能や属性などが記述されている説明書を読みな
がら行わなければならず、動作条件設定に相当の工数を
要している。また、テスト対象物の変更やｊム加に対し
ては、テストモジュールのみならずシステム全体のプロ
グラムも変更しなければならず、簡単に行うことはでき
ない。一方、テスト実行にあたっては、設定された各テ
ストモジュールの動作条件を予め共通の制御部に格納し
ておき、その都度必要な設定データを所定のモジュール
に送り出すように構成されているので、このような前処
理に相当の時間を要し、デス１〜実行時間の短縮を阻害
する一因となっている。
ムがある。一般に、このようなシステムでは、テストず
べきＬＳＩに応じて各テストモジュールの動作条件が設
定され、所定のテスト動作−が実行される。ところで、
従来のシステムにお（プる動作条件の設定は、各モジュ
ールの機能や属性などが記述されている説明書を読みな
がら行わなければならず、動作条件設定に相当の工数を
要している。また、テスト対象物の変更やｊム加に対し
ては、テストモジュールのみならずシステム全体のプロ
グラムも変更しなければならず、簡単に行うことはでき
ない。一方、テスト実行にあたっては、設定された各テ
ストモジュールの動作条件を予め共通の制御部に格納し
ておき、その都度必要な設定データを所定のモジュール
に送り出すように構成されているので、このような前処
理に相当の時間を要し、デス１〜実行時間の短縮を阻害
する一因となっている。
本発明は、これらの従来の欠点を解決したものであって
、前述のシステムにおいて、各テストモジュールにはそ
のモジュールの動作条件を設定するための条件設定用情
報を操作者が認識できるコード形式で格納する第１のメ
モリと、テスト実行に必要なシーケンス番号、第１のメ
モリに格納された情報に基づいて設定される設定データ
などの情報をモジュールが実行できるコード形式で一時
格納する第２のメモリを設け、テスト実行前に各モジュ
ールの第１のメモリを共通の条件設定手段設定データを
所定のデータ形式で対応したモジュールの第２のメモリ
に格納し、テスト実行時にはモジュールにシーケンス番
号のみを送出してモジュールを駆動するようにしたもの
である。
、前述のシステムにおいて、各テストモジュールにはそ
のモジュールの動作条件を設定するための条件設定用情
報を操作者が認識できるコード形式で格納する第１のメ
モリと、テスト実行に必要なシーケンス番号、第１のメ
モリに格納された情報に基づいて設定される設定データ
などの情報をモジュールが実行できるコード形式で一時
格納する第２のメモリを設け、テスト実行前に各モジュ
ールの第１のメモリを共通の条件設定手段設定データを
所定のデータ形式で対応したモジュールの第２のメモリ
に格納し、テスト実行時にはモジュールにシーケンス番
号のみを送出してモジュールを駆動するようにしたもの
である。
以下、図面を用いて詳細に説明する。
図面は、本発明の一実施例を示すブロック図であって、
１０は条件設定手段として用いるターミナル、２０はコ
ントローラ、３０はテストモジュールである。
１０は条件設定手段として用いるターミナル、２０はコ
ントローラ、３０はテストモジュールである。
ターミナル１０には、ＣＲＴｌｌ、キーボード１２など
が設けられている。コントローラ２０には、シーケンス
番号送出回路２Ｌ ＣＲＴｌｌで表示するための信号を
コード変換して送出する第１のコード変換回路２２．キ
ーボード１２から送出されるコード信号を所定のコード
信号に変換して送出する第２のコード変換回路２３など
が設けられている。モジュール３０には、それぞれオフ
セット電圧測定、入出力特性測定９周波数特性測定など
の所定のテスト動作を行うための測定部３１のほか、そ
のモジュールの動作条件を設定するのに必要な出力レン
ジ。
が設けられている。コントローラ２０には、シーケンス
番号送出回路２Ｌ ＣＲＴｌｌで表示するための信号を
コード変換して送出する第１のコード変換回路２２．キ
ーボード１２から送出されるコード信号を所定のコード
信号に変換して送出する第２のコード変換回路２３など
が設けられている。モジュール３０には、それぞれオフ
セット電圧測定、入出力特性測定９周波数特性測定など
の所定のテスト動作を行うための測定部３１のほか、そ
のモジュールの動作条件を設定するのに必要な出力レン
ジ。
測定レンジ、出力信号の種類、測定信号の種類などの固
有の条件設定用情報を操作者が認識できるコード形式１
例えばＡｓ（、ＩＮコードで格納した第１のメモリ３２
、コントローラ２０から送り出されるシーケンス番号や
第１のメモリ３２に格納された情報に基づいて設定され
る設定データなどの情報をモジュールが実行できるコー
ド形式１例えばバイナリ−コードで一時格納する第２の
メモリ３３などが設けられている。なお、これら第１の
メモリ３２としてはＲＯＭを用い、第２のメモリ３３と
してはＲＡＭを用いる。また、これら各モジュール３０
の測定部３１は、テスト対象物が接続されるテストヘッ
ドにマルチプレクサを介して共通に接続されるが、これ
らは図示しない。
有の条件設定用情報を操作者が認識できるコード形式１
例えばＡｓ（、ＩＮコードで格納した第１のメモリ３２
、コントローラ２０から送り出されるシーケンス番号や
第１のメモリ３２に格納された情報に基づいて設定され
る設定データなどの情報をモジュールが実行できるコー
ド形式１例えばバイナリ−コードで一時格納する第２の
メモリ３３などが設けられている。なお、これら第１の
メモリ３２としてはＲＯＭを用い、第２のメモリ３３と
してはＲＡＭを用いる。また、これら各モジュール３０
の測定部３１は、テスト対象物が接続されるテストヘッ
ドにマルチプレクサを介して共通に接続されるが、これ
らは図示しない。
このように構成されたシステムの動作について説明する
。
。
各テストモジ、１−ル３０の動作条件の設定にあたって
は、コントローラ２０を介してターミナル１０から必要
