JPS59111501A - シ−ケンスコントロ−ラ - Google Patents
シ−ケンスコントロ−ラInfo
- Publication number
- JPS59111501A JPS59111501A JP21928882A JP21928882A JPS59111501A JP S59111501 A JPS59111501 A JP S59111501A JP 21928882 A JP21928882 A JP 21928882A JP 21928882 A JP21928882 A JP 21928882A JP S59111501 A JPS59111501 A JP S59111501A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sequence
- program
- sequence program
- memory
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/042—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
- G05B19/0426—Programming the control sequence
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/10—Plc systems
- G05B2219/13—Plc programming
- G05B2219/13013—Transferring ram to eprom see also prom burning
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/10—Plc systems
- G05B2219/13—Plc programming
- G05B2219/13153—Modification, change of program in real time
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Programmable Controllers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、マイクロプロセッサにシーケンスの論理演算
を実行させるシーケンスコントローラに関する。
を実行させるシーケンスコントローラに関する。
マイクロプロセッサ（以下、ＭＰＵと略す）は、ＬＳＩ
技術の急速な進歩に伴いその機能も格段に市止し現在で
は様々な分野に応用されている。高い信頼性と実績を重
んじる発電プラント等のシーケンス制御においても、従
来のりレーシーケンスに代，！：ｌ、ＭＰＵを応用した
シーケンスコントローラ示制御の主流を占めるようにな
ってきている。そのシーケンスコントローラのシーケン
スプロクラムは、通常、読み出し□専用メモリ（以下、
ＰＲＯＭと略す）と呼ばれる記憶系゛子へ記憶されてい
るため、シーケンスプログラムめ′内容変更にはＦＲＯ
Ｍ消去、ＦＲＯＭへのシーケンスプログラム書き込み、
メモリコンベア等の作業に多大の時間を費やし、工場試
験、現地調整期間の長期化、プラント運転不能時間の増
大を招くおそれがある。
技術の急速な進歩に伴いその機能も格段に市止し現在で
は様々な分野に応用されている。高い信頼性と実績を重
んじる発電プラント等のシーケンス制御においても、従
来のりレーシーケンスに代，！：ｌ、ＭＰＵを応用した
シーケンスコントローラ示制御の主流を占めるようにな
ってきている。そのシーケンスコントローラのシーケン
スプロクラムは、通常、読み出し□専用メモリ（以下、
ＰＲＯＭと略す）と呼ばれる記憶系゛子へ記憶されてい
るため、シーケンスプログラムめ′内容変更にはＦＲＯ
Ｍ消去、ＦＲＯＭへのシーケンスプログラム書き込み、
メモリコンベア等の作業に多大の時間を費やし、工場試
験、現地調整期間の長期化、プラント運転不能時間の増
大を招くおそれがある。
第１図に従来のシーケンスコントローラの簡単な一構成
例を示す。図中、２はシーケンスコントローラ１全体の
制御を行なうＭＰＵＮ ３はシーケンス実行結果及びシ
ーケンス実行に必要な入出力データを記憶する揮発性リ
ード・ライトメモリ（以下、ＲＡＭと略す）、４は実行
するシーケンスプログラムの内容が記憶、保存されてい
るＦＲＯＭ、 ５はシーケンス実行に必要な外部情報を
入力する入力回路、６はシーケンス実行結果を外部へ出
力する出力回路、７はシーケンスコントローラ１を操作
するモニタコンソール、８はＦＲＯＭ ４に記憶、保存
されているシーケンスプログラムをシーケンスコントロ
ーラ１の外部へ出力するための入出力機器インタフェー
