JPS59108426A - 結合用中間回路 - Google Patents
結合用中間回路Info
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- JPS59108426A JPS59108426A JP58221928A JP22192883A JPS59108426A JP S59108426 A JPS59108426 A JP S59108426A JP 58221928 A JP58221928 A JP 58221928A JP 22192883 A JP22192883 A JP 22192883A JP S59108426 A JPS59108426 A JP S59108426A
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09448—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]
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- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
- H03K19/01721—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
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- H03K19/017509—Interface arrangements
- H03K19/017518—Interface arrangements using a combination of bipolar and field effect transistors [BIFET]
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、レベルシフト回路として動作し得る結合用
中間(インタフェイス)回路に関するものである。
中間(インタフェイス)回路に関するものである。
電子的装置においては、その相異なる部分(パーツ)を
相異なる電圧レベルで動作させる必要性或いは(および
)動作させたいことが屡々ある。
相異なる電圧レベルで動作させる必要性或いは(および
)動作させたいことが屡々ある。
相異なる部分が互に対向している(信号云達を目的とし
て)ような個所ではそれらを互に結合させねばならない
。しかしその対向部における信号は必ずしも両部会に適
合するとは限らない。従って、装置中の一つの部分を他
と適合し得るようにするだめに、それらの間の中継接続
とレベルシフトを行なう回路を設ける必要がある。結合
用中間回路捷たけレベルシフト回路が有効に働くだめに
は、特に、動作速度、素子数および電力消費が少ないこ
となどの点で、装置中の他の回路と釣合っていなければ
ならない。
て)ような個所ではそれらを互に結合させねばならない
。しかしその対向部における信号は必ずしも両部会に適
合するとは限らない。従って、装置中の一つの部分を他
と適合し得るようにするだめに、それらの間の中継接続
とレベルシフトを行なう回路を設ける必要がある。結合
用中間回路捷たけレベルシフト回路が有効に働くだめに
は、特に、動作速度、素子数および電力消費が少ないこ
となどの点で、装置中の他の回路と釣合っていなければ
ならない。
一例として、トランジスタ・トランジスタ論理(TTL
)回路の出力信号を相補性金属酸化物半導体(0MO8
)回路の入力に転送する場合の問題点が第1A図に明示
されている。第1B図に示されたこのTTL入力信号V
INは、約2.4〜5.0ボルトの範囲の論理゛1′1
だは゛高ルベルと、0〜0.4ボルトの範囲の論理゛0
#まだはゞ低“レベルとを持っている。
)回路の出力信号を相補性金属酸化物半導体(0MO8
)回路の入力に転送する場合の問題点が第1A図に明示
されている。第1B図に示されたこのTTL入力信号V
INは、約2.4〜5.0ボルトの範囲の論理゛1′1
だは゛高ルベルと、0〜0.4ボルトの範囲の論理゛0
#まだはゞ低“レベルとを持っている。
このTTLレベルのゞ高′とゞ低“を識別する場合の最
悪条件はゝ高“レベルが2.4ボルトで1低“レベルが
0.4ボルトのときに生ずる。
悪条件はゝ高“レベルが2.4ボルトで1低“レベルが
0.4ボルトのときに生ずる。
0M03回路では、いわゆる相補性インバータを形成す
るように直列接続したPチャンネルおよびNチャンネル
絶縁ゲート電界効果トランジスタより成る入力バッファ
を設けるのが好適である。この0M08回路の動作電圧
(VDD)がたとえば5ボルトであるとすれば、論理ビ
および0“信号はそれぞれ5ボルトおよびOボルトに近
い値となって、2個の絶縁ゲート電界効果トランジスタ
(IGFET)のうちの一方がオン状態であれば他方が
確実にオフ状態になることを保証し々ければならない。
るように直列接続したPチャンネルおよびNチャンネル
絶縁ゲート電界効果トランジスタより成る入力バッファ
