JPS59125041A - 偏光型示差屈折計 - Google Patents

偏光型示差屈折計

Info

Publication number
JPS59125041A
JPS59125041A JP23211782A JP23211782A JPS59125041A JP S59125041 A JPS59125041 A JP S59125041A JP 23211782 A JP23211782 A JP 23211782A JP 23211782 A JP23211782 A JP 23211782A JP S59125041 A JPS59125041 A JP S59125041A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
light
decrease
output
integrator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23211782A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsunemi Tokieda
時枝 常美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Holdings Corp
Original Assignee
Showa Denko KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Showa Denko KK filed Critical Showa Denko KK
Priority to JP23211782A priority Critical patent/JPS59125041A/ja
Publication of JPS59125041A publication Critical patent/JPS59125041A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明に液体クロマトグラフィーにおいて広く使用さ
れている転元型示差屈折計に関する。
第1図は、従来の偏光型示差屈折計の要部の構成を示す
砒略平面図である。図にわいて1は光源用也源であり、
発光累子2に電源を供給するものである。この発光素子
2から出力された光はレンズ8、スリット4によってビ
ーム化され、ルンズ5、70−セル6を+つてミラー7
によって反射ざれ、丹び70−セル6、ルンズ5を辿っ
て受光器8に受光される。ここで、70−セル6は第2
図に示すように石英ガラスを融眉して作った中空の直方
犀6aと、この直方本6aの内部を試料側セル6C1と
基準側セル6C2とに縦に2分する対角面ガラス6bと
から構成ざれ、試糾側セル6c1にはカラムで分離され
た溶液か辿り、基準惧レル6C2には温媒(基稈改杢)
か通るようになっている。そして、双方のセル6c1、
6C2に同−屈折率の液体が流れているとさには、70
−セル6に入射した先の経路とミラー7で反射された元
の継路とは第2図に実線で示すように一致し、それらの
光の進行方向か辿となる。−万、試料側ヤル6C1と基
準側セル6C2に流しる故令の屈折率が異なるときには
、入射光の経路と反射光の経路とは第2図に芙梅と破線
で示すように2つの液体の掘折率差こ対応しに変位を生
じ、この敏位鼠δが受光器8によって検知される。すな
わら、受光器8は第3図に示すように、反射光によって
受光器8上に形成される光スポツトSPによって照射さ
れる1対の受元累子8aと8bを有し、これらの父兄素
子8a、8bは照射聞槓Sa、Sbと光スホットSPの
総光量Lに比例する出力電流Ia、Ibを出力する。す
なわぢ、 Ia=a・Sa・L・・・(1) Ib=a・Sa・L・・・(2) となる。一方、照射+槓Sa、Sbの差は変位数dに比
例し、 Sb−Sa=K6・・・(3) となるから、結局示差信号Δ■は次の式で与えられる。
ΔI=Ib−Ia=aLKδ・・・(4)ここでL、a
、Kは一定 そして、(4)式の示差信号ΔIに基づいて試料の分析
が行なわれる。
ところで、上述した従来の偏光型示差屈折計においては
、フローセル6やレンズ3,5寺の光学糸の汚れ、およ
び70−セル6〜を流れる溶媒り械餉による透過度の変
化弯により一定に沫たれるべさ総光量Lか笈化し、これ
によって(4)式の示差信号ΔIと変位bの比例閃係が
くずれ、分析誤差が生じるという欠点があった。そして
このような分析誤差を誹けるためには多くの労力を斐す
る感度検定を頻繁に行なわなけしはなうなかつた。
一方、上記の欠点を解消するために、示差憤号ΔIを総
光量Lによって除し、単位元凸りの示差信号ΔI/Lを
求め、これに基づいて試料の分析を行う方法も知られて
いるか、この方法だと、割算を行わなければならない。
そして、アナログ量の痢界器は調整がむずかしい上にノ
イズも多く誤差か大さくなる欠点かあつた、 この光四は上記の串情に鏡み、艮期間に段って案手かつ
正確な定肘測定を行うことのでさる偏光型示差傭折計を
提供するもので、文元蓄に達する総元債が常こ一定とな
るように発光素子の出力光量を制御することを特徴とす
