JPS59121987A - 硼酸リチウム結晶を用いたデバイスの製造方法 - Google Patents
硼酸リチウム結晶を用いたデバイスの製造方法Info
- Publication number
- JPS59121987A JPS59121987A JP57227748A JP22774882A JPS59121987A JP S59121987 A JPS59121987 A JP S59121987A JP 57227748 A JP57227748 A JP 57227748A JP 22774882 A JP22774882 A JP 22774882A JP S59121987 A JPS59121987 A JP S59121987A
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- Japan
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- electrode
- lithium borate
- resist
- mask
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- Pending
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- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は硼酸リチウム(L12B4O7)結晶を用いた
デバイスの製造方法に関する。
デバイスの製造方法に関する。
圧電結晶基板管用いた弾性表面波素子は、テレビlE’
lFフィルタや搬送波用共振子等に広く応用されている
。
lFフィルタや搬送波用共振子等に広く応用されている
。
従来の弾性表面波素子の一般的な製造方法を説明すると
、次のとおシである。まず、鏡面研磨した圧電結晶基板
表面の全面にAt膜を蒸着等によシ形成する。この上に
ボッ型レゾスト(例えばコダ、り社製のAZ−1350
)をスピンコートシ、露光、現像して所定のレノストA
Zターンを形成する。そしてAt膜をリン酸:酢酸:硝
酸二本=76:15:4:5のエツチング液で選択エツ
チングして電極ノ(ターンを形成し、その後アセトン中
に浸してレノストを除去する。
、次のとおシである。まず、鏡面研磨した圧電結晶基板
表面の全面にAt膜を蒸着等によシ形成する。この上に
ボッ型レゾスト(例えばコダ、り社製のAZ−1350
)をスピンコートシ、露光、現像して所定のレノストA
Zターンを形成する。そしてAt膜をリン酸:酢酸:硝
酸二本=76:15:4:5のエツチング液で選択エツ
チングして電極ノ(ターンを形成し、その後アセトン中
に浸してレノストを除去する。
最後に基板を所定の大きさに切断して個々のデバイスに
分割し、これを容器に収容して表面波素子が完成する。
分割し、これを容器に収容して表面波素子が完成する。
ところで、このような弾性表面波素子基板として、従来
ニオブ酸リチウム(L+Nb03)結晶やタンタル酸リ
チウム(LiTaO2)単結晶が多く用いられてきた。
ニオブ酸リチウム(L+Nb03)結晶やタンタル酸リ
チウム(LiTaO2)単結晶が多く用いられてきた。
しかしこれらは遅延時間温度係数が大きく、更に高周波
特性を改善し高機能化を図る上で限界があった。また温
度係数の小さいものとして水晶があるが、これは電気機
械結晶係数が小さいという難点があった。
特性を改善し高機能化を図る上で限界があった。また温
度係数の小さいものとして水晶があるが、これは電気機
械結晶係数が小さいという難点があった。
これらの難点を解決するものとして、最近、L !2B
407結晶が有望視されている。しかしながら、L1
2B4O7結晶はリン酸等の酸に溶けるため、上述した
従来の電極形成法をそのまま適用することができない。
407結晶が有望視されている。しかしながら、L1
2B4O7結晶はリン酸等の酸に溶けるため、上述した
従来の電極形成法をそのまま適用することができない。
又、リフトオフ法による電極パターンの形成法が知られ
ているが、これは工程が複雑で歩留シも悪いという欠点
がある。
ているが、これは工程が複雑で歩留シも悪いという欠点
がある。
〔発明の目的〕
本発明は上記の点に鑑み、電極形成工程を改良’L:”
2 Li 2B40.結晶を用いたデ・々イスの製造方
法を提供することを目的とする。
2 Li 2B40.結晶を用いたデ・々イスの製造方
法を提供することを目的とする。
本発明においては、L12B4O7結晶基板に形成した
電極金属膜の選択エツチングをアルカリ水溶液によシ行
う。この場合、ボッ型レゾストは一般に使えないから、
ネガ型レジストを耐エツチングマスクとして用いる。ま
たネガ型レジストは一般に有機溶剤では除去できず、フ
ェノール系はくシ剤が用いられるが、このはく9剤はL
1□B4O7結晶を侵す。そこで本発明では、電極パタ
ーン形成後のネガ型レゾストの除去を酸素プラズマ処理
によって行う。
電極金属膜の選択エツチングをアルカリ水溶液によシ行
う。この場合、ボッ型レゾストは一般に使えないから、
ネガ型レジストを耐エツチングマスクとして用いる。ま
たネガ型レジストは一般に有機溶剤では除去できず、フ
ェノール系はくシ剤が用いられるが、このはく9剤はL
1□B4O7結晶を侵す。そこで本発明では、電極パタ
ーン形成後のネガ型レゾストの除去を酸素プラズマ処理
によって行う。
本発明によれば、L12B4O,結晶基板上の電極形成
全ホトエツチング法によって基板を傷メルことなく行う
ことができ、弾性表面波素子の高周波化、高性能化を図
ることが可能となった。
全ホトエツチング法によって基板を傷メルことなく行う
ことができ、弾性表面波素子の高周波化、高性能化を図
ることが可能となった。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1図(
、)〜(f)は本発明を弾性表面波素子の製造に適用し
た実施例の製造工程を示している。
、)〜(f)は本発明を弾性表面波素子の製造に適用し
た実施例の製造工程を示している。
まず鏡面研磨したL12B4O7結晶基板1を用意しく
&)、その表面に蒸着またはスバ、りによシA、a膜2
を1μm被着する(b)。次にネガ型レゾスト3として
例えばOMR45CPを回転塗布し、150℃。
&)、その表面に蒸着またはスバ、りによシA、a膜2
を1μm被着する(b)。次にネガ型レゾスト3として
例えばOMR45CPを回転塗布し、150℃。
30分のプリベークを行う(C)。そして電極・七ター
ンの反転像を書込んだホトマスク4を基板上゛に密着さ
せ、紫外線5を3〜5秒照射して露光する(d)。露光
した基板をリンスし、現像してレゾストパターンを形成
しくe)、次にこれをKOH5重量%水溶液中で5〜8