を設けるのが好適である。この0M08回路の動作電圧
(VDD)がたとえば5ボルトであるとすれば、論理ビ
および0“信号はそれぞれ5ボルトおよびOボルトに近
い値となって、2個の絶縁ゲート電界効果トランジスタ
(IGFET)のうちの一方がオン状態であれば他方が
確実にオフ状態になることを保証し々ければならない。
しかし、′最高”のvxI+が2.4ボルトであると、
上記PおよびNチャンネルの両IGFTEは同時にオン
状態となるので具合が悪い。すなわち、vDDと大地間
に町成り低インピーダンスの導電路が形成されて、許容
し得ない様な大きな電力消費が生ずる。
上記PおよびNチャンネルの両IGFTEは同時にオン
状態となるので具合が悪い。すなわち、vDDと大地間
に町成り低インピーダンスの導電路が形成されて、許容
し得ない様な大きな電力消費が生ずる。
この問題を解決して、入力の両レベルが0.4ボルトと
2.4ボルトにおいても確実に安定状態が得られるよう
にするために、従来は、PチャンネルIGFETとNチ
ャンネルIGFBTが両者とも導通したときに前者のイ
ンピーダンスが後者のインピーダンスより極めて犬とな
る(典型的には少なくとも10倍以上)ようにすること
、す々わちPチャンネルIGFETに比べてNチャンネ
ルIGPE’[’の寸法を極めて大きくすること、が提
案された。インバータのこの様に大きな非対称性により
その出力をTTL入力として適する形にすることはでき
たが、それとは別に多くの問題が派生した。
2.4ボルトにおいても確実に安定状態が得られるよう
にするために、従来は、PチャンネルIGFETとNチ
ャンネルIGFBTが両者とも導通したときに前者のイ
ンピーダンスが後者のインピーダンスより極めて犬とな
る(典型的には少なくとも10倍以上)ようにすること
、す々わちPチャンネルIGFETに比べてNチャンネ
ルIGPE’[’の寸法を極めて大きくすること、が提
案された。インバータのこの様に大きな非対称性により
その出力をTTL入力として適する形にすることはでき
たが、それとは別に多くの問題が派生した。
第1に、入カバソファに非対称性を必要とし々い場合に
線間(レール−レール)全入力電圧(0〜5ボルト)に
対して、この人力バッファの応答が非常に非対称的にな
る。P’ −IGFE’I’の(N−IGFETに比較
して)非常に小さな駆動能力のために、一方の極性の入
力信号の遷移(たとえば2.4ボルトから0.4ボルト
へ)には逆極性の遷移に比べて遥かに大きな遅延が生ず
る。従って回路の応答は一方向において遅れ、回路動作
が非常に劣化する。
線間(レール−レール)全入力電圧(0〜5ボルト)に
対して、この人力バッファの応答が非常に非対称的にな
る。P’ −IGFE’I’の(N−IGFETに比較
して)非常に小さな駆動能力のために、一方の極性の入
力信号の遷移(たとえば2.4ボルトから0.4ボルト
へ)には逆極性の遷移に比べて遥かに大きな遅延が生ず
る。従って回路の応答は一方向において遅れ、回路動作
が非常に劣化する。
別の問題は、TTLレベル入力に応じたインバータの電
力消費の大きなことである。0MO3技術の主たる利点
はその待機状態における電力消費が極めて小さい(マイ
クロワット級)ことである。しかし、この低電力消費は
線間全CMO3人カレベルに対してのみ得られる。T〒
Lレベル入力における静的電力消費はミリワット級のよ
り高い大きさになり得る。PおよびNチャンネル装置の
インピーダンスを増すと電力消費は減少する。しかし、
これは高速回路では適切な解決にはならない。その理由
は、P型装置のインピーダンスはN型装置のインピーダ
ンスより非常に大きくなってし丑い、接続点におけるキ
ャパシタの充放電時間が長くなり過ぎるからである。一
方、これら装置の寸法を増大させる(それらのインピー
ダンスを減少させる)とこの遅延は減少するが電力消費
が悪化するという問題が出て来る。また、P−IGFE
Tに較べてN−IGFETの寸法形状を大きくしようと
すると、回路の配置形態および製造の面で問題が生ずる
。
力消費の大きなことである。0MO3技術の主たる利点
はその待機状態における電力消費が極めて小さい(マイ
クロワット級)ことである。しかし、この低電力消費は
線間全CMO3人カレベルに対してのみ得られる。T〒
Lレベル入力における静的電力消費はミリワット級のよ
り高い大きさになり得る。PおよびNチャンネル装置の
インピーダンスを増すと電力消費は減少する。しかし、
これは高速回路では適切な解決にはならない。その理由
は、P型装置のインピーダンスはN型装置のインピーダ
ンスより非常に大きくなってし丑い、接続点におけるキ
ャパシタの充放電時間が長くなり過ぎるからである。一
方、これら装置の寸法を増大させる(それらのインピー
ダンスを減少させる)とこの遅延は減少するが電力消費
が悪化するという問題が出て来る。また、P−IGFE
Tに較べてN−IGFETの寸法形状を大きくしようと
すると、回路の配置形態および製造の面で問題が生ずる
。
要約すると、たとえばO〜5ボルト間で動作させられる
相補性インバータが、たとえば0.4〜2.4ボルト間
