JPS5886705A - セラミツク電子部品 - Google Patents
セラミツク電子部品Info
- Publication number
- JPS5886705A JPS5886705A JP56186285A JP18628581A JPS5886705A JP S5886705 A JPS5886705 A JP S5886705A JP 56186285 A JP56186285 A JP 56186285A JP 18628581 A JP18628581 A JP 18628581A JP S5886705 A JPS5886705 A JP S5886705A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic
- current interrupting
- electronic component
- electrode
- ceramic electronic
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電源線間あるいは線〜アース間に直接接続され
る酸化亜鉛を主体としたセラミックバリスタなどのセラ
ミック電子部品に係り、このセラミック電子部品に過定
格が加えられ過大な電流が流れ込んだ時にセラミック電
子部品を電源線から電気的に切離し、焼損等を防止する
ようにしたものを提供するものである。
る酸化亜鉛を主体としたセラミックバリスタなどのセラ
ミック電子部品に係り、このセラミック電子部品に過定
格が加えられ過大な電流が流れ込んだ時にセラミック電
子部品を電源線から電気的に切離し、焼損等を防止する
ようにしたものを提供するものである。
セラミック電子部品の一例としてセラミックバリスタを
取り上げて説明する。ZnOを主体と したバリスタは
電子機器を雷などのサージ電圧から床護するために電源
巌の線間あるいはアース間に。
取り上げて説明する。ZnOを主体と したバリスタは
電子機器を雷などのサージ電圧から床護するために電源
巌の線間あるいはアース間に。
近年幅広く用いられており、その床護効果は極めて優れ
たものとして認めらnつつある。しかしながら、このセ
ラミックバリスタに最大定格(例えば回路電圧、エネル
ギー耐量、サージ耐量、電力等)を大幅に上回わるスト
レスが加えられた時、セラミックバリスタは短絡破壊を
生じる恐れがある。もし電源線の電源側に適当な過電流
遮断器あるいはヒユーズなどが挿入されていなければ、
セラミックバリスタは焼損に至り、周辺に大きな影響を
与える恐れがある。
たものとして認めらnつつある。しかしながら、このセ
ラミックバリスタに最大定格(例えば回路電圧、エネル
ギー耐量、サージ耐量、電力等)を大幅に上回わるスト
レスが加えられた時、セラミックバリスタは短絡破壊を
生じる恐れがある。もし電源線の電源側に適当な過電流
遮断器あるいはヒユーズなどが挿入されていなければ、
セラミックバリスタは焼損に至り、周辺に大きな影響を
与える恐れがある。
この焼損対策として従来では、外部回路に適当なヒーー
ズを挿入することが推奨されているが。
ズを挿入することが推奨されているが。
この場合、ヒーーズ取付はスペースの問題、ならびに電
子機器のコストアップの問題からヒユーズなしの形で適
用されている場合も少なくない。
子機器のコストアップの問題からヒユーズなしの形で適
用されている場合も少なくない。
第1図は前記セラミックバリスタの従来の一般構造を示
したものであるJlはセラミックバリスタの素体であり
板状をなし、表裏にそれぞれ電極が設けられている。2
,2′はセラミックバリスタ素体1の表裏上の電極から
それぞれ取り出したリード線%3はエポキシ樹脂などの
コーティングで、セラミックバリスタ素体1ならびにリ
ード線2゜2′の一部をコートしている。
したものであるJlはセラミックバリスタの素体であり
板状をなし、表裏にそれぞれ電極が設けられている。2
,2′はセラミックバリスタ素体1の表裏上の電極から
それぞれ取り出したリード線%3はエポキシ樹脂などの
コーティングで、セラミックバリスタ素体1ならびにリ
ード線2゜2′の一部をコートしている。
第2図は第1図のセラミックバリスタのA〜A′断面図
である。。但し、コーティング部3は取り除いである。
である。。但し、コーティング部3は取り除いである。
1′はセラミックバリスタの素体、4゜4′はセラミッ
