JPS59121842A - 平行平板型rie装置 - Google Patents

平行平板型rie装置

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Publication number
JPS59121842A
JPS59121842A JP23232482A JP23232482A JPS59121842A JP S59121842 A JPS59121842 A JP S59121842A JP 23232482 A JP23232482 A JP 23232482A JP 23232482 A JP23232482 A JP 23232482A JP S59121842 A JPS59121842 A JP S59121842A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode plate
etched
ionized gas
upper electrode
central axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23232482A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyasu Hayakawa
早川 弘康
Mikio Kurashima
倉嶋 幹夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP23232482A priority Critical patent/JPS59121842A/ja
Publication of JPS59121842A publication Critical patent/JPS59121842A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3244Gas supply means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は超高密度デバイスの微細加工技術に係り、特に
ハロゲン元素を含むイオン化ガスで被エツチング材料を
エツチングする平行平板型RIE(Reactiye 
Ion Etching)装置に関する。
〔発明の技術的背景およびその問題点〕従来装置の一構
成例を第1図および第2図を参照して説明する。第1図
(a)は−構成例の断面図である。反応容器1内の上部
に上板電極板2を取り付け、上板電極板2の中心には第
1図(blに示す如くイオン化ガスを射出する直径8〜
2011程度の導入口3を設ける。導入口3の上側には
図示しないイオン化ガス供給装置からイオン化ガスを反
応容器内に導入する導入手段4を取り付ける。反応容器
1内の下部には下部電極板2に対向して下部電極板5を
配置し、図示しない駆動装置によって回転軸6を軸に回
転するようにする。こCで、下部電極板5には高周波電
力が印加されており、上部電極板2および下部電極板5
0表面にはポリエステルプポリエチレン等の高分子膜が
貼られている。
下部電極板5上には、回転軸6の中心軸を中心とする円
周上に被エツチング材料7を載置する。このとき、被エ
ツチング材料7と下部電極板50間には、カーデン板、
石英板などからなる台座を設けてもよい。また、被エツ
チング材料は不純物添加の多結晶シリコン、AI、MO
等の金属、SiO□。
SiN等の絶縁膜などにより構成される。
次に、第1図に示す一構成例の動作を説明する。
図示しないイオン化ガス供給装置から導入手段4、導入
口3を介して反応容器1内に入れられたイオン化ガスは
、中心軸のまわりを回転する被エツチング材料7と反応
し、これをエツチングする。Cのとき、インイオン化ガ
スは中心部(導入口3に近い部分)はど濃度が高く、周
辺部(導入口3に遠い部分)はど濃度が低い。反応容器
1内を循環したイオン化ガスは排出口より矢印7の方向
に排出される。
第2図は第1図の一構成例によって被エツチング材料7
をエツチングしたときのエツチング量を説明するグラフ
で、縦軸にエツチング量(オンダストローム7分)をと
り、横軸に位置(グラフの左端が回転の中心軸から最も
離れた位置で、グラフの右端が中心軸から最も近い位置
)をとっている。このように5回転の中心軸すなわち導
入口3から遠い位置と近い位置では、イオン化ガスの濃
度に不均一性が生じるので、エツチング量は位置によっ
て不均一となる。また、全体としてのイオン化率が低い
のでエツチング量も少ない。
上述の如〈従来装置は、上部電極板の中央に設けた1個
の導入口よりイオン化ガスを射出する構成であるため、
被エツチング材料のエツチング個が均一にならず、また
全体的にエツチング量が少なくなるという欠点がある。
〔発明の目的〕
本発明は上述の従来技術の欠点に鑑みてなされたもので
、被エツチング材料のエツチング量ヲ均一にしかつ全体
としてのエツチング量を多くすることのできる平行平板
型RIE装置を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
上記の目的を実現するため本発明は、従来装置の上部電
極板の回転軸(中心軸)を中心とする円周上に一定の間
隔をあけて複数個の導入口を設けた平行平板型RIE装
置を提供するものである。
〔発明の実施例〕
本発明の一実施例を第3図および第4図を参照して説明
する。第3図(alは本発明の一実施例の断面図で、第
1図と同一要素は同一符号で示しである。第3図(b)
は第3図(a)の上部電極板2の平面図である。第3図
に示す如く、イオン化ガスを射出するための榊:入口9
は上部電極板2の中心軸のまわりの円周上に6個設ける
。そして、導入手段4かも与えられたイオン化ガスは、
導入口9を介して反応容器1内に射出されるようにする
。なお、この導入口9の直径は約2朋とし、かつ導入口
9は被エツチング材料7の真上にくるようにする。
このようにしてイオン化ガスを反応容器1内に導入しつ
つ、被エツチング材料7を載置した上部電極板を回転さ
せると、被エツチング材料7はイオン化ガスによりエツ
チングされる。
第4図は第3図に示す一実施例によって被エツチング材
料をエツチングしたときのエツチング量を説明するグラ
フで、第2図と同様に縦軸にエツチング量をとり横軸に
位置をとっている。
エツチング量が均一化し、かつ全体としてエツチング量
が増加していることがわかる。
〔発明の効果〕
上述の如く本発明によれば、従来装置の上部電極板の回
転軸(中心軸)を中心とする円周上に一定の間隔をあけ
て複数個の導入口を設けたので、被エツチング材料の上
でのイオン化案の均一化を図ることができ、被エツチン
グ材料のエツチング量を均一にしかつ全体としてエツチ
ング量を増大させることのできる平行平板型RIE装置
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置の一構成例の断面図およびその一部の
平面図、第2図は第1図の一構成例によるエツチング惜
を説明するグラフ、第3図は本発明の一実施例の断面図
およびその一部の平面図、第4図は第3図の一実施例に
よるエツチング量ヲ説明するグラフである。 ■・・・反応容器、2・・・上部電極板%3,9・・・
導入口、4・・・導入手段、5・・・下部電極板、6・
・・回転軸、7・・・被エツチング材料。 出願人代理人   猪  股     清001− (中心軸力ら遠い)               (
中)1)軸1こ近い少(0)       第3図 (中心軸i