分攪拌し不要なU膜を除去してインターアイソタル電極
を形成する(f)。最後に、レジスト3を、酸素プラズ
マ中(fItえば周波数13 ME(z、 電力20
0W、真空度10 Torr )に10〜20分基板を
保持することによシ除去する。
ンの反転像を書込んだホトマスク4を基板上゛に密着さ
せ、紫外線5を3〜5秒照射して露光する(d)。露光
した基板をリンスし、現像してレゾストパターンを形成
しくe)、次にこれをKOH5重量%水溶液中で5〜8
分攪拌し不要なU膜を除去してインターアイソタル電極
を形成する(f)。最後に、レジスト3を、酸素プラズ
マ中(fItえば周波数13 ME(z、 電力20
0W、真空度10 Torr )に10〜20分基板を
保持することによシ除去する。
このようにして電極が形成された基板を個々のデバイス
に分割し、それを容器VC収容して完成する。第2図は
形成された弾性狭面波素子6を容器7に収容した状態を
示している。
に分割し、それを容器VC収容して完成する。第2図は
形成された弾性狭面波素子6を容器7に収容した状態を
示している。
こうして本実施例によれば、ネガ型レジストとアルカリ
水溶液の組合せで電極形成を行い、かつレゾスト除去を
酸素プラズマで行うため、Li2B4O7結晶基板を傷
めることがなく、優れた特性の弾性光面波素子を得るこ
とができる。
水溶液の組合せで電極形成を行い、かつレゾスト除去を
酸素プラズマで行うため、Li2B4O7結晶基板を傷
めることがなく、優れた特性の弾性光面波素子を得るこ
とができる。
なお、アルカリ水溶液としてはKOHの他、LiOH,
NaOHなどを用いることができ、これらの1〜10重
量%水溶液を温度20〜40℃程度の範囲で使用すれば
同様の効果が得られる。また本発明は弾性表面波素子の
他、バルク振動子やセンサ等の製造にも有用である。
NaOHなどを用いることができ、これらの1〜10重
量%水溶液を温度20〜40℃程度の範囲で使用すれば
同様の効果が得られる。また本発明は弾性表面波素子の
他、バルク振動子やセンサ等の製造にも有用である。
第1図(a)〜(f)は本発明の一実施例による弾性表
面波素子の製造工程を示す図、第2図はその弾性表面波
素子を容器に収容した状態を示す図である。 6・・・弾性表面波素子、7・・・容器。 第15@ 第2因 385−
面波素子の製造工程を示す図、第2図はその弾性表面波
素子を容器に収容した状態を示す図である。 6・・・弾性表面波素子、7・・・容器。 第15@ 第2因 385−
Claims (3)
- (1)硼酸リチウム結晶基板に金属膜を被着し、この金
属膜上にネガ型レジストパターンを形成し、このレソス
トパターンをマスクとして前記金属膜を選択工、チング
して電極を形成するデバイスの製造方法において、前記
選択工、チングをアルカリ水溶液により行い、その後の
レソスト除去を酸素プラズマによシ行うことを特徴とす
る硼酸リチウム結晶を用いたデバイスの製造方法。 - (2) 前記金属膜はklまたはa合金である特許請
求の範囲第1項記載の硼酸リチウム結晶を用いたデバイ
スの製造方法。 - (3)前記アルカリ水溶液は、LiOH,NaOHもし
くはKOHまたはこれとの混合物を水に1〜10重量%
溶解したものであシ、これを20〜40℃の範囲で用い
る特許請求の範囲第1項記載の硼酸リチウム結晶を用い
たデノ々イスの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57227748A JPS59121987A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 硼酸リチウム結晶を用いたデバイスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57227748A JPS59121987A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 硼酸リチウム結晶を用いたデバイスの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59121987A true JPS59121987A (ja) | 1984-07-14 |
Family
ID=16865748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57227748A Pending JPS59121987A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 硼酸リチウム結晶を用いたデバイスの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59121987A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2637428A1 (fr) * | 1988-09-30 | 1990-04-06 | Mitsubishi Mining & Cement Co | Electrode interdigitee pour dispositif a ondes de surface et procede pour sa production |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5772414A (en) * | 1980-06-11 | 1982-05-06 | Plessey Overseas | Application of lithium tetraborate to electronic device |
-
1982
- 1982-12-28 JP JP57227748A patent/JPS59121987A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5772414A (en) * | 1980-06-11 | 1982-05-06 | Plessey Overseas | Application of lithium tetraborate to electronic device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2637428A1 (fr) * | 1988-09-30 | 1990-04-06 | Mitsubishi Mining & Cement Co | Electrode interdigitee pour dispositif a ondes de surface et procede pour sa production |
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