クバリスタ素体1′上に焼き行け、あるいは溶射された
電極である。今、このセラミックバリスタに過負荷が加
えられ短絡破壊を生じた場合、セラミックバリスタ素体
1′の中に低抵抗を有する貫通孔6が発生する。そのた
めリード線2〜2′から見た場合、セラミックバリスタ
は短絡破壊・モードを呈し、セラミックバリスタへ電源
力らの短絡電流が流れ込み、セラミックバリスタ素体1
′内でのジーール熱がある程度を越えると、焼損に至る
。
クバリスタ素体1′上に焼き行け、あるいは溶射された
電極である。今、このセラミックバリスタに過負荷が加
えられ短絡破壊を生じた場合、セラミックバリスタ素体
1′の中に低抵抗を有する貫通孔6が発生する。そのた
めリード線2〜2′から見た場合、セラミックバリスタ
は短絡破壊・モードを呈し、セラミックバリスタへ電源
力らの短絡電流が流れ込み、セラミックバリスタ素体1
′内でのジーール熱がある程度を越えると、焼損に至る
。
このように従来の構造の場合、特別な電流遮断機構がな
く、そのため、ジュール熱によるリード線2,2′の溶
断を待つしか手段はなかった。しかしながらリード!!
2.2’の電流耐量はセラミックバリスタの焼損を防止
するには、太きすぎるといった問題点があった。
く、そのため、ジュール熱によるリード線2,2′の溶
断を待つしか手段はなかった。しかしながらリード!!
2.2’の電流耐量はセラミックバリスタの焼損を防止
するには、太きすぎるといった問題点があった。
本発明は、このような従来の問題を磁器基板の表面に電
流遮断機構を設けて解決したセラミック電子部品を提供
することを目的としたものであ・る。
流遮断機構を設けて解決したセラミック電子部品を提供
することを目的としたものであ・る。
上記目的を達成するために本発明は磁器基板の同一表面
上に第1.第2の電極および過電流または発熱によって
溶断し開放機能を有する電流遮断部を直列接続されるよ
うに構成したものである。
上に第1.第2の電極および過電流または発熱によって
溶断し開放機能を有する電流遮断部を直列接続されるよ
うに構成したものである。
以下、本発明の実施例を図面第3図〜第8図により説明
する。
する。
まず、本発明の一実施例を第3図〜第6図を用いて説明
する。第3図は本発明のセラミック電子部品に用いる磁
器基板上の印刷配線の形状を示したものである。6は平
板状をなし、アルミナなどによって代表される磁器基板
、7は板状セラミック素子(以後バリスタ素子という)
が半田付けによって接続される第1の印刷電極、8は第
2の外部リード線が半田付けによって接続さ扛る第2の
印刷電極、9は印刷電極の厚み2幅、−材質を制御して
形成された電流遮断部である。これらの第1゜第2の印
刷電極7,8ならびに電流遮断部9は印刷配線によって
それぞれ直列に接続式nでいる。
する。第3図は本発明のセラミック電子部品に用いる磁
器基板上の印刷配線の形状を示したものである。6は平
板状をなし、アルミナなどによって代表される磁器基板
、7は板状セラミック素子(以後バリスタ素子という)
が半田付けによって接続される第1の印刷電極、8は第
2の外部リード線が半田付けによって接続さ扛る第2の
印刷電極、9は印刷電極の厚み2幅、−材質を制御して
形成された電流遮断部である。これらの第1゜第2の印
刷電極7,8ならびに電流遮断部9は印刷配線によって
それぞれ直列に接続式nでいる。
また、ここで用いられる印刷電極あるいは印刷配線には
、銀、銅、アルミニウムなどを用い、エツチング、焼付
け、金属溶射などによって形成される。第4図は、第3
図に示した第1の印刷電極7上にバリスタ素子10の一
方の電極面を半田付けによって接続し、バリスタ素子1
0上の他方の電極11に、半田付けによって第1のリー
ド線12を取り付け、さらに第2の印刷電極8上に半田
付けによって第2のリード線13を取り付けたものであ
る。
、銀、銅、アルミニウムなどを用い、エツチング、焼付
け、金属溶射などによって形成される。第4図は、第3
図に示した第1の印刷電極7上にバリスタ素子10の一
方の電極面を半田付けによって接続し、バリスタ素子1
0上の他方の電極11に、半田付けによって第1のリー
ド線12を取り付け、さらに第2の印刷電極8上に半田
付けによって第2のリード線13を取り付けたものであ
る。
第6図に第4図の斜視図を示した。
今、このように構成されたセラミック電子部品において
