JPS5890736A - 半導体装置用サフアイア基板 - Google Patents
半導体装置用サフアイア基板Info
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- JPS5890736A JPS5890736A JP56188842A JP18884281A JPS5890736A JP S5890736 A JPS5890736 A JP S5890736A JP 56188842 A JP56188842 A JP 56188842A JP 18884281 A JP18884281 A JP 18884281A JP S5890736 A JPS5890736 A JP S5890736A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置用サファイア基板の構造に関する。
半導体装置を構成する各素子は半導体単結晶基板(以下
バルク基板という)の表層または絶縁基板上に設けられ
た半導体層に形成される。
バルク基板という)の表層または絶縁基板上に設けられ
た半導体層に形成される。
そして、半導体素子の電気的特性はその素子がどのよう
な面方位をもった結晶面のどのような結晶軸に沿って製
作されるかによって大きく左右される。従って、半導体
装置を製造する場合にはバルク基板の主面または絶縁基
板上半導体屑表面の面方位および結晶軸方向を予め知っ
ておく必要があり、そのために円板状の上記半導体装置
用基板には結晶軸の方向を示す切欠き面(オリエンテー
ションフラット)が設けられている。
な面方位をもった結晶面のどのような結晶軸に沿って製
作されるかによって大きく左右される。従って、半導体
装置を製造する場合にはバルク基板の主面または絶縁基
板上半導体屑表面の面方位および結晶軸方向を予め知っ
ておく必要があり、そのために円板状の上記半導体装置
用基板には結晶軸の方向を示す切欠き面(オリエンテー
ションフラット)が設けられている。
ところで、サファイア基板上にシリコン層をエピタキシ
ャル成長させた所@ 80B構造(811icon o
n Swphir*)の半導体装置を製造する場合、使
用するサファイア基板には予め上記オリエンテーション
フラットが形成されている。しかし、サファイア基板に
形成されるオリエンテーションフラットはバルク基板に
形成されるオリエンテーシ、ンフラ、)とは若干様子が
異なっている。即ち、バルク基板のオリエンテーション
フラットは基板表面自体における結晶軸方向を知る基準
として形成されるが、サファイア基板ではその上にエピ
タキシャル成長されるシリコン層表面における結晶軸方
向を知る基準となるようにオリエンテーションフラット
が形成される。とれを従来のサファイア基板の平面図で
ある第1図を参照して説明すれば次の通シでおる。同図
において、1はサファイア基板である。該サファイア基
板1の表面における面方位はその上に成長するエピタキ
シャルシリコン層の表面が(100)結晶面となるよう
に面方位(j012)の結晶面となっている。そして、
オリエンテーションフラット2はサファイア基板1上に
一成長するエピタキシャルシリコン層の(110)面の
方向と一致するように形成されている。この結果オリエ
ンテーションフラット2はサファイア基板1自身の骨間
面(oxiz) との交線方向(2201’3に対し
て2.14°ずれている。
ャル成長させた所@ 80B構造(811icon o
n Swphir*)の半導体装置を製造する場合、使
用するサファイア基板には予め上記オリエンテーション
フラットが形成されている。しかし、サファイア基板に
形成されるオリエンテーションフラットはバルク基板に
形成されるオリエンテーシ、ンフラ、)とは若干様子が
異なっている。即ち、バルク基板のオリエンテーション
フラットは基板表面自体における結晶軸方向を知る基準
として形成されるが、サファイア基板ではその上にエピ
タキシャル成長されるシリコン層表面における結晶軸方
向を知る基準となるようにオリエンテーションフラット
が形成される。とれを従来のサファイア基板の平面図で
ある第1図を参照して説明すれば次の通シでおる。同図
において、1はサファイア基板である。該サファイア基
板1の表面における面方位はその上に成長するエピタキ
シャルシリコン層の表面が(100)結晶面となるよう
に面方位(j012)の結晶面となっている。そして、
オリエンテーションフラット2はサファイア基板1上に
一成長するエピタキシャルシリコン層の(110)面の
方向と一致するように形成されている。この結果オリエ
ンテーションフラット2はサファイア基板1自身の骨間
面(oxiz) との交線方向(2201’3に対し
て2.14°ずれている。
上記第1図のサファイア基板1を用いてその上にSOS
構造の半導体装置を製造した後、これを個々のチップに
分割する際には、第2図に示すようにオリエンテーショ
ンフラット2に対して平行な方向およびこれに直交する
方向にスクライプしてグイソングを行なう。ところが前
述のようにオリエンテーションフラット2がサファイア
基板1の骨間面方向からずれていることから、このとき
のスクライプ方向も必然的に開面方向からずれるととと
なる。このように骨間面方向からずれた方向にスフライ
!するため、バルクシリコン基板のグイソングに比較し
て数倍のスクライブ回数を要する。即ち、切シ込み深さ
を深くしなければ容易にグイソングできないため、スク
ライビングの際ダイヤモンド針の消耗が激しいという問
題があった。
構造の半導体装置を製造した後、これを個々のチップに
分割する際には、第2図に示すようにオリエンテーショ
ンフラット2に対して平行な方向およびこれに直交する
方向にスクライプしてグイソングを行なう。ところが前
述のようにオリエンテーションフラット2がサファイア
基板1の骨間面方向からずれていることから、このとき
のスクライプ方向も必然的に開面方向からずれるととと
なる。このように骨間面方向からずれた方向にスフライ
!するため、バルクシリコン基板のグイソングに比較し
て数倍のスクライブ回数を要する。即ち、切シ込み深さ
を深くしなければ容易にグイソングできないため、スク
ライビングの際ダイヤモンド針の消耗が激しいという問
題があった。
本発明は上述の事情に鑑みてなされたもので、SO8構
造の半導体装置の製造において個々のチ、ゾを切υ出す
際にクラ、りの発生を防止することができ、しかも切シ
出しを従来よシ4容易に行なうことのできる構造を具m
した半導体装置用サファイア基板を提供するものである
。
造の半導体装置の製造において個々のチ、ゾを切υ出す