る。
以下、図面を参照して不自明り央弛例を況明する。
第≠図は不発明の一実池例の構成を示す概略平聞図であ
り、第1図の各部に対応する部分には同一の付号を付し
その説明を省晒する。不夷順例か第1図に示す従来例と
糸なる点は、不犬鳳例においては第1図の光源用屯鯨1
に代って光献制御回路10か設けられた点と、こり光量
制御回路10へ受光器8の2つの出力電流Ia、Ibが
供給ざれている点である。
次に弔5図は元慰制御回路10の構成を示す回路図であ
る。図において11.12は1/V変換器(電流/電圧
変侠器〕であり、受光累子8a、8bの出力屯流1a、
lbに比例した電圧−Va。
−Vbを出力するものである。でして電圧−Vaは加算
器13の第1入力端子と差動器14の非反転入力端子に
供和ざれ、電圧−Vbは加算器18す第2人力嫡子と差
動器14の反私入力端子に供給されている。そして、加
算器1Bからは加算屯圧A1(Va+Vb)(A1は加
算器13の増幅率)か出力ざれ、差動器14からは示差
江圧A2(Vb−Va)(A2は差動器14からは増幅
率)が出力される。そして、この示差回圧A2(Vb−
Va)に基づいてフローセル6を流しる浴液り分析か従
来と同様に行われる。一方、加算電圧A1(Va+Vb
)は積分器15の入力端子に供給ざれ、その値が常に設
定電圧Vrと寺しくなるようこ槓分靜御される。すなわ
ち、加算電圧A1(Va+Vb)か股定色土Vrよつ高
くなると、槓分抵仇Rから煩労コンデンサCに光電電流
か流れ、槓分都15の出力電圧V0が低下し、これによ
って按分器15の出力色土V0によって制御ざれるトラ
ンジスタ16のベース征流が減少する。ごりベース電流
の減少はトランジスタ16のエミツタ電流の減少を惹起
し、これによって発光素子2から出力される元置か減少
する。そしてこび光量の減少が受元素子8a、8bに検
知され、加算電圧A1(Va+Vb)か減少する。一方
、加算也圧A1(Va+Vb)が設星亀圧Vrよりも低
くなると、上記と逆の動作によって加算電圧A1(Va
+Vb)が増加する。こうして、加算電圧A1(Va+
Vb)が設定電圧Vrと常に等しくなるように制御され
るので受光器8に父兄ざれる総元最Lが常に一足となる
。なぜならは電圧Va、Vbは電流Ia、Ibに比例し
、電流la、lbは(1)、(2)式で与えられるから A1(Va+Vb)=A1ab(Sa+Sb)L・・・
(5)ただしbは定数 となる。ここで照射面槓Sa+Sbは一定であるから結
局加算区圧A1(Va+Vb)か一定に保たれれば総光
量Lも一足となり、これによって安定した定遣分析を行
うごとかでさる。
なお、木余明は上記実感例に限定ざすることなく、要は
総光量Lを一定に保つように発光未子2の発行量を制御
でざるもすであればよい。
以上説明したようにこの発明は父兄素子に受光ざれる給
光量が一定となるように発光紫子す出力光量を制御する
ようにしたので、多くの労力を要する感度検定を頻緊に
行なわなくても、安定かつ止然な定量測定を行うことの
でさる利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従米の偏元緘示怪屈折計の管部の構成を示す概
略平曲図、第2図はフローセル6の構成を示す平回図、
第3図は父次器8とこび上に形成ざれた元スポットSP
との関係を示す正面図、第4図は不実施例の要部の構成
を示す概略乎面図、第5図は光量補御回路10の構成を
示す回路図である。 13・・・加界器、15・・・伽分器(制御手段)、1
6・・・トランジスタ(制御手段)。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試料溶液と基準液体とが進過するフローセルと、前記フ
    ローセルに元を供給する発光素子と、前記フローセルに
    おいて屈折ざれた元を受光する1対の受兄崇子とを具備
    し、前記1対の受光素子の出力差に基づいて+紀試料浴
    液の分析を行う偏光型示走屈七計において、前記1対す
    受光素子の出力を加算する加算蕗と、別記加算器の出力
    に基づいて前記1対の受光素子に受光される緒元鼠が一
    定となるよつに前記完元素子の発光社を副御する萌御+
    坂とを具備することを待機とする偏光型示差屈折計。
JP23211782A 1982-12-29 1982-12-29 偏光型示差屈折計 Pending JPS59125041A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23211782A JPS59125041A (ja) 1982-12-29 1982-12-29 偏光型示差屈折計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23211782A JPS59125041A (ja) 1982-12-29 1982-12-29 偏光型示差屈折計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59125041A true JPS59125041A (ja) 1984-07-19