、バリスタが過負荷等によって短絡破壊を生じた場合、
電源からの短絡電流は、第1のIJ−ド緋12−e電極
11→バリスタ素子10→第1の印刷電極子り電流遮断
部9−?第2の印刷電極8→第2のリード線13と流れ
、この中で電流溶断特性をもたせた電流遮断部9が溶断
し電気的に開放状態を生みだす。この溶断開放後の状態
を示した−ものが第6図であり、14はその開放部であ
る。
、バリスタが過負荷等によって短絡破壊を生じた場合、
電源からの短絡電流は、第1のIJ−ド緋12−e電極
11→バリスタ素子10→第1の印刷電極子り電流遮断
部9−?第2の印刷電極8→第2のリード線13と流れ
、この中で電流溶断特性をもたせた電流遮断部9が溶断
し電気的に開放状態を生みだす。この溶断開放後の状態
を示した−ものが第6図であり、14はその開放部であ
る。
このようにしてバリスタ素子1oの熱破壊特性工2t(
工は電流、tは時間)が電流遮断部9の熱破壊特性工2
tよりも、大きくなるように電流遮断部9を設定するこ
とによって、焼損を生じることなく開放動作を実現する
ことができる。
工は電流、tは時間)が電流遮断部9の熱破壊特性工2
tよりも、大きくなるように電流遮断部9を設定するこ
とによって、焼損を生じることなく開放動作を実現する
ことができる。
第7図は第2の実施例を示したもので電流遮断部9の位
置を縦形とし全体を小形にしたものである。
置を縦形とし全体を小形にしたものである。
第8図は第3の実施例で第1.第2実施例の電流遮断部
9が印刷配線によって構成さ扛ていたのに対し破壊モー
ドが開放で低抵抗を有する金属皮膜抵抗16を焼付けて
、これを構成し水側である。
9が印刷配線によって構成さ扛ていたのに対し破壊モー
ドが開放で低抵抗を有する金属皮膜抵抗16を焼付けて
、これを構成し水側である。
その他、図示はしていないが、次のような実施例を上げ
ることができる。
ることができる。
電流遮断部9を前述のような印刷構造ではなく破壊モー
ドが開放で低抵抗を有する角形あるいは円柱状金属皮膜
抵抗をノ1イブリット状に用いたもの。
ドが開放で低抵抗を有する角形あるいは円柱状金属皮膜
抵抗をノ1イブリット状に用いたもの。
また、同様に電流遮断部9に低融点合金を用いた温度ヒ
ユーズを用いたもの。これは、短絡電流によって生じた
バリスタ素子10よ9発熱を磁器基板6を介して動作式
せるものである。もちろん過電流遮断機構と温度ヒユー
ズを直列に両者を用いることも実施例として有効である
。
ユーズを用いたもの。これは、短絡電流によって生じた
バリスタ素子10よ9発熱を磁器基板6を介して動作式
せるものである。もちろん過電流遮断機構と温度ヒユー
ズを直列に両者を用いることも実施例として有効である
。
嘔らに全体を樹脂被覆した場合、電流遮断部9の動作時
にはその部分の被覆にクラックあるいは脱落が見られ、
電流遮断部9の動作の有無は確認できるが、さらにこn
を明確にするには、電流遮断部9のみに被覆を施さない
例も実施例として考えることができる。
にはその部分の被覆にクラックあるいは脱落が見られ、
電流遮断部9の動作の有無は確認できるが、さらにこn
を明確にするには、電流遮断部9のみに被覆を施さない
例も実施例として考えることができる。
以上のように本発明のセラミック′電子部品は構成され
るため次のような効果が得られ、る。
るため次のような効果が得られ、る。
(a)セラミック電子部品の破壊時の短絡焼損現象を防
止することができる。
止することができる。
(bl i!作モードが開放であるため、他の回路へ
影響を与えない。
影響を与えない。
(C1電流遮断部の動作が外部より確認しやすい。
(dl 小形で上記の機能をもたせることができる。
−第1図は従来例のセラミックバリスタを示す上面図、
第2図は同要部の断面図、第3図は本発明のセラミック
電子部品の一実施例を示す磁器基板の上面図、第4図は
その磁器基板にバリスタ素子を組込んだ状態の上面図、
第6図は同斜視図、第6図は電流遮断部の動作後の上面
図、第7図は他の実施例の上面図、第8図はさらに他の
実施例の上面図である。 6・・0・磁器基板、7,8・・・・命印刷電極、9・
φ・・・電流遮断部、106・・・・バリスタ素子、1
111・・・・電極、12・・・・・第1のリード線、
13・・・・・第2のリード線、16・・・・・金属皮
膜抵抗。 第1図 第3図 第4図 #!5図 第6図 第7図 第8図