なテストモジュール３０をアクセスする。すなわち、操
作者はターミナル１０のキーボード１２を操作してＣＲ
Ｔｌｌに動作条件を設定すべきテストモジュール３０の
ＲＯＭ３２に格納されている条件設定用情報を読み出し
、ＣＲＴＩＩに表−示されているＲＯＭ３２の内容に従
ってキーボード１２を操作しながらテストすべきＬＳＩ
に応じた所定の動作条件を設定する。ここで、ＲＯＭ３
２には条件設定用情報が操作者に認識できるコード形式
で格納されているので、容易に動作条件を設定すること
ができる。このようにして設定された動作条件は、コン
トローラ２０のコード変換回路２３によりモジュール３
０が実行できるコードに変換されて対応したモジュール
３０のＲＡＭ３３に一時格納される。これにより、テス
ト実行時におけるモジュール３０でのコード変換は不要
となり、テスト実行片間を短縮できる。なお、同一のコ
ード信号に対して、モジュール３０によっては、全く異
る動作を実行するように構成されていることがある。こ
のような場合、モジュール３０が所定のコード信号に対
して所定の動作を実行するようにコード変換をすればよ
い。このようなコード変換が必要な場合には、ＲＯＭ３
２に変換指示テーブルや指示コードなどを格納しておき
、動作壜−件設定時にコントローラ２０のコード変換器
２３で変換させればよい。また、各モジュール３０のＲ
Ａ Ｍ ３３には、設定される動作条件に対応するシー
ケンス番号をコントローラ２０のシーケンス番号送出回
路２１から送出して設定データと共に格納しておくよう
にする。これにより、テスト実行時には、コントローラ
２０からはシーケンス番号を送り出すだけでよく、より
一層のテスト実行時間の短縮が図れる。また、このよう
な構成によれば、テスト対象物の変更や追加に対しては
必要なモジュールの動作条件をターミナルを用いて変更
すればよ（、容易に対処することができる。
は、コントローラ２０を介してターミナル１０から必要
なテストモジュール３０をアクセスする。すなわち、操
作者はターミナル１０のキーボード１２を操作してＣＲ
Ｔｌｌに動作条件を設定すべきテストモジュール３０の
ＲＯＭ３２に格納されている条件設定用情報を読み出し
、ＣＲＴＩＩに表−示されているＲＯＭ３２の内容に従
ってキーボード１２を操作しながらテストすべきＬＳＩ
に応じた所定の動作条件を設定する。ここで、ＲＯＭ３
２には条件設定用情報が操作者に認識できるコード形式
で格納されているので、容易に動作条件を設定すること
ができる。このようにして設定された動作条件は、コン
トローラ２０のコード変換回路２３によりモジュール３
０が実行できるコードに変換されて対応したモジュール
３０のＲＡＭ３３に一時格納される。これにより、テス
ト実行時におけるモジュール３０でのコード変換は不要
となり、テスト実行片間を短縮できる。なお、同一のコ
ード信号に対して、モジュール３０によっては、全く異
る動作を実行するように構成されていることがある。こ
のような場合、モジュール３０が所定のコード信号に対
して所定の動作を実行するようにコード変換をすればよ
い。このようなコード変換が必要な場合には、ＲＯＭ３
２に変換指示テーブルや指示コードなどを格納しておき
、動作壜−件設定時にコントローラ２０のコード変換器
２３で変換させればよい。また、各モジュール３０のＲ
Ａ Ｍ ３３には、設定される動作条件に対応するシー
ケンス番号をコントローラ２０のシーケンス番号送出回
路２１から送出して設定データと共に格納しておくよう
にする。これにより、テスト実行時には、コントローラ
２０からはシーケンス番号を送り出すだけでよく、より
一層のテスト実行時間の短縮が図れる。また、このよう
な構成によれば、テスト対象物の変更や追加に対しては
必要なモジュールの動作条件をターミナルを用いて変更
すればよ（、容易に対処することができる。
なお、上記実施例では、１台のコントローラでテストシ
ステムを構成する例について示したが、複数のコントロ
ーラを用いて同時に複数のテストが並行して行えるよう
にしてもよい。この場合には、各モジュールに各コント
ローラに対応するように複数のＲＡＭを設けておけばよ
い。
ステムを構成する例について示したが、複数のコントロ
ーラを用いて同時に複数のテストが並行して行えるよう
にしてもよい。この場合には、各モジュールに各コント
ローラに対応するように複数のＲＡＭを設けておけばよ
い。
以上説明したように、本発明によれば、各モジュールの
動作条件の設定が比較的短時間で簡単に行え、テスト対
象物の変更や追加に容易に対応でき、さらに、テストも
短時間で実行できる複数のテストモジュールを用いたテ
ストシステムが実現でき、ＬＳＩのみならず、各種の対
象物のテストシステムとして実用上の効果は大きい。
動作条件の設定が比較的短時間で簡単に行え、テスト対
象物の変更や追加に容易に対応でき、さらに、テストも
短時間で実行できる複数のテストモジュールを用いたテ
ストシステムが実現でき、ＬＳＩのみならず、各種の対
象物のテストシステムとして実用上の効果は大きい。
図面は本発明の一実施例を示すブロック図である。
１０・・・ターミナル、２０・・・コントローラ、３０
・・・テストモジュール。
・・・テストモジュール。
Claims (1)
- 所定のテスト機能を有する複数のテストモジュールを用
いてテスト対象物に対するテストを行うように構成され
たテストシステムにおいて、各テストモジュールにはそ
のモジュールの動作条件を設定するための条件設定用情
報を操作者が認識できるコード形式で格納する第１のメ
モリと、テスト実行に必要なシーケンス番号、第１のメ
モリに格納された情報に基づいて設定される設定データ
などの情報をモジュールが実行できるコード形式で一時
格納する第２のメモリを設け、テスト実行前に各モジュ
ールの第１のメモリを共通の条件設定手段でアクセスし