ス、９は前記１〜８の各々を結合する内部パスをそれぞ
れ示す。
例を示す。図中、２はシーケンスコントローラ１全体の
制御を行なうＭＰＵＮ ３はシーケンス実行結果及びシ
ーケンス実行に必要な入出力データを記憶する揮発性リ
ード・ライトメモリ（以下、ＲＡＭと略す）、４は実行
するシーケンスプログラムの内容が記憶、保存されてい
るＦＲＯＭ、 ５はシーケンス実行に必要な外部情報を
入力する入力回路、６はシーケンス実行結果を外部へ出
力する出力回路、７はシーケンスコントローラ１を操作
するモニタコンソール、８はＦＲＯＭ ４に記憶、保存
されているシーケンスプログラムをシーケンスコントロ
ーラ１の外部へ出力するための入出力機器インタフェー
ス、９は前記１〜８の各々を結合する内部パスをそれぞ
れ示す。
第２図はＦＲＯＭ４に記憶、保存されているシーケンス
プログラムを変更する際の処理手順の一例をフローチャ
ートで示したものである。
プログラムを変更する際の処理手順の一例をフローチャ
ートで示したものである。
上記構成で、ＦＲＯＭ ４に記憶、保存されているシー
ケンスプログラムを変更する場合は１先ず１モニタコン
ソール７からの操作によシ、シーケンスコントローラ１
のノログラム実行を停止させる（第２図の２０）。次に
、ＦＲＯＭ ４に記憶、保存されているシーケンスプロ
グラムをモニタコンソール７の操作により入出力機器イ
ンタフェース８を介してシーケンスコントローラ１の外
部へ出力しく第２図の２１）、シーケンスプログラムを
変更してから消去済のＦＲＯＭ又は消去済のＦＲＯＭが
ない場合は、消去器によ、９ ＦＲＯＭを消去してから
ＦＲＯＭへ書き込み（第２図の２２）、書き込み完了し
たＦＲＯＭと装着されているＦＲＯＭ ４と交換する（
第２図の２３）。ＦＲＯＭ交換後はモニタコンソール７
の操作によシ変史個所をメモリ比較等でチェック（第２
図の２４）、変更ミスがないことを確認する。
ケンスプログラムを変更する場合は１先ず１モニタコン
ソール７からの操作によシ、シーケンスコントローラ１
のノログラム実行を停止させる（第２図の２０）。次に
、ＦＲＯＭ ４に記憶、保存されているシーケンスプロ
グラムをモニタコンソール７の操作により入出力機器イ
ンタフェース８を介してシーケンスコントローラ１の外
部へ出力しく第２図の２１）、シーケンスプログラムを
変更してから消去済のＦＲＯＭ又は消去済のＦＲＯＭが
ない場合は、消去器によ、９ ＦＲＯＭを消去してから
ＦＲＯＭへ書き込み（第２図の２２）、書き込み完了し
たＦＲＯＭと装着されているＦＲＯＭ ４と交換する（
第２図の２３）。ＦＲＯＭ交換後はモニタコンソール７
の操作によシ変史個所をメモリ比較等でチェック（第２
図の２４）、変更ミスがないことを確認する。
もし変更ミスがあれば、第２図の２２以降の処理を再度
実行し変更ミスがなくなるまでこの間の処理を繰シ返し
行なう。変更ミスがないことを確認したら、次に変更後
のシーケンスプログラムの動作確認を行ない、変更個所
のシーケンスが正しく実行されるか、又はシーケンスを
変更したことによシ新たな不具合がないか等のチェック
をしく第２図の２５）、チェックＯＫであればシーケン
スプログラムの変更は完了し、シーケンスコントローラ
１のプログラム実行を開始させる（第２図の２６）。し
かし、ここで異常が発見された場合は、第２図の２２以
降の処理を再度実行しなければならない。
実行し変更ミスがなくなるまでこの間の処理を繰シ返し
行なう。変更ミスがないことを確認したら、次に変更後
のシーケンスプログラムの動作確認を行ない、変更個所
のシーケンスが正しく実行されるか、又はシーケンスを
変更したことによシ新たな不具合がないか等のチェック
をしく第２図の２５）、チェックＯＫであればシーケン
スプログラムの変更は完了し、シーケンスコントローラ
１のプログラム実行を開始させる（第２図の２６）。し
かし、ここで異常が発見された場合は、第２図の２２以
降の処理を再度実行しなければならない。
このように工場試験、現地調整期間等でのＦＲＯＭを使
ってのデバッグ、シーケンスプログラム変更には、上記
のようなＦＲＯＭ消去、書き込み、メモリ比較等の作業
をシーケンスプログラムが正確に変更されるまで何回も
実行する必要がＭシ、多大の時間と労力を費やしていた
。また、プラント運転時にシーケンスプログラムの変更
が必要になった時は、一旦、プラントの運転を停止しな
ければならず、上記のような方法では、プラント運転不
能（５） 時間の増大を招くおそれがあった。
ってのデバッグ、シーケンスプログラム変更には、上記
のようなＦＲＯＭ消去、書き込み、メモリ比較等の作業
をシーケンスプログラムが正確に変更されるまで何回も
実行する必要がＭシ、多大の時間と労力を費やしていた