で変化する信号に応じて極めて微量の遅れしか生ぜずに
はゾ対称性をもってOまたは5ボルトに近い出力信号を
生成せねばならず、かつ少数の素子で目立つ程の電力消
費なしにその様な動作をせねばならぬ場合には、問題が
ある。
相補性インバータが、たとえば0.4〜2.4ボルト間
で変化する信号に応じて極めて微量の遅れしか生ぜずに
はゾ対称性をもってOまたは5ボルトに近い出力信号を
生成せねばならず、かつ少数の素子で目立つ程の電力消
費なしにその様な動作をせねばならぬ場合には、問題が
ある。
(発明の概要〕
この発明を実施した回路では、第1のIG PETのソ
ース−ドレン導電路と直列に、第1の電源端子と出力点
間に電圧降下素子が接続されている。第2のIGFET
のドレン−ソース導電路が上記出力点と第2の電源端子
間に接続されており、またこれら両IGP”ETのゲー
ト電極は入力端子に接続されている。この電圧降下素子
は、第1 IGFETに印加される実効ゲート−ソース
間電圧を低減させて、入力信号の1直が第1電源端子お
よび第2電源端子における両電圧間にある場合でも、第
1 IGFETがオフ状態にすなわちその導通度が大幅
に低減させられるようにする。この回路は、丑だ、出力
点または第1のIGF’ETのソースに結合された再生
ラッチを有し、これは第1のI GF”B甲のターンオ
ンを検知して出力点を第1電源端子の電圧にクランプし
、入力電圧が第2端子の電圧と同じまたはそれに近い値
のときに電圧降下素子のオフセットによる出力点の電圧
オフセットの可能性を除去する。
ース−ドレン導電路と直列に、第1の電源端子と出力点
間に電圧降下素子が接続されている。第2のIGFET
のドレン−ソース導電路が上記出力点と第2の電源端子
間に接続されており、またこれら両IGP”ETのゲー
ト電極は入力端子に接続されている。この電圧降下素子
は、第1 IGFETに印加される実効ゲート−ソース
間電圧を低減させて、入力信号の1直が第1電源端子お
よび第2電源端子における両電圧間にある場合でも、第
1 IGFETがオフ状態にすなわちその導通度が大幅
に低減させられるようにする。この回路は、丑だ、出力
点または第1のIGF’ETのソースに結合された再生
ラッチを有し、これは第1のI GF”B甲のターンオ
ンを検知して出力点を第1電源端子の電圧にクランプし
、入力電圧が第2端子の電圧と同じまたはそれに近い値
のときに電圧降下素子のオフセットによる出力点の電圧
オフセットの可能性を除去する。
この明細書では、この発明を例示するために絶縁ゲート
電界効果トランジスタを使用している。
電界効果トランジスタを使用している。
P導電型のIGFETは、特定の参照数字の前にPをけ
し、まだN導電型のIGFETは同じくNを付けて示し
ている。
し、まだN導電型のIGFETは同じくNを付けて示し
ている。
第2図に示す回路は、図示してないTTL信号源から入
力信号VINが印加される入力端子11を持っている。
力信号VINが印加される入力端子11を持っている。
VfNは、第2図に示すように、O−0,4ボルトの範
囲にある低“状態と2.4〜VDDボルトの範囲の高“
状態の間で変化するものである。
囲にある低“状態と2.4〜VDDボルトの範囲の高“
状態の間で変化するものである。
この例では、v99は+5ボルトに等しいものとする。
この回路は、、 IGF’ET PIとNlより成る
相補性インバータエ1を持っている。N1とPiのゲー
ト電極は端子11に接続されまたそれらのドレン電極は
回路点2に接続されている。Nlのソース電極は接地さ
れ、PIのソース電極は、バイポーラNPN トランジ
スタTlのエミッタが接続された回路点13に接続され
ている。TIのベースとコレクタは端子15に接続され
、そこにはVDDボルトが印加されている。TIは、ダ
イオード接続されていて以下説明するように電圧降下素
子として働く。IGFFT P2およびN2より成る相
補性インバータは、その入力が回路点2に、その出力が
回路点3およびIGFET P3のゲートに接続されて
いる。IGFFT P3の導電路は回路点2と端子15
の間に接続されている。インバータI2は相補性インバ
ータとして図示されてい乙が、任意周知の高入力インピ
ーダンス・インバータで置換することができる。
相補性インバータエ1を持っている。N1とPiのゲー
ト電極は端子11に接続されまたそれらのドレン電極は
回路点2に接続されている。Nlのソース電極は接地さ
れ、PIのソース電極は、バイポーラNPN トランジ
スタTlのエミッタが接続された回路点13に接続され
ている。TIのベースとコレクタは端子15に接続され
、そこにはVDDボルトが印加されている。TIは、ダ
イオード接続されていて以下説明するように電圧降下素
子として働く。IGFFT P2およびN2より成る相
補性インバータは、その入力が回路点2に、その出力が
回路点3およびIGFET P3のゲートに接続されて
いる。IGFFT P3の導電路は回路点2と端子15
の間に接続されている。インバータI2は相補性インバ
ータとして図示されてい乙が、任意周知の高入力インピ
ーダンス・インバータで置換することができる。