際にクラ、りの発生を防止することができ、しかも切シ
出しを従来よシ4容易に行なうことのできる構造を具m
した半導体装置用サファイア基板を提供するものである
。
以下、第3図を参照して本発明の一実施例を説明する。
[3図は本発明の一実施例になるサファイア基板の平面
図である。同図において、1は面方位(1012)の円
板状サファイア基板である該サファイア基板IKIIi
労開面(1012)が存在する。tた、相互に直交する
二つの晶帯軸、即ち、骨間面(1012)と面方位(1
012)の基板表面との交線(2201) および[
0221)が存在する。そして、上記サファイア基板1
には、その晶帯軸〔2i01〕に一致するオリエ/テー
シ、ンフラット2が形成されている。従って、他の晶帯
軸[0221)はオリエンテーションフラット2に直交
している。
図である。同図において、1は面方位(1012)の円
板状サファイア基板である該サファイア基板IKIIi
労開面(1012)が存在する。tた、相互に直交する
二つの晶帯軸、即ち、骨間面(1012)と面方位(1
012)の基板表面との交線(2201) および[
0221)が存在する。そして、上記サファイア基板1
には、その晶帯軸〔2i01〕に一致するオリエ/テー
シ、ンフラット2が形成されている。従って、他の晶帯
軸[0221)はオリエンテーションフラット2に直交
している。
上記、構成からなるサファイア基板によれば、例えばS
OS構造の半導体装置を製造した後、個々のチアft−
切や出す際にスクライプ方向が勢開面の方向と一致する
ため、従来よりも浅い切り込み深さで容易にグイソング
することができ、この結果、ダイヤモンド針の寿命を数
倍も長くすることができる。また従来、スクライプ方向
に対して#1はIF5:する方向にマイクロクラックが
発生して、素子領域にもそれが及び、素子に悪影智を与
えていたが、これらの問題も相当−に緩和するごとが/
c′きる。
OS構造の半導体装置を製造した後、個々のチアft−
切や出す際にスクライプ方向が勢開面の方向と一致する
ため、従来よりも浅い切り込み深さで容易にグイソング
することができ、この結果、ダイヤモンド針の寿命を数
倍も長くすることができる。また従来、スクライプ方向
に対して#1はIF5:する方向にマイクロクラックが
発生して、素子領域にもそれが及び、素子に悪影智を与
えていたが、これらの問題も相当−に緩和するごとが/
c′きる。
他方、上記実施例のサファイア基板を用いて例えばSO
8構造の半導体装置を製造する場合、オリエ/テーシ、
ンフラ、ト2はエピタキシャルシリコン層の結晶軸方向
を知るための正確な基準とはならないが、その誤差はわ
ずか2〜3゜であるから、形成された素子の特性には実
質上全く影響はない。
8構造の半導体装置を製造する場合、オリエ/テーシ、
ンフラ、ト2はエピタキシャルシリコン層の結晶軸方向
を知るための正確な基準とはならないが、その誤差はわ
ずか2〜3゜であるから、形成された素子の特性には実
質上全く影響はない。
以上詳述したように、本発明によれば個々のチップを切
り出す際のスフライ!を著しく容易にし、かつグイソン
グの信頼性をも向上することができる半導体装置用サフ
ァイア基板を提供できるものである。
り出す際のスフライ!を著しく容易にし、かつグイソン
グの信頼性をも向上することができる半導体装置用サフ
ァイア基板を提供できるものである。
第1図は従来のサファイア基板の平面図、第2図はスク
ライプ方向を示す平面図、第3図は本発明の一実施例に
なるサファイア基板の平面図である。 1・・・サファイア基板、2・・・オリエンテーシ、ン
フラ、ト。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦を−λ 0 1へ Wi!i 区へ wI& 粧
ライプ方向を示す平面図、第3図は本発明の一実施例に
なるサファイア基板の平面図である。 1・・・サファイア基板、2・・・オリエンテーシ、ン
フラ、ト。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦を−λ 0 1へ Wi!i 区へ wI& 粧
Claims (1)
- 円板状のサファイア単結晶からなり、その表面と伸開面
との交線方向に一致してオリエンテーションフラットを
設けたことを特徴とする半導体装置用サファイア基板。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56188842A JPS5890736A (ja) | 1981-11-25 | 1981-11-25 | 半導体装置用サフアイア基板 |
US06/422,371 US4442178A (en) | 1981-11-25 | 1982-09-24 | SOS Substrate for semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56188842A JPS5890736A (ja) | 1981-11-25 | 1981-11-25 | 半導体装置用サフアイア基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5890736A true JPS5890736A (ja) | 1983-05-30 |
Family
ID=16230789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56188842A Pending JPS5890736A (ja) | 1981-11-25 | 1981-11-25 | 半導体装置用サフアイア基板 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4442178A (ja) |
JP (1) | JPS5890736A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0528438U (ja) * | 1991-09-25 | 1993-04-16 | 本田技研工業株式会社 | エアレス塗装装置 |
US7045223B2 (en) | 2003-09-23 | 2006-05-16 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Spinel articles and methods for forming same |
US7326477B2 (en) | 2003-09-23 | 2008-02-05 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Spinel boules, wafers, and methods for fabricating same |