て所定の条件設定を行った後その設定データを所定のデ
ータ形式で対応したモジュールの第２のメモリに格納し
、テスト実行時にはモジュールにシーケンス番号のみを
送出してモジュールを駆動することを特徴とするテスト
システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58010264A JPS59135597A (ja) | 1983-01-25 | 1983-01-25 | テストシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58010264A JPS59135597A (ja) | 1983-01-25 | 1983-01-25 | テストシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59135597A true JPS59135597A (ja) | 1984-08-03 |
Family
ID=11745449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58010264A Pending JPS59135597A (ja) | 1983-01-25 | 1983-01-25 | テストシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59135597A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63120123U (ja) * | 1987-01-28 | 1988-08-03 | ||
| JPS63201527A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-19 | Anritsu Corp | 測定装置 |
| JPS63188580U (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-02 | ||
| WO2018012001A1 (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 株式会社三谷バルブ | エアゾール容器用ハウジング，このエアゾール容器用ハウジングを備えたエアゾール式製品およびこのエアゾール容器用ハウジングを備えたエアゾール容器への炭酸ガス充填方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5667711A (en) * | 1979-11-07 | 1981-06-08 | Hitachi Ltd | Controlling method for experimetal parameter setting guidance |
| JPS572967A (en) * | 1980-06-10 | 1982-01-08 | Funaki Electronik Works | Highly efficient system of defrosting refrigerator |
| JPS57189294A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-20 | Tokyo Shibaura Electric Co | Tester for monitor |
-
1983
- 1983-01-25 JP JP58010264A patent/JPS59135597A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5667711A (en) * | 1979-11-07 | 1981-06-08 | Hitachi Ltd | Controlling method for experimetal parameter setting guidance |
| JPS572967A (en) * | 1980-06-10 | 1982-01-08 | Funaki Electronik Works | Highly efficient system of defrosting refrigerator |
| JPS57189294A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-20 | Tokyo Shibaura Electric Co | Tester for monitor |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63120123U (ja) * | 1987-01-28 | 1988-08-03 | ||
| JPH0544738Y2 (ja) * | 1987-01-28 | 1993-11-15 | ||
| JPS63201527A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-19 | Anritsu Corp | 測定装置 |
| JPH0583126B2 (ja) * | 1987-02-18 | 1993-11-24 | Anritsu Corp | |
| JPS63188580U (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-02 | ||
| WO2018012001A1 (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 株式会社三谷バルブ | エアゾール容器用ハウジング，このエアゾール容器用ハウジングを備えたエアゾール式製品およびこのエアゾール容器用ハウジングを備えたエアゾール容器への炭酸ガス充填方法 |
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