次に、第2図の回路の動作を、その入力信号VINが゛
低″(0〜0.4ボルト)のときの状態、およびVIN
が゛高′(最少2.4ボルト)のときの状態について積
別する。なお、以下の論議においてVDDは5ボルトで
あるとする。
低″(0〜0.4ボルト)のときの状態、およびVIN
が゛高′(最少2.4ボルト)のときの状態について積
別する。なお、以下の論議においてVDDは5ボルトで
あるとする。
(a) VINが0.4ボルトtだはそれ以下のとき
には、旧はオフ状態にされる。T1の両端間の電圧降下
のために、Plのソース電位は[VDD−VBE]ボル
トである。VnzはトランジスタTIのベース−エミッ
タ間電圧降下で0.6ボルトに等しい値とすることがで
きる。従って、vDD=5ボルトとすればPlのソース
は4.4ボルトである。Vtmが1低′のときには、p
lのゲートは最大0.4ボルトでそのソースは4.4ボ
ルトであり、そのためゲート−ソース間電圧VGsは4
.0ボルトに等しい。従って’I P+は強くオン状態
とされ、共通ソース形で導通して、回路点2の電圧v2
を(VDD −Vng )ボルトに近付ける。付加的な
回路が無ければ、Plの導電路と直列接続されたTIは
、回路点2の電圧v2をVBgボルトだけオフセットさ
せ、すなわちv2は最大値[VDD−VBm]ボルトに
なる。しかし、回路点2における最終的な電圧は、この
オフセットを打消して除去する働きをする、P3とイン
バー2120組合せによって決定される。T2の遷移点
をVDD/2付近とする。この状態は、P2とN2が同
一バイアス条件ではゾ等しいインピーダンスを持つよう
に設計されている場合に得られる。その結果、回路点2
の電位がVnn/2以上になると必ずN2はP2よりも
導通性となり、回路点3の電位(V31を大地に近づけ
る。
には、旧はオフ状態にされる。T1の両端間の電圧降下
のために、Plのソース電位は[VDD−VBE]ボル
トである。VnzはトランジスタTIのベース−エミッ
タ間電圧降下で0.6ボルトに等しい値とすることがで
きる。従って、vDD=5ボルトとすればPlのソース
は4.4ボルトである。Vtmが1低′のときには、p
lのゲートは最大0.4ボルトでそのソースは4.4ボ
ルトであり、そのためゲート−ソース間電圧VGsは4
.0ボルトに等しい。従って’I P+は強くオン状態
とされ、共通ソース形で導通して、回路点2の電圧v2
を(VDD −Vng )ボルトに近付ける。付加的な
回路が無ければ、Plの導電路と直列接続されたTIは
、回路点2の電圧v2をVBgボルトだけオフセットさ
せ、すなわちv2は最大値[VDD−VBm]ボルトに
なる。しかし、回路点2における最終的な電圧は、この
オフセットを打消して除去する働きをする、P3とイン
バー2120組合せによって決定される。T2の遷移点
をVDD/2付近とする。この状態は、P2とN2が同
一バイアス条件ではゾ等しいインピーダンスを持つよう
に設計されている場合に得られる。その結果、回路点2
の電位がVnn/2以上になると必ずN2はP2よりも
導通性となり、回路点3の電位(V31を大地に近づけ
る。
これによってP3はオン状態にされ、回路点2の電位を
更に一層VDD/2よりも高<L(VDDに近づけ)、
N2をより高度に導通させまたP2をカットオフ状態に
追いやる。N2とP3の再生帰還によって、確実にN2
とN3は一層強くオン状態にされまたP2は充分にオフ
状態にされる。すなわち、PIの導電路と直列に接続さ
れたTIによって回路点2に生ずるオフセットは、P3
がオン状態にされると除去される。P3が無い場合((
は、P2のVTが異常に低くかつVBICが異常に高け
ればP2は僅かに導通する。従って、、 VANが低(
すなわち、O〜0.4ボルトの間)のとき、回路点2は
VDDボルトまたはそれに近い値となり、そのためP2
はオフ、N2は強くオンに、またv3は1低′(すなわ
ち、0ボルトまだはそれに近い値)となり、P3を強く
導通状態とする。従って、VtNが低であれば、旧も充
分にオフ状態にあるので、定常状態のすなわち静的な電
力消費は無い。
更に一層VDD/2よりも高<L(VDDに近づけ)、
N2をより高度に導通させまたP2をカットオフ状態に
追いやる。N2とP3の再生帰還によって、確実にN2
とN3は一層強くオン状態にされまたP2は充分にオフ
状態にされる。すなわち、PIの導電路と直列に接続さ
れたTIによって回路点2に生ずるオフセットは、P3
がオン状態にされると除去される。P3が無い場合((
は、P2のVTが異常に低くかつVBICが異常に高け
ればP2は僅かに導通する。従って、、 VANが低(
すなわち、O〜0.4ボルトの間)のとき、回路点2は
VDDボルトまたはそれに近い値となり、そのためP2
はオフ、N2は強くオンに、またv3は1低′(すなわ
ち、0ボルトまだはそれに近い値)となり、P3を強く
導通状態とする。従って、VtNが低であれば、旧も充
分にオフ状態にあるので、定常状態のすなわち静的な電
力消費は無い。
(b) VINがこのゝ低“レベルから2.4ボルト