Family

ID=16934267

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23211782A Pending JPS59125041A (ja) 1982-12-29 1982-12-29 偏光型示差屈折計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59125041A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61133839A (ja) * 1984-12-04 1986-06-21 Shimadzu Corp 示差屈折計
JPS61147959U (ja) * 1985-03-07 1986-09-12
JPS61226640A (ja) * 1985-03-30 1986-10-08 Shimadzu Corp 示差屈折計
JPS6327733A (ja) * 1986-07-21 1988-02-05 Rabo Syst Kiki:Kk 液体クロマトグラフイ−用示差屈折率検出装置
JPS6365341A (ja) * 1986-09-06 1988-03-23 Stanley Electric Co Ltd 差動形2分割フオトダイオ−ド及びこれを用いたカ−ブプリズム式液体屈折率計
JPS6348147U (ja) * 1986-09-16 1988-04-01
JP2007093492A (ja) * 2005-09-30 2007-04-12 Shimadzu Corp 示差屈折率検出器及びその調整方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61133839A (ja) * 1984-12-04 1986-06-21 Shimadzu Corp 示差屈折計
JPS61147959U (ja) * 1985-03-07 1986-09-12
JPS61226640A (ja) * 1985-03-30 1986-10-08 Shimadzu Corp 示差屈折計
JPS6327733A (ja) * 1986-07-21 1988-02-05 Rabo Syst Kiki:Kk 液体クロマトグラフイ−用示差屈折率検出装置
JPS6365341A (ja) * 1986-09-06 1988-03-23 Stanley Electric Co Ltd 差動形2分割フオトダイオ−ド及びこれを用いたカ−ブプリズム式液体屈折率計
JPS6348147U (ja) * 1986-09-16 1988-04-01
JP2007093492A (ja) * 2005-09-30 2007-04-12 Shimadzu Corp 示差屈折率検出器及びその調整方法
JP4577177B2 (ja) * 2005-09-30 2010-11-10 株式会社島津製作所 示差屈折率検出器及びその調整方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920009799B1 (ko) 공간 필터식 속도 측정장치
JPS59125041A (ja) 偏光型示差屈折計
US7495754B2 (en) Differential refractometer and its adjusting method
JP4487197B2 (ja) 濁・色度計
JPS6327733A (ja) 液体クロマトグラフイ−用示差屈折率検出装置
Durrum et al. Recording integrating photoelectric and radioactive scanner for paper electrophoresis and chromatography
NL9002279A (nl) Meetinrichting met normeringscircuit.
Withrow et al. The design of a precision photoelectric colorimeter
US4993832A (en) Method and apparatus for detecting concentration gradients
JPS61226640A (ja) 示差屈折計
JPS599781A (ja) 光位置検出装置
RU2189038C2 (ru) Спектрофотометрический детектор для капиллярного электрофореза и капиллярной жидкостной хроматографии
Lynch et al. New fluorescence photometer
JPS592513Y2 (ja) 分光光度計の測光回路
Peck Fractional-Fringe Measurements with the Corner-Cube Interferometer
JPH04361139A (ja) 液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置
JPS59228103A (ja) 変位量検出装置
JPS5888608A (ja) 光学式位置検出器
JPH0453361B2 (ja)
JPH05196707A (ja) 光式磁界センサ
JPS60143728A (ja) 光学式センサの受光回路
JPH0650885A (ja) 光電比色計
SU1349671A1 (ru) Фотоприемное устройство
JPH0619329B2 (ja) 示差屈折計
JPS6222016A (ja) 距離検出装置