第2図は同要部の断面図、第3図は本発明のセラミック
電子部品の一実施例を示す磁器基板の上面図、第4図は
その磁器基板にバリスタ素子を組込んだ状態の上面図、
第6図は同斜視図、第6図は電流遮断部の動作後の上面
図、第7図は他の実施例の上面図、第8図はさらに他の
実施例の上面図である。 6・・0・磁器基板、7,8・・・・命印刷電極、9・
φ・・・電流遮断部、106・・・・バリスタ素子、1
111・・・・電極、12・・・・・第1のリード線、
13・・・・・第2のリード線、16・・・・・金属皮
膜抵抗。 第1図 第3図 第4図 #!5図 第6図 第7図 第8図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (月 平板状の磁器基板の同一表面上に、第1および第
2の印刷電極ならびに過電流または発熱によって溶断し
開放機能を有する電流遮断部を設け、この電極と電流遮
断部を電気的に直列に接続し、上記第1の印刷電極上に
板状セラミック素子の一電極面を半田付けし、前記セラ
ミック素子の他方の電極面に半田付けによって第1の外
部リード線を、また、第2の印刷電極に第2の外部リー
ド線を接続してなるセラミック電子部品。 (2) セラミック素子として酸化亜鉛を主体とした
セラミックバリスタを用いてなる特許請求の範囲第1項
記載のセラミック電子部品。 許請求の範囲第1項記載のセラミック電子部品。 (4)電流遮断部として、低抵抗値を有する金属皮膜抵
抗を焼き付けることによって形成してなる特許請求の範
囲第1項記載のセラミック電子部品。 (6)電流遮断部として、低抵抗値を有する角板あるい
は円柱形金属皮膜抵抗によって形成してなる特許請求の
範囲第1項記載のセラミック電子部品。 (6)電流遮断部として、低融点合金からなる温度ヒユ
ーズによって形成してなる特許請求の範囲第1項記載の
セラミック電子部品。 (7) セラミック素子等を樹脂等で被覆し、前記電
流遮断部のみを露出させてなる特許請求の範囲第1項記
載のセラミック電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56186285A JPS5886705A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | セラミツク電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56186285A JPS5886705A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | セラミツク電子部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5886705A true JPS5886705A (ja) | 1983-05-24 |
JPH0318321B2 JPH0318321B2 (ja) | 1991-03-12 |
Family
ID=16185624
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56186285A Granted JPS5886705A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | セラミツク電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5886705A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0189701U (ja) * | 1987-12-04 | 1989-06-13 |
-
1981
- 1981-11-19 JP JP56186285A patent/JPS5886705A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0189701U (ja) * | 1987-12-04 | 1989-06-13 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0318321B2 (ja) | 1991-03-12 |
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