へ遷移するとNlはオン状態になる。Plは、そのゲー
ト電極に2.4ボルトが印加されソース電極は4.4ボ
ルト(すなわち、Vnn−TIのVBK )であるから
そのゲート−ソース間電圧(Ves)は2.0ボルトと
なる。PlのVTが0.′7ボルトに等しいとすると、
Plは僅かにオン状態にされる。Plよシも大型の装置
である旧のオン状態によって回路点2は確実に゛低′す
なわち大数電位に近い値にされる。インバータエ20入
力に印加される低“はN2をオフ状態にしP2をオン状
態にするので、その出力は高くなりP3をオフ状態にす
る。従って、P3とT2の組合せは静的々電力消費を生
じない。 ゛電圧降下素子TIは、plのゲート
−ソース間電圧(VG)とPlを流れる電流とを減少さ
せる。
へ遷移するとNlはオン状態になる。Plは、そのゲー
ト電極に2.4ボルトが印加されソース電極は4.4ボ
ルト(すなわち、Vnn−TIのVBK )であるから
そのゲート−ソース間電圧(Ves)は2.0ボルトと
なる。PlのVTが0.′7ボルトに等しいとすると、
Plは僅かにオン状態にされる。Plよシも大型の装置
である旧のオン状態によって回路点2は確実に゛低′す
なわち大数電位に近い値にされる。インバータエ20入
力に印加される低“はN2をオフ状態にしP2をオン状
態にするので、その出力は高くなりP3をオフ状態にす
る。従って、P3とT2の組合せは静的々電力消費を生
じない。 ゛電圧降下素子TIは、plのゲート
−ソース間電圧(VG)とPlを流れる電流とを減少さ
せる。
ダイオード接続されているTIは、Plのゲート−ソー
ス間電圧(vGs)を約1ダイオード電圧降丁分だけ減
少させるように、およびvXtlが’FTL論理゛l”
(すなわち、2.4ボルト)のときPlを通して流れる
ことのできる電流を制限するように、作用する。
ス間電圧(vGs)を約1ダイオード電圧降丁分だけ減
少させるように、およびvXtlが’FTL論理゛l”
(すなわち、2.4ボルト)のときPlを通して流れる
ことのできる電流を制限するように、作用する。
例示のために、最悪の事例としてVINの最小の高値を
2.4ボルトと考えて来た。しかし多くの場合、V X
+gの最小の高値は2,7ボルトで代表的な高値は3
.5ボルトである。PlのVasが減少すると、、
VINが2.4ボルトの最小の高値のとき、TlはPi
が比較的高インピーダンスと同様に働くようにする。
2.4ボルトと考えて来た。しかし多くの場合、V X
+gの最小の高値は2,7ボルトで代表的な高値は3
.5ボルトである。PlのVasが減少すると、、
VINが2.4ボルトの最小の高値のとき、TlはPi
が比較的高インピーダンスと同様に働くようにする。
Nlはこの2.4ボルトの入力でオン状態になり、回路
点2を大地電位捷たはそれに近い電位にすることができ
る。
点2を大地電位捷たはそれに近い電位にすることができ
る。
TIの存在は入力インバータ11の電力消費を低減させ
るために重要である。T1が無くてPlのソースがVD
Dに直結されていたとすると、VINが2.4ボルトで
VDDが5ボルトと言う最悪条件のとき、PIのゲート
とソース電極の間には2.6ボルトが印加される。回路
中にT1があると、Plの最大VG8は2ボルトで、動
作速度や出力信号の対称性の大幅な低下無しに、インバ
ータの電力消費は大幅に減少する、ことになる。シミュ
ーレーションに験によると、’rlを挿入すれば、VI
Nが3.5ボルト、VDDが5ボルトの場合代表的なケ
ースで、IIを流れる電流レベルが1oo分のlK減少
することが判った。
るために重要である。T1が無くてPlのソースがVD
Dに直結されていたとすると、VINが2.4ボルトで
VDDが5ボルトと言う最悪条件のとき、PIのゲート
とソース電極の間には2.6ボルトが印加される。回路
中にT1があると、Plの最大VG8は2ボルトで、動
作速度や出力信号の対称性の大幅な低下無しに、インバ
ータの電力消費は大幅に減少する、ことになる。シミュ
ーレーションに験によると、’rlを挿入すれば、VI
Nが3.5ボルト、VDDが5ボルトの場合代表的なケ
ースで、IIを流れる電流レベルが1oo分のlK減少
することが判った。
PIのインピーダンスに対するこの作用の他に、TIを
使用するとトランジスタNlの寸法を小さくすることが
でき、そのため集積回路上の空間が節約される。上述の
ように、TIが無い場合には、TTLレベルの入力を取
扱うためにNlの大きさはPiの大きさの7〜10倍に
しなければならない。Plに対するN1のこの比率は、
VXNが最小の高レベルのときv2がVDD/2より充
分小であることを保証するために必要である。回路中に
TIがあれば、N1はPlの而か2〜3倍の大きさで良
い。これによって回路点2と3における出力はより対称
的なものになる。
使用するとトランジスタNlの寸法を小さくすることが
でき、そのため集積回路上の空間が節約される。上述の
ように、TIが無い場合には、TTLレベルの入力を取
扱うためにNlの大きさはPiの大きさの7〜10倍に
しなければならない。Plに対するN1のこの比率は、
VXNが最小の高レベルのときv2がVDD/2より充
