JPS5890736A - 半導体装置用サフアイア基板 - Google Patents

半導体装置用サフアイア基板

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JPS5890736A
JPS5890736A JP56188842A JP18884281A JPS5890736A JP S5890736 A JPS5890736 A JP S5890736A JP 56188842 A JP56188842 A JP 56188842A JP 18884281 A JP18884281 A JP 18884281A JP S5890736 A JPS5890736 A JP S5890736A
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JP
Japan
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sapphire substrate
cut
away
scribe
crossing
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JP56188842A
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Minoru Kimura
実 木村
Bunji Takeuchi
竹内 文二
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0005Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing
    • B28D5/0011Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by breaking, e.g. dicing with preliminary treatment, e.g. weakening by scoring
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体装置用サファイア基板の構造に関する。
半導体装置を構成する各素子は半導体単結晶基板(以下
バルク基板という)の表層または絶縁基板上に設けられ
た半導体層に形成される。
そして、半導体素子の電気的特性はその素子がどのよう
な面方位をもった結晶面のどのような結晶軸に沿って製
作されるかによって大きく左右される。従って、半導体
装置を製造する場合にはバルク基板の主面または絶縁基
板上半導体屑表面の面方位および結晶軸方向を予め知っ
ておく必要があり、そのために円板状の上記半導体装置
用基板には結晶軸の方向を示す切欠き面(オリエンテー
ションフラット)が設けられている。
ところで、サファイア基板上にシリコン層をエピタキシ
ャル成長させた所@ 80B構造(811icon o
n Swphir*)の半導体装置を製造する場合、使
用するサファイア基板には予め上記オリエンテーション
フラットが形成されている。しかし、サファイア基板に
形成されるオリエンテーションフラットはバルク基板に
形成されるオリエンテーシ、ンフラ、)とは若干様子が
異なっている。即ち、バルク基板のオリエンテーション
フラットは基板表面自体における結晶軸方向を知る基準
として形成されるが、サファイア基板ではその上にエピ
タキシャル成長されるシリコン層表面における結晶軸方
向を知る基準となるようにオリエンテーションフラット
が形成される。とれを従来のサファイア基板の平面図で
ある第1図を参照して説明すれば次の通シでおる。同図
において、1はサファイア基板である。該サファイア基
板1の表面における面方位はその上に成長するエピタキ
シャルシリコン層の表面が(100)結晶面となるよう
に面方位(j012)の結晶面となっている。そして、
オリエンテーションフラット2はサファイア基板1上に
一成長するエピタキシャルシリコン層の(110)面の
方向と一致するように形成されている。この結果オリエ
ンテーションフラット2はサファイア基板1自身の骨間
面(oxiz)  との交線方向(2201’3に対し
て2.14°ずれている。
上記第1図のサファイア基板1を用いてその上にSOS
構造の半導体装置を製造した後、これを個々のチップに
分割する際には、第2図に示すようにオリエンテーショ
ンフラット2に対して平行な方向およびこれに直交する
方向にスクライプしてグイソングを行なう。ところが前
述のようにオリエンテーションフラット2がサファイア
基板1の骨間面方向からずれていることから、このとき
のスクライプ方向も必然的に開面方向からずれるととと
なる。このように骨間面方向からずれた方向にスフライ
!するため、バルクシリコン基板のグイソングに比較し
て数倍のスクライブ回数を要する。即ち、切シ込み深さ
を深くしなければ容易にグイソングできないため、スク
ライビングの際ダイヤモンド針の消耗が激しいという問
題があった。
本発明は上述の事情に鑑みてなされたもので、SO8構
造の半導体装置の製造において個々のチ、ゾを切υ出す
際にクラ、りの発生を防止することができ、しかも切シ
出しを従来よシ4容易に行なうことのできる構造を具m
した半導体装置用サファイア基板を提供するものである
以下、第3図を参照して本発明の一実施例を説明する。
[3図は本発明の一実施例になるサファイア基板の平面
図である。同図において、1は面方位(1012)の円
板状サファイア基板である該サファイア基板IKIIi
労開面(1012)が存在する。tた、相互に直交する
二つの晶帯軸、即ち、骨間面(1012)と面方位(1
012)の基板表面との交線(2201)  および[
0221)が存在する。そして、上記サファイア基板1
には、その晶帯軸〔2i01〕に一致するオリエ/テー
シ、ンフラット2が形成されている。従って、他の晶帯
軸[0221)はオリエンテーションフラット2に直交
している。
上記、構成からなるサファイア基板によれば、例えばS
OS構造の半導体装置を製造した後、個々のチアft−
切や出す際にスクライプ方向が勢開面の方向と一致する
ため、従来よりも浅い切り込み深さで容易にグイソング
することができ、この結果、ダイヤモンド針の寿命を数
倍も長くすることができる。また従来、スクライプ方向
に対して#1はIF5:する方向にマイクロクラックが
発生して、素子領域にもそれが及び、素子に悪影智を与
えていたが、これらの問題も相当−に緩和するごとが/
c′きる。
他方、上記実施例のサファイア基板を用いて例えばSO
8構造の半導体装置を製造する場合、オリエ/テーシ、
ンフラ、ト2はエピタキシャルシリコン層の結晶軸方向
を知るための正確な基準とはならないが、その誤差はわ
ずか2〜3゜であるから、形成された素子の特性には実
質上全く影響はない。
以上詳述したように、本発明によれば個々のチップを切
り出す際のスフライ!を著しく容易にし、かつグイソン
グの信頼性をも向上することができる半導体装置用サフ
ァイア基板を提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のサファイア基板の平面図、第2図はスク
ライプ方向を示す平面図、第3図は本発明の一実施例に
なるサファイア基板の平面図である。 1・・・サファイア基板、2・・・オリエンテーシ、ン
フラ、ト。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦を−λ 0 1へ Wi!i              区へ wI&             粧

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 円板状のサファイア単結晶からなり、その表面と伸開面
    との交線方向に一致してオリエンテーションフラットを
    設けたことを特徴とする半導体装置用サファイア基板。
JP56188842A 1981-11-25 1981-11-25 半導体装置用サフアイア基板 Pending JPS5890736A (ja)

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