。また、プラント運転時にシーケンスプログラムの変更
が必要になった時は、一旦、プラントの運転を停止しな
ければならず、上記のような方法では、プラント運転不
能（５） 時間の増大を招くおそれがあった。
本発明はシーケンスプログラムの変更を容易に行なうこ
とのできるシーケンスコントローラ１全供することを目
的とする。
とのできるシーケンスコントローラ１全供することを目
的とする。
このため、本発明はシーケンスプログラムの内容全記憶
保存するＦＲＯＭとは別に、このＦＲＯＭと同容量のシ
ーケンスプログラムを記憶、保存できる示揮発性リード
・ライトメモリ（以下、ＮＲＡＭと略す）を用い、シー
ケンスプログラム変更時、とのＮＲＡＭ領域でシーケン
スプログラムを実行させることによシ、シーケンスプロ
グラムを変更し、変更したシーケンスプログラムを外部
のＰＲＡＭに記憶させ、このＰＲＡＭをシーケンスコン
トローラ内部のＦＲＯＭと交換するようにしたことを特
徴とする。
保存するＦＲＯＭとは別に、このＦＲＯＭと同容量のシ
ーケンスプログラムを記憶、保存できる示揮発性リード
・ライトメモリ（以下、ＮＲＡＭと略す）を用い、シー
ケンスプログラム変更時、とのＮＲＡＭ領域でシーケン
スプログラムを実行させることによシ、シーケンスプロ
グラムを変更し、変更したシーケンスプログラムを外部
のＰＲＡＭに記憶させ、このＰＲＡＭをシーケンスコン
トローラ内部のＦＲＯＭと交換するようにしたことを特
徴とする。
第３図に本発明の一実施例に係るシーケンスコントロー
ラの構成図を示す。図中、１〜９は第１図と同等の構成
で６Ｄ、４Ａはシーケンスコント（６） ロー２１に設けられたＦＲＯＭ４と同容量のシーケンス
プログラムを記憶、保存し、実行することができるＮＲ
ＡＭを行したものである。
ラの構成図を示す。図中、１〜９は第１図と同等の構成
で６Ｄ、４Ａはシーケンスコント（６） ロー２１に設けられたＦＲＯＭ４と同容量のシーケンス
プログラムを記憶、保存し、実行することができるＮＲ
ＡＭを行したものである。
第４図は第３図のＮＲＡＭ ４ Ａを使ってシーケンス
プログラムを変更する際の処理手順の一例をフローチャ
ートで示したものである。
プログラムを変更する際の処理手順の一例をフローチャ
ートで示したものである。
以上の構成で、シーケンスプログラムを変更する場合は
、先ず、モニタコンソール７の操作にょシ−ケンスコン
トローラ１のプログラム実行を停止させる（第４図の２
０）。次に、モニタコンソール７の操作によＪＮＲＡＭ
４Ａにシーケンスプログラムを、ＦＲＯＭ４から転送、
又は、シーケンスプログラムを入出力機器インターフェ
ース８を介してシーケンスコントローラ１の外部よりＮ
ＲＡＭ ４ Ａに入力して記憶させ（第４図の４０ ）
、ＮＲＡＭ４Ａに記憶されたシーケンスプログラムを
モニタコンソール７を使って変更個所を変更する（第４
図の４１）。シーケンスプログラム変更後、ＮＲＡＭ４
Ａ領域でシーケンスプログラムを実行させ、動作確認を
行ない（第４図の２５）、エラーが出て来たらその都度
モニタコンソール７を使って第４図の４１の処理を再度
実行しエラーをなくす。動作確認でチェックＯＫになっ
たらＮＲＡＭ ４ Ａに記憶、保存されている正しくプ
ログラム実行した変更後のシーケンスプログラムをモニ
タコンソール７の操作によシ入出力機器インタフェース
８を介してシーケンスコントローラ１の外部へ出力しく
第４図の４２）、消去筒のＦＲＯＭへ書き込む（第４図
の４３）。最後に、ＦＲＯＭ４と変更後のシーケンスゾ
ログラムが書き込まれたＦＲＯＭと交換して（第４図の
２３）、シーケンスプログラム変更が完了する。
、先ず、モニタコンソール７の操作にょシ−ケンスコン
トローラ１のプログラム実行を停止させる（第４図の２
０）。次に、モニタコンソール７の操作によＪＮＲＡＭ
４Ａにシーケンスプログラムを、ＦＲＯＭ４から転送、
又は、シーケンスプログラムを入出力機器インターフェ
ース８を介してシーケンスコントローラ１の外部よりＮ
ＲＡＭ ４ Ａに入力して記憶させ（第４図の４０ ）
、ＮＲＡＭ４Ａに記憶されたシーケンスプログラムを
モニタコンソール７を使って変更個所を変更する（第４
図の４１）。シーケンスプログラム変更後、ＮＲＡＭ４
Ａ領域でシーケンスプログラムを実行させ、動作確認を
行ない（第４図の２５）、エラーが出て来たらその都度
モニタコンソール７を使って第４図の４１の処理を再度
実行しエラーをなくす。動作確認でチェックＯＫになっ
たらＮＲＡＭ ４ Ａに記憶、保存されている正しくプ
ログラム実行した変更後のシーケンスプログラムをモニ
タコンソール７の操作によシ入出力機器インタフェース
８を介してシーケンスコントローラ１の外部へ出力しく
第４図の４２）、消去筒のＦＲＯＭへ書き込む（第４図