分小であることを保証するために必要である。回路中に
TIがあれば、N1はPlの而か2〜3倍の大きさで良
い。これによって回路点2と3における出力はより対称
的なものになる。
第2図の回路では、高い応答速度を得るだめに1個の電
圧降下素子しか使っていない。それよりも応答速度が幾
分遅い動作でよい場合には2(またはそれ以上)個のダ
イオードまたは類似の電圧降下素子を使用することがで
きる。この形は第3図に示される通りで、ダイオード動
作をするように相互接続された2個のトランジスタ(T
IAとTIB)が、piのソースと端子150間に直列
に接続されている。端子13と15の間に直列に接続さ
れたTIAとTIBはPI(7)ソース電圧を(VDD
−2VBIC)ボルトまたはそれに近い値にする。前と
同じ様に、vBBを0.6ボル)、PIのVTを0.7
ボルトであるとする。
圧降下素子しか使っていない。それよりも応答速度が幾
分遅い動作でよい場合には2(またはそれ以上)個のダ
イオードまたは類似の電圧降下素子を使用することがで
きる。この形は第3図に示される通りで、ダイオード動
作をするように相互接続された2個のトランジスタ(T
IAとTIB)が、piのソースと端子150間に直列
に接続されている。端子13と15の間に直列に接続さ
れたTIAとTIBはPI(7)ソース電圧を(VDD
−2VBIC)ボルトまたはそれに近い値にする。前と
同じ様に、vBBを0.6ボル)、PIのVTを0.7
ボルトであるとする。
端子11に1低′入力を印加すると、それに応じて、N
1はオフ状態にPlはオン状態になって、v2を〔vD
D−2VBF+)ボルトに近づけるようにする。VDD
:5ボルトでVnnが0.6ボルトに等しい場合には、
I2は大体3.8ボルトに等しくなる。従って、付加的
な回路が無い場合には、I2に2VBKボルトのオフセ
ットがある。しかし、I2とP3より成る再生ランチを
付加すると(第2図に示すように)、このオフセットは
消失して回路点2はP3を介してVDDボルトにクラン
プされる。従って、電圧降下素子とPlの組合せが回路
点2にインバータI2のスイッチ点よりも正の成る電圧
を生成する限り、I2とP3の組合せはオフセットを補
償して回路点2をVDDボルトにクランプすることがで
きる。
1はオフ状態にPlはオン状態になって、v2を〔vD
D−2VBF+)ボルトに近づけるようにする。VDD
:5ボルトでVnnが0.6ボルトに等しい場合には、
I2は大体3.8ボルトに等しくなる。従って、付加的
な回路が無い場合には、I2に2VBKボルトのオフセ
ットがある。しかし、I2とP3より成る再生ランチを
付加すると(第2図に示すように)、このオフセットは
消失して回路点2はP3を介してVDDボルトにクラン
プされる。従って、電圧降下素子とPlの組合せが回路
点2にインバータI2のスイッチ点よりも正の成る電圧
を生成する限り、I2とP3の組合せはオフセットを補
償して回路点2をVDDボルトにクランプすることがで
きる。
PIのゲート−ソースに直列に2個のダイオードを接続
すると、PIのソース電位は3.8ボルトで、捷だPl
のVTは0.7ボルトであるから’I PIをオン状態
にするだめのそのゲート電位は3.1ボルト未満でなけ
ればならない。従って、VINが3.1ボルト以上であ
れば、PIはカントオフされて極めて高いインピーダン
スと同様に働く。
すると、PIのソース電位は3.8ボルトで、捷だPl
のVTは0.7ボルトであるから’I PIをオン状態
にするだめのそのゲート電位は3.1ボルト未満でなけ
ればならない。従って、VINが3.1ボルト以上であ
れば、PIはカントオフされて極めて高いインピーダン
スと同様に働く。
端子11に2.4ボルトのゞ高”入力が印加されると、
N1は強くオン状態にされPlはカットオフ状態に近く
なシ高インピーダンスと同様に作用する。2個以上のダ
イオードを付加すると、VI11が最小の高レベルのと
き、11の電力消費は相当低減される。
N1は強くオン状態にされPlはカットオフ状態に近く
なシ高インピーダンスと同様に作用する。2個以上のダ
イオードを付加すると、VI11が最小の高レベルのと
き、11の電力消費は相当低減される。
TIAとTIBと直列に別のダイオード(図示せず)を
付加することもできるが、そうすると、素子の接続点の
キャパシタンスを充放電させねばならないので、回路の
応答速度が遅くなる。
付加することもできるが、そうすると、素子の接続点の
キャパシタンスを充放電させねばならないので、回路の
応答速度が遅くなる。
TI、TIAおよびTJBはNPNバイポーラトランジ
スタとして図示したが、これを同様な電圧降下を生成す
るように適当に接続されたPNP )ランジスタで置換
することもできる。
スタとして図示したが、これを同様な電圧降下を生成す
るように適当に接続されたPNP )ランジスタで置換
することもできる。
第2図および第3図において、ダイオード機能を果すよ
うに接続されたバイポーラトランジスタは電圧降下素子
として示されている。これらの素子を使用したのは、応
答が速く壕だ明確な特性を持っているからである。しか
し、普通のダイオードも使用できるし、捷だ第4A図お
よび第4B図に示されるように、ゲートをドレンに接続
したP型IGFET (TPI)捷たけN型のIGFE
T(TNI)も電圧降下素子として使用できる。一般に
、速度特性をおとすこと無しに回路の電力消費を許容可
能な成る低レベルに維持するに足る大きさの電圧降下を
生ずるような素子であれば如何にるものでも、T1の代
りとして使用することができる。
うに接続されたバイポーラトランジスタは電圧降下素子
として示されている。これらの素子を使用したのは、応
答が速く壕だ明確な特性を持っているからである。しか
し、普通のダイオードも使用できるし、捷だ第4A図お
よび第4B図に示されるように、ゲートをドレンに接続
したP型IGFET (TPI)捷たけN型のIGFE
T(TNI)も電圧降下素子として使用できる。一般に
、速度特性をおとすこと無しに回路の電力消費を許容可
能な成る低レベルに維持するに足る大きさの電圧降下を
生ずるような素子であれば如何にるものでも、T1の代
りとして使用することができる。
第2図および第3図の回路に使用するものとして例示さ
れた電圧降下素子(たとえば、TPI、、 TNI、T
I、、TIAおよびTIB )の電圧降下は、或程度そ
の素子中を流れる電流に依存する。この特性はそれらの
素子の役目を助長するものである。たとえば、第3図に
ついて言えば、VINが低のとき、piはオン状態にさ
れて回路点2を(VDD−2VBE ]ボポルに向けて
充電する。VBvは一定値0.6ボルトであるとする。
れた電圧降下素子(たとえば、TPI、、 TNI、T
I、、TIAおよびTIB )の電圧降下は、或程度そ
の素子中を流れる電流に依存する。この特性はそれらの
素子の役目を助長するものである。たとえば、第3図に
ついて言えば、VINが低のとき、piはオン状態にさ
れて回路点2を(VDD−2VBE ]ボポルに向けて
充電する。VBvは一定値0.6ボルトであるとする。
しかし、回路点2が充電されるにつれて(また回路点2
に電力消費負荷が無いとして) 、TIA 、!: T
IBを流れる電流は大幅に減少して、TIAとTIBの
両端間の電圧降下を減少させる。これにより、回路点2
は(P3の有無に関係なく)vDDボルトに近づくよう
にされる。
に電力消費負荷が無いとして) 、TIA 、!: T
IBを流れる電流は大幅に減少して、TIAとTIBの
両端間の電圧降下を減少させる。これにより、回路点2
は(P3の有無に関係なく)vDDボルトに近づくよう
にされる。
VXNが最小の高値で、PlとNトを通ずる導通があれ
ば’I TIAおよび’I’JBを通しても導通があ
る。これらの素子を通して流れる電流が大きい程それら
の両端間の電圧降下も大きい。これら電圧降下素子の両
端間の電圧降下が増大するにつれて、PIを流れる電流
は減少する。従って、電圧降下素子(たとえば、TPI
、’I’NI、T1、’[’lAおよびTIE )のこ
の電流−電圧特性は、最悪条件時の電力消費を制限する
働きを助けるように作用する。
ば’I TIAおよび’I’JBを通しても導通があ
る。これらの素子を通して流れる電流が大きい程それら
の両端間の電圧降下も大きい。これら電圧降下素子の両
端間の電圧降下が増大するにつれて、PIを流れる電流
は減少する。従って、電圧降下素子(たとえば、TPI
、’I’NI、T1、’[’lAおよびTIE )のこ
の電流−電圧特性は、最悪条件時の電力消費を制限する
働きを助けるように作用する。
第2図と第3図の回路は、小数の回路素子を使用してし
かも電力消費の非常に少々い、高速入力バッファとして
動作することができる。
かも電力消費の非常に少々い、高速入力バッファとして
動作することができる。
第2図と第3図の回路において、VINはIGF’B’
rのゲート電極だけに印加される。従って、TTL出力
には、IGFETのゲートの有する極めて高インピーダ
ンス(事実上、開路状態)特性が結合されていることに
なる。
rのゲート電極だけに印加される。従って、TTL出力
には、IGFETのゲートの有する極めて高インピーダ
ンス(事実上、開路状態)特性が結合されていることに
なる。
第2図と第3図の回路では、帰還用トランジスタ’p3
はVDD (回路点15)とインバータ11ノ出カ(回
路点2)の間に接続されている。しかし第5図に示され
るように、回路点15と13の間にP3の導電路を接続
して、V!Nが低“になるとき回路点13をVDDに向
けて上昇させるように動作させることもできる。
はVDD (回路点15)とインバータ11ノ出カ(回
路点2)の間に接続されている。しかし第5図に示され
るように、回路点15と13の間にP3の導電路を接続
して、V!Nが低“になるとき回路点13をVDDに向
けて上昇させるように動作させることもできる。
第1A図は従来技術による回路の概略接続図、第1B図
はトランジスタ・トランジスタ論理(TTL)回路によ
って生成される代表的な論理レベルを示す図、第2図は
この発明を実施した一例回路を示す図、第3図はこの発
明を実施した別の例の回路の一部を示す図、第4A図お