US7919815B1 (en) | 2005-02-24 | 2011-04-05 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Spinel wafers and methods of preparation |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4590130A (en) * | 1984-03-26 | 1986-05-20 | General Electric Company | Solid state zone recrystallization of semiconductor material on an insulator |
US4631234A (en) * | 1985-09-13 | 1986-12-23 | Texas Instruments Incorporated | Germanium hardened silicon substrate |
FR2617870B1 (fr) * | 1987-07-09 | 1989-10-27 | Labo Electronique Physique | Procede de realisation de plaquettes-substrats orientees, a partir de lingots massifs semi-conducteurs du groupe iii-v |
DE69714627T2 (de) * | 1996-02-29 | 2002-12-05 | Kyocera Corp | Saphir Einkristall, seine Anwendung als Substrat in einem Halbleiterlaserdiode und Verfahren zu ihrer Herstellung |
US5792566A (en) * | 1996-07-02 | 1998-08-11 | American Xtal Technology | Single crystal wafers |
FR2752768B1 (fr) * | 1996-08-27 | 2003-04-11 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'obtention d'une plaquette de materiau semiconducteur de grandes dimensions et utilisation de la plaquette obtenue pour realiser des substrats du type semiconducteur sur isolant |
JPH11195627A (ja) * | 1997-12-27 | 1999-07-21 | Hewlett Packard Co <Hp> | 光学素子の製造方法 |
US7176109B2 (en) | 2001-03-23 | 2007-02-13 | Micron Technology, Inc. | Method for forming raised structures by controlled selective epitaxial growth of facet using spacer |
US20040135232A1 (en) * | 2003-01-10 | 2004-07-15 | Bakel Henry Van | Semiconductor wafer and method of marking a crystallographic direction on a semiconductor wafer |
JP4714423B2 (ja) * | 2004-01-06 | 2011-06-29 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 半導体ウエハとその製造方法 |
JP7327920B2 (ja) * | 2018-09-28 | 2023-08-16 | 株式会社ディスコ | ダイヤモンド基板生成方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4131496A (en) * | 1977-12-15 | 1978-12-26 | Rca Corp. | Method of making silicon on sapphire field effect transistors with specifically aligned gates |
-
1981
- 1981-11-25 JP JP56188842A patent/JPS5890736A/ja active Pending
-
1982
- 1982-09-24 US US06/422,371 patent/US4442178A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0528438U (ja) * | 1991-09-25 | 1993-04-16 | 本田技研工業株式会社 | エアレス塗装装置 |
US7045223B2 (en) | 2003-09-23 | 2006-05-16 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Spinel articles and methods for forming same |
US7326477B2 (en) | 2003-09-23 | 2008-02-05 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Spinel boules, wafers, and methods for fabricating same |
US7919815B1 (en) | 2005-02-24 | 2011-04-05 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Spinel wafers and methods of preparation |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4442178A (en) | 1984-04-10 |
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