の４３）。最後に、ＦＲＯＭ４と変更後のシーケンスゾ
ログラムが書き込まれたＦＲＯＭと交換して（第４図の
２３）、シーケンスプログラム変更が完了する。
以上のように本発明によれば、シーケンスプログラムの
変更はＮＲＡＭの内容′ｔ−直接変更でき、従来のコン
ベア作業はなくな９、かつ、ＮＲＡＭでシーケンスプロ
グラムの変更およびチェックをしてからＰＲＡＭに変更
後のシーケンスプログラムを書き込むので、シーケンス
プログラム変更時のＦＲＯＭへの書き込み作業は１回で
済み、また、ＮＲＡＭに記憶、保存されるシーケンスプ
ログラムはシーケンスコントローラの電源が落ちても消
えることなく保存されているので、電源投入毎のシーケ
ンスプログラム入力作業の必要もなく、従来と較ベニ場
試験、現地調整時のデパック、シーケンスプログラム変
更等の時間および労力が大幅に改善される。
変更はＮＲＡＭの内容′ｔ−直接変更でき、従来のコン
ベア作業はなくな９、かつ、ＮＲＡＭでシーケンスプロ
グラムの変更およびチェックをしてからＰＲＡＭに変更
後のシーケンスプログラムを書き込むので、シーケンス
プログラム変更時のＦＲＯＭへの書き込み作業は１回で
済み、また、ＮＲＡＭに記憶、保存されるシーケンスプ
ログラムはシーケンスコントローラの電源が落ちても消
えることなく保存されているので、電源投入毎のシーケ
ンスプログラム入力作業の必要もなく、従来と較ベニ場
試験、現地調整時のデパック、シーケンスプログラム変
更等の時間および労力が大幅に改善される。
第１図は従来のシーケンスコントローラノ構成図１第２
図は従来のシーケンスプログラム変更手順を示すフロー
チャート、第３図は本発明の一実施例を示すシーケンス
コントローラの構成図１第４図は第３図におけるシーケ
ンスプログラム変更子１社を示すフローチャートである
。 １・・・シーケンスコントローラ、２・・・マイクロプ
ロセッサ（ＭＰＵ）、３・・・入出力データ記憶用揮発
性リード・ライトメモリ（ＲＡＭ）、４・・・シーケン
スグロダラム記憶、保存用読み出し専用メモリ（ＰＲＯ
Ｍ） 、４ Ａ・・・シーケンスプログラム記憶、保存
用不揮発性リード・ライトメモリ（ＮＲＡＭ）、５・・
・入力回路、６・・・出力回路、７・・・モニタコンソ
ール、８・・・入出力機器インタフェース、９・・・内
部パ（９） ス０ （７３１７）代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか
１名） （１０） 第２図 第３図 第４図 ＝５−
図は従来のシーケンスプログラム変更手順を示すフロー
チャート、第３図は本発明の一実施例を示すシーケンス
コントローラの構成図１第４図は第３図におけるシーケ
ンスプログラム変更子１社を示すフローチャートである
。 １・・・シーケンスコントローラ、２・・・マイクロプ
ロセッサ（ＭＰＵ）、３・・・入出力データ記憶用揮発
性リード・ライトメモリ（ＲＡＭ）、４・・・シーケン
スグロダラム記憶、保存用読み出し専用メモリ（ＰＲＯ
Ｍ） 、４ Ａ・・・シーケンスプログラム記憶、保存
用不揮発性リード・ライトメモリ（ＮＲＡＭ）、５・・
・入力回路、６・・・出力回路、７・・・モニタコンソ
ール、８・・・入出力機器インタフェース、９・・・内
部パ（９） ス０ （７３１７）代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか
１名） （１０） 第２図 第３図 第４図 ＝５−
Claims (1)
- シーケンスの実行に必要な外部情報を入力する入力回路
とシーケンスの実行結果を外部へ出力する出力回路とを
有するマイクロプロセッサを応用したシーケンスコント
ローラにおいて、実行するシーケンスプログラムを記憶
、保存する書き込み消去可能な読み出し専用メモリと、
前記読み出し専用メモリと同容量のシーケンスプログラ
ムを書き込み、保存、実行することが可能な不揮発性リ
ード・ライトメモリと、前記読み出し専用メモリや不揮
発性リード・ライトメモリに記憶、保存したシーケンス
プログラムをシーケンスコントローラの外部へ出力する
だめの入出力機器インタフェースと、前記不揮発性リー
ド・ライトメモリの内容変更及びマイクロプロセッサを
操作するモニタコンソールとを具備し、シーケンスプロ
グラム変史時、前記不揮発性リード・ライトメモリ領域
でシーケンスプログラムを実行させることを特徴とスル
シーケンスコントローラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21928882A JPS59111501A (ja) | 1982-12-16 | 1982-12-16 | シ−ケンスコントロ−ラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21928882A JPS59111501A (ja) | 1982-12-16 | 1982-12-16 | シ−ケンスコントロ−ラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59111501A true JPS59111501A (ja) | 1984-06-27 |
Family
ID=16733149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21928882A Pending JPS59111501A (ja) | 1982-12-16 | 1982-12-16 | シ−ケンスコントロ−ラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59111501A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04332051A (ja) * | 1991-05-07 | 1992-11-19 | Fuji Electric Co Ltd | 機器組み込み形マイクロコンピュータのプログラムデバッグ方式 |
| JP2006338688A (ja) * | 2006-09-08 | 2006-12-14 | Hitachi Ltd | プロセス制御システム |
| US9595076B2 (en) | 2013-05-08 | 2017-03-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Programmable display configured to store screen data for debugging into volatile memory |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5344632A (en) * | 1976-10-05 | 1978-04-21 | Satoshi Takigawa | Deodrant |
| JPS54116585A (en) * | 1978-03-01 | 1979-09-10 | Omron Tateisi Electronics Co | Sequence controller |
| JPS56108108A (en) * | 1980-01-29 | 1981-08-27 | Mitsubishi Electric Corp | Sequence control system |
-
1982
- 1982-12-16 JP JP21928882A patent/JPS59111501A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5344632A (en) * | 1976-10-05 | 1978-04-21 | Satoshi Takigawa | Deodrant |
| JPS54116585A (en) * | 1978-03-01 | 1979-09-10 | Omron Tateisi Electronics Co | Sequence controller |
| JPS56108108A (en) * | 1980-01-29 | 1981-08-27 | Mitsubishi Electric Corp | Sequence control system |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04332051A (ja) * | 1991-05-07 | 1992-11-19 | Fuji Electric Co Ltd | 機器組み込み形マイクロコンピュータのプログラムデバッグ方式 |
| JP2006338688A (ja) * | 2006-09-08 | 2006-12-14 | Hitachi Ltd | プロセス制御システム |
| JP4724076B2 (ja) * | 2006-09-08 | 2011-07-13 | 株式会社日立製作所 | プロセス制御システム |
| US9595076B2 (en) | 2013-05-08 | 2017-03-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Programmable display configured to store screen data for debugging into volatile memory |
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