よび第4B図はこの発明を実施した回路に使用可能な、
ダイオード接続された絶縁ゲート電界効果トランジスタ
(IGFET)を示す図、第5図はこの発明を実施した
丑だ別の回路を示す図である。 Pl、Nl・・・相補的な導電型の絶縁ダート電界効果
トランジスタ、11・・・信号入力端子、2・・・信号
出力端子、12・・・インバータ、15・・・第4の電
源端子、VDD・・・動作電位、’rl・・・電圧降下
素子、P3・・・第3の絶縁ゲート電界効果トランジス
タ。 fIA図 178図 144日 14B図 −ポレーション アメリカ合衆国ニューヨーク州 10591タリータウン・ホワイト ・プレインズ・ロード580
はトランジスタ・トランジスタ論理(TTL)回路によ
って生成される代表的な論理レベルを示す図、第2図は
この発明を実施した一例回路を示す図、第3図はこの発
明を実施した別の例の回路の一部を示す図、第4A図お
よび第4B図はこの発明を実施した回路に使用可能な、
ダイオード接続された絶縁ゲート電界効果トランジスタ
(IGFET)を示す図、第5図はこの発明を実施した
丑だ別の回路を示す図である。 Pl、Nl・・・相補的な導電型の絶縁ダート電界効果
トランジスタ、11・・・信号入力端子、2・・・信号
出力端子、12・・・インバータ、15・・・第4の電
源端子、VDD・・・動作電位、’rl・・・電圧降下
素子、P3・・・第3の絶縁ゲート電界効果トランジス
タ。 fIA図 178図 144日 14B図 −ポレーション アメリカ合衆国ニューヨーク州 10591タリータウン・ホワイト ・プレインズ・ロード580
Claims (1)
- (1)それぞれ、導電路の両端を画定するソースおよび
ドレン電極と制御電極とを有し互に相補的な導電型を持
った第1と第2の絶縁ゲート電界効果トランジスタと、
信号入力端子と、信号出力端子と、その間に動作電位が
印加される第1と第2の電源端子とを具備し、上記第1
と第2の絶縁ゲート電界効果トランジスタの制御電極は
共に」1記信号入力端子に接続され、上記第1と第2の
絶縁ゲート電界効果トランジスタのソース電極は接続手
段により上記第1と第2の電源端子にそれぞれ接続され
ており、上記接続手段は、上記第2の絶縁ゲート電界効
果トランジスタのソース電極を上記第2の電源端子に直
接接続すると共に上記第1の絶縁ゲート電界効果トラン
ジスタのソース電極を上記第1の電源端子に接続する電
圧降下素子を有し、更に、上記第1の絶縁ゲート電界効
果トランジスタと同一導電型を有しその導電路が嬉1の
絶縁ゲート電界効果トランジスタの上記ソースおよびド
レン電極のうちの一方と上記第1の電源端子とを接続し
ている第3の電界効果トランジスタと、入力が上記信号
出力端子に接続され丑だ出力が上記第3の絶縁ゲート電
界効果トランジスタの制御電極に接続されたインバータ
と、を有する結合用中間回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US444459 | 1982-11-24 | ||
US06/444,459 US4501978A (en) | 1982-11-24 | 1982-11-24 | Level shift interface circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59108426A true JPS59108426A (ja) | 1984-06-22 |
Family
ID=23764979
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Country Status (9)
Country | Link |
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US (1) | US4501978A (ja) |
JP (1) | JPS59108426A (ja) |
KR (1) | KR910005604B1 (ja) |
CA (1) | CA1206535A (ja) |
DE (1) | DE3342336C2 (ja) |
FR (1) | FR2536607B1 (ja) |
GB (1) | GB2130833B (ja) |
IE (1) | IE55411B1 (ja) |
IT (1) | IT1171791B (ja) |
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- 1983-11-23 DE DE3342336A patent/DE3342336C2/de not_active Expired
- 1983-11-24 FR FR8318759A patent/FR2536607B1/fr not_active Expired
- 1983-11-24 JP JP58221928A patent/JPS59108426A/ja active Pending
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