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 イオン化ガスを外部から導入するための導入手段を有す
    る反応容器と、前記反応容器内の上部に取り付けてなり
    前記導入手段を介して導入されたイオン化ガスを前記反
    応容器内に射出する導入口を設けた円板状の上部電極板
    と、前記上部電極板と共通の中心軸を有して対向配置さ
    れ、この中心軸のまわりを円周方向に回転する円板状の
    下部′電極板とを備え、前記下部電極板上の前記中心軸
    を中心とする円周上に載置された被エツチング材料を前
    記イオン化ガスに反応させてエツチングする平行平板型
    RIE装置において、 前記導入口は前記上部電極板の前記中心軸を中心とする
    円周上に一定の間隔をあけて複数個設けてなることを特
    徴とする平行平板型RIE装置。
JP23232482A 1982-12-27 1982-12-27 平行平板型rie装置 Pending JPS59121842A (ja)

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JP23232482A JPS59121842A (ja) 1982-12-27 1982-12-27 平行平板型rie装置

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JP23232482A JPS59121842A (ja) 1982-12-27 1982-12-27 平行平板型rie装置

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JPS59121842A true JPS59121842A (ja) 1984-07-14

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ID=16937407

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JP23232482A Pending JPS59121842A (ja) 1982-12-27 1982-12-27 平行平板型rie装置

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JP (1) JPS59121842A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63122220A (ja) * 1986-11-03 1988-05-26 インタ−ナショナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−ション 反応性イオン・エッチング装置用電極及びこの電極を用いた反応性イオン・エッチング装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63122220A (ja) * 1986-11-03 1988-05-26 インタ−ナショナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−ション 反応性イオン・エッチング装置用電極及びこの電極を用いた反応性イオン・